專利名稱：異步芯片同測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于集成電路測試方法，特別是指一種異步芯片同測方法。
背景技術(shù)：
在半導(dǎo)體測試行業(yè)中，現(xiàn)有存儲器測試儀，只能對一位數(shù)據(jù)進(jìn)行匹配， 若要匹配多位數(shù)據(jù)就不能進(jìn)行同測。
邏輯測試儀，是將多個芯片在某個時間段的所有數(shù)據(jù)都取下來，然后 再針對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和處理。如圖1所示，對三個異步芯片實現(xiàn)同測時， 首先，三個芯片同步接受指令，由于異步芯片的響應(yīng)不能同時出現(xiàn)，因此， 在指令發(fā)完后等一段時間，將響應(yīng)允許出現(xiàn)時間段內(nèi)的所有數(shù)據(jù)都采集下 來，最后，離線分析各個芯片的數(shù)據(jù)判斷的合格與否，其缺點是數(shù)據(jù)處理 時間比較長，而且同測數(shù)量相對較少。
因此，在此技術(shù)領(lǐng)域中，需要一種異步芯片同測方法，能夠縮短芯片 的測試時間，還可以提高芯片同測數(shù)量和測試頻率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種異步芯片同測方法，它基于外部 時鐘控制來實現(xiàn)對異步芯片測試同測方法，縮短芯片的測試時間，提高芯 片同測數(shù)量和測試頻率。
為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明異步芯片同測方法，首先，對被測芯片 異步信號的第一位指令進(jìn)行匹配；其次，通過對先匹配到的芯片的時鐘信
號控制，使多個異步被測芯片保持同步；之后，再連續(xù)比對響應(yīng)的多位指 令，實現(xiàn)多個異步被測芯片同時測試時對多位異步信號的匹配。通過本發(fā)明就可以實現(xiàn)在存儲器測試儀上對異步芯片的測試,充分發(fā) 揮了存儲器測試儀同測數(shù)量比較多、測試頻率比較高、測試資源比較多等 優(yōu)勢。很多原有的卡類產(chǎn)品的功能測試都必須在邏輯測試儀上進(jìn)行測試， 現(xiàn)在就可以轉(zhuǎn)移到同測數(shù)量較多的存儲測試儀上提高了芯片同測數(shù)量，明 顯縮短芯片的測試時間，測試頻率也可提高，并大大節(jié)省了測試成本。


下面結(jié)合附圖與具體實施方式
對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。 圖1是測試儀實現(xiàn)對異步信號匹配的方法； 圖2是本發(fā)明實現(xiàn)異步信號匹配的方法。
具體實施方式
首先、在多芯片同時測試時對異步信號的第一位輸出進(jìn)行匹配，如 IS7816協(xié)議中響應(yīng)9000H時先匹配第一位起始位的第一個時鐘輸出的 "0"，如圖1所示，當(dāng)芯片1匹配到第一位數(shù)據(jù)時，就將測試通道的狀態(tài) 保持不變，主要是將時鐘信號保持不變。這時由于時鐘信號的停止，被測芯片1就無法將下一個數(shù)據(jù)輸出。當(dāng) 測試儀在某一段時間內(nèi)將芯片2、芯片3、芯片4等所有輸出第一位信號 都匹配到的時候，再繼續(xù)將測試向量運行下去。對這一時間段沒有匹配到 的芯片就作為不合格處理，而對其他匹配到的芯片此時已經(jīng)保持同步，只 要依次比對下去就可以。如需要IS07816協(xié)議通訊的產(chǎn)品測試，通過對時鐘信號的控制實現(xiàn)了多個異步芯片的同步控制,最終使這類產(chǎn)品的所有測試都放在存儲器測試 儀上進(jìn)行32同測，大大節(jié)省了測試時間，而不再需要將測試程序放在邏輯測試上進(jìn)行16同測。
權(quán)利要求
1、一種異步芯片同測方法，其特征在于首先，對被測芯片異步信號的第一位指令進(jìn)行匹配；其次，通過對先匹配到的芯片的時鐘信號控制，使多個異步被測芯片保持同步；之后，再連續(xù)比對響應(yīng)的多位指令，實現(xiàn)多個異步被測芯片同時測試時對多位異步信號的匹配。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種異步芯片同測方法，首先，對被測芯片異步信號的第一位指令進(jìn)行匹配；其次，通過對先匹配到的芯片的時鐘信號控制，使多個異步被測芯片保持同步；之后，再連續(xù)比對響應(yīng)的多位指令，實現(xiàn)多個異步被測芯片同時測試時對多位異步信號的匹配。本發(fā)明基于外部時鐘控制來實現(xiàn)對異步芯片測試同測方法，縮短芯片的測試時間，提高芯片同測數(shù)量和測試頻率。
文檔編號G01R31/28GK101165501SQ200610117248
公開日2008年4月23日 申請日期2006年10月18日 優(yōu)先權(quán)日2006年10月18日
發(fā)明者武建宏, 黃海華 申請人:上海華虹Nec電子有限公司