專(zhuān)利名稱(chēng)：一種用于內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種傳輸線，尤其涉及一種用于內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線。
背景技術(shù)：
內(nèi)電路測(cè)試(In-Circuit Test；ICT)是應(yīng)用于印刷電路板(PrintedCircuit Board；PCB)制造過(guò)程中的測(cè)試操作，其使用針床式的內(nèi)電路測(cè)試設(shè)備來(lái)接觸印刷電路板的電路節(jié)點(diǎn)以便測(cè)量元件的效能或參數(shù)，而可忽略是否有其它的元件連結(jié)至被測(cè)量的元件。
通過(guò)依序地測(cè)量每個(gè)元件來(lái)檢查元件是否有正確的參數(shù)值，例如電阻值、電容值等，以及就像大部分印刷電路板在制造過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)的差錯(cuò)，例如開(kāi)路、短路或元件錯(cuò)誤等，甚至是因靜電傷害而失效的集成電路(IntegratedCircuit；IC)也可利用內(nèi)電路測(cè)試檢測(cè)出來(lái)。當(dāng)然，內(nèi)電路測(cè)試的本意并非是用來(lái)為印刷電路板做功能性的測(cè)試，然而，若針對(duì)于此做適當(dāng)?shù)碾娐房偝?，也可達(dá)到此要求。
內(nèi)電路測(cè)試設(shè)備包括多個(gè)驅(qū)動(dòng)器與多個(gè)探測(cè)器，驅(qū)動(dòng)器與探測(cè)器通常為一對(duì)一搭配設(shè)置而用以執(zhí)行電路檢測(cè)，顧名思義，驅(qū)動(dòng)器提供電壓或電流以驅(qū)動(dòng)電路上的節(jié)點(diǎn)使其致能至一特定的預(yù)期狀態(tài)，于此，驅(qū)動(dòng)器具有相當(dāng)高的能力方能驅(qū)動(dòng)節(jié)點(diǎn)而可忽略且不影響該節(jié)點(diǎn)的周遭電路，而且驅(qū)動(dòng)器必須具有相當(dāng)?shù)偷淖杩共拍軌蜈厔?dòng)電路測(cè)量而不影響到驅(qū)動(dòng)節(jié)點(diǎn)的自然的輸出狀態(tài)。另一方面，探測(cè)器用來(lái)做參數(shù)測(cè)量，如同其它的測(cè)量裝置，其必須具有非常高的阻抗才不致影響到被測(cè)量的電路。
然而，在印刷電路板中，為了增加量產(chǎn)時(shí)產(chǎn)品的可靠度與優(yōu)良率，必須在電路的信號(hào)線上增加內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)，如圖1所示，為現(xiàn)有的增加內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)101在傳輸線102上的示意圖，內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)101用以驗(yàn)證是否存在著未預(yù)期的開(kāi)路或短路。由于內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)101具有電容性的低阻抗特性，因此，如果增加更多的內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)101于傳輸線102上，勢(shì)必加深傳輸線阻抗不連續(xù)性的效應(yīng)，進(jìn)而在高速數(shù)字電路上產(chǎn)生明顯的信號(hào)反射現(xiàn)象。
目前并不能夠降低內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)所造成的阻抗不連續(xù)性，因此有時(shí)為了不影響信號(hào)完整性(Signal Integrity)，必須將傳輸線上的內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)移除，但是，對(duì)于被移除內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的信號(hào)線便不能驗(yàn)證導(dǎo)線上是否存在著未預(yù)期的開(kāi)路或短路。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種用于內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線，本發(fā)明利用阻抗匹配的觀念，利用史密斯圖(Smith Chart)依據(jù)預(yù)期頻率來(lái)調(diào)整單根傳輸線最佳化的線長(zhǎng)與線寬，以改變連接到內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線部分線段的寬度，使其呈現(xiàn)電感性的高阻抗特性，達(dá)到頻率點(diǎn)的阻抗匹配，進(jìn)而改善內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)電容性的低阻抗特性所造成不連續(xù)的效應(yīng)，并在不移除內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)與不增加成本的條件下，改善信號(hào)反射損失。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所提供了一種用于內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線，該傳輸線設(shè)置于一印刷電路板上并且具有至少一內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)，用以提供電路測(cè)量，該傳輸線在連接該內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的至少一側(cè)配置一第一線長(zhǎng)與一第一線寬的至少一第一線段，該傳輸線位于該內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的至少一側(cè)的部分線段配置一第二線長(zhǎng)與一第二線寬的至少一第二線段，該第二線段連接該內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)與該第一線段。
本發(fā)明利用阻抗匹配的觀念以最佳化連接到內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線部分線段的線長(zhǎng)與線寬，使該部分線段呈現(xiàn)電感性的高阻抗特性，達(dá)到頻率點(diǎn)的阻抗匹配，進(jìn)而改善內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)電容性的低阻抗特性所造成不連續(xù)的效應(yīng)。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，但不作為對(duì)本發(fā)明的限定。


圖1為現(xiàn)有的增加內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)在傳輸線上的示意圖；圖2為本發(fā)明的改變傳輸線部份線長(zhǎng)與線寬的示意圖；圖3為本發(fā)明的未補(bǔ)償測(cè)試點(diǎn)與補(bǔ)償后測(cè)試點(diǎn)的反射損失曲線圖；及圖4為本發(fā)明的未補(bǔ)償測(cè)試點(diǎn)與補(bǔ)償后測(cè)試點(diǎn)的眼圖。
其中，附圖標(biāo)記101，201內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)102傳輸線202第一線段203第二線段301補(bǔ)償后信號(hào)的反射損失曲線302未補(bǔ)償?shù)膫鬏斁€的信號(hào)的反射損失曲線401補(bǔ)償后信號(hào)的眼圖402未補(bǔ)償傳輸線的信號(hào)的眼圖具體實(shí)施方式
以下在實(shí)施方式中詳細(xì)敘述本發(fā)明的詳細(xì)特征以及優(yōu)點(diǎn)，其內(nèi)容足以使任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，且根據(jù)本說(shuō)明書(shū)所揭露的內(nèi)容、申請(qǐng)專(zhuān)利范圍及圖式，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員可輕易地理解本發(fā)明相關(guān)的目的及優(yōu)點(diǎn)。
本發(fā)明是利用阻抗匹配的觀念，以改變傳輸線長(zhǎng)度與寬度的方式，使連接到內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線部分線段呈現(xiàn)電感性的高阻抗特性，達(dá)到頻率點(diǎn)的阻抗匹配，進(jìn)而改善內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)電容性的低阻抗特性所造成不連續(xù)的效應(yīng)。
如圖2所示，為本發(fā)明的改變傳輸線202部分線長(zhǎng)與線寬的示意圖，如圖所示，印刷電路板外層的傳輸線的第一線段202的第一線寬如同現(xiàn)有技術(shù)在圖1中所示傳輸線102的線寬，由于內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)201的阻抗并不匹配于原先傳輸線102的線寬，因此改變內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)201至少一端的第二線段203的傳輸線的線長(zhǎng)與線寬，分別為第二線長(zhǎng)與第二線寬，第二線段203再與原先的第一線段202連接，即對(duì)第二線段203取適當(dāng)線長(zhǎng)并縮小線寬來(lái)達(dá)到頻率點(diǎn)的阻抗匹配。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，利用史密斯圖(Smith Chart)依據(jù)預(yù)期頻率來(lái)調(diào)整單根傳輸線最佳化的線長(zhǎng)與線寬，以達(dá)到阻抗匹配，例如，本發(fā)明一實(shí)施例中，訂定頻率為2.2GHz，若第一線寬為5密爾(mil；千分之一英寸)，利用史密斯圖則得到第二線段203的第二線長(zhǎng)為90密爾及第二線寬為3.5密爾，而內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)201兩端的第二線段203不用有對(duì)稱(chēng)的長(zhǎng)度。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，此內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)201的阻抗匹配方式可同時(shí)適用于單端(Single-End)傳輸及差模(Differential Mode)傳輸電路。
補(bǔ)償電路的第二線段203的線寬需小于正常繞線的線寬，線寬越窄，阻抗越大，電感性越大。此外，補(bǔ)償線路的長(zhǎng)度越長(zhǎng)，電感性也越大，也即內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)尺寸越大，阻抗越低，則需在選用更為細(xì)長(zhǎng)的補(bǔ)償線路實(shí)現(xiàn)此匹配?；旧?，選用工藝上最細(xì)的線寬可用最短的長(zhǎng)度達(dá)成所需的匹配電感。否則就需要更長(zhǎng)的線長(zhǎng)來(lái)滿(mǎn)足所需的補(bǔ)償電感。
如圖3所示，為本發(fā)明的未補(bǔ)償測(cè)試點(diǎn)與補(bǔ)償后測(cè)試點(diǎn)的反射損失曲線圖，在內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的差模信號(hào)上使用史密斯圖得到頻率0~10GHz的傳輸線的線長(zhǎng)與線寬，測(cè)量予以補(bǔ)償后信號(hào)的反射損失曲線301并與未補(bǔ)償?shù)膫鬏斁€的信號(hào)的反射損失曲線302作一比較，如圖所示，在低于10GHz的頻率下，各頻率的信號(hào)的反射損失都有所改善，尤其在2~5GHz時(shí)，反射損失約可減少7dB。
如圖4所示，為本發(fā)明的未補(bǔ)償測(cè)試點(diǎn)與補(bǔ)償后測(cè)試點(diǎn)的眼圖，在具有內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的差模信號(hào)上使用史密斯圖得到頻率3GHz的傳輸線的線長(zhǎng)與線寬，測(cè)量予以補(bǔ)償后信號(hào)的眼圖401并與未補(bǔ)償傳輸線的信號(hào)的眼圖402作一比較，如圖所示，未補(bǔ)償傳輸線的信號(hào)的眼圖402較為嚴(yán)重。
當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種用于內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線，該傳輸線設(shè)置于一印刷電路板上并且具有至少一內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)，用以提供電路測(cè)量，該傳輸線在連接該內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的至少一側(cè)配置一第一線長(zhǎng)與一第一線寬的至少一第一線段，其特征在于，該傳輸線位于該內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的至少一側(cè)的部分線段配置一第二線長(zhǎng)與一第二線寬的至少一第二線段，該第二線段連接該內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)與該第一線段。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線，其特征在于，該第二線寬小于該第一線寬。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線，其特征在于，該傳輸線用于一單端傳輸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線，其特征在于，該傳輸線用于一差模傳輸。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線，其特征在于，該第二線長(zhǎng)為90密爾并且該第二線寬為3.5密爾。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種用于內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線，該傳輸線設(shè)置于一印刷電路板上并且具有至少一內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)，用以提供電路測(cè)量，該傳輸線在連接該內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的至少一側(cè)配置一第一線長(zhǎng)與一第一線寬的至少一第一線段，該傳輸線位于該內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的至少一側(cè)的部分線段配置一第二線長(zhǎng)與一第二線寬的至少一第二線段，該第二線段連接該內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)與該第一線段。本發(fā)明利用阻抗匹配的觀念以最佳化連接到內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)的傳輸線部分線段的線長(zhǎng)與線寬，使該部分線段呈現(xiàn)電感性的高阻抗特性，達(dá)到頻率點(diǎn)的阻抗匹配，進(jìn)而改善內(nèi)電路測(cè)試點(diǎn)電容性的低阻抗特性所造成不連續(xù)的效應(yīng)。
文檔編號(hào)G01R31/00GK101082638SQ20061008376
公開(kāi)日2007年12月5日 申請(qǐng)日期2006年6月1日 優(yōu)先權(quán)日2006年6月1日
發(fā)明者楊志明, 陳彥豪 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司