專利名稱：絕緣檢查裝置和絕緣檢查方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及絕緣檢查裝置和絕緣檢査方法，更詳細地說，涉及可迅 速且準(zhǔn)確地進行形成有多個布線圖形的電路基板的絕緣檢查的絕緣檢查 裝置和絕緣檢查方法。
背景技術(shù)：
以往，具有多個布線圖形的電路基板的絕緣檢査是通過判定布線圖 形間的絕緣狀態(tài)的良好與否(是否己確保充分的絕緣性)，來判定該電路 基板是合格品還是不合格品。
在這種現(xiàn)有的絕緣檢査裝置中，通過在成為檢查對象的2個布線圖 形間施加較高電壓(例如200V)，來計算布線圖形間的電阻值，并根據(jù) 該電阻值判定絕緣狀態(tài)的良好與否。
然而，在這種現(xiàn)有的絕緣檢查裝置中，由于在規(guī)定電壓施加并經(jīng)過 規(guī)定時間后處于穩(wěn)定狀態(tài)時開始檢查，因而在施加規(guī)定電壓期間產(chǎn)生了 火花的情況下計算出不準(zhǔn)確的電阻值，具有不能準(zhǔn)確判定絕緣狀態(tài)的良 好與否的問題。
為了解決該問題，本發(fā)明人提出了先前申請的專利文獻1公幵的絕 緣檢査裝置和方法。
專利文獻l:特許揭載公報第3546046號(發(fā)布日2004年7月21
曰)
在該專利文獻1公開的絕緣檢査裝置和方法中，在一對布線圖形間 施加規(guī)定的直流電壓，檢測在從施加開始到達到規(guī)定電壓值為止的期間 變化的電壓，從而根據(jù)該電壓變化檢測火花，檢測火花產(chǎn)生時的電壓下 降來進行火花檢測。這樣，可通過檢測施加電壓的上升期間的電壓變化 來檢測火花，可解決上述問題。然而，在該專利文獻1中不存在與針對火花狀況等的檢查有關(guān)的記載。
因此，期望提出還考慮到火花狀況等而可更準(zhǔn)確地檢查電路基板的 火花的絕緣檢查裝置和絕緣檢査方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種可更準(zhǔn)確地檢査電路基板的火花的絕緣檢 査裝置。
并且，本發(fā)明的目的是提供一種可更準(zhǔn)確地檢查電路基板的火花的 絕緣檢査方法。
鑒于上述目的，本發(fā)明的絕緣檢查裝置是進行形成有多個布線圖形 的電路基板的絕緣撿査的絕緣檢查裝置，其特征在于，該絕緣檢查裝置 具有選擇單元，其從所述多個布線圖形中選擇成為檢査對象的一個布 線圖形作為第一檢查部，并選擇該第一檢查部以外的成為檢查對象的所 有布線圖形作為第二檢査部；電源單元，其與所述第二檢查部連接并對 該第二撿查部施加電壓，以便在所述第一檢査部和所述第二檢查部之間 設(shè)定規(guī)定的電位差；電流檢測單元，其檢測在所述第一檢査部和第二檢 查部之間流過的電流；以及判定單元，其將所述電流檢測單元檢測的電 流值與規(guī)定基準(zhǔn)值進行比較，根據(jù)該比較結(jié)果判定該電路基板是合格品 還是不合格品。
并且，在上述絕緣檢查裝置中可以是，所述第二檢查部由所述第一 檢查部的布線圖形以外的布線圖形構(gòu)成，這些布線圖形全部并聯(lián)連接。
并且，在上述絕緣檢査裝置中可以是，所述電流檢測單元與所述第 一檢查部或所述第二檢查部串聯(lián)連接。
并且，在上述絕緣檢査裝置中可以是，所述選擇單元順次選擇所有 所述多個導(dǎo)體圖形作為第一檢査部，所述不合格品的判定是在所述電流 值大于所述基準(zhǔn)值的情況下，判定該電路基板是不合格品。
并且，在上述絕緣檢查裝置中可以是，所述電流檢測單元具有擁有 不同的2個量程的第一電流檢測單元和第二電流檢測單元，所述第一電流檢測單元是為了檢測與所述第一檢查部相關(guān)聯(lián)的火花的產(chǎn)生而設(shè)置 的，所述第二電流檢測單元是為了測定第一檢査部和第二檢査部之間的 絕緣電阻值而設(shè)置的。
并且，在上述絕緣檢查裝置中可以是，該絕緣檢查裝置還具有顯示 單元，該顯示單元以時序方式顯示所述第一 電流檢測單元檢測的電流值。
并且，在上述絕緣檢查裝置中可以是，所述判定單元具有火花檢測 部和功率計算部，所述火花檢測部根據(jù)來自所述第一電流檢測單元的測 定電流值檢測火花產(chǎn)生，所述功率計算部根據(jù)來自所述第一電流檢測部 的測定電流值和來自所述電壓檢測部的測定電壓值檢測火花狀況。
并且，在上述絕緣檢査裝置中可以是，所述判定單元具有電阻計算 部，根據(jù)來自所述第二電流檢測部的測定電流值和來自所述電壓檢測部 的測定電壓值計算電阻值。
并且，本發(fā)明的絕緣檢査方法是進行形成有多個布線圖形的電路基 板的絕緣檢查的絕緣檢查方法，該絕緣檢查方法包含從所述多個布線 圖形中選擇成為檢查對象的一個布線圖形作為第一檢查部，并選擇該第 一檢査部以外的成為檢査對象的所有布線圖形作為第二檢查部的步驟； 對所述第二檢查部施加電壓，以使所述第一檢查部和所述第二檢査部之 間產(chǎn)生規(guī)定電位差的步驟；在對所述第二檢査部施加了電壓的狀態(tài)下， 檢測在所述第一檢査部和第二檢查部之間流過的電流的步驟；以及將流 過所述第一檢查部的電流值與規(guī)定基準(zhǔn)值進行比較，根據(jù)該比較結(jié)果判 定該電路基板是合格品還是不合格品的步驟。
并且，本發(fā)明的記錄介質(zhì)是記錄有電路基板的絕緣檢查方法程序的 計算機可讀取的記錄介質(zhì)，所述絕緣檢查方法程序用于使進行形成有多 個布線圖形的電路基板的絕緣檢査的計算機執(zhí)行如下步驟從所述多個 布線圖形中選擇成為檢查對象的一個布線圖形作為第一檢查部，并選擇 該第一檢査部以外的成為檢查對象的所有布線圖形作為第二檢查部的步 驟；對所述第二檢查部施加電壓，以使所述第一檢査部和所述第二檢查 部之間產(chǎn)生規(guī)定電位差的步驟；在對所述第二檢查部施加了電壓的狀態(tài) 下，檢測在所述第一檢查部和第二檢查部之間流過的電流的步驟；以及將流過所述第一檢查部的電流值與規(guī)定基準(zhǔn)值進行比較，根據(jù)該比較結(jié) 果判定該電路基板是合格品還是不合格品的步驟。
根據(jù)本發(fā)明，可提供一種可更準(zhǔn)確地檢査電路基板的火花的絕緣檢 查裝置。
并且，根據(jù)本發(fā)明，可提供一種可更準(zhǔn)確地檢查電路基板的火花的 絕緣檢查方法。


圖1示出本發(fā)明的絕緣檢查裝置的一例的概略結(jié)構(gòu)圖。
圖2A是示出圖1的選擇單元進行的第一檢查部和第二檢査部的組合 的一例的圖，示出選擇開關(guān)組SWs內(nèi)的最上面的布線圖形Pl作為第一 檢查部T1、并選擇布線圖形P2 P5作為第二檢査部T2的狀況。
圖2B是示出圖1的選擇單元進行的第一檢査部和第二檢查部的組合 的一例的圖，示出選擇布線圖形P4作為第一檢査部Tl、并選擇布線圖 形P1 P3、 P5作為第二檢査部T2的狀況。
圖3是示出圖1的判定單元的功能的概略結(jié)構(gòu)圖。
圖4是示出合格品和不合格品的電路基板中的電流值變化的曲線 圖。這里，雙點虛線表示基準(zhǔn)值A(chǔ)。
圖5A是示出合格品和不合格品的電路基板中的電流值變化的曲線圖。
圖5B示出圖5A所示的電流值的差值。這里，2條單點虛線表示容 許范圍。
圖6是示出合格品和不合格品的電路基板中的電流值變化的曲線 圖。這里，示出在時刻tl、 t2的變化情況。
圖7是示出由圖1的絕緣檢査裝置執(zhí)行的檢查方法的流程圖。 標(biāo)號說明
1:絕緣檢查裝置；2:選擇單元；3:電源單元；4:第一電流檢測 單元；5:第二電流檢測單元；6:電壓檢測單元；7:判定單元；8:顯 示單元；9:控制單元；10:存儲單元；P:布線圖形；SW:開關(guān)；SWs:開關(guān)組；Tl:第一檢查部；T2:第二檢查部；CP:觸針。
具體實施例方式
以下，參照

本發(fā)明的絕緣檢查裝置和絕緣檢査方法的實施 方式。另外，圖中對相同要素附上相同標(biāo)號，省略重復(fù)說明。
該申請文件中記載的用語"電路基板"不限于印刷布線基板，例如是 撓性基板、多層布線基板、液晶顯示器和等離子顯示器用的電極板以及 半導(dǎo)體封裝用的封裝基板和實施了薄膜載體等各種布線的基板的總稱。 即，電路基板包含可成為絕緣檢查對象的所有基板。 [絕緣檢査裝置]
圖1是說明本發(fā)明的絕緣檢查裝置1的概略結(jié)構(gòu)一例的圖。這里， 絕緣檢査裝置1由從圖1所示的要素中去除作為檢査對象的電路基板10 后的各要素構(gòu)成。即，絕緣檢查裝置l具有控制單元9、顯示單元(監(jiān) 視器)8、開關(guān)組SWs、電源單元3、第一電流檢測單元4、第二電流檢 測單元5以及電壓檢測單元6。該控制單元9具有選擇單元(也稱為"SW 切換控制單元")2、判定單元7以及存儲單元10?？刂茊卧?由通常的 計算機構(gòu)成，選擇單元2和判定單元7由該計算機的CPU構(gòu)成，存儲單 元10由存儲執(zhí)行該絕緣檢査方法的計算機程序的ROM和工作存儲器 RAM等構(gòu)成。開關(guān)組SWs具有多個由一對開關(guān)SW1和開關(guān)SW2構(gòu)成 的組。
另一方面，在作為檢查對象的電路基板10上形成有導(dǎo)通圖形Pl P5 (總稱為"P")。為使圖面簡單而容易理解，圖中僅例示出5種布線圖 形作為圖形P，即直線狀的布線圖形P1、 P2、 T字狀的布線圖形P3以 及十字狀的布線圖形P4、 P5。這里，對于作為合格品的電路基板IO，圖 形P1 P5的各方處于彼此電獨立狀態(tài)，在鄰接圖形間保持規(guī)定的絕緣電 阻。
絕緣檢查裝置1具有與構(gòu)成開關(guān)組SWs的各SW1和SW2的組連接 的多根觸針CP，各觸針與電路基板10的各布線圖形P1 P5分別電接觸， 可檢査各布線圖形的絕緣狀態(tài)或?qū)顟B(tài)。絕緣檢査裝置1執(zhí)行的檢查的基本原理是，根據(jù)規(guī)定規(guī)則選擇電路
基板10的圖形P作為第一檢查部Tl和第二檢査部T2，在對第二檢查部 T2施加規(guī)定電壓來使第一檢查部Tl和第二檢查部T2之間產(chǎn)生規(guī)定電位 差的狀態(tài)下檢測流過第一檢查部T1的電流，從而可針對火花執(zhí)行更準(zhǔn)確 的檢查。這里，第一檢査部由從電路基板10具有的多個布線圖形(圖中， P1 P5)中選擇出的成為檢査對象的一個(單個)布線圖形(也稱為"被 檢查圖形")構(gòu)成。第二檢查部T2由第一檢查部T1以外的成為檢查對象 的剩余所有布線圖形(也稱為"被檢查圖形以外的所有圖形")構(gòu)成。在 檢查中，順次選擇電路基板10具有的多個布線圖形作為第一檢查部，每 次都在與第二檢査部之間進行絕緣檢查，當(dāng)選擇完所有布線圖形作為第
一檢查部進行檢查后結(jié)束。
以下，說明構(gòu)成絕緣檢查裝置1的各要素。選擇單元2從電路基板 10具有的多個布線圖形中選擇成為檢查對象的一個布線圖形作為第一檢 査部(被檢查圖形)Tl。同時，選擇作為第一檢査部T1的布線圖形以外 的成為檢查對象的剩余所有布線圖形作為第二檢查部T2。在該狀態(tài)下， 在第一檢查部Tl和第二檢査部T2之間進行絕緣檢査，之后從還未被選 擇作為第一檢查部T1的圖形中選擇成為檢查對象的一個布線圖形作為第 一檢查部Tl，并選擇成為檢査對象的剩余所有布線圖形作為第二檢查部 T2。以下，重復(fù)這種階段。
具體的選擇方法通過如下方式來進行，即使用具有多個開關(guān)元件 SW1、 SW2的開關(guān)組SWs以及對各開關(guān)元件進行切換控制的選擇單元 (SW切換控制單元)2，通過由選擇單元2進行的各開關(guān)元件SW1、 SW2 的接通斷開切換動作，選擇多個布線圖形作為第一檢查部T1或第二檢查 部T2的任意一方。
例如，在圖2A中示出如下情況，gp:選擇開關(guān)組SWs內(nèi)的最上面 的布線圖形P1作為第一檢査部(被檢査圖形)Tl，并選擇布線圖形P1 以外的布線圖形P2 P5作為第二檢查部(被檢査圖形以外的所有圖形) T2。在圖2B中示出如下情況，艮P:選擇布線圖形P4作為第一檢查部T1， 并選擇布線圖形P4以外的布線圖形P1 P3、 P5作為第二檢查部T2。與各布線圖形P電連接的各觸針CP可經(jīng)由開關(guān)SW1與電源單元3 連接，并可經(jīng)由開關(guān)SW2與第一電流檢測單元4、第二電流檢測單元5 以及電壓檢測單元6連接。
在圖2A中，被選擇作為第一檢査部Tl的布線圖形Pl隨著幵關(guān)SW2 接通，與第一電流檢測單元4和第二電流檢測單元5連接，并與電壓檢 測單元6連接。被選擇作為第二檢査部T2的布線圖形P2 P5分別隨著 開關(guān)SW1接通，與電源單元3連接。在第一電流檢測單元4的前級設(shè)置 開關(guān)SWa，在電壓檢測單元6的前級設(shè)置開關(guān)SWv，可以在控制單元9 的控制下，在各自進行檢測時使相應(yīng)開關(guān)接通。
被選擇作為第二檢査部T2的布線圖形P2 P5經(jīng)由各SW1相互電并 聯(lián)連接。通過這樣并聯(lián)連接，可使第二檢查部T2的布線圖形P2 P5全 部為等電位，即使是復(fù)雜且具有大面積的布線圖形，也能防止布線圖形 之間產(chǎn)生火花。
在該選擇單元2的控制下進行的布線圖形P的選擇被設(shè)定成，使作 為第一檢查部Tl而一次選擇出的布線圖形Pl不會再次被選擇作為除此 以后的第一撿査部T1。因此，第一檢查部T1逐一順次選擇所有的布線 圖形P。
電源單元3連接成可經(jīng)由各SW1對第二檢查部T2施加規(guī)定電壓， 以便在第一檢查部Tl和第二檢查部T2之間設(shè)定規(guī)定的電位差。利用該 電源單元3使第二檢査部T2的電位變化，從而第二檢查部T2具有與第 一檢查部T1不同的電位。
該電源單元3只要能在第一檢査部Tl和第二檢查部T2之間產(chǎn)生規(guī) 定的電位差即可，無論是直流電源還是交流電源都不作特別限定。然而， 為了更準(zhǔn)確地檢測后述的第一電流檢測單元4中的電流值變化，優(yōu)選的 是可變直流電源。
該電源單元3施加的規(guī)定電位差不作特別限定，然而優(yōu)選的是被設(shè) 定成產(chǎn)生1 10V/|liS的電位差。這是因為，通過使用該范圍的電位差， 可在短時間內(nèi)準(zhǔn)確地檢測火花。
如圖2A所示，第一電流檢測單元4經(jīng)由開關(guān)SW2和觸針CP與第一檢查部(布線圖形P1) Tl串聯(lián)連接，檢測第一檢查部T1的電流。第
一電流檢測單元4利用可測定電流值的電流計。第一電流檢測單元4檢 測的電流是通過對第二檢查部T2施加規(guī)定電壓而在第一檢查部Tl和第 二檢查部T2之間產(chǎn)生電位差，受到該電位差的影響而流過第一檢查部 Tl的電流。
因此，在第一電流檢測單元4中測定的電流值表示規(guī)定值以上的電 流值或規(guī)定值以上的電流值變化的情況下，表示在第一檢查部T1和第二 檢查部T2之間產(chǎn)生火花。即，可根據(jù)由該第一電流檢測單元4測定的電 流值檢測兩個檢查部間的火花。
由于第一電流檢測單元4與第一檢査部(被檢査圖形)Tl側(cè)連接，
因而不會由第一電流檢測單元檢測出由第二檢查部(被檢查圖形以外的 所有布線圖形)T2和觸針CP之間的接觸不良引起的火花。并且，由于 沒有對第一檢查部T1施加電壓，并且經(jīng)由觸針CP、開關(guān)SW2、第一電 流檢測單元4和第二電流檢測單元5接地，因而不會產(chǎn)生由第一檢查部 (被檢查圖形)Tl和觸針CP之間的接觸不良引起的火花。
而且，即使在被施加了規(guī)定電壓的第二檢査部(被檢查圖形以外的 所有布線圖形)T2和這些布線圖形附近的金屬框等之間產(chǎn)生了火花(本 申請文件中也稱為"假火花")的情況下，由于電流不流過第一檢查部Tl 側(cè)，因而絕緣檢查裝置1不進行這種假火花的檢測。這樣，絕緣檢查裝 置1不會防止在第一檢查部Tl和第二檢查部T2之間以外產(chǎn)生的火花， 并且即使產(chǎn)生火花也不會對其檢測。
該第一電流檢測單元4只要能測定火花產(chǎn)生時的電流值，其測定性 能就不作特別限定，然而優(yōu)選的是可檢測0.1 10mA的電流值。另外， 該第一電流檢測單元4檢測的電流值被發(fā)送到后述的判定單元7。
第二電流檢測單元5與第一檢查部T1串聯(lián)連接來檢測流過第一檢查 部T1的電流。共同點是，第二電流檢測單元5與上述第一電流檢測單元 4一樣可測定流過第一檢查部T1的電流；不同點是，與第一電流檢測單 元5相比，具有測定更微小的電流的性能。
由于具有該第二電流檢測單元5，因而能可靠地測定在第一檢查部Tl和第二檢查部T2之間流過的電流值，因此可利用后述的電壓檢測單 元6來計算第一檢査部Tl和第二檢查部T2之間的電阻值。
該第二電流檢測單元5具有的電流測定能力只要如上所述能測定為 了計算第一檢査部Tl和第二檢查部T2之間的電阻值而需要的電流值， 就不作特別限定，優(yōu)選的是可檢測0.1 20pA的電流值。該第二電流檢 測單元5測定的電流值被發(fā)送到判定單元7。
第一電流檢測單元4主要是為了檢測與第一檢查部(被檢査圖形) 相關(guān)聯(lián)的火花產(chǎn)生而設(shè)置的，第二電流檢測單元5主要是為了測定第一 檢查部和第二檢查部之間的絕緣電阻值而設(shè)置的。然而，根據(jù)使用的電 流計的性能可知，也能使用1個電流計兼作第一電流檢測單元4和第二 電流檢測單元5。
電壓檢測單元6與第一檢查部Tl連接來檢測第一檢查部Tl的電壓。 該電壓檢測單元6可利用能測定第一檢查部T1的電壓值的電壓計。該電 壓檢測單元6測定的電壓值被發(fā)送到判定單元7。
判定單元7分別接收來自第一電流檢測單元4和第二電流檢測單元 5的測定電流值、以及來自電壓檢測單元6的測定電壓值，并根據(jù)這些測 定值判定該電路基板是否是不合格品。圖3是示出判定單元7的功能的 概略結(jié)構(gòu)圖。判定單元7具有火花檢測部71、功率計算部73、電阻計算 部74、絕緣計算部75以及發(fā)送部72。
該判定單元7進行的判定是通過具有火花檢測部71而進行的，該火 花檢測部71基于來自第一電流檢測單元4的電流值，與預(yù)先設(shè)定的基準(zhǔn) 值進行比較，根據(jù)該比較結(jié)果進行合格品或不合格品的判定。作為該火 花檢測部71進行的具體比較方法，例如可列舉以下三種方法。
第一方法是這樣的方法，即將由第一電流檢測單元4檢測的電流 值與基準(zhǔn)值直接比較，在檢測出的電流值大于規(guī)定值的情況下，判定為 產(chǎn)生火花。
例如，在圖4中，虛線所示的電流值變化表示合格品電路基板中的 變化，實線所示的電流值變化表示檢查對象的不合格品電路基板中的變 化，超過基準(zhǔn)值A(chǔ)的部分是火花產(chǎn)生部位。利用該第一方法時的基準(zhǔn)值A(chǔ)未作特別限定，可設(shè)定為0.1 1.0mA。
另外，在使用該第一方法進行判定的情況下，優(yōu)選的是，電源單元 3使用可變電壓電源，設(shè)置適當(dāng)?shù)碾娐?，并控制成使施加電壓的瞬間電流 值的上升不超過規(guī)定值。該判定單元7例如可由以下構(gòu)成，即A—D轉(zhuǎn) 換電路(未作圖示)，其將來自第一電流檢測單元4和第二電流檢測單元 5的測定電流值(模擬值)逐次轉(zhuǎn)換成數(shù)字電流數(shù)據(jù)；以及比較電路(未 作圖示)，其輸入該數(shù)字電流數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)值A(chǔ)的數(shù)字基準(zhǔn)值數(shù)據(jù)，當(dāng)測定 數(shù)字電流數(shù)據(jù)超過數(shù)字基準(zhǔn)值數(shù)據(jù)時輸出邏輯高"1"。
第二方法是這樣的方法，即預(yù)先使用合格品電路基板來求出電流 值變化作為基準(zhǔn)電流變化值B，求出使用檢查對象的不合格品電路基板 時的電流值與基準(zhǔn)電流變化值B之間的差值，在該差值不在預(yù)先設(shè)定的 容許范圍內(nèi)的情況下，判定為產(chǎn)生火花。
例如，在圖5A中，虛線所示的電流值變化表示合格品電路基板中的 電流值變化(基準(zhǔn)電流變化值B)，實線所示的電流值變化表示不合格品 電路基板中的電流值變化。圖5B示出圖5A所示的測定電流值和基準(zhǔn)電 流變化值B之間的差值，超過容許范圍C的差值表示的部位A表示火花 產(chǎn)生部位。利用該第二方法時的容許范圍C未作特別限定，然而可設(shè)定 為士0.1 l-0mA。
該判定單元7例如可使用以下來構(gòu)成，g卩A—D轉(zhuǎn)換電路(未作圖 示)，其將來自檢測對象的電路基板的測定電流值(模擬值)逐次轉(zhuǎn)換成 數(shù)字電流數(shù)據(jù)；減法電路(未作圖示)，其輸入預(yù)先存儲在適當(dāng)?shù)拇鎯ζ?(未作圖示)內(nèi)的基準(zhǔn)電流變化值B的數(shù)字基準(zhǔn)電流變化值數(shù)據(jù)、數(shù)字 電流數(shù)據(jù)以及從存儲器讀出的對應(yīng)的數(shù)字基準(zhǔn)電流變化值數(shù)據(jù)，輸出其 差值數(shù)據(jù)；以及比較電路(未作圖示)，其在該減法電路的后級中，當(dāng)差 值數(shù)據(jù)超過數(shù)字容許范圍C數(shù)據(jù)時輸出邏輯高'T'。
第三方法是這樣的方法，即在利用電源單元3對第一檢査部Tl 施加了電壓后，計算每個規(guī)定時間的電流變化，在電流值從減少變化向 增加變化(電流變化傾向是從零向正變化)的情況下，判定為產(chǎn)生火花。
例如，在圖6中，虛線所示的電流值變化表示合格品電路基板中的變化，實線所示的電流值變化表示檢查對象的不合格品電路基板中的變 化。虛線所示的合格品的電流值變化一直右下，實線所示的不合格品的 電流值變化可看到電流值增加的時刻tl ，該部位A是火花產(chǎn)生部位。
例如，在時刻tl和時刻t2之間，對于合格品，電流值一直減少(電 流值斜率為負(fù))，對于不合格品電路基板，在時刻tl時電流值增加(電流 值斜率為正)而理解為產(chǎn)生火花。利用該第三方法時的判斷基準(zhǔn)是，為 了檢測電流值增加的情況，只要電流值變化是零以上即可，或者還可以 設(shè)定成特定的正的變化值，以便僅檢測急劇的電流值變化。
該判定單元7例如可由以下構(gòu)成，即A—D轉(zhuǎn)換電路(未作圖示)，
其將來自檢查對象的電路基板的測定電流值(模擬值)逐次轉(zhuǎn)換成數(shù)字
電流數(shù)據(jù)；微分電路(未作圖示)，其對該數(shù)字電流數(shù)據(jù)進行微分處理； 以及判定電路或比較電路(未作圖示)，其用于判定微分電路的輸出數(shù)據(jù) 的正負(fù)或是否超過規(guī)定的變化值。
再次參照圖3，判定單元7具有發(fā)送部72，該發(fā)送部72在如上所述 由火花檢測部71檢測出火花的情況下發(fā)送火花檢測信號。該發(fā)送部73 可以在后述的顯示單元8中目視火花檢測，也可以利用報警音等來進行 聽覺識別。
判定單元7具有功率計算部73，根據(jù)第一電流檢測單元4的電流值 和電壓檢測單元6的電壓值計算火花產(chǎn)生時的功率推移。該功率計算部 73設(shè)置有操作部，可以預(yù)先由利用者設(shè)定其計算方法，也可以設(shè)定成在 檢測出火花時自動計算。
功率計算部73例如設(shè)置有這樣的單元(未作圖示)，該單元使用適 當(dāng)?shù)拇鎯ζ魅萘康南冗M先出存儲器FIFO (未作圖示)，逐次存儲經(jīng)由適 當(dāng)?shù)腁—D轉(zhuǎn)換器(未作圖示)得到的來自第一電流檢測單元4的數(shù)字 電流數(shù)據(jù)和來自電壓檢測單元6的數(shù)字電壓數(shù)據(jù)，并從產(chǎn)生火花起在規(guī) 定時間內(nèi)停止存儲這些數(shù)據(jù)，從而可確?；鸹▌倓偖a(chǎn)生后的規(guī)定時間的 電流數(shù)據(jù)和電壓數(shù)據(jù)。通過具有該功率計算部73，可利用火花剛剛產(chǎn)生 后的規(guī)定時間的電流數(shù)據(jù)和電壓數(shù)據(jù)以及選擇單元2選擇哪個布線作為 被檢查圖形的數(shù)據(jù)等，得知火花檢測時刻、被檢查圖形、功率的時間推移、火花的大小、絕緣破壞等狀況。
并且，該判定單元7具有電阻計算部74，利用第二電流檢測單元5 和電壓檢測單元6來計算第一檢查部Tl和第二檢查部T2之間的電阻值。 電阻計算部74例如可將來自第二電流檢測單元5的測定電流值和來自電 壓檢測單元6的測定電壓值通過適當(dāng)?shù)腁—D轉(zhuǎn)換器(未作圖示)轉(zhuǎn)換 成數(shù)字電流值和數(shù)字電壓值，并利用除法電路(未作圖示)來求出電阻 值數(shù)據(jù)。
這樣通過具有電阻計算部74和絕緣判定部75，可在進行火花檢測 的同時進行絕緣電阻計算。判定單元7判定第一檢査部Tl和第二檢查部 T2是否處于絕緣狀態(tài)。判定單元7例如可使用輸入電阻值數(shù)據(jù)和基準(zhǔn)電 阻值數(shù)據(jù)的比較器(未作圖示)來進行判定。
另外，該功率計算部73、電阻計算部74和絕緣判定部75的計算結(jié) 果被發(fā)送到發(fā)送部72并顯示在顯示單元8上。
顯示單元8可在畫面上顯示在第一電流檢測單元4、第二電流檢 測單元5、電壓檢測單元6、功率計算部73、電阻計算部74以及絕緣判 定部75中檢測出或計算出的電流值、電壓值、電阻值、功率值等；火花 的有無和絕緣的良好與否的判定結(jié)果；以及電路基板的合格品和不合格 品的判定結(jié)果。并且，該顯示單元8如上所述還能以時序方式使用圖或 表顯示數(shù)值和狀態(tài)。這是因為，通過這樣以時序方式顯示，絕緣檢査裝 置1的利用者可目視確認(rèn)火花的產(chǎn)生狀況和大小。
以上是本發(fā)明的絕緣檢查裝置1的實施方式的結(jié)構(gòu)說明。 [絕緣檢查方法]
圖7是示出本發(fā)明的絕緣檢查裝置的檢查方法一例的流程圖。執(zhí)行 該檢査方法的計算機程序例如被存儲在存儲單元10內(nèi)，該絕緣檢査在控 制單元9的控制下執(zhí)行。
首先，將作為檢查對象的電路基板設(shè)置在本絕緣檢查裝置1內(nèi)，設(shè) 定用于檢測火花的規(guī)定值(Sl)。這里，作為火花檢測方法例示出上述的 第二方法進行說明，然而不限于該方法。另外，為了利用第二方法，將 合格品的電流變化值即基準(zhǔn)電流變化值B的數(shù)字基準(zhǔn)電流變化值數(shù)據(jù)和用于判定為合格品的數(shù)字容許范圍C數(shù)據(jù)設(shè)定在存儲單元10內(nèi)。 開始檢査成為對象的電路基板。
首先，利用選擇單元2，從檢査對象的多個布線圖形中選擇成為第
一檢查部(被檢查圖形)Tl的布線圖形，并選擇剩余的布線圖形作為第 二檢查部T2 (S2)。第一檢查部經(jīng)由SW2與第一和第二電流檢測單元連 接。構(gòu)成第二檢查部的圖形經(jīng)由SW1與電源單元3分別連接。此時，形 成第二檢查部T2的多個布線圖形相互并聯(lián)連接。
在電路基板的布線圖形被選擇為第一檢査部Tl和第二檢査部T2的 2個組之后，由電源單元3對第二檢查部T2施加規(guī)定電壓(S3)。
在該狀態(tài)下，與第一檢査部T1連接的第一電流檢測單元4、第二電 流檢測單元5以及電壓檢測單元6分別測定第一檢查部T1的電流和電壓 (S4)。該第一電流檢測單元4、第二電流檢測單元5以及電壓檢測單元 6測定的電流值和電壓值被發(fā)送到判定單元7。
判定單元7的火花檢測部71根據(jù)由第一電流檢測單元3測定的電流 值和規(guī)定基準(zhǔn)值，計算其差值數(shù)據(jù)(S5)。
判定該差值數(shù)據(jù)是否存在于容許范圍C數(shù)據(jù)內(nèi)(S6)。
在該差值數(shù)據(jù)在容許范圍C數(shù)據(jù)內(nèi)的情況下，判定為無火花(不進 行火花檢測)(S7)，另一方面，在差值數(shù)據(jù)在容許范圍C數(shù)據(jù)外的情況 下，判定為檢測出火花(S8)。
在步驟S8中判定為有火花的情況下，判定該電路基板為不合格品 (SIO)。在火花產(chǎn)生的情況下，通過發(fā)送部72顯示在顯示單元8上。
在未檢測出火花的情況下，絕緣計算部75根據(jù)從第二電流檢測單元 5得到的電流值數(shù)據(jù)和從電壓檢測單元6得到的電壓值數(shù)據(jù)，進行絕緣檢 查(S9)。在該絕緣檢查中，利用來自第二電流檢測單元5和電壓檢測單 元6的電流值和電壓值，由判定單元7的電阻計算部74計算第一檢查部 Tl和第二檢查部T2之間的電阻。另外，在該流程圖中示出每當(dāng)火花檢 查結(jié)束時都進行絕緣檢査的檢査工序，然而可以在火花檢查前進行絕緣 檢查，也可以是同時進行火花檢查和絕緣檢查的檢查工序。
由該電阻計算部74計算出的電阻值數(shù)據(jù)被發(fā)送到絕緣判定部75。該絕緣判定部75將計算出的電阻值數(shù)據(jù)和預(yù)先設(shè)定的基準(zhǔn)電阻值數(shù)據(jù)進
行比較，進行絕緣狀態(tài)的判定。當(dāng)計算出的電阻值數(shù)據(jù)大于等于基準(zhǔn)電
阻值數(shù)據(jù)時，判定為是絕緣狀態(tài)，判定該電路基板是合格品(Sll)，當(dāng) 計算出的電阻值數(shù)據(jù)小于基準(zhǔn)電阻值數(shù)據(jù)時，判定為不是絕緣狀態(tài) (S12)，判定該電路基板是不合格品(SIO)。
在判定是不合格品的情況下，與火花檢測時一樣，通過發(fā)送部72顯 示在顯示單元8上。
當(dāng)火花檢查和絕緣檢査的雙方完成時，由選擇單元2選擇接下來的 第一檢查部Tl和第二檢查部T2,重復(fù)進行檢查直到所有布線圖形作為 第一檢查部Tl進行了檢查為止。
另外，當(dāng)在顯示單元8上通知了由于產(chǎn)生火花而是不合格品時，由 利用者或者由判定單元7的功率計算部73根據(jù)從第一電流檢測單元4得 到的電流值數(shù)據(jù)和從電壓檢測單元6得到的電壓值數(shù)據(jù)自動計算功率值 數(shù)據(jù)。此時，計算出的功率值數(shù)據(jù)顯示在顯示單元8上。
因此，本絕緣檢查裝置1的利用者可在火花產(chǎn)生時立即通過目視確 認(rèn)火花的大小等。以上是本發(fā)明的絕緣檢查方法的實施方式的說明。 [本實施方式的絕緣檢查裝置和絕緣檢查方法的優(yōu)點]
(1) 在現(xiàn)有的絕緣檢査裝置中，例如，在布線圖形和與該布線圖形 接觸的探針(觸針CP)是連接不良的情況下，當(dāng)在該布線圖形和探針之 間產(chǎn)生火花而發(fā)生電壓下降時，有時檢測成電路基板中的布線圖形間的 火花。并且，在布線圖形和該布線圖形附近的金屬框之間產(chǎn)生火花的情 況下也一樣，有時檢測成電路基板中的布線圖形間的火花。即，具有將 在電路基板上產(chǎn)生的所有火花檢測成在布線圖形間產(chǎn)生的火花的問題。
根據(jù)本實施方式的絕緣檢查裝置和絕緣檢查方法，由于僅對第二檢 查部施加電壓，因而僅在第一檢查部和第二檢查部之間產(chǎn)生電位差。與 第一檢查部連接的電流檢測單元僅檢測在該第一檢查部和第二檢査部之 間流過的電流，僅檢測第一檢査部和第二檢查部中的任意一個布線圖形 之間的火花。
(2) 在現(xiàn)有的絕緣檢查裝置中，例如，由于用于形成裝置的電路元件的原因，伴隨施加電壓的急劇變化，不能檢測電壓下降，因而無論如 何也有必要將使施加電壓上升到規(guī)定電壓值的檢査時間設(shè)定得充分長。 因此，結(jié)果上帶來了進行火花檢測所需要的檢查時間延長的結(jié)果。
根據(jù)本實施方式的絕緣檢查裝置和絕緣檢査方法，由于在電流值大 于規(guī)定值的情況下產(chǎn)生火花并判定是不合格品，因而能以更短時間效率 良好地進行判定。
并且，根據(jù)本實施方式的絕緣檢查裝置和絕緣檢査方法，由于絕緣 檢査裝置具有擁有與第一電流檢測單元不同量程的第二電流檢測單元， 因而可由第一電流檢測單元檢測火花，由第二電流檢測單元檢測泄漏電 流。因此，可同時進行絕緣檢查和火花檢查，可進一步縮短檢査時間。
(3) 在現(xiàn)有的絕緣檢查裝置中，例如關(guān)于火花檢測方法，僅通過觀 察電壓變化的推移并檢測電壓下降來進行火花檢測，不能分析所產(chǎn)生的 火花的狀況和大小。
根據(jù)本實施方式的絕緣檢查裝置和絕緣檢查方法，由于絕緣檢査裝 置具有電流檢測單元、電壓檢測單元以及顯示單元，因而可將檢測出火 花時的電流和電壓的變化情況顯示在顯示裝置上，并且還能計算并顯示 火花的大小(功率)。因此，能以視覺方式將火花狀況表示給利用者，可 使利用者容易地把握火花狀態(tài)。
(4) 特別是近年來， 一直進行著電路基板的復(fù)雜化以及布線圖形的 復(fù)雜化。伴隨該布線圖形的復(fù)雜化，布線圖形自身的面積(網(wǎng)格大小) 增加。由此，當(dāng)對布線圖形施加電壓時，布線圖形自身蓄積電荷，容易 產(chǎn)生火花。而且，由于電路基板自身的細微化，也容易產(chǎn)生由存在于電 路基板自身內(nèi)的雜質(zhì)引起的火花。
根據(jù)本實施方式的絕緣檢查裝置和絕緣檢查方法，即使布線圖形復(fù) 雜，并且即使布線圖形自身帶有電荷，第一電流檢測單元也不受其影響， 從而僅測定布線圖形間的電流。
并且，根據(jù)本實施方式的絕緣檢查裝置和絕緣檢査方法，由于第二 檢查部是將第一檢查部的布線圖形以外的多個該布線圖形全部并聯(lián)連接 而形成的，因而可防止在第二檢査部間產(chǎn)生火花。因此，可防止檢查對象以外的布線圖形中產(chǎn)生火花。
并且，根據(jù)本實施方式的絕緣檢査裝置和絕緣檢查方法，由于僅對 第二檢查部施加電壓，因而僅在第一檢查部和第二檢查部之間產(chǎn)生電位 差。因此，與第一檢査部連接的第一電流檢測單元僅檢測在該第一檢查 部和第二檢查部之間流過的電流，可檢測在第一檢查部和第二檢查部中 的任意一個布線圖形之間的火花產(chǎn)生。因此，即使產(chǎn)生成為檢査對象的 布線圖形間以外的火花(假火花)，也能防止檢測成火花，并且即使布線 '圖形復(fù)雜且布線圖形自身帶有電荷，也不會受到影響。
這樣，本實施方式的絕緣檢查裝置和絕緣檢查方法是進行形成有多 個布線圖形的電路基板的絕緣檢查的裝置和方法，即使是復(fù)雜的布線圖 形，也能更準(zhǔn)確地檢測布線圖形間的火花并能可靠地檢測該火花的狀況。 并且，與以往相比可縮短撿査時間。 [代替例等]
以上說明了本發(fā)明的絕緣檢査裝置和絕緣檢查方法的實施方式，然 而本發(fā)明不限于該實施方式。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可容易進行的追加、 刪除、改變等也可以包含在本發(fā)明內(nèi)。
(1) 作為形成在電路基板IO上的圖形P，例示出5種布線圖形。 然而，布線圖形P不限于這5種，布線圖形的種類、數(shù)量、位置、大小、 形狀等也不限于圖示的布線圖形。電路基板10也可以將布線圖形經(jīng)由通 路孔擴展為多層的多層基板作為對象。
(2) 在控制單元9的選擇單元9、判定單元7、存儲單元10等中， 例示出各自的構(gòu)成電路，然而不限于此?？墒褂媚苓_到各個單元的目的 的其他電路。
(3) 將形成在電路基板IO上的圖形P設(shè)為單一的第一檢查部(被 檢査圖形)和第一檢查部以外的第二檢查部(被檢查圖形以外的所有布 線圖形)作了說明。然而，絕緣檢查裝置的檢查是在被檢查圖形和與其 鄰接而產(chǎn)生絕緣不良的圖形之間進行的檢查。在可達到該目的的范圍內(nèi)， "被檢查圖形以外的所有布線圖形"可以靈活地解釋。
艮口，將第二檢查部設(shè)為"被檢査圖形以外的所有布線圖形"，然而即使將與被檢査圖形鄰接而不會產(chǎn)生絕緣不良的圖形從第二檢査部中去 除，也認(rèn)為是本發(fā)明的對象。例如，在電路基板10的布線被分割成塊， 并且在塊間圖形相互分離而不會產(chǎn)生絕緣不良的情況下，在單一塊內(nèi)定 義第一檢査部和第二檢査部。
同樣，除了不會與鄰接圖形接近的圖形以外，在進行絕緣檢査的情 況下，這些圖形也不成為第一檢査部和第二檢查部。
并且，即使為了避開本發(fā)明的技術(shù)范圍而沒有任何目的或效果地從 第二檢查部中取出若干圖形，這種實施品也是本發(fā)明的對象。
(4) 并且，本發(fā)明的對象還包含使計算機9執(zhí)行該絕緣檢查方法的
計算機程序和記錄有該計算機程序的記錄介質(zhì)。
(5) 在各檢查階段中，從電源單元3對第二檢査部T2施加規(guī)定電 壓。因此，在各檢査階段中，可以設(shè)置將充電到第二檢査部T2的電荷進 行放電的階段。
(6) 絕緣檢査裝置1執(zhí)行的檢查是，根據(jù)規(guī)定的規(guī)則選擇電路基板 10的圖形P作為第一撿查部Tl和第二檢查部T2，在對第二檢査部T2 施加規(guī)定電壓而在第一檢查部Tl和第二檢查部T2之間產(chǎn)生了規(guī)定電位 差的狀態(tài)下，檢測流過第一檢査部T1的電流，從而執(zhí)行絕緣檢査。這里， 第一檢査部由選擇出的成為檢査對象的單一布線圖形構(gòu)成，第二檢査部 T2由第一檢查部T1以外的所有布線圖形構(gòu)成。在檢查中，順次選擇各 布線圖形作為第一檢査部，每次都在與第二檢查部之間進行絕緣檢查， 當(dāng)選擇完所有布線圖形作為第一檢查部進行檢査后結(jié)束。
因此，為了檢測流過由單一布線圖形構(gòu)成的第一檢查部T1的泄漏電 流，在圖l、圖2A和圖2B中，在單一布線圖形T1和接地部位之間連接 第一電流檢測單元4和第二電流檢測單元5。
然而，第一電流檢測單元4和第二電流檢測單元5的連接部位不限 于此。流過由單一布線圖形構(gòu)成的第一檢查部T1的泄漏電流是在從電源 單元3對第二檢查部T2施加規(guī)定電壓、并且第一檢查部Tl有絕緣不良 的情況下產(chǎn)生的泄漏電流。在第一檢査部T1無絕緣不良的情況下，即使 從電源單元3對第二檢査部T2施加規(guī)定電壓，電流也不流過第一檢查部Tl。
因此，將第一電流檢測單元4和第二電流檢測單元5中的任意一方 或雙方連接在電源單元3和第二檢查部T2之間，通過檢測流過第二檢查 部T2的電流即可檢測第一檢査部T1有無絕緣不良。即，第一電流檢測 單元4和第二電流檢測單元5中的任意一方或雙方在圖1、圖2A和圖2B 中可以連接在電源單元3和各第二檢查部T2的分支點之間。在該情況下， 第一電流檢測單元4和第二電流檢測單元5檢測到的電流數(shù)據(jù)被發(fā)送到 控制單元9。
本發(fā)明的技術(shù)范圍由所附權(quán)利要求書的記載決定。
權(quán)利要求
1.一種絕緣檢查裝置，其進行形成有多個布線圖形的電路基板的絕緣檢查，其特征在于，該絕緣檢查裝置具有選擇單元，其從所述多個布線圖形中選擇成為檢查對象的一個布線圖形作為第一檢查部，并選擇該第一檢查部以外的成為檢查對象的所有布線圖形作為第二檢查部；電源單元，其與所述第二檢查部連接并對該第二檢查部施加電壓，以便在所述第一檢查部和所述第二檢查部之間設(shè)定規(guī)定的電位差；電流檢測單元，其檢測在所述第一檢查部和第二檢查部之間流過的電流；以及判定單元，其將所述電流檢測單元檢測的電流值與規(guī)定基準(zhǔn)值進行比較，根據(jù)該比較結(jié)果判定該電路基板是合格品還是不合格品。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的絕緣檢査裝置，其特征在于， 所述第二檢查部由所述第一檢査部的布線圖形以外的布線圖形構(gòu)成，這些布線圖形全部并聯(lián)連接。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的絕緣檢查裝置，其特征在于，所述電流檢測單元與所述第一檢查部或所述第二檢查部串聯(lián)連接。
4. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的絕緣檢査裝置，其特征在于， 所述選擇單元順次選擇所有所述多個導(dǎo)體圖形作為第一檢查部， 所述不合格品的判定是在所述電流值大于所述基準(zhǔn)值的情況下，判定該電路基板是不合格品。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的絕緣檢查裝置，其特征在于， 所述電流檢測單元具有擁有不同的2個量程的第一電流檢測單元和第二電流檢測單元，所述第一電流檢測單元是為了檢測與所述第一檢查部相關(guān)聯(lián)的火花 產(chǎn)生而設(shè)置的，所述第二電流檢測單元是為了測定第一檢查部和第二檢查部之間的 絕緣電阻值而設(shè)置的。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的絕緣檢査裝置，其特征在于，該絕緣檢查裝置還具有顯示單元，該顯示單元以時序方式顯示所述 第一電流檢測單元檢測的電流值。
7. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的絕緣檢査裝置，其特征在于， 所述判定單元具有火花檢測部和功率計算部，所述火花檢測部根據(jù)來自所述第一電流檢測單元的測定電流值檢測 火花產(chǎn)生，所述功率計算部根據(jù)來自所述第一電流檢測部的測定電流值和來自 所述電壓檢測部的測定電壓值檢測火花狀況。
8. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的絕緣檢査裝置，其特征在于， 所述判定單元具有電阻計算部，根據(jù)來自所述第二電流檢測部的測定電流值和來自所述電壓檢測部的測定電壓值計算電阻值。
9. 一種絕緣檢查方法，其進行形成有多個布線圖形的電路基板的絕 緣檢査，其特征在于，該絕緣檢查方法包含從所述多個布線圖形中選擇成為檢查對象的一個布線圖形作為第一 檢査部，并選擇該第一檢査部以外的成為檢査對象的所有布線圖形作為第二檢查部的步驟；對所述第二檢査部施加電壓，以使所述第一檢查部和所述第二檢查部之間產(chǎn)生規(guī)定電位差的步驟；在對所述第二檢査部施加了電壓的狀態(tài)下，檢測在所述第一檢查部和第二檢查部之間流過的電流的步驟；以及將流過所述第一檢査部的電流值與規(guī)定基準(zhǔn)值進行比較，根據(jù)該比 較結(jié)果判定該電路基板是合格品還是不合格品的步驟。
10. —種記錄有電路基板的絕緣檢查方法程序的計算機可讀取的記錄介質(zhì)，所述絕緣檢查方法程序用于使進行形成有多個布線圖形的電路基板的絕緣檢査的計算機執(zhí)行如下步驟從所述多個布線圖形中選擇成為檢查對象的一個布線圖形作為第一 檢查部，并選擇該第一檢查部以外的成為檢査對象的所有布線圖形作為 第二檢查部的步驟；對所述第二檢查部施加電壓，以使所述第一檢查部和所述第二檢查 部之間產(chǎn)生規(guī)定電位差的步驟；在對所述第二檢查部施加了電壓的狀態(tài)下，檢測在所述第一檢查部和第二檢査部之間流過的電流的步驟；以及將流過所述第一檢查部的電流值與規(guī)定基準(zhǔn)值進行比較，根據(jù)該比 較結(jié)果判定該電路基板是合格品還是不合格品的步驟。
全文摘要
本發(fā)明提供一種可更準(zhǔn)確地檢查電路基板的火花的絕緣檢查裝置和絕緣檢查方法。絕緣檢查裝置(1)進行形成有多個布線圖形(P)的電路基板(10)的絕緣檢查，具有選擇單元(2)，其從所述多個布線圖形中選擇一個布線圖形作為第一檢查部(圖2的T1)，并選擇該第一檢查部以外的所有布線圖形作為第二檢查部(圖2的T2)；電源單元(3)，其與所述第二檢查部連接并對該第二檢查部施加電壓，以便在所述第一檢查部和所述第二檢查部之間設(shè)定規(guī)定的電位差；第一電流檢測單元(4)，其與所述第一檢查部連接，以便檢測流過所述第一檢查部的電流；以及判定單元(7)，其將所述第一電流檢測單元檢測的電流值與規(guī)定基準(zhǔn)值進行比較，根據(jù)該比較結(jié)果判定該電路基板是合格品還是不合格品。
文檔編號G01R31/02GK101292166SQ20068003894
公開日2008年10月22日 申請日期2006年10月4日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月18日
發(fā)明者山下宗寬 申請人:日本電產(chǎn)理德株式會社