專利名稱：圖像質(zhì)量控制系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種顯示器件，尤其是涉及一種適于通過數(shù)據(jù)調(diào)制改善圖像質(zhì)量的平板顯示器件。
背景技術(shù)：
各種平板顯示器件相比具有陰極射線管的顯示器具有減少的重量和尺寸。平板顯示器件可以包括各種顯示面板，例如液晶顯示器、場(chǎng)發(fā)射顯示器、等離子顯示面板、有機(jī)發(fā)光二極管等等。
在某些顯示器件中，圖像質(zhì)量缺陷可以在測(cè)試顯示面板時(shí)確認(rèn)。圖像質(zhì)量缺陷可以包括面板缺陷(或mura缺陷)、由缺陷像素引起的亮點(diǎn)、由背光引起的亮線和/或其它視覺缺陷。
面板缺陷可以引起顯示點(diǎn)，其從周圍屏幕看時(shí)具有不同亮度。顯示點(diǎn)可以具有點(diǎn)形、帶形、塊形、圓形、多邊形和/或其它確定或不確定的形狀。在某些實(shí)例中，面板缺陷可以由于工藝缺陷和/或曝光機(jī)器的透鏡個(gè)數(shù)不同而發(fā)生。在某些面板缺陷的實(shí)例中，當(dāng)向缺陷面板區(qū)域和非缺陷面板區(qū)域提供相同的信號(hào)時(shí)，在缺陷面板區(qū)域中顯示的圖像比非缺陷面板區(qū)域中顯示的圖像更暗或更亮。在其它實(shí)例中，在缺陷面板區(qū)域和非缺陷面板區(qū)域中的顏色感覺可能表現(xiàn)的不同。面板缺陷可能在制造工藝中產(chǎn)生。面板缺陷的示例具有如圖1A至1E所示的各種形式。圖1A至1C中顯示的垂直帶形的面板缺陷可能由于重疊曝光和/或透鏡個(gè)數(shù)差異產(chǎn)生。圖1D和1E中表示了點(diǎn)形和三角形的面板缺陷，并且可能由雜質(zhì)產(chǎn)生。由于面板缺陷，可以按照缺陷等級(jí)判別產(chǎn)品，這種產(chǎn)品的缺陷使產(chǎn)量下降，并且其導(dǎo)致成本增加。此外，即使當(dāng)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品具有面板缺陷但是當(dāng)作非缺陷產(chǎn)品裝運(yùn)時(shí)，圖像質(zhì)量可能由于面板缺陷而惡化并且產(chǎn)品的可靠性可能降低。為了改善面板缺陷已經(jīng)提出了各種方法。然而，這些方法主要在于解決制造工藝中的問題。
顯示面板上的缺陷像素可能由于信號(hào)線的短路和/或線路破壞、薄膜晶體管(“TFT”)的缺陷和/或電極圖案缺陷而產(chǎn)生。由缺陷像素引起的圖像質(zhì)量缺陷可能在顯示屏上作為黑點(diǎn)或亮點(diǎn)出現(xiàn)。因?yàn)榱咙c(diǎn)相比黑點(diǎn)通過裸眼感覺具有相對(duì)更大程度的感覺，表現(xiàn)為亮點(diǎn)的缺陷像素可以被變黑從而克服圖像質(zhì)量缺陷。雖然如圖2A所示被變?yōu)楹邳c(diǎn)的缺陷像素在黑灰度級(jí)的顯示屏中幾乎感覺不到，但是圖2B和2C中所示的中灰度級(jí)和白灰度級(jí)的顯示屏存在問題，被變?yōu)楹邳c(diǎn)的缺陷子像素10在顯示圖像中作為黑點(diǎn)被清楚的感覺到，即使通過裸眼感覺到的程度相比亮點(diǎn)要低。
在各種平板顯示器件的液晶顯示器件中，由于通過背光產(chǎn)生亮線而出現(xiàn)圖像質(zhì)量缺陷。作為不采用自發(fā)光器件的液晶顯示器件，采用背光將光照射到顯示面板的后表面，并控制從后表面到前表面的透光率從而顯示圖像。液晶顯示器件由于從背光發(fā)出的光不是均勻的入射到顯示面板的整個(gè)入射表面而具有在顯示屏上出現(xiàn)亮線的問題。圖3表示主要出現(xiàn)在采用直下式背光的液晶顯示器件中的亮線的示例。

發(fā)明內(nèi)容
一種圖像質(zhì)量控制系統(tǒng)，其可以確定顯示面板缺陷的位置。所述系統(tǒng)可以計(jì)算用于補(bǔ)償顯示缺陷的數(shù)據(jù)并在視頻信號(hào)上調(diào)制補(bǔ)償數(shù)據(jù)來補(bǔ)償缺陷。該缺陷可能與像素或顯示面板區(qū)域相關(guān)。
一種圖像質(zhì)量系統(tǒng)可以包括存儲(chǔ)器和補(bǔ)償電路。存儲(chǔ)器可以存儲(chǔ)表示面板缺陷位置和/或電荷特性的補(bǔ)償數(shù)據(jù)。補(bǔ)償電路可以處理補(bǔ)償數(shù)據(jù)以增加或減少視頻信號(hào)的亮度信息和/或分量信息。
基于以下附圖和詳細(xì)說明，其它系統(tǒng)、方法、特性和優(yōu)點(diǎn)將是明顯的或?qū)τ谑煜け绢I(lǐng)域的技術(shù)人員將很顯然。本發(fā)明的范圍旨在涵蓋所有這類系統(tǒng)、方法、特性和優(yōu)點(diǎn)，且屬于本申請(qǐng)所附的權(quán)利要求書的保護(hù)范圍。


所述系統(tǒng)參照以下附圖和說明可以更好的理解。圖中的元件不需要成比例，重點(diǎn)在于說明本發(fā)明的原理。此外，在圖中，相同的附圖標(biāo)記在所有不同的圖中指代對(duì)應(yīng)的部分。
圖1A至1E示出了面板缺陷的各種形狀；圖2A至2C示出了當(dāng)缺陷像素被變?yōu)楹邳c(diǎn)時(shí)的各種灰度電平；圖3示出了由背光引起的亮線的圖像質(zhì)量缺陷；圖4所示為一種平板顯示器件的制造方法的流程圖；圖5所示為簡(jiǎn)要說明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的連接子像素的示圖；圖6所示為伽馬特性的示意圖；圖7所示為相同顏色的缺陷像素和相鄰的非缺陷像素的平面圖；圖8所示為修復(fù)工藝之后沿著圖7中的線I-I’提取的相同顏色的缺陷像素和相鄰的非缺陷像素的橫截面圖；圖9所示為在修復(fù)工藝中W-CVD工藝的橫截面圖；圖10所示為相同顏色的缺陷像素和相鄰的非缺陷像素的另一平面圖；圖11所示為修復(fù)工藝之后沿著圖10中的線II-II’提取的相同顏色的缺陷像素和相鄰的非缺陷像素的橫截面圖；圖12所示為修復(fù)工藝之前沿著圖10中的線II-II’提取的相同顏色的缺陷像素和相鄰的非缺陷像素的橫截面圖；圖13所示為相同顏色的缺陷像素和相鄰的非缺陷像素的第三平面圖；圖14所示為修復(fù)工藝之后沿著圖13中的線III-III’提取的相同顏色的缺陷像素和相鄰的非缺陷像素的橫截面圖；圖15所示為相同顏色的缺陷像素和相鄰的非缺陷像素的第四平面圖；圖16所示為修復(fù)工藝之后沿著圖15中的線IV-IV’提取的相同顏色的缺陷像素和相鄰的非缺陷像素的橫截面圖；圖17所示為修復(fù)工藝之前沿著圖15中的線IV-IV’提取的相同顏色的缺陷像素和相鄰的非缺陷像素的橫截面圖；圖18A所示為面板缺陷的示意圖；圖18B所示為連接像素的示意圖；圖18C所示為面板缺陷的位置與連接像素的位置重疊的示意圖；圖19所示為能夠控制圖像質(zhì)量的顯示器件的部分方框圖；圖20所示為能夠控制圖像質(zhì)量的顯示器件的第二部分方框圖；圖21所示為補(bǔ)償電路的部分示意圖；
圖22所示為補(bǔ)償電路的第二部分示意圖。
具體實(shí)施例方式
圖4所示為一種液晶顯示器件的制造方法。顯示面板的上基板(濾色片基板)和下基板(TFT陣列基板)分別在步驟S1和S2單獨(dú)形成。步驟S 1和S2可以包括基板清洗工序、基板構(gòu)圖工序和/或定向膜形成/研磨工序。在基板清洗工序中，上基板和下基板表面上的雜質(zhì)可以用清洗溶液除去。基板構(gòu)圖工序可以被分為上基板構(gòu)圖工序和下基板構(gòu)圖工序。在上基板構(gòu)圖工序中，可以形成濾色片、公共電極和/或黑矩陣。在下基板構(gòu)圖工序中，可以形成信號(hào)線例如數(shù)據(jù)線和柵線。TFT在數(shù)據(jù)線和柵線的交叉部分處形成，而像素電極在由數(shù)據(jù)線和柵線的交叉提供的像素區(qū)域中形成。作為選擇，如圖5所示的下基板構(gòu)圖工序可以包括構(gòu)圖導(dǎo)電連接圖案12用于連接正常子像素11和缺陷子像素10。
在步驟S3，檢查顯示面板的下基板的缺陷。檢查可以包括向顯示面板的下基板提供灰度級(jí)測(cè)試數(shù)據(jù)并顯示測(cè)試圖像?？梢酝ㄟ^電/磁檢查和/或裸眼觀察圖像檢測(cè)到面板缺陷和/或缺陷子像素的存在。子像素可以是構(gòu)成一個(gè)像素的紅R、綠G和藍(lán)B中的任意一個(gè)。由于像素缺陷通過子像素單元表現(xiàn)，第二和第三檢查工序S8和S14以及第一和第二修復(fù)工序S5和S10可以在子像素單元級(jí)別上完成。
如果在步驟S3檢測(cè)到面板缺陷，面板缺陷的存在和/或檢測(cè)的位置信息可以存儲(chǔ)在檢查計(jì)算機(jī)中。在步驟S6，檢查計(jì)算機(jī)可以為面板缺陷的各位置的各灰度級(jí)計(jì)算面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)。
圖6所示為步驟S5的第一修復(fù)工序。第一修復(fù)工序可以通過電短路或連接缺陷子像素10和與缺陷子像素10相同顏色的相鄰的正常(“非缺陷”)子像素11執(zhí)行。第一修復(fù)工序S5可以包括切斷數(shù)據(jù)電壓施加給缺陷子像素10的像素電極的路徑的工序和電短路或通過利用導(dǎo)電連接圖案12連接正常子像素11和缺陷子像素10的工序。根據(jù)使用的導(dǎo)電連接圖案12，第一修復(fù)工序可以根據(jù)各種不同的方法執(zhí)行。
在圖6中，連接缺陷子像素13通過連接缺陷子像素10和非缺陷子像素11形成。在其中相同顏色的非缺陷子像素11和缺陷子像素10電連接的連接子像素13中，當(dāng)向非缺陷子像素11充入數(shù)據(jù)電壓時(shí)，該連接缺陷子像素13可以充入相同的數(shù)據(jù)電壓。但是，連接子像素13相比沒有連接的非缺陷子像素14具有不同的電荷特性，這是因?yàn)殡姾赏ㄟ^一個(gè)TFT提供給包括在兩個(gè)子像素10、11中的像素電極。例如，當(dāng)相同的數(shù)據(jù)電壓被施加給連接子像素13和非連接非缺陷子像素14時(shí)，連接子像素13具有分散給兩個(gè)子像素10、11的電荷，這樣充入的電荷量相比非連接非缺陷子像素14要小。因此，當(dāng)相同數(shù)據(jù)電壓被施加給非連接非缺陷子像素14和連接子像素13時(shí)，在常白模式中連接子像素13表現(xiàn)的比非連接非缺陷子像素11要亮，其中透光率或灰度級(jí)隨著數(shù)據(jù)電壓變低而增加，并且相反，在常黑模式中連接子像素13表現(xiàn)的比未連接非缺陷子像素14要暗，其中透光率或灰度級(jí)隨著數(shù)據(jù)電壓變高而減少。一般來說，在液晶單元的像素電極和公共電極分別在兩個(gè)彼此相對(duì)且其中有液晶的基板上形成并且像素電極和公共電極之間施加垂直電場(chǎng)的扭曲向列模式(“TN模式”)中以常白模式驅(qū)動(dòng)，但是相反的，在液晶單元的像素電極和公共電極在同一基板上形成并且在像素電極和公共電極之間施加水平電場(chǎng)的共平面開關(guān)模式(“IPS模式”)中以常黑模式驅(qū)動(dòng)。
在為缺陷子像素10執(zhí)行第一修復(fù)工序(S5)之后，缺陷連接子像素13的位置信息和缺陷子像素10的存在信息可以存儲(chǔ)在檢查計(jì)算機(jī)中。檢查計(jì)算機(jī)可以為缺陷連接子像素13的各位置的各灰度級(jí)計(jì)算電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)(S6)。電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)可以是對(duì)于非連接非缺陷像素14的用于補(bǔ)償連接缺陷子像素的電荷特性的數(shù)據(jù)。
在步驟S7，上/下基板用密封劑或熔融玻璃粘合在一起。步驟S7可以包括定向膜形成/研磨工序和/或基板粘合/液晶注入工序。在定向膜形成/研磨工序中，定向膜涂在顯示面板的各上基板和下基板上。定向膜可以用研磨布或其它應(yīng)用器件研磨。在基板粘合/液晶注入工序中，上基板和下基板可以通過采用密封劑粘合。液晶和襯墊料可以通過液晶注入孔注入并且然后封裝該液晶注入孔。隨后，各灰度級(jí)的測(cè)試數(shù)據(jù)可以被提供給顯示面板，其包括粘合的上/下基板、顯示測(cè)試圖像。缺陷子像素的存在的第一檢查可以通過步驟S8的電磁檢查和/或裸眼檢查來執(zhí)行。
如果在步驟S8檢測(cè)到面板缺陷，則面板缺陷的存在和/或關(guān)于缺陷位置的信息可以存儲(chǔ)在檢查計(jì)算機(jī)里。在步驟S6，檢查計(jì)算機(jī)可以為面板缺陷的各位置計(jì)算各灰度級(jí)的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)。
如果在步驟S8檢測(cè)到缺陷子像素，則在步驟S10執(zhí)行對(duì)于檢測(cè)的缺陷子像素的第二修復(fù)工序。第二修復(fù)工序(S10)也可以與第一修復(fù)工序相同的方式通過電短路或連接缺陷子像素10和相鄰的與缺陷子像素10具有相同顏色的非缺陷子像素11執(zhí)行。第一修復(fù)工序S5和第二修復(fù)工序S10可以按照導(dǎo)電連接構(gòu)圖12形成的方式相同或不同。
在步驟S10為缺陷子像素10執(zhí)行第二修復(fù)工序之后，連接缺陷子像素13的位置信息和缺陷子像素10的存在信息可以存儲(chǔ)在檢查計(jì)算機(jī)中。在步驟S6檢查計(jì)算機(jī)可以為連接子像素13的各位置計(jì)算各灰度級(jí)的電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)。
在步驟S11，裝配顯示面板模塊。裝配工序可以包括在上/下基板粘合的顯示面板上裝配驅(qū)動(dòng)電路，為安裝有驅(qū)動(dòng)電路的顯示面板裝載殼體，和/或附加背光和/或其它元件。在驅(qū)動(dòng)電路安裝工序中，安裝有集成電路例如柵驅(qū)動(dòng)集成電路(“IC”)、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)IC和/或其它電路和/或集成電路的載帶封裝(“TCP”)的輸出終端連接到基板的焊盤部分。TCP的輸入終端連接到印刷電路板(“PCB”)，其上可以安裝有時(shí)序控制器。非易失性存儲(chǔ)器可以連接到PCB。該非易失性存儲(chǔ)器可以包括電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器(“EEPROM”)、擴(kuò)展顯示識(shí)別數(shù)據(jù)只讀存儲(chǔ)器(“EDIDROM”)、可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器(“EPROM”)、閃存和/或其它更新和擦除數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器。
非易失性存儲(chǔ)器可以存儲(chǔ)面板缺陷和/或連接子像素的位置數(shù)據(jù)、面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)和/或電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)。通過使用存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)調(diào)制可以提供給面板缺陷和/或連接子像素13的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)的補(bǔ)償電路安裝在PCB上。作為選擇，補(bǔ)償電路可以與嵌入在補(bǔ)償電路中的時(shí)序控制器做成一個(gè)芯片。柵驅(qū)動(dòng)器和/或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)集成電路可以通過玻上芯片(“COG”)方法而不是采用載帶封裝的帶式自動(dòng)焊接(“TAB”)方法直接安裝在基板上。
在步驟S12，可以確定在顯示屏上面板缺陷和/或缺陷子像素13的存在。該確定可以是基于存儲(chǔ)在檢查計(jì)算機(jī)中的缺陷信息(例如，存在和/或位置)。如果面板缺陷和/或缺陷子像素存在于顯示面板中，則在步驟S13中，存儲(chǔ)在檢查計(jì)算機(jī)中的面板缺陷和/或連接子像素的位置數(shù)據(jù)、面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)和/或由檢查計(jì)算機(jī)計(jì)算的電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中。在某些工序中，在步驟S12缺陷的確定和步驟S13非易失性存儲(chǔ)器的信息存儲(chǔ)可以在步驟S11裝備模塊之前發(fā)生。
檢查計(jì)算機(jī)可以通過只讀存儲(chǔ)器(“ROM”)刻錄機(jī)向非易失性存儲(chǔ)器提供位置數(shù)據(jù)和補(bǔ)償數(shù)據(jù)。ROM刻錄機(jī)可以通過用戶連接器將位置數(shù)據(jù)和補(bǔ)償數(shù)據(jù)發(fā)送到非易失性存儲(chǔ)器。補(bǔ)償數(shù)據(jù)可以通過用戶連接器被串聯(lián)發(fā)送。串行時(shí)鐘、電源和/或接地電源可以通過用戶連接器連接和/或發(fā)送到非易失性存儲(chǔ)器。
這時(shí)，由檢查計(jì)算機(jī)計(jì)算的補(bǔ)償數(shù)據(jù)中的補(bǔ)償值，即，存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中的補(bǔ)償數(shù)據(jù)，應(yīng)該為各位置優(yōu)化，這是因?yàn)榉侨毕輩^(qū)域在亮度差別或顏色差別的程度上按照面板缺陷的位置不同。此外，考慮如圖6所示的伽馬特性，應(yīng)該優(yōu)化補(bǔ)償值。因此，如圖6所示，可以為各R、G、B子像素中的各灰度級(jí)設(shè)置補(bǔ)償值或?yàn)榘ǘ鄠€(gè)灰度級(jí)的各灰度級(jí)部分(A、B、C、D)設(shè)置補(bǔ)償值。例如，補(bǔ)償值為各位置設(shè)置為優(yōu)化值，例如在‘面板缺陷1’的位置設(shè)置為‘+1’，‘面板缺陷2’的位置設(shè)置為‘-1’，‘面板缺陷3’的位置設(shè)置為‘0’，而且還可以為各灰度級(jí)部分設(shè)置優(yōu)化值，例如，‘灰度級(jí)部分A’設(shè)置為‘0’，‘灰度級(jí)部分B’設(shè)置為‘0’，‘灰度級(jí)部分C’設(shè)置為‘1’并且‘灰度級(jí)部分D’設(shè)置為‘1’。因此，補(bǔ)償值可以在同一面板缺陷位置中為各灰度級(jí)設(shè)置為不同，并且還可以在同一灰度級(jí)中為各面板缺陷位置設(shè)為不同。當(dāng)校正亮度時(shí)像這樣的補(bǔ)償值在一個(gè)像素的各R、G、B數(shù)據(jù)中被設(shè)置為相同值并以包括R、G、B子像素的一個(gè)像素為單位進(jìn)行設(shè)置。此外，當(dāng)校正色差時(shí)，在各R、G、B數(shù)據(jù)中補(bǔ)償值設(shè)置的不同。例如，如果在特定面板缺陷位置中出現(xiàn)的紅色比非缺陷位置更明顯，則R補(bǔ)償值比G、B補(bǔ)償值變低。
此外，連接子像素13的電荷特性相比非連接非缺陷子像素還可以具有不同程度的亮度或顏色差。這樣，存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中的電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)的補(bǔ)償值應(yīng)該為連接子像素13的各位置優(yōu)化。此外，存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中的電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)的補(bǔ)償值為連接子像素13的各灰度級(jí)可以不同從而其與非連接非缺陷子像素14的灰度級(jí)具有相同的灰度級(jí)顯示。作為選擇，電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)為包括多個(gè)灰度級(jí)的各灰度級(jí)區(qū)域可以不同。
監(jiān)視器信息數(shù)據(jù)例如銷售商/制造商標(biāo)識(shí)信息(ID)和/或基本顯示器件的變量和特性，可以存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中。位置數(shù)據(jù)和補(bǔ)償數(shù)據(jù)可以存儲(chǔ)在與存儲(chǔ)監(jiān)視器信息數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)空間分開的存儲(chǔ)空間中。在補(bǔ)償數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在EDID ROM非易失性存儲(chǔ)器中的情況下，ROM刻錄機(jī)通過數(shù)據(jù)顯示通道(“DDC”)發(fā)送補(bǔ)償數(shù)據(jù)。在這種情況下，可以去除用戶連接器，因此實(shí)現(xiàn)了進(jìn)一步減少成本。
在步驟S14，可以通過電/磁檢查和/或裸眼檢查第三次檢查除圖像質(zhì)量缺陷。第三檢查可以包括調(diào)制要提供給連接子像素13的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)和/或面板缺陷位置。存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中的位置數(shù)據(jù)和/或補(bǔ)償數(shù)據(jù)可以被用于調(diào)制數(shù)字視頻數(shù)據(jù)。調(diào)制的視頻數(shù)據(jù)可以提供給顯示測(cè)試圖像的液晶顯示器件。如果檢測(cè)到圖像質(zhì)量缺陷，即在步驟S15為“是”，則在第三檢查期間，圖像質(zhì)量缺陷出現(xiàn)的位置信息可以存儲(chǔ)在檢查計(jì)算機(jī)中。在步驟S6，檢查計(jì)算機(jī)可以為圖像質(zhì)量缺陷出現(xiàn)的位置的各灰度即計(jì)算圖像質(zhì)量缺陷的補(bǔ)償數(shù)據(jù)。圖像質(zhì)量缺陷的位置數(shù)據(jù)和計(jì)算的補(bǔ)償數(shù)據(jù)可以在步驟S13存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中。作為選擇，在步驟S14的第三檢查中檢查的圖像質(zhì)量缺陷在用于面板缺陷和/或連接子像素的補(bǔ)償數(shù)據(jù)沒有被優(yōu)化的青蝦下可以包括由背光產(chǎn)生的亮線信息。
如果檢查到?jīng)]有圖像質(zhì)量缺陷或少于允許的參考值，即，在步驟S15為“否”，則在第三檢查期間，液晶顯示器件可以被判斷為適合裝運(yùn)的產(chǎn)品(S16)。
圖7至17是在第一和第二修復(fù)工序(S5，S10)中形成導(dǎo)電連接圖案13的各種實(shí)施方式的示意圖。
圖7、8和9是用于說明TN模式液晶顯示器件的修復(fù)工序的示意圖。在圖7、8和9中，通過化學(xué)汽相沉積(“W-CVD”)工序，在缺陷子像素10的像素電極43A和相鄰的非缺陷像素11的像素電極43B上形成連接圖案44。像素電極43A、43B連接到TFT的漏極17。
柵線41和數(shù)據(jù)線42在下基板的玻璃基板45上彼此交叉，并且TFT在交叉部分處形成。TFT的柵極電連接到柵線41，而源極電連接到數(shù)據(jù)線42。TFT的漏極通過接觸孔電連接到像素電極43A、43B。
柵金屬圖案可以包括柵線41和/或在玻璃基板45上形成的TFT的柵極。柵金屬圖案可以通過可能包括鋁A1、釹化鋁AlNd的柵金屬沉積工藝、光刻工藝和/或蝕刻工藝形成。
源/漏金屬圖案可以包括數(shù)據(jù)線42和/或在柵絕緣薄膜46上形成的TFT的源極和漏極。源/漏金屬圖案可以通過鉻Cr、鉬Mo、鈦Ti的源/漏金屬沉積工藝、光刻工藝和/或蝕刻工藝形成。
用于將柵金屬圖案與源/漏金屬圖案電絕緣的柵絕緣薄膜46可以由無機(jī)絕緣薄膜形成，例如氮化硅SiNx或氧化硅SiOx。覆蓋TFT、柵線41和數(shù)據(jù)線42的鈍化層薄膜47可以由無機(jī)或有機(jī)絕緣薄膜形成。
像素電極43A和43B可以通過在鈍化薄膜47上沉積透明導(dǎo)電金屬例如銦錫氧化物ITO、錫氧化物TO、銦鋅氧化物IZO或銦錫鋅氧化物ITZO并且應(yīng)用光刻工藝和蝕刻工藝而在鈍化薄膜47上形成。數(shù)據(jù)電壓可以從數(shù)據(jù)線42通過TFT在TFT導(dǎo)通的掃描周期內(nèi)施加給像素電極43A和43B。
在基板粘合/液晶注入工序之前為下基板執(zhí)行修復(fù)工序。修復(fù)工序在TFT的源極和數(shù)據(jù)線42之間或TFT的漏極和數(shù)據(jù)線42之間建立電流路徑。像素電極43A可以通過激光切割工藝斷路以截取像素電極43A和缺陷子像素10的TFT之間的電流路徑。通過W-CVD工藝，在缺陷子像素10的像素電極43A和相鄰的相同顏色的非缺陷子像素11的像素電極43B以及像素電極43A和43B之間的鈍化薄膜47上沉積鎢(W)以形成連接圖案44。作為選擇，連接圖案44可以在斷路像素電極43A之前通過W-CVD工藝形成。
W-CVD工藝可以在W(CO)6蒸氣下在像素電極43A或43B之間任意一個(gè)像素電極上聚集激光光線。激光光線被移動(dòng)或掃描到另一像素電極。隨著激光光線被移動(dòng)，鎢(W)與激光光線反應(yīng)而從W(CO)6中分離，并且鎢(W)沉積在像素電極43A和43B及其間的鈍化薄膜47上。
圖10和11是用于說明TN模式液晶顯示器件的另一修復(fù)工藝的示意圖。在圖10和11中，連接圖案74與缺陷子像素10的像素電極73A和相鄰的非缺陷子像素11的像素電極73B重疊并且其間具有鈍化薄膜77。
柵線71和數(shù)據(jù)線72在下基板的玻璃基板75上彼此交叉并且TFT在交叉部分形成。TFT的柵極電連接到柵線71，而源極電連接到數(shù)據(jù)線72。TFT的漏極通過接觸孔電連接到像素電極73A、73B。
柵金屬圖案可以包括柵線71和/或在玻璃基板75上形成的TFT的柵極。柵金屬圖案可以通過柵金屬沉積工藝、光刻工藝和蝕刻工藝形成。
柵線71可以包括凹形圖案80，其通過指定的距離與連接圖案74分開從而不與其重疊。凹形圖案可以具有包圍連接圖案74的形狀。
源/漏金屬圖案可以包括數(shù)據(jù)線72、TFT的源極和漏極和/或在柵絕緣薄膜79上形成的連接圖案74。源/漏金屬圖案可以通過源/漏金屬沉積工藝、光刻工藝和蝕刻工藝形成。
連接圖案74可以形成為島狀圖案，其在修復(fù)工序之前沒有連接到柵線71、數(shù)據(jù)線72和像素電極73A和73B。連接圖案74的一端可以重疊像素電極73A而連接圖案的另一端可以重疊像素電極73B。
柵絕緣薄膜79可以使源/漏金屬圖案與柵金屬圖案電絕緣。鈍化薄膜77可以使像素電極73A和73B與源/漏金屬圖案電絕緣。
像素電極73A和73B可以在鈍化薄膜77上通過沉積透明導(dǎo)電金屬工藝、光刻工藝和蝕刻工藝形成。像素電極73A和73B可以包括從上端的一側(cè)延伸的部分76。像素電極73A和73B可以通過延伸的部分76與連接圖案74的一端重疊。數(shù)據(jù)電壓可以從數(shù)據(jù)線72通過TFT在TFT導(dǎo)通的掃描周期內(nèi)施加給像素電極73A和73B。
在基板粘合/液晶注入工序之前為下基板執(zhí)行修復(fù)工序或在基板粘合/液晶注入工序之后為面板執(zhí)行修復(fù)工序。修復(fù)工序在TFT的源極和數(shù)據(jù)線72之間或TFT的漏極和數(shù)據(jù)線72之間建立電流路徑。像素電極73A可以通過激光切割工藝短路以截取像素電極73A和缺陷像素的TFT之間的電流路徑。如圖10所示，利用激光焊接工藝，修復(fù)工藝照射像素電極73A和73B。像素電極73A和73B以及鈍化薄膜77由激光光線熔化，并且因此，像素電極73A和73B連接到連接圖案74。作為選擇，線斷開工藝和激光焊接工藝可以以相反的順序執(zhí)行。圖12示出了像素電極73A和73B以及連接圖案74，其在激光焊接工藝前通過鈍化薄膜77電分離。
圖13和14是說明IPS液晶顯示器件的修復(fù)工藝的示意圖。在圖13和14中，通過化學(xué)汽相沉積(W-CVD)工藝，在缺陷子像素10的像素電極103A和相鄰的非缺陷子像素11的像素電極103B上形成連接圖案104。
柵線101和數(shù)據(jù)線102在下基板的玻璃基板105上彼此交叉并且TFT在交叉部分形成。TFT的柵極電連接到柵線101，而源極電連接到數(shù)據(jù)線102。TFT的漏極通過接觸孔電連接到像素電極103A、103B。
柵金屬圖案可以包括柵線101、TFT的柵極和/或公共電極108，其可以在玻璃基板105上形成。柵金屬圖案可以通過柵金屬沉積工藝、光刻工藝和蝕刻工藝形成。公共電極108連接到所有液晶單元以向液晶單元提供公共電壓Vcom。通過施加給公共電極108的公共電壓Vcom和施加給像素電極103A和103B的數(shù)據(jù)電壓向液晶單元施加水平電場(chǎng)。
源/漏金屬圖案可以包括數(shù)據(jù)線102和/或在柵絕緣薄膜106上形成的TFT的源極和漏極。源/漏金屬圖案可以通過源/漏金屬沉積工藝、光刻工藝和蝕刻工藝形成。
像素電極103A和103B可以在鈍化薄膜107上通過沉積透明導(dǎo)電金屬工藝、光刻工藝和蝕刻工藝形成。數(shù)據(jù)電壓可以從數(shù)據(jù)線102通過TFT在TFT導(dǎo)通的掃描周期內(nèi)施加給像素電極103A和103B。
在基板粘合/液晶注入工序之前為下基板執(zhí)行修復(fù)工序。修復(fù)工序在TFT的源極和數(shù)據(jù)線102之間或TFT的漏極和數(shù)據(jù)線102之間建立電流路徑。像素電極103A可以通過激光切割工藝斷路以截取像素電極103A和缺陷子像素10的TFT之間的電流路徑。通過W-CVD工藝，在缺陷子像素10的像素電極103A和相鄰的相同顏色的非缺陷子像素11的像素電極103B以及像素電極103A和103B之間的鈍化薄膜107上沉積鎢(W)以形成連接圖案104。作為選擇，連接圖案104可以在斷路像素電極103A之前通過W-CVD工藝形成。
圖15至17是說明IPS模式液晶顯示器件的另一修復(fù)工藝的示意圖。在圖15至17中，用于向液晶單元施加水平電場(chǎng)的公共電極和數(shù)據(jù)金屬圖案例如數(shù)據(jù)線、TFT和像素電極等被省略。
在圖15至17中，柵線121包括頸部132。頭部133連接到頸部132并具有延伸的面積?？讖綀D案131在頸部132和頭部133附近以‘C’形被移除。
柵金屬圖案可以包括在玻璃基板125上形成的柵線121、TFT(未示出)的柵極和/或公共電極。柵金屬圖案可以通過柵金屬沉積工藝、光刻工藝和蝕刻工藝形成。
像素電極123A和123B可以在鈍化薄膜127上通過包括沉積透明導(dǎo)電金屬、光刻和蝕刻的工藝形成。
在圖16中所示的修復(fù)工藝中，柵線的頸部132可以通過激光切割工藝斷路。頭部133的一側(cè)端與缺陷子像素10的像素電極123A重疊并且其間具有柵絕緣薄膜126和鈍化薄膜127，并且頭部133的另一側(cè)端與相鄰的非缺陷子像素11的像素電極123B重疊并且其間具有柵絕緣薄膜126和鈍化薄膜127。
在基板粘合/液晶注入工序之前為下基板執(zhí)行修復(fù)工序或在基板粘合/液晶注入工序之后為面板執(zhí)行修復(fù)工序。修復(fù)工序在TFT的源極和數(shù)據(jù)線之間或TFT的漏極和數(shù)據(jù)線之間建立電流路徑。頸部132可以通過激光切割工藝斷路以截取像素電極123A和缺陷像素的TFT之間的電流路徑。如圖13所示，利用激光焊接工藝，修復(fù)工藝照射與頭部133的兩端相鄰的像素電極123A和123B。像素電123A和123B、鈍化薄膜127和柵絕緣薄膜126由激光光線熔化，并且因此，頭部133成為從柵線121獨(dú)立的圖案，并且像素電極123A和123B連接到頭部133。作為選擇，頭部133與像素電極123A和123B之間的連接可以在頸部132通過激光切割工藝斷路之前形成。
圖像質(zhì)量控制方法調(diào)制要提供到在顯示屏中圖像質(zhì)量缺陷出現(xiàn)的位置的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)。數(shù)字視頻數(shù)據(jù)可以由通過上述液晶顯示器件的制造方法計(jì)算的補(bǔ)償數(shù)據(jù)來調(diào)制，從而提供給圖像質(zhì)量缺陷出現(xiàn)的位置，以補(bǔ)償圖像質(zhì)量缺陷。調(diào)制數(shù)據(jù)可以根據(jù)圖像質(zhì)量缺陷的類型改變。例如，對(duì)于缺陷子像素，數(shù)據(jù)調(diào)制可以增加或減少由數(shù)字視頻數(shù)據(jù)表示的灰度級(jí)。作為選擇，對(duì)于面板缺陷區(qū)域，數(shù)據(jù)調(diào)制可以被細(xì)分以表示灰度級(jí)。
圖像質(zhì)量控制方法可以分為面板缺陷的第一補(bǔ)償步驟和連接子像素的第二補(bǔ)償步驟。在圖像質(zhì)量控制方法的第一補(bǔ)償步驟中，將要在面板缺陷位置顯示的m/m/m比特的紅、綠、藍(lán)(“RGB”)數(shù)據(jù)被轉(zhuǎn)換為n/n/n比特(n是大于m的整數(shù))的亮度Y和色差U/V數(shù)據(jù)。在轉(zhuǎn)換的n/n/n比特的Y/U/V數(shù)據(jù)中要在面板缺陷位置顯示的亮度數(shù)據(jù)Y由要被調(diào)制的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)增加或減少。該信息然后將被轉(zhuǎn)換回m/m/m比特的RGB數(shù)據(jù)。例如，8/8/8比特的RGB數(shù)據(jù)被轉(zhuǎn)換為10/10/10比特的Y/U/V數(shù)據(jù)，其中比特?cái)?shù)目被擴(kuò)展。在向擴(kuò)展比特的Y數(shù)據(jù)加上或減去面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)之后，Y數(shù)據(jù)被增加或減少的10/10/10比特的Y/U/V數(shù)據(jù)又被轉(zhuǎn)換為8/8/8比特的RGB數(shù)據(jù)。
作為選擇，面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)可以根據(jù)面板缺陷位置和在面板缺陷位置上要顯示的視頻數(shù)據(jù)的灰度級(jí)變化。例如，如圖18A所示，如果在顯示面板上有面板缺陷區(qū)域1至4(PD1至PD4)，為了補(bǔ)償要在面板缺陷區(qū)域1至4(PD1至PD4)中顯示的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)的亮度信息，各灰度級(jí)區(qū)域、各面板缺陷區(qū)域的各位置(區(qū)域)的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)可以存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中，如表1所示。


如果在非易失性存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)如表1所示，則圖像質(zhì)量控制方法的第一補(bǔ)償步驟將要提供給面板缺陷區(qū)域1(PD1)的位置的8/8/8比特RGB數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為10/10/10比特的Y/U/V數(shù)據(jù)。如果Y數(shù)據(jù)的高8比特為對(duì)應(yīng)于灰度級(jí)部分2的‘01000000(64)’，則‘10(2)’被加到Y(jié)數(shù)據(jù)的低2比特以修改Y數(shù)據(jù)，并且將修改的Y/U/V數(shù)據(jù)再轉(zhuǎn)換為8/8/8比特的RGB數(shù)據(jù)。類似的，圖像質(zhì)量控制方法的第一補(bǔ)償步驟將要提供給面板缺陷區(qū)域4(PD4)的位置的8/8/8比特RGB數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為10/10/10比特的Y/U/V數(shù)據(jù)。如果Y數(shù)據(jù)的高8比特為對(duì)應(yīng)于灰度級(jí)部分3的‘10000000(128)’，則‘11(3)’被加到Y(jié)數(shù)據(jù)的低2比特以修改Y數(shù)據(jù)，并且將修改的Y/U/V數(shù)據(jù)再轉(zhuǎn)換為8/8/8比特的RGB數(shù)據(jù)。
這樣，圖像質(zhì)量控制方法的第一補(bǔ)償步驟將要在面板缺陷位置顯示的RGB視頻數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為亮度分量和色差分量。注意到人眼對(duì)亮度差別比對(duì)色差更為敏感，并且通過擴(kuò)展包括亮度信息的Y數(shù)據(jù)的比特?cái)?shù)目而控制面板缺陷位置的亮度，這可能很好的控制平板顯示器件的面板缺陷位置的亮度。
在圖像質(zhì)量控制方法的第二補(bǔ)償步驟中，要提供給連接子像素的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)可以增加或減少到預(yù)設(shè)的電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)。
例如，如圖18B所示，當(dāng)在顯示面板上存在連接子像素LSP1和LSP2時(shí)，各連接子像素LSP1和LSP2的各位置和各灰度級(jí)區(qū)域的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)可以存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器中，如表2所示。例如，補(bǔ)償數(shù)據(jù)可以用于補(bǔ)償連接子像素LSP1和LSP2的電荷特性。


如果在非易失性存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)如表2所示，則要提供給連接子像素LSP1的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)為對(duì)應(yīng)于灰度級(jí)部分2的‘01000000(64)’。第二補(bǔ)償步驟通過向‘01000000(64)’加上‘00000100(4)’而將要提供給連接子像素LSP1的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)調(diào)制為‘01000100(68)’。如果要提供給連接子像素LSP2的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)為對(duì)應(yīng)于灰度級(jí)部分3的‘10000000(128)’，則第二補(bǔ)償步驟通過向‘10000000(128)’加上‘00000110(6)’而將要提供給連接子像素LSP2的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)調(diào)制為‘01000110(134)’。
圖像質(zhì)量控制方法的第二補(bǔ)償步驟用可以預(yù)設(shè)的補(bǔ)償數(shù)據(jù)調(diào)制要在連接子像素13中顯示的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)來補(bǔ)償連接子像素的電荷特性。這樣，缺陷子像素的感覺程度可以被增加或減少并且缺陷子像素的電荷特性可以被補(bǔ)償。
作為選擇，如圖18C所示，連接子像素LSP3可以在顯示面板上的面板缺陷區(qū)域PD3中存在。這種情況下，面板缺陷區(qū)域的位置和連接子像素位置重疊的位置，第二補(bǔ)償部分考慮在第一補(bǔ)償部分計(jì)算的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)值而計(jì)算電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)。例如，如果在特定灰度級(jí)區(qū)域中的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)被確定為‘+2’而電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)被確定為‘+6’，如果面板缺陷區(qū)域和連接像素重疊，則連接子像素的電荷特性由第一補(bǔ)償部分中的‘+2’補(bǔ)償，而第二補(bǔ)償部分中的電荷特性由‘+4’(+6-2)補(bǔ)償。
圖19是可以控制圖像質(zhì)量的液晶顯示器件的部分方框圖。液晶顯示器件可以包括補(bǔ)償電路205，其接收視頻數(shù)據(jù)并調(diào)制接收的數(shù)據(jù)。調(diào)制過的接收數(shù)據(jù)可以提供給驅(qū)動(dòng)顯示面板203的驅(qū)動(dòng)器210。
圖20是液晶顯示器件的第二部分示意圖。在圖20中，液晶顯示器件包括顯示面板203，其中數(shù)據(jù)線206和柵線208交叉并且驅(qū)動(dòng)液晶單元Clc的TFT在其各交叉部分形成。補(bǔ)償電路205可以產(chǎn)生補(bǔ)償?shù)臄?shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc/Gc/Bc。數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路201可以將補(bǔ)償?shù)臄?shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc/Gc/Bc轉(zhuǎn)換為模擬數(shù)據(jù)電壓以提供給數(shù)據(jù)線206。柵驅(qū)動(dòng)電路202可以向柵線208提供掃描脈沖。時(shí)序控制器204可以控制數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路201和柵驅(qū)動(dòng)電路202。
顯示面板203可以具有在兩塊基板，即，TFT基板和濾色片基板之間插入的液晶分子。在數(shù)據(jù)線206和柵線208的交叉部分形成的TFT可以響應(yīng)來自柵線208的掃描信號(hào)而將來自數(shù)據(jù)線206的數(shù)據(jù)電壓提供到液晶單元Clc的像素電極。黑矩陣、濾色片和公共電極(未示出)可以在濾色片基板上形成。作為選擇，公共電極可以在水平電場(chǎng)施加型共平面開關(guān)模式(“IPS”)或者指狀電場(chǎng)開關(guān)模式(“FFS”)中的TFT基板上形成。具有互相垂直的偏振軸的偏振器分別附加在TFT基板和濾色基板上。
補(bǔ)償電路205從系統(tǒng)接口接收輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi以調(diào)制要提供給面板缺陷位置的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi，從而產(chǎn)生校正的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc/Gc/Bc。
圖21是補(bǔ)償電路205的部分示意圖。補(bǔ)償電路205可以包括非易失性存儲(chǔ)器253，其可以是EEPROM，補(bǔ)償器251，接口電路257和/或寄存器255。非易失性存儲(chǔ)器253可以存儲(chǔ)指示顯示面板203上連接子像素和/或面板缺陷區(qū)域位置的位置數(shù)據(jù)(“PD”)。非易失性存儲(chǔ)器253還可以存儲(chǔ)補(bǔ)償數(shù)據(jù)(“CD”)。補(bǔ)償數(shù)據(jù)可以是用于補(bǔ)償要在面板缺陷區(qū)域顯示的亮度的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)和/或用于補(bǔ)償連接子像素的電荷特性的電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)。補(bǔ)償器251可以通過根據(jù)存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253中的位置數(shù)據(jù)PD和/或補(bǔ)償數(shù)據(jù)CD而調(diào)制輸入的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi以產(chǎn)生補(bǔ)償數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc、Gc、Bc。接口電路257可以在補(bǔ)償器251和外部系統(tǒng)之間通信。寄存器225可以通過接口電路257暫時(shí)存儲(chǔ)將要存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253中的數(shù)據(jù)。
存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253中的位置數(shù)據(jù)PD和補(bǔ)償數(shù)據(jù)CD可以按照輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的灰度級(jí)并按照面板缺陷區(qū)域的位置和連接像素的位置確定為不同。按照灰度級(jí)的補(bǔ)償值可以包括對(duì)應(yīng)于輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的各灰度級(jí)設(shè)置的補(bǔ)償值或?qū)?yīng)于包括兩個(gè)或多個(gè)灰度級(jí)的灰度級(jí)部分設(shè)置的補(bǔ)償值。如果對(duì)應(yīng)于灰度級(jí)部分設(shè)置補(bǔ)償值，則灰度級(jí)部分的信息，即，包括在灰度級(jí)部分中的灰度級(jí)信息也存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253中。非易失性存儲(chǔ)器253可以由通過ROM刻錄機(jī)輸入的數(shù)據(jù)更新補(bǔ)償值和面板缺陷位置的數(shù)據(jù)。
接口電路257可以配置為在補(bǔ)償電路205和外部系統(tǒng)之間通信。接口電路257可以按照I2C通信標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議設(shè)計(jì)。外部系統(tǒng)可以通過接口電路257讀取存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253中的數(shù)據(jù)和/或修改該數(shù)據(jù)。例如，一些或所有存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253中的位置數(shù)據(jù)PD和/或補(bǔ)償數(shù)據(jù)CD可能需要自動(dòng)或人工更新，原因如工藝中的變化和/或應(yīng)用模型之間的差別。用戶可以從外部系統(tǒng)提供需要被更新的補(bǔ)償數(shù)據(jù)UCD和位置數(shù)據(jù)UPD，從而存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253中的數(shù)據(jù)可以被修改。用戶提供的位置數(shù)據(jù)UPD和補(bǔ)償數(shù)據(jù)UCD可以通過接口電路257發(fā)送并且暫時(shí)存儲(chǔ)在寄存器255中，以更新存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253中的位置數(shù)據(jù)PD和補(bǔ)償數(shù)據(jù)CD。
在圖22中，補(bǔ)償器251可以包括第一補(bǔ)償器電路251A，其根據(jù)存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253中的位置數(shù)據(jù)PD和補(bǔ)償數(shù)據(jù)CD調(diào)制要提供給面板缺陷位置的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi，以產(chǎn)生調(diào)制的數(shù)字視頻信號(hào)Rm/Gm/Bm。此外，補(bǔ)償器251可以包括第二補(bǔ)償器電路251B，其按照電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)調(diào)制由第一補(bǔ)償電路251A產(chǎn)生的數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Rm/Gm/Bm。
第一補(bǔ)償電路251A可以包括第一轉(zhuǎn)換器260、第一位置分析器261A、第一灰度級(jí)分析器262、第一地址產(chǎn)生器263、第一運(yùn)算器264和第二轉(zhuǎn)換器265。
非易失性存儲(chǔ)器253Y可以為各位置和各灰度級(jí)存儲(chǔ)面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)。存儲(chǔ)的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)可以被用來細(xì)微修改要在面板缺陷位置顯示的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的亮度信息Yi。該非易失性存儲(chǔ)器253Y可以是EEPROM。
第一轉(zhuǎn)換器260可以根據(jù)數(shù)學(xué)公式1至3計(jì)算比特?cái)U(kuò)展到n/n/n比特的亮度信息Yi和色差信息Ui/Vi。
Yi＝0.299Ri+0.587Gi+0.114Bi[數(shù)學(xué)公式2]Ui＝-0.147Ri-0.289Gi+0.436Bi＝0.492(Bi-Yi)[數(shù)學(xué)公式3]
Vi＝0.615Ri-0.515Gi-0.100Bi＝0.877(Ri-Yi)第一位置分析器261A可以按照垂直/水平同步信號(hào)Vsync、Hsync、數(shù)據(jù)使能信號(hào)DE和點(diǎn)時(shí)鐘DCLK判斷輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置。第一灰度級(jí)分析器262基于來自第一轉(zhuǎn)換器260的亮度信息Yi分析輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的灰度級(jí)。
第一地址產(chǎn)生器263可以比較非易失性存儲(chǔ)器253Y的面板缺陷位置數(shù)據(jù)和第一位置分析器261A的輸出信號(hào)。如果輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置判斷為對(duì)應(yīng)在面板缺陷區(qū)域中的位置，則第一地址產(chǎn)生器263對(duì)應(yīng)于存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253Y的面板缺陷區(qū)域中的位置而產(chǎn)生用于讀取面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)的讀地址。
將從非易失性存儲(chǔ)器253Y輸出的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)提供給第一運(yùn)算器264。第一運(yùn)算器264通過向來自第一轉(zhuǎn)換器260的n比特亮度信息Yi加上或減去來自非易失性存儲(chǔ)器253Y的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)，調(diào)制要在面板缺陷位置顯示的輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的亮度。在一些補(bǔ)償電路中，運(yùn)算器264可以包括乘法器或除法器，其對(duì)n比特亮度信息Yi乘以或除以面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)。
由第一運(yùn)算器264調(diào)制的亮度信息增加或減少了擴(kuò)展的n比特亮度信息Yi，這樣輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的亮度可以被細(xì)微調(diào)整。
第二轉(zhuǎn)換器265根據(jù)數(shù)學(xué)公式4至6輸出其中比特?cái)?shù)目被恢復(fù)為m/m/m比特的第一調(diào)制數(shù)據(jù)Rm/Gm/Bm，其中采用亮度信息Yi和色差信息Ui/Vi作為變量。
R＝Y(jié)i+1.140Vi[數(shù)學(xué)公式5]G＝Y(jié)i-0.395Ui-0.581Vi[數(shù)學(xué)公式6]B＝Y(jié)i+2.032Ui第二補(bǔ)償電路251B可以通過向由第一補(bǔ)償電路251A調(diào)制的第一調(diào)制數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Rm/Gm/Bm增加或減少存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253R、253G和253B中的電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)而產(chǎn)生第二調(diào)制數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc/Gc/Bc。第二補(bǔ)償電路251B可以包括第二位置分析器261B、一個(gè)或多個(gè)灰度級(jí)分析器262R、262G和/或262B；一個(gè)或多個(gè)第二地址產(chǎn)生器263R、263G和/或263B；以及一個(gè)或多個(gè)第二運(yùn)算器266R、266G和/或266B。
紅非易失性存儲(chǔ)器253R存儲(chǔ)包括紅子像素的連接子像素的位置數(shù)據(jù)PD和面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)CD。綠非易失性存儲(chǔ)器253G存儲(chǔ)包括綠子像素的連接子像素的位置數(shù)據(jù)PD和面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)CD。藍(lán)非易失性存儲(chǔ)器253B存儲(chǔ)包括藍(lán)子像素的連接子像素的位置數(shù)據(jù)PD和面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)CD。在某些比較器251中，紅、綠、和藍(lán)非易失性存儲(chǔ)器253R、253G、253B分別可以是單一的一個(gè)非易失性存儲(chǔ)器的部分或可以是具有單獨(dú)存儲(chǔ)空間的單一非易失性存儲(chǔ)器。
第二位置分析器261B可以按照垂直/水平同步信號(hào)Vsync、Hsync、數(shù)據(jù)使能信號(hào)DE和點(diǎn)時(shí)鐘DCLK判斷輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置。一個(gè)或多個(gè)灰度級(jí)分析器262R、262G和/或262B可以分析輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的灰度級(jí)。
一個(gè)或多個(gè)第二地址產(chǎn)生器263R、263G、263B可以估計(jì)存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253R、253G、253B中的連接子像素的位置數(shù)據(jù)。如果輸入數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Ri/Gi/Bi的顯示位置對(duì)應(yīng)于連接子像素，則地址產(chǎn)生器263 R、263G、263B可以對(duì)應(yīng)于存儲(chǔ)在非易失性存儲(chǔ)器253R、253G、253B中的連接子像素而產(chǎn)生用于讀取電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)的讀地址。將從非易失性存儲(chǔ)器253R、253G和/或253B輸出的電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)提供給第二運(yùn)算器266 R、266G、和/或266B。
第二運(yùn)算器266R、266G、和/或266B可以向第一補(bǔ)償電路251A的輸出數(shù)據(jù)加上或減去來自非易失性存儲(chǔ)器253R、253G和/或253B的電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)。在某些補(bǔ)償電路251中，第二運(yùn)算器266R、266G和/或266B可以包括乘法器和/或除法器并用電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)來執(zhí)行乘法或除法操作。
沒有連接到連接子像素的非缺陷子像素的數(shù)據(jù)沒有在第二補(bǔ)償電路251B的輸出數(shù)據(jù)Rc/Gc/Bc中調(diào)制。此外，既不包括在面板缺陷區(qū)域也不包括在連接子像素中的非缺陷子像素的數(shù)據(jù)沒有被第一和/或第二補(bǔ)償電路251A和251B調(diào)制，并且保持原始數(shù)據(jù)旁路補(bǔ)償器251而輸入給時(shí)序控制器204。
時(shí)序控制器204可以產(chǎn)生用于控制柵驅(qū)動(dòng)電路202的柵控制信號(hào)(“GDC”)，和用于控制數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路201的數(shù)據(jù)控制信號(hào)(“DDC”)。GDC和/或DDC信號(hào)可以基于通過補(bǔ)償電路205提供的垂直/水平同步信號(hào)Vsync、Hsync、數(shù)據(jù)使能信號(hào)DE和點(diǎn)時(shí)鐘DCLK產(chǎn)生。此外，時(shí)序控制器204可以按照點(diǎn)時(shí)鐘DCLK向數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路201提供校正數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc/Gc/Bc。
數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路201可以接收校正數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc/Gc/Bc、將數(shù)字視頻數(shù)據(jù)Rc/Gc/Bc轉(zhuǎn)換為模擬伽馬補(bǔ)償電壓(數(shù)據(jù)電壓)，并在時(shí)序控制器204的控制下將模擬伽馬補(bǔ)償電壓作為數(shù)據(jù)電壓提供給液晶顯示面板203的數(shù)據(jù)線206。柵驅(qū)動(dòng)電路202可以向柵線208順序提供掃描信號(hào)，從而導(dǎo)通連接到柵線208的TFT來選擇施加有模擬伽馬補(bǔ)償電壓的一水平線的液晶單元Clc。從數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路201產(chǎn)生的模擬數(shù)據(jù)電壓可以與要施加給選擇的水平線的液晶單元Clc的掃描脈沖同步。
上述的工藝和/或方法以及其它的工藝和方法也可以應(yīng)用于其它非液晶顯示器件中。這些其它器件可以包括有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極管OLED和其它平板顯示器件。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的平板顯示器件、圖像質(zhì)量控制方法和裝置通過采用修復(fù)工藝和補(bǔ)償電路的數(shù)據(jù)調(diào)制改善了平板顯示器件的圖像質(zhì)量，從而可能減少裸眼對(duì)缺陷像素的感知程度并且可能補(bǔ)償由數(shù)據(jù)調(diào)制引起的面板缺陷。此外，根據(jù)本發(fā)明的平板顯示器件以及圖像質(zhì)量控制方法和裝置，在補(bǔ)償面板缺陷時(shí)，通過注意到人眼對(duì)亮度差別比色差更為敏感的事實(shí)，將要在面板缺陷位置顯示的RGB視頻數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為亮度分量和色差分量補(bǔ)償面板缺陷，并通過擴(kuò)展包括亮度信息的Y數(shù)據(jù)的比特?cái)?shù)目而控制面板缺陷位置的亮度，這樣可以細(xì)微的調(diào)整平板顯示器件的面板缺陷位置的亮度。
雖然已經(jīng)說明了本發(fā)明的各種實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)理解，對(duì)于熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以有更多的實(shí)施例和實(shí)施方式。因此，本發(fā)明的范圍將由所附權(quán)利要求書及其等同物限定。
權(quán)利要求
1.一種平板顯示器件的圖像質(zhì)量控制方法，該平板顯示器件包括具有連接像素的顯示面板，其中缺陷像素電連接到相鄰的非缺陷像素，該圖像質(zhì)量控制方法包括確定面板缺陷位置數(shù)據(jù)，其指示相比非缺陷區(qū)域具有亮度差的面板缺陷區(qū)域的位置；確定面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)以補(bǔ)償面板缺陷位置的亮度；確定電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)以補(bǔ)償連接像素的電荷特性；確定連接像素位置數(shù)據(jù)，其指示連接像素的位置；在平板顯示器件的存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)面板缺陷位置數(shù)據(jù)、面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)、電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)和連接像素位置數(shù)據(jù)；計(jì)算要在顯示面板的面板缺陷位置中顯示的視頻信號(hào)的亮度信息；計(jì)算要在顯示面板的面板缺陷位置中顯示的視頻信號(hào)的色差信息；根據(jù)面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)通過增加或減少亮度信息而產(chǎn)生調(diào)制亮度信號(hào)；由調(diào)制亮度信息和色差信息產(chǎn)生調(diào)制視頻信號(hào)；根據(jù)電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)通過增加或減少調(diào)制視頻信號(hào)而產(chǎn)生補(bǔ)償視頻信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量控制方法，其特征在于，還包括以下步驟通過向顯示面板提供調(diào)制視頻信號(hào)而檢查面板缺陷；以及確定面板缺陷的最終補(bǔ)償數(shù)據(jù)和最終位置數(shù)據(jù)作為檢查結(jié)果。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的圖像質(zhì)量控制方法，其特征在于，所述最終位置數(shù)據(jù)包括由于背光亮度不一致產(chǎn)生的亮線，而最終補(bǔ)償數(shù)據(jù)包括用于亮線的補(bǔ)償數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量控制方法，其特征在于，還包括以下步驟通過向顯示面板提供補(bǔ)償視頻信號(hào)而檢查缺陷像素；以及確定缺陷像素的最終補(bǔ)償數(shù)據(jù)和最終位置數(shù)據(jù)作為檢查結(jié)果。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量控制方法，其特征在于，相鄰缺陷像素的非缺陷像素為與缺陷像素相同顏色的像素。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量控制方法，其特征在于，所述面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)基于數(shù)據(jù)的灰度級(jí)值和面板缺陷區(qū)域的位置確定。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量控制方法，其特征在于，所述電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)基于數(shù)據(jù)的灰度級(jí)值和連接像素的位置確定。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的圖像質(zhì)量控制方法，其特征在于，所述存儲(chǔ)器包括非易失性存儲(chǔ)器。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的圖像質(zhì)量控制方法，其特征在于，所述非易失性存儲(chǔ)器包括電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器或擴(kuò)展顯示識(shí)別數(shù)據(jù)只讀存儲(chǔ)器。
10.一種平板顯示器件的圖像質(zhì)量控制裝置，該平板顯示器件包括具有連接像素的顯示面板，該連接像素包括電連接到相鄰的非缺陷像素的缺陷像素，該圖像質(zhì)量控制裝置包括存儲(chǔ)器，其存儲(chǔ)為連接像素補(bǔ)償電荷特性的電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)，指示連接像素位置的連接像素位置數(shù)據(jù)，補(bǔ)償面板缺陷區(qū)域亮度的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)，和指示面板缺陷區(qū)域位置的面板缺陷位置數(shù)據(jù)；第一補(bǔ)償器，其根據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)通過增加或減少要在面板缺陷位置中顯示的視頻信號(hào)的亮度信息而產(chǎn)生調(diào)制視頻信號(hào)；以及第二補(bǔ)償器，其根據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中的電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)通過增加或減少調(diào)制視頻信號(hào)的一個(gè)或多個(gè)紅、綠、藍(lán)分量而產(chǎn)生補(bǔ)償視頻信號(hào)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的圖像質(zhì)量控制裝置，其特征在于，所述第一補(bǔ)償器還包括第一轉(zhuǎn)換器，其計(jì)算要在面板缺陷位置中顯示的視頻信號(hào)的亮度信息和色差信息。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的圖像質(zhì)量控制裝置，其特征在于，所述第二補(bǔ)償器還包括第二轉(zhuǎn)換器，其計(jì)算來自色差信息的調(diào)制紅數(shù)據(jù)分量、調(diào)制綠數(shù)據(jù)分量和調(diào)制藍(lán)數(shù)據(jù)分量和調(diào)制視頻信號(hào)的調(diào)制亮度信息。
13.根據(jù)權(quán)利要求10所述的圖像質(zhì)量控制裝置，其特征在于，相鄰缺陷像素的非缺陷像素為與缺陷像素相同顏色的像素。
14.根據(jù)權(quán)利要求10所述的圖像質(zhì)量控制裝置，其特征在于，所述面板缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)基于數(shù)據(jù)的灰度級(jí)和面板缺陷區(qū)域的位置確定。
15.根據(jù)權(quán)利要10所述的圖像質(zhì)量控制裝置，其特征在于，所述電荷特性補(bǔ)償數(shù)據(jù)基于數(shù)據(jù)的灰度級(jí)和連接像素的位置確定。
16.根據(jù)權(quán)利要求10所述的圖像質(zhì)量控制裝置，其特征在于，所述存儲(chǔ)器包括非易失性存儲(chǔ)器。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的圖像質(zhì)量控制裝置，其特征在于，所述非易失性存儲(chǔ)器包括電可擦除可編程只讀存儲(chǔ)器或擴(kuò)展顯示識(shí)別數(shù)據(jù)只讀存儲(chǔ)器。
18.一種平板顯示器件，包括接口電路，配置為接收來自外部源的輸入缺陷補(bǔ)償數(shù)據(jù)和輸入缺陷位置數(shù)據(jù)；存儲(chǔ)器，其與接口通信并配置為存儲(chǔ)接收的輸入補(bǔ)償數(shù)據(jù)和接收的輸入缺陷位置數(shù)據(jù)。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的平板顯示器件，其特征在于，還包括補(bǔ)償器，其配置為基于接收的輸入補(bǔ)償數(shù)據(jù)和接收的輸入缺陷位置數(shù)據(jù)而補(bǔ)償接收的視頻信號(hào)，該補(bǔ)償器與所述存儲(chǔ)器通信。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的平板顯示器件，其特征在于，還包括時(shí)序控制器，其配置為接收補(bǔ)償?shù)囊曨l信號(hào)并產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)該平板顯示器件的柵控制信號(hào)和數(shù)據(jù)控制信號(hào)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種圖像質(zhì)量控制系統(tǒng)，其可以確定顯示面板缺陷的位置。該系統(tǒng)可以計(jì)算用于補(bǔ)償顯示缺陷的數(shù)據(jù)并在視頻信號(hào)上調(diào)制補(bǔ)償數(shù)據(jù)以補(bǔ)償缺陷。該缺陷可能與像素或顯示面板區(qū)域相關(guān)。一種圖像質(zhì)量系統(tǒng)可以包括存儲(chǔ)器和補(bǔ)償電路。存儲(chǔ)器可以存儲(chǔ)表示面板缺陷位置和/或電荷特性的補(bǔ)償數(shù)據(jù)。補(bǔ)償電路可以處理補(bǔ)償數(shù)據(jù)來增加或減少視頻信號(hào)的亮度信息和/或分量信息。
文檔編號(hào)G01R31/00GK101017255SQ20061016820
公開日2007年8月15日 申請(qǐng)日期2006年12月15日 優(yōu)先權(quán)日2006年2月6日
發(fā)明者黃琮喜 申請(qǐng)人:Lg.菲利浦Lcd株式會(huì)社