專利名稱：用于檢測導電連接的接觸缺陷的測試設備及方法
技術領域：
本發(fā)明涉及根據(jù)權利要求1、 2和23的前序部分所述的、用于檢測導 電連接的接觸缺陷的測試設備和方法。本發(fā)明被設計用于如下的應用在 所述應用中需要以非常精確且質(zhì)量敏感的方式來制造這種連接，以確保所 述導電連接在對耗電裝置的能量供應和/或?qū)刂茊卧蚱渌O備(例如 飛行器)的信息傳輸中的、穩(wěn)定的可用性和可靠性。本發(fā)明實現(xiàn)了對這種 由于技術方面的考慮而預制的電纜連接的預防性測試，并且允許對不正確 地(有缺陷地)制造的電纜連接的可靠的目祝險測，而不需要技術方面的 大的開支。
背景技術：
眾所周知，諸如陸運工具、水運工具或飛行器之類的交通工具裝配有 由于起先提及的原因而需要以非常精密且質(zhì)量敏感的方式來制造的多個 電連接。利用銅電纜來實現(xiàn)對其的安裝的、傳統(tǒng)的電纜連接通常是用銅電 纜來制造的，所述銅電纜的導線是通過借助于適當?shù)墓ぞ邔航有徒饘俳?頭壓接在經(jīng)剝皮的導線區(qū)域上iM目應地連接的，其中例如通過與所述導線
相接觸的接頭來確保所述接頭中容納的經(jīng)剝皮的導線端部之間的電連接。 該接觸主要是利用所述壓接連接來實現(xiàn)的，其中傳統(tǒng)的系統(tǒng)可能包括該安 裝技術。為了確保制造可靠的電連接，例如在飛行器的建造中使用了具有 以檢查孔的形式的凹部的壓接型接觸接頭，以確定兩根銅電纜的銅導線是 否借助于壓接而正確地相互連接。在這種情況下，在壓接處理之后，可以 (僅僅)執(zhí)行目視檢查以確保所述壓接處理被適當?shù)貓?zhí)行，其中如果所述 接觸接頭已被適當?shù)貕航拥脑?，則經(jīng)過壓接的導線必須是在檢查孔的區(qū)域 內(nèi)可見的。由于可能永遠不能避免尤其是以下情況個別檢查者的視覺誤 差、所述接觸接頭的材料缺陷、或者偏離預定位置的檢查孑L位置(由于對 所述接觸接頭的有缺陷的制造而導致)，因此，因為所提出的本發(fā)明致力 于完全不同的目的，所以并不對該測試技術實際上是否滿足需求的問題進 行詳細討論。在所附的圖l和2中示出了這種電纜連接的相應的示例，以向觀察者提供相關設計的實際概況。
關于飛行器，本發(fā)明還考慮了利用其導線材料可以導致重量減少的電 纜來進行安裝，即，這是因為任何重量減少都是期望的方面(特別是在飛 行器的建造中)，例如，由于可達到的節(jié)能(煤油消耗)和飛行器的伸展 范圍而導致的重量減少。
當利用這種類型的、考慮在飛行器中安裝這種重量減少的電纜的技術 時，可能必須利用不包含檢查孔的可壓接的接觸接頭。缺少檢查孔的原因
可以從以下方面看出連接點的接觸面積可能需要被密封地封閉，以可靠
種類型的材料(銀，銅，鎳，鋁)可能導致腐蝕，其中該腐蝕的原因可以 從以下方面看出所述連接是用電纜和具有不同的導電材料的接觸接頭來 制造的，并且是處于與(存在的)濕度(例如空氣濕度)有關的電解液的 局部影響下。在這方面，在傳統(tǒng)系統(tǒng)中，使接觸(表面)腐蝕可能導致所 連接的裝置和i殳備或者甚至整個系統(tǒng)的故障，其中在(不期望的)最差的 情形下，這可能導致飛行器中的(相關)系統(tǒng)的完全失效。由增大的(增 長的)電氣接觸電阻所導致的、對被腐蝕的傳送電流的接觸的耗損可能帶 來毀滅性的后果。所討論的在電連接的接觸點處的接觸電阻的增大也因而 可能受到將接觸接頭不正確地壓接在要連接的導線區(qū)域上的影響。如果接 觸表面具有極小的尺寸，則電流密度增大以至于在所述接觸表面上發(fā)生所 ii^損。如果所述接觸接頭被不正確地壓接以至于連接元件(表面)被不 充分地接觸，則可以預料到任何發(fā)生的振動、比如飛行器的振動都將導 致借助于該壓接連接而連接的裝置、設備或整個系統(tǒng)的故障。上述的導線 壓接型接頭-導線連接中的劣質(zhì)的接觸無疑會受到以下方面的影響對所 述連接元件的接觸(表面)的不正確的壓接，和/或?qū)⑺鲭娎|不充分地 插入所述接觸接頭中，其中，在傳統(tǒng)的系統(tǒng)中，這些不足之處被稱為如下 的術語導電連接的"接觸缺陷"。所附的圖3A、 3B、 3C和4中的圖示 示出了被正確地或不正確地制造的連接的示例，其中在圖3A中示出了正 確地制造的連接(經(jīng)過正確地剝皮)。在圖3B (過度剝皮)、3C和4 (不 正確地切割和插入的電纜)中示出的不正確地制造的電纜連接說明了現(xiàn)有 的對解決(消除)下面定義的問題的需要(正面評價)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的尤其是提供一種針對用于檢測導電連接的接觸缺陷的測試設備和方法的有效解決方案，其中所述解決方案可以使得能夠檢自 制的電纜連接或根據(jù)在修理過程或適應性改造的期間對其的需要而后來 制造的電纜連接是否是以精確且質(zhì)量敏感的方式來制造的。本發(fā)明旨在公 開一種對不正確地(有缺陷地)制造的電纜連接的、可靠的目祝險測，其 中可以實現(xiàn)所述測試設備的處理和所述方法的實施，而不需要技術方面的 大的開支。
該目的是利用權利要求1、 2和23中公開的特征來實現(xiàn)的。在其余的 權利要求中公開了這些措施的實施例。
根據(jù)示例性實施例，提供了 一種用于檢測導電連接的接觸缺陷的測試 設備，其中所述測試設備是用若干用于傳導信號或能量的導電系統(tǒng)元件來 實現(xiàn)的，其中設置有測量室，導電^目互連接的、所述連接的系統(tǒng)組件被 定位于所述測量室中；其中設置有熱輻射器，該熱輻射器被供應能量，并 且M射到測量室中的、所述熱輻射器的傳送的熱輻射被定向為朝向所述 系統(tǒng)元件的區(qū)域，使得產(chǎn)生這些相連接的系統(tǒng)元件的絕緣金屬系統(tǒng)組件的 熱場；其中設置有熱(圖像)獲取單元，該熱(圖像)獲取單元用于光學 地釆集所產(chǎn)生的、由這些相連接的系統(tǒng)元件的被加熱的絕緣金屬系統(tǒng)組件 發(fā)射的熱場，以及用于實現(xiàn)將信號轉(zhuǎn)換成所述相連接的系統(tǒng)元件的熱圖 像；以及其中設置有熱(圖像)再現(xiàn)單元，該熱(圖像)再現(xiàn)單元用于實 現(xiàn)對所轉(zhuǎn)換的熱圖像的可視化再現(xiàn)，并且該熱(圖像)獲取單元和該熱(圖 像)再現(xiàn)單元通過信息技術方式而相連接。
根據(jù)示例性實施例，提供了 一種用于檢測導電連接的接觸缺陷的測試 設備，其中所述測試i殳備是用若干用于傳導信號或能量的導電系統(tǒng)元件來 實現(xiàn)的，其中設置有測量室，導電^目互連接的、所述連接的系統(tǒng)組件被 定位于所述測量室中；其中設置有用于紅外光的熱輻射器，該熱輻射器被 發(fā)電機供應恒定電流，其中祐_橫向地或水平地或垂直地或偏斜地傳送的、 所述熱輻射器的紅外光熱輻射被定向為朝向所述導電連接的區(qū)域，使得通
場；其中設置有用于紅外光的熱(圖像)獲取單元，該熱(圖像)獲取單 元用于光學地采集所產(chǎn)生的熱場，以及用于實現(xiàn)將信號轉(zhuǎn)換成由這些相連 接的系統(tǒng)元件的被加熱的絕緣金屬系統(tǒng)組件發(fā)射的、所述導電AM目連接的 系統(tǒng)元件的紅外光熱圖像；以及其中設置有用于紅外光的熱(圖像)再現(xiàn) 單元，該熱(圖像)再現(xiàn)單元用于實現(xiàn)對經(jīng)過數(shù)字轉(zhuǎn)換的熱圖像的可視化 再現(xiàn)，并且該熱(圖像)獲取單元和該熱(圖像)再現(xiàn)單元通過信息技術方式而相連接。
根據(jù)示例性實施例，提供了 一種用于檢測導電連接的接觸缺陷的方 法，該方法用于對用于傳導信號或能量的導電系統(tǒng)元件的測試，其中若干 串聯(lián)的系統(tǒng)元件借助于在所述系統(tǒng)元件的連接點處的壓接連接而導電地
相連接，其中所述方法利用一種測試設備，該測試設備的功能范圍包括 測量室、被供應能量并被布置在該測量室中的熱輻射器、以及利用信息技 ^M目連接的熱(圖像)獲取單元和熱(圖像)再現(xiàn)單元，以及
在所述方法中執(zhí)行以下步驟
a) 將通ita接連接而串聯(lián)的系統(tǒng)元件定位在所述測量室中；然后
b) 所述測量室中的熱輻射器將所傳送的熱輻射定向為朝向所述系統(tǒng) 元件的區(qū)域傳送，即，使得隨后
輻射的熱能，以轉(zhuǎn)換成^場；然后 'P '、
d) 所述熱(圖像)獲取單元光學地進行釆集并隨后通過信號轉(zhuǎn)換將 所產(chǎn)生的熱場轉(zhuǎn)換為熱圖像；以及然后
e) 所述熱(圖像)再現(xiàn)單元實現(xiàn)對轉(zhuǎn)換后的熱圖像的可視化再現(xiàn)。
這里必須提及的是，還可以借助于另外的實施例來實現(xiàn)所述測試設 備。因此，對于本領域的技術人員而言，顯然也可以將利用這些另外的實
的方法的實施例的特4^目組合.
下面為了進一步說明本發(fā)明和更好地理解本發(fā)明，將參照附圖更詳細 地描述示例性實施例。在附圖中
圖1示出了具有銅導線和接觸接頭的電纜連接；
圖2示出了根據(jù)圖l的、具有容納在銀接頭內(nèi)的鋁導線(具有對鋁導 線的束狀電線的銅鍍層和/或鎳似)的電纜連接；
圖3A示出了根據(jù)圖l的、具有容納在接頭的起始處的導電線的導線 絕緣層的、正確地制造的電纜連接；
圖3B示出了根據(jù)圖3A的、具有若干接觸缺陷的電纜連接；圖3C示出了根據(jù)圖3B的電纜連接的不同的圖示；
圖4示出了根據(jù)圖3C的電纜連接的詳細圖示；
圖5示出了用于測試電纜連接的測試設備的物理圖示；
圖6示出了根據(jù)圖5的測試^1備的才匡圖7示出了根據(jù)圖5的測試設備的實施例；以及
圖8示出了根據(jù)圖5的測試i殳備的4務改的實施例。
具體實施例方式
還應當注意到，圖1和2中的接觸接頭71分別裝配有傳統(tǒng)上用于對 接頭中的導電連接5進行目,查(檢驗)的檢查孔75。在其它方面， 根據(jù)圖1-4的這些導線連接通常與本領域的(傳統(tǒng)上實施的)狀況相關， 而下面描述的、借助于根據(jù)圖5-8的測試設備來執(zhí)行的對這些導線連接的 測試旨在消除對于(需要改進的)傳統(tǒng)上利用的測試技術而言(顯然是) 固有的缺陷。為了向本領域的技術人員清楚地說明對于本領域的該狀況而 言固有的問題，下面參照圖l-4提供了一些被認為對于更好地理解下面的 本發(fā)明的示例性實施例而言是必需的附加i兌明。
在傳統(tǒng)的系統(tǒng)中，根據(jù)圖1的傳統(tǒng)的導線連接可能是已知的。該連接 的特征在于接觸接頭71,其在左側(cè)的(被清楚地加亮的)接頭空腔72在 約所述接頭的中心處被分隔。因此，可以將由此分隔的接頭區(qū)域(接頭空 腔72 )與接頭出口 74進行比較，其中所述接頭出口 74在所述接頭的中 心處被封閉并且所述接觸接頭71 (在左側(cè)示出)在所述接頭出口 74處終 止(大約在所述接頭的圓周上的接頭凸緣76的上方)，其中根據(jù)圖l的接 頭的右側(cè)的套筒狀接頭區(qū)域包括用于制造另 一導電連接的另 一接觸接頭 71A。
因此，可以分別在位于所述接頭凸緣76的左側(cè)和/或右側(cè)的接頭的所 述套筒狀接頭區(qū)域中或者在相對的接頭入口 78、 78A處，將被稱為第一 系統(tǒng)元件6的導線61和/或被稱為第三系統(tǒng)元件8的導線81的剝皮后的 導線區(qū)域插入對應的接頭空腔72、 72A中，并分別將該(剝皮后的)導 線區(qū)域沿著(整個接頭的)接頭軸線而導向到被封閉在所述接頭的中心或 所述接頭出口 74處的接觸接頭71的末端(以使得所述導線區(qū)域與所述導 線末端相接觸)。才艮據(jù)圖l所示的示例，以^^鎳的銅導線的形式實現(xiàn)的并且被稱為第一系統(tǒng)元件6的導電線61應當只連接到被稱為第二系統(tǒng)元件 7的接觸接頭75的一側(cè)。
所述銅導線的導線絕緣層傳統(tǒng)上可以不插入所述接頭空腔中。下面進 一步提供了對電纜安裝的(其它)區(qū)別特征的更詳細的描述。
根據(jù)圖1的、通過利用適當?shù)膲航庸ぞ邔⒔佑|接頭71壓接在容納在 接頭內(nèi)的導線末端區(qū)域上而制造的導電連接，可以被本領域的技術人員視 為正確地制造的"導線-接頭連接，，或者無缺陷地制造的"導電連接5"。 向設置在接觸接頭71上的檢查孔75中的掃視使得檢查者能夠?qū)γ總€銅導 線進行目,查，并因此使得能夠檢驗出所述連接是正確地制造的。
根據(jù)圖2所示的示例，將每個鋁導線與接觸接頭71相連接可能是已 知的，其中所述鋁導線是利用所述鋁導線的成束電線的銅和/或鎳鍍層來 實現(xiàn)的，所述接觸接頭71的接頭材料顯著地不同于根據(jù)可能已知的"電 化序"的鋁的接頭材料。這種利用不同材料的系統(tǒng)元件6、 7制造的電纜 連接可能最終由于(起初實現(xiàn)的)導電連接5的必然發(fā)生的(不可避免的) 電化學腐蝕所導致的材料腐爛而被損壞。然而，電纜連接的實施例也可能 是已知的(無論是由于何種原因)，其中由此連接的系統(tǒng)元件6、 7是利用 銀接頭141來實現(xiàn)的，所述銀接頭141添加了又一不同的導線材料，并被 稱為第四系統(tǒng)元件14。所述銀接頭141被布置成沿著所述接觸接頭71的 接頭軸線，所述銀接頭141的圓錐形的接頭頭部接近于其圓錐頂點，即位 于接觸接頭71的中心處且適當?shù)剡m應于所述圓錐形的封閉的接頭末端 (接頭出口 74)。
此外，令人驚訝但真實的是，例如，鋁導線的經(jīng)剝皮的導線區(qū)域被定 位于沿著銀接頭141的接頭軸線，其中具有由此實現(xiàn)的布置的導電連接5 是通過在圓周上將所述接觸接頭71壓接到銀接頭141上來制造的，對其 的壓接被傳遞至所述鋁導線的經(jīng)剝皮的導線區(qū)域?？赡鼙Ａ袅艘恍┏^本 說明書的更廣泛的范圍的問題而未進行解答，換言之是由于未討論例如根 據(jù)所提供的所述系統(tǒng)元件的布置的銀接頭是否能夠使電化學腐蝕延緩足 夠長的時間，或者例如利用手動壓接工具在接觸接頭71上施加的壓接壓 力是否會以足夠的強度而傳遞至用作導電線61的鋁導線。在任何情況下， 圖2都清楚地說明了不可能作出容易地提供對例如如下問題的答案的陳 述"所述銅導線將被密封在所述銀接頭中的深度是多少？"或者"所述 鋁導線的末端距離所述封閉的接頭出口 74 (大約位于所述接觸接頭71的 中心處)的可維護的距離是多少？，，。這可能保留了以下事實接觸接頭71的檢查孔75可能阻礙對保,銀接頭141的附加布置所阻擋的鋁導線 的觀察。
期望讀者將不會失望，因為不討論其特征在于以上述銀接頭141的鏡 像的形式而布置在接觸接頭71的接頭軸線上的另一完全相同的銀接頭 141A的附加實施例。
其原因與對于根據(jù)圖2的系統(tǒng)元件的(同一類型的)可壓接的布置(在 左側(cè)示出)的上述缺點的重復敘勤目關，其中在將附加的銅導線與所述接 頭相連接以制造例如與導線相配合的接觸接頭71同其它裝置、設備等之 間的電纜連接的情況下，可能如同預料地出現(xiàn)所述缺點。
上述電纜布置的這些不利的缺陷也適用于才艮據(jù)圖3A、 3B、 3C所示 的示例的已知的導電連接5。但是，(相比于根據(jù)圖1和2的實施例的描 述)可能存在一定的差別，才艮據(jù)所述差別，被稱為第一系統(tǒng)元件6的導電 線61的導線絕緣層62的確定地限定的絕緣區(qū)域被布置在接觸接頭71的 預定的接頭(壓接)表面B的下方，以便在所述接觸接頭71已經(jīng)被(充 分地？)壓接在插入接頭中的導線絕緣層62上之后避免或至少限制水蒸 氣或其它液體或氣態(tài)流體的額外i^。不對該措施是否滿足需要的問題作 進一步討論。
但是，在例如利用均由鋁材料構成的導電線61和接觸接頭72來實現(xiàn) 的、這樣壓接的連接5中，不可能分別目,驗出容納在接頭中的導電線 61的末端實際上延伸到閉合的接頭末端(接頭出口 74)或被布置成使得 其接近于或位于距離該接頭末端的可容忍距離A/處。接頭出口 74 (即， 接頭的末端)的封閉將位于被環(huán)狀地布置在接觸接頭71的圓周上的示例 性接頭凸緣76的下方。盡管接觸接頭71的特征在于處于限定的位置上的 檢查孔75 (用于目,查的接觸孔)，但是該檢查孑L被所使用的以銀接頭 的形式實現(xiàn)的輔助接頭141所覆蓋，使得不能執(zhí)行目,查以確定導電線 61是否至少被布置在所述接頭中且在可允許的公差范圍內(nèi)。因此，利用 被(以清楚可見的方式)(周向地或逐點地)布置在導線絕緣層62的限定 位置處的、對應地定位的標記63，以確保所需要的對導線絕緣層62和導 電線61的長度測量。但是，由于仍然可能存在個人的或^的安裝誤差， 因此可能不能排除制造出根據(jù)圖3B和3C中的布置來實現(xiàn)的電纜連接5 的情況。在圖3A中示出了具有鋁元件6、 7的壓接的導線-接頭連接的正 確地制造的實施例。與相關的圖3C相比，圖4向觀察者4l/映了對不正確 地制造的連接5的更詳細的概覽。為了更好地理解下面描述的測試設備l (參照圖6-8)以及(利用該 測試設備來實現(xiàn)的)用于檢測(識別)(已壓接的)導電連接5的接觸缺 陷的方法，提供了前述的關于本領域狀況的(總體)評論。
根據(jù)圖6,該測試設備1包括相互關聯(lián)和/或經(jīng)由電路而相互連接的測 試室2、熱輻射器9、 9R、定位和固定裝置18、熱(圖像)獲取單元ll、 IIR、熱(圖像)再現(xiàn)單元15、以及(如果可應用的話)外部讀出顯示屏 21。
利用標號"R"來提供其附圖標記的、前述的根據(jù)圖6的測試設備1 的功能元件和其它裝置相應地表示傳送由紅外光構成的熱輻射91R的、 用于紅外光的熱輻射器9R，還表示由紅外光構成且由源自用于紅外光的 熱輻射91R的、壓接的導電連接5的熱場12R發(fā)射的熱輻射29R,以及 表示用于紅外輻射的熱(圖像)獲取單元11R和用于紅外光的熱(圖像) 再現(xiàn)單元13R。
在下面的圖7和8及對其的描述中也^f吏用了該輔助的附圖標記標號 "R"。
在圖5中示出了所述測試i殳備l的一個實際實施例，其中測試i殳備l 的功能元件被定位在用于測量室2的室壁4內(nèi)，即，在限定測量室2的邊 界的殼體7的殼體區(qū)域16中。測試設備1的這樣集成的殼體17具有與照 相機的外，j^目對應或至少非常類似的外觀。在這種情況下，測量室2的特 征在于，在該測量室的一側(cè)由室壁4框起的、且隨著相鄰的殼體區(qū)域16 的壁而延伸的孔徑區(qū)域2A。
參照示出了框圖且以側(cè)視圖的形式示出了電路元件的近似位置的圖 6,還可以確定的是，可移動的定位和固定裝置18被布置在測量室2的底 板上，其中通過壓接電連接元件(系統(tǒng)元件6、 7和/或8)而實現(xiàn)的、并 且需要對( 一個或多個)存在的接觸缺陷進行測試的導電連接5被固定在 所述定位和固定裝置上，使得可以改變所述導電連接5距所述室底板的垂 直距離。熱輻射器9、 9R被定位在測量室2的室頂板附近且位于距這樣 定位的測試布置(完成的導電連接) 一定的垂直距離處，其中所述測試布 置受到引導到其上的熱輻射9、 91、 91R的加熱。
這可以使得必須向熱輻射器9、 9R供應來自能源的能量，例如供應 直流發(fā)電機或蓄電池的直流電流IG,其中可以借助于第一電開關A來選 擇性地中斷所述能量供應。熱場獲取面板20位于殼體區(qū)域16的壁之內(nèi)且在測量室2的孔徑區(qū)域2A附近，其中熱場獲取面板20朝向所述測試布 置(完成的導電連接5)。所述測試布置可以例如利用熱傳感器19、 19R 來實現(xiàn)，其中所述熱傳感器19、 19R分布在所述面M面上，并且能夠 光學地采集(記錄)由于所施加的熱量的累積而由系統(tǒng)元件6和/或8的 導線絕緣層62以及導電的(金屬)系統(tǒng)元件6、 7和/或8的導電組件發(fā) 射的熱場12、 12R的熱輻射29、 29R，其中所傳輸?shù)臒釄?2、 12R的熱 輻射29、 29R經(jīng)過通風室2的孔徑區(qū)域2A，并且理想地可以被直接定向 到熱場獲取面板20或分布在熱場獲取面板的面M面上的熱傳感器19、 19R上并被直接記錄。
用于所感測的熱場12、 12R的信號轉(zhuǎn)換的適當?shù)南掠卧謩e連接 到所述熱場獲取面板20的元件或所述熱傳感器19,并形成了熱(圖像) 獲取單元ll、 IIR的構成組件。
利用傳感器獲取并被轉(zhuǎn)換為例如數(shù)字信號的、所述測試布置的熱場 12，12R被經(jīng)由附加的數(shù)據(jù)線路K而傳輸至熱(圖像)再現(xiàn)單元13、 13R, 其中所述熱(圖像)再現(xiàn)單元13、 13R借助于集成的熱圖像再現(xiàn)面板21B 來將數(shù)字化地示出的所述測試設備的熱圖傳漣同所述測試布置(壓接的導 電連接5)的可能存在的接觸缺陷一起進行再現(xiàn)。熱(圖像)再現(xiàn)單元13、 13R被橫向地布置在邊緣上且在測試設備1的殼體17 (的蓋表面)的上 方，其中所述熱圖像再現(xiàn)面板21B被適配到殼體17的所述蓋表面中的殼 體凹部21A中，或被定位在所述凹部21A的下方。該熱(圖像)再現(xiàn)單 元13、 13R或熱圖像再現(xiàn)面板21B分別還可被(根據(jù)本示例而)布置在 所述殼體的任何其它位置，例如殼體17的側(cè)部。尤其提供了關于測試期 間測量室2中的溫度條件的信息的、所傳輸?shù)臒釄?2、 12A的熱輻射的 測量值也可以被顯示在所述熱圖像再現(xiàn)面板21B上。
為了使所述熱圖像再現(xiàn)面板21B除了能夠顯示對(正確或不正確地 制造的)導電連接5的目,測之外還能夠顯示其它信息，以便不僅使接 觸缺陷的類型可視化而且使接觸缺陷的程度(量級)可視化，可以經(jīng)由數(shù) 據(jù)線路H、 M(輸出線路和輸入線路)而選擇性地將熱(圖像)評估單元 15連接到所述熱(圖像)獲取單元11、 IIR。所述熱(圖像)獲取單元 11、 IIR可以包括(未示出的)存儲單元，與接觸缺陷相關的熱圖像的數(shù) 字標稱數(shù)據(jù)被可提取*儲在所述存儲單元中。
該標稱數(shù)據(jù)被利用借助于傳感器獲取的所述測試布置的熱場12，12R 的實際數(shù)據(jù)來進行電子分析并被數(shù)字化，即，借助于構成熱(圖像)評估單元15的一部分的比較裝置來進行，其中所述(未示出的)比較裝置將 從比較獲得的結果經(jīng)由所述數(shù)據(jù)線路之一而傳送至在根據(jù)圖6的示例中 示出的熱(圖像)獲取單元11、 IIR，以使該結^t于熱(圖像)再現(xiàn)單 元13、 13R而言可用。另外，熱(圖像)評估單元15的比較裝置還可以
現(xiàn)單元13、 13R。這使得可以在熱圖像再現(xiàn)面板21B上或在與熱(圖像) 再現(xiàn)單元13、 13R相連接的外部讀出顯示屏21上可視地輸出被分析(確 定)為接觸缺陷的確定的長度差A/或者容許的或不存在的長度差，其中 所述確定的長度差
a) 被選擇為位于接頭空腔72內(nèi)且沿著接頭軸線E的導線61和/或81的 導線末端64與在接頭出口 74處的封閉的接頭末端之間的長度差，或者接 頭空腔72內(nèi)的兩個相對的導線末端之間的長度差，和/或
b) 指示了對覆蓋有絕緣層62且被分配給接頭(壓接)表面B以用于壓 接所述絕緣層的、容納在所述接頭中的絕緣的導線區(qū)域的檢測，其中所述 絕緣層被沿著接頭軸線F而定位在接觸接頭71內(nèi)且位于接頭入口 78附 近。
閨7和8分別示出了具有根據(jù)圖6的測量室2和未示出的鄰近的殼體 區(qū)域16的測試設備1的實施例，其中所述鄰近的殼體區(qū)域16受壁的保護 且連同所述測量室一起構成了完整的殼體17。從圖7中的圖示可以確定， 才艮據(jù)圖6所示的示例來進行^Mt的熱輻射器9、 9R沿所述測試布置(導 電線61、導線絕緣層62、具有所示出的接頭空腔72的接觸接頭71、以 及布置在所述接頭的中心的接頭凸緣76和(在接觸接頭71的右側(cè))附接 到接頭凸緣76的沿著接頭軸線F的(插入型)接頭延伸部77)的方向發(fā) 射熱輻射9、 9R，其中該熱輻射對所述測試布置進行加熱并建立熱場12、 12R，借助于開啟的光學快門裝置28而通過以鏡頭形式且朝向平板22的 光學裝置23來光學地采集所述熱場12、 12R，其中所述平板22的表面由 二維分布的熱傳感器27構成，所述光學快門裝置28在測量階段期間被釋 放并在對所述測試布置的加熱階段期間保持關閉。如果未觀察到用于所述 快門裝置28的打開和關閉功能的時間，則由于不能排除該板被加熱(不 管所計劃的溫度穩(wěn)定性如何)到使得測量靈敏度可能被相應地降低或削 弱、所包括的圖像數(shù)據(jù)可能被轉(zhuǎn)換以及可能產(chǎn)生錯誤圖像的情況，因此傳 感器適配的板22的功能將受到損害。用于溫度穩(wěn)定性的對應的面;tlit件 25被二維地分布在板22的下方，使得形成"具有溫度穩(wěn)定性的焦平面紅外面板"。
布置在熱傳感器27的下游的電子裝置單元24也被稱為"照相機電子 裝置"，并且完成從對圖6的描述中已知的熱(圖像)獲取單元11、 11R 的功能。此外，示出了鏡頭與板22之間的假定的距離a。這些圖示還示 出了所述電子裝置單元24與熱(圖像)再現(xiàn)單元13、 13R之間的連接， 在所述熱(圖像)再現(xiàn)單元13、 13R的熱圖《象再現(xiàn)面板21B上再現(xiàn)具有 圖示說明的讀出顯示屏21 ，所述圖示說明與祁4t圖3C和4所示的示例的、 不正確地制造的導電連接5相關。
與才艮據(jù)圖7的實施例相比，圖8所示的實施例祐i殳計用于利用能量源 (直5^/交流)對參照圖7描述的測試布置進行電加熱，使得可以不需要 安裝熱輻射器9、 9R。同等地實現(xiàn)參照圖7描述的測試布置1的所有其它 功能。
可以被以筒、化的方式概括如下。 " ' "
被不正確地插入接觸接頭71中的導電線61導致了位于接頭空腔72 中的導線末端與接觸接頭之間的空氣隙A/。該空氣隙A/具有與通過壓接而 連接的導電連接5的金屬組件(導電線61,接觸接頭71)相比較差的導 熱系數(shù)。由于對壓接連接的加熱，熱像使得可以使以下情況可視化是否 存在將導致連接5的較差的接觸的、不可接受的空氣隙A/。此外，根據(jù)圖 6-8的轉(zhuǎn)換后的缺陷圖像可以使得能夠推斷出例如根據(jù)圖3B而實現(xiàn)的 導線絕緣層的壓接(絕緣壓接)具有不充分的可壓接表面，并因此傾向于 產(chǎn)生所描述的與不期望的腐蝕風險相關聯(lián)的、導電連接5的漏電，例如由 于允許空氣的濕氣或其它腐蝕性的氣態(tài)污染物i^7^接頭空腔72而導致的
根據(jù)圖7所示的示例，可以以所描述的順序來執(zhí)行用于檢測電纜連接 的接觸缺陷的簡化的方法的以下測試步驟，其中
a) (導電線61與接觸接頭71的)壓接連接5被固定在測量室2中；
b) 然后通過熱輻射器9將電纜連接5加熱到一定溫度；
c) 隨后在導電連接5的金屬組件達到溫度t之后停止對連接5的加
熱；
d) 然后開啟光學快門裝置28;e) 借助于所謂的紅外陣列來記錄熱圖# ;
f) 隨后在(照相機電子裝置中的)電子裝置單元24中對所述紅外陣 列的信號信息進行轉(zhuǎn)換；以及
g) 最終將所述熱圖像顯示在熱圖像再現(xiàn)面板21B (屏幕)上。
關于上述的用于檢測電纜連接的接觸缺陷的方法，下面描述的測試步 驟(參照圖8所示的圖示)可以被替代如下
h )然后向與發(fā)電枳i饋電的能量源10相連接的電纜連接5供應電流并 將其加熱到一定溫度。附圖標記列表
1 測試i殳備
2 測量室
2A 側(cè)面孔徑區(qū)域
3 (測量室2的)孔徑區(qū)域
4 (測量室2的)室壁
5 導電連接
6 第一系統(tǒng)元件
61 導電線
62 導線絕緣層
63 (導線絕緣層62的)標記
7 第二系統(tǒng)元件
71 接觸接頭 71A 接觸接頭
72 接頭空腔 72A 接頭空腔
73 接頭壁
74 封閉的接頭出口 (接頭末端)
75 (接觸接頭71的)檢查孔
76 接頭凸緣
77 接頭延伸部，插入型
78 接頭入口 78A 接頭入口
8 第三系統(tǒng)元件 81 導電線
9 熱輻射器9R 紅外光熱輻射器
91 傳送的熱輻射
91R 傳送的熱輻射一一由傳送的紅外光構成
10 能源；發(fā)電機；直流發(fā)電機
11 熱(圖像)獲取單元
11R 用于紅外光的熱圖像獲取單元
12 熱場
12R 熱場一一源自紅外光的熱輻射
13 熱(圖像)再現(xiàn)單元
13R 用于紅外光的熱(圖像)再現(xiàn)單元
14 第四系統(tǒng)元件 141 輔助接頭；銀接頭
14A 第四系統(tǒng)元件14的復制品
141A 輔助接頭141的復制品；銀接頭
15 熱(圖像)評估單元
16 受壁保護的(殼體17的)殼體區(qū)域
17 (測試設備1的)殼體
18 定位和固定裝置
19 熱傳感器
20 熱場獲取面板
21 讀出顯示屏 21A 殼體凹部
21B 熱圖像再現(xiàn)面板
22 板，平面的
23 光學裝置；鏡頭
24 電子裝置單元25面板元件，溫度穩(wěn)定的
26熱傳感器陣列
27熱傳感器
28光學快門裝置
29熱輻射
29R熱輻射
A，D開關
B用于絕緣壓接的接頭(壓接)表面
C(導線61， 81的)導線末端區(qū)域
F接頭軸線
G標號發(fā)電機
H，M數(shù)據(jù)線路
I電流，恒定的
K數(shù)據(jù)線路
S空氣隙
(板22與光學設備23之間的)距離
b(預先)定義的(接頭(壓接)表面B的)長度
1(測量室2中的系統(tǒng)元件6-8的)拉長的元件長度
liso所需要的(導線絕緣層62的)絕緣長度
權利要求
1. 一種用于檢測導電連接(5)的接觸缺陷的測試設備(1)，其中所述導電連接(5)是利用若干具有絕緣金屬組件的導電系統(tǒng)元件(6，7，8)來實現(xiàn)的，并且用于傳導信號或能量，其中所述測試設備(1)包括測量室(2)；熱輻射器(9，9R)；熱(圖像)獲取單元(11，11R)；以及熱(圖像)再現(xiàn)單元(13，13R)；其中所述導電連接(5)的系統(tǒng)組件(6，7，8)被定位在所述測量室(2)中，其中所述系統(tǒng)組件(6，7，8)導電地相互連接；其中所述熱輻射器(9，9R)被供應能量；其中所述熱輻射器的傳送的熱輻射(91，91R)被發(fā)射到測量室(2)中，并且所述熱輻射(91，91R)被定向為朝向所述系統(tǒng)元件(6，7，8)的區(qū)域，使得產(chǎn)生這些相連接的系統(tǒng)元件(6，7，8)的所述絕緣金屬系統(tǒng)組件的熱場(12，12R)，其中所述熱(圖像)獲取單元(11，11R)適用于光學地采集由所述連接的系統(tǒng)元件(6，7，8)的被加熱的絕緣金屬系統(tǒng)組件發(fā)射的、所產(chǎn)生的熱場(12，12R)，以及實現(xiàn)將信號轉(zhuǎn)換成所述相連接的系統(tǒng)元件(6，7，8)的熱圖像；以及其中所述熱(圖像)再現(xiàn)單元(13，13R)適用于實現(xiàn)對所轉(zhuǎn)換的熱圖像的可視化再現(xiàn)，其中所述熱(圖像)獲取單元(11，11R)和所述熱(圖像)再現(xiàn)單元(13，13R)通過信息技術方式而相連接。
2. —種用于檢測導電連接(5)的接觸缺陷的測試設備(1)，其中所 述導電連接(5)是利用若干具有絕緣金屬組件的導電系統(tǒng)元件(6， 7, 8) 來實現(xiàn)的，并且用于傳導信號或能量，其中所述測試i殳備(l)包括測量室(2);熱輻射器(9R);熱(圖像)獲取單元(11R);以及 熱(圖像)再現(xiàn)單元(13R);其中所述連接(5)的系統(tǒng)組件(6, 7, 8)被定位在所述測量室(2)中，其中所述系統(tǒng)組件(6， 7, 8)導電地相互連接；其中通過發(fā)電機向用于紅外光的所述熱輻射器(9R)供應恒定電流 (IG);其中所述熱輻射器(9R)的紅外光熱輻射(91R) ^t橫向地或水平地 或垂直地或偏斜地傳送，并被定向為朝向所述導電連接(5)的區(qū)域，使 得通過紅外光熱輻射(91R)而產(chǎn)生這些相連接的系統(tǒng)元件(6, 7, 8) 的所述絕緣金屬系統(tǒng)組件的熱場(12R)，其中用于紅外光的所述熱(圖像)獲取單元(11R)適用于光學地采 集所產(chǎn)生的熱場(12R);以及其中所述熱(圖像)獲取單元(11R)適用于實現(xiàn)將信號轉(zhuǎn)換成由這 些相連接的系統(tǒng)元件(6， 7, 8)的被加熱的絕緣金屬系統(tǒng)組件發(fā)射的、 所述導電地相連接的系統(tǒng)元件(6， 7， 8)的紅外光熱圖像；以及其中用于紅外光的所述熱(圖像)再現(xiàn)單元(13R)適用于實現(xiàn)對經(jīng) 過數(shù)字轉(zhuǎn)換的熱圖4象的可視化再現(xiàn)，其中所述熱(圖像)獲取單元(11R)和所述熱(圖像)再現(xiàn)單元(13R) 通過信息技術方式而相連接。
3.根據(jù)權利要求1所述的測試設備(1 )，所述測試設備(1)用于對 安裝在飛行器中的預制的電纜連接進行測試，所述測試是利用定位于所述 測量室(2)中的至少兩個導電的系統(tǒng)組件(6, 7)來實現(xiàn)的，其中所述第一系統(tǒng)元件(6)是利用用作鋁導線的安裝電纜的絕緣導 電線(61)來實現(xiàn)的，以及利用鋁材料或鋁^T的剛性金屬接觸接頭(71) 來實現(xiàn)第二系統(tǒng)元件(7),其中所述剛性金屬接觸接頭(71 )的接頭壁(73 ) 圍住接頭空腔(72)，所述接頭空腔(72)在處于接頭空腔(72)的出口 側(cè)的接頭出口 (74)處被封閉，其中其導線絕緣層(62 )被定位在所述接頭空腔(72 )的入口側(cè)且在 接頭(壓接)表面(B)下方的所述導電線(61)被布置在所述接頭空腔 (72)中且具有構成導線絕緣層(62)的延伸部的、經(jīng)剝皮的導線末端區(qū)域(C)，其中所述接頭(壓接)表面(B)被布置在所述接頭的圓周上且 在所述導電線(61)被插入所述接頭入口 ( 78)中時被限定在所述接頭入 口 (78)的附近，以及其中所述接觸接頭(71)被通it^接接頭壁(73 )的接頭(壓接)表 面(B)而機械固定在所述導線絕緣層(62)上，所述經(jīng)剝皮的導線末端 區(qū)域(C )由于所述接頭壁(73 )的壓接而導電地連接到所述接觸接頭(71 )。
4. 根據(jù)權利要求2所述的測試i更備(1 )，所述測試i更備(1)用于對 安裝在飛行器中的預制的電纜連接進行測試，所述測試是利用定位于所述 測量室(2)中的至少三個導電的系統(tǒng)組件(6， 7， 8)來實現(xiàn)的，其中所述電纜連接是利用第 一 系統(tǒng)元件和/或第三系統(tǒng)元件以及第二 系統(tǒng)元件(7)來制造的，所述第一系統(tǒng)元件和/或第三系統(tǒng)元件是利用用 作鋁導線的安裝電纜的絕緣導電線(61， 81)來實現(xiàn)的，第二系統(tǒng)元件(7) 是利用鋁材料或鋁合金的剛性金屬接觸接頭(71)來實現(xiàn)的，其中其導線絕緣層(62 )被定位在所述接頭空腔(72 )的入口側(cè)且在 接頭(壓接)表面(B)下方的相應的導電線(61， 81)被布置在所述接 頭空腔(72)中且具有形成所述導線絕緣層(62)的延伸部的、經(jīng)剝皮的 導線末端區(qū)域(C)，其中所述接頭(壓接)表面(B)被布置在所述接頭 的圓周上且在所述導線(61， 81)被插入所述接頭入口 (78)中時被限定 在所述接頭入口 (78)的附近，以及其中所述接觸接頭(71)被通it^接接頭壁(73 )的接頭(壓接)表 面而機械固定在所述導線絕緣層(62 )上，并且所述經(jīng)剝皮的導線末端區(qū) 域(C )由于所述接頭壁(73 )的壓接而導電地連接到所述接觸接頭(71 )。
5. 才艮據(jù)權利要求1-4所述的測試i殳備，其中用于檢測指示不正確地制造的導電連接(5)的接觸缺陷的所述 熱(圖像)獲取單元(11, 11R)利用信息技術連接到熱(圖像)評估單 元(15)，其中所述熱(圖像)評估單元(15)能夠被選擇性地連接到所述熱(圖 像)獲取單元(15)，以確定標稱數(shù)據(jù)與所述導電連接(5)的實際數(shù)據(jù)之 間的偏差和實現(xiàn)對主要與通過以下操作而檢測到的接觸缺陷相關的這些 偏差的轉(zhuǎn)換確定所述導線(61, 81)的被定位在所述接頭空腔(72)內(nèi) 且沿著接頭軸線(E)的導線末端與在所述接頭出口 (74)處的封閉的接 頭末端之間的、或者所述接頭空腔(72)中的兩個相對的導線末端(64)之間的長度差(Al);和/或?qū)θ菁{在所述接頭中的、覆蓋有導線絕緣層(62 ) 且被分配給用于絕緣壓接的接頭(壓接)表面(B)的絕緣導線區(qū)域進行 檢測，其中所述接頭(壓接)表面(B)位于所述接觸接頭(71)中、沿 著接頭軸線(F)且被定位在所述接頭入口 (78)附近。
6. 根據(jù)權利要求1或2所述的測試設備，其中在所述測量室(2)的室壁(4)中布置有能夠祐:相對于逸出輻射 而言密封的孔徑區(qū)域(3),其中所述電連接的系統(tǒng)元件(6， 7， 8)能夠被插入而貫穿該孔徑區(qū)域。
7. 根據(jù)權利要求6所述的測試設備， 其中所述室壁(4)包含至少一個孔徑區(qū)域(3)。
8. 根據(jù)權利要求6和7所述的測試i殳備，其中所述熱(圖像)獲取單元(11， IIR)、所述熱(圖像)再現(xiàn)單元 (13， 13R)、所述熱(圖像)評估單元(15)以及所述熱輻射器(9， 9R) 被定位在由所述測量室(2)的室壁(4)延伸的、受壁保護的殼體區(qū)域(16) 中。
9. 根據(jù)權利要求6-8所述的測試設備，其中所述室壁(4)和所述受壁保護的殼體區(qū)域(16)構成了所述測 試設備(1)的防止逸出輻射的殼體(17)的構成組件。
10. 根據(jù)權利要求8所述的測試設備，其中所述測量室(2)被布置在所述熱(圖像)獲取單元(11， 11R) 的上游。
11. 根據(jù)權利要求1或2所述的測試i殳備，其中在所述測量室(2)中布置有定位和固定裝置(18)， 4吏得所述定 位和固定裝置(18)能夠被水平地或垂直地或橫向地移動，并且所述定位 和固定裝置(18)4吏得能夠固定和改變所述電連接的系統(tǒng)元件(6， 7, 8) 的空間位置。
12. 根據(jù)權利要求1或2所述測試i殳備，其中所述熱(圖像)獲取單元(11, 11R)裝配有熱場獲取面板(20) 或若干二維分布的光學熱傳感器(19)，所述熱場獲取面板(20)或若干二維分布的光學熱傳感器(19)在功能上能夠采集所傳送的熱輻射(91， 91R),并與下游的用于熱場(12， 12R)的信號轉(zhuǎn)換的單元相連接。
13. 根據(jù)權利要求1或2所述的測試設備，其中所述熱(圖像)再現(xiàn)單元(13， 13R)和所述熱(圖像)評估單 元(15)分別與數(shù)據(jù)線路相連接，所述數(shù)據(jù)線路利用信息技術連接到附加 的數(shù)據(jù)線路，所述附加的數(shù)據(jù)線路與所述熱(圖像)獲取單元(11, 11R) 相連接。
14. 根據(jù)權利要求1或2所述的測試設備，其中利用信息技術將所述熱(圖像)獲取單元(11， 11R)與所述熱 (圖像)再現(xiàn)單元(13， 13R)相連接、或?qū)⑺鰺?圖像)獲取單元(ll, IIR)、所述熱(圖像)評估單元(15)以及所述熱(圖像)再現(xiàn)單元(13, 13R)相連接。
15. 根據(jù)權利要求1或2所述的測試設備，其中所述熱輻射器(9)是以紅外輻射器(9R)的形式實現(xiàn)的，并用 于借助于所述紅外輻射器傳送的紅外輻射(91R)來實現(xiàn)對相連接的系統(tǒng) 元件(6， 7， 8)的輻射紅外光加熱。
16. 根據(jù)權利要求1所述的測試設備，其中所述熱輻射器(9)是以卣素輻射器的形式來實現(xiàn)的，這使得所 述熱輻射器(9)能夠借助于所述卣素輻射器傳送的熱輻射(9)來實現(xiàn)對 相連接的系統(tǒng)元件(6， 7， 8)的輻射加熱。
17. 根據(jù)權利要求l， 2和5所述的測試設備，其中所述熱(圖像)獲取單元(11， 11R)和所述熱(圖像)再現(xiàn)單 元(13, 13R)以及所述熱(圖像)評估單元(15)被包括在紅外光照相 機中。
18. 根據(jù)權利要求l， 2和17所述的測試i殳備，其中所述熱(圖像)獲取單元(11, 11R)和/或所述熱(圖像)再現(xiàn) 單元(13， 13R)和/或所述熱(圖像)評估單元(15)是以外圍設備的形 式來實現(xiàn)的。
19. 根據(jù)權利要求l, 2和9所述的測試設備，其中所述熱(圖像)再現(xiàn)單元(13， 13R)裝配有被布置在所述測試設備(1)的殼體(7)中的凹部(21A)內(nèi)或下方的熱圖像再現(xiàn)面板(21B)。
20. 根據(jù)權利要求19所述的測試設備，其中借助于第二開關(D)而與所述熱(圖像)獲取單元(11, 11R) 和所述熱(圖像)再現(xiàn)單元(13， 13R)相連接的數(shù)據(jù)線路(K)用于連 接至少一個外圍裝置，優(yōu)選地是用于示出所述熱圖像的讀出顯示屏(21 )。
21. 根據(jù)權利要求l， 2和12所述的測試設備，其中所述熱(圖像)獲取單元(11， 11R)是利用用作光學裝置(23) 的焦平面的平板(22)、所述光學裝置(23)和電子裝置單元(24)來實 現(xiàn)的，其中溫度穩(wěn)定的面板元件(25)以平面形狀被固定在所i1^ (22)上 且在所述焦平面的下方，其中由若干熱傳感器(27)構成的熱傳感器陣列(26)被以如下的方 式集成到所述板(22 )中使得被布置在距所述光學裝置(23 )的距離U) 處且被定向為朝向所述測量室(2)的M面適合于產(chǎn)生對熱場(12)的 表面分布的靈敏的記錄，其中所述熱傳感器優(yōu)選地是紅外光傳感器，所述 熱傳感器陣列(26)優(yōu)選地是紅外光傳感器陣列，其中所述熱場(12)是 通過由所述測量室(2)傳送的熱輻射(91 )、優(yōu)選地是由紅外光構成的熱 輻射(91)而產(chǎn)生的，以及其中在已經(jīng)執(zhí)行了對靈敏地獲取的熱輻射(91)的信號轉(zhuǎn)換之后，所 (22)的熱傳感器(27)利用信息技術連接到提供所述熱圖傳炎供單 元(13， 13R)的電子裝置單元(23)。
22. 根據(jù)權利要求21所述的測試設備，其中在所述光學裝置(23)與所述平板(22)之間布置有光學快門裝 置(28),以實現(xiàn)對所傳送的熱輻射(91)的輻射路徑的切斷。
23. —種用于檢測導電連接(5)的接觸缺陷的方法，所述方法適用 于對用于傳導信號或能量的導電系統(tǒng)元件(6, 7, 8)的測試；其中若干串聯(lián)的系統(tǒng)元件(6, 7, 8)借助于在所述系統(tǒng)元件(6， 7， 8)的連接點處的壓接連接而導電iM目連接；其中所述方法利用測試設備(1),所述測試設備(1)的功能范圍包 括測量室(2)、 ^L供應能量并被布置在所述測量室(2)中的熱輻射器 (9, 9R)、以及以信息技術方式相連接的熱(圖像)獲取單元(11， 11R)和熱(圖像)再現(xiàn)單元(13, 13R);以及 其中所述方法包括a) 將所述通過壓接連接而串聯(lián)的系統(tǒng)元件(6， 7, 8)定位在所述 測量室(2)中；然后b) 通過熱輻射器(9, 9R)將熱輻射(91， 91R)在所述測量室(2) 中朝向所述系統(tǒng)元件(6, 7， 8)的區(qū)域傳送；然后c) 將所述熱輻射(91, 91R)的熱能傳送至所i^目連接的系統(tǒng)元件 (6， 8)的絕^^r屬系統(tǒng)組件，使得產(chǎn)生熱場(12);然后d) 通過所述熱(圖4象)獲取單元(11, 11R)光學地進行采集并隨 后通過信號轉(zhuǎn)換將所產(chǎn)生的熱場(12)轉(zhuǎn)換為熱圖像；以及然后e) 通過所述熱(圖像)再現(xiàn)單元(13, 13R)來顯示轉(zhuǎn)換后的熱圖 像的可視化再現(xiàn)。
24. 根據(jù)權利要求23所述的方法，其中除了步驟b)之外，借助于電流加熱來加熱所iaM目連接的系統(tǒng)元 件(6， 7， 8)的金屬系統(tǒng)組件，其中利用與這些串聯(lián)的系統(tǒng)元件相連接且構成電路的可控能源(10 ) (可控電流發(fā)生器)來實現(xiàn)對相連接的系統(tǒng)元件(6， 7， 8)的電流加熱。
25. 根據(jù)權利要求23所述的方法，其中在步驟d)之后，在步驟c)之后的步驟f)中，所述熱(圖像) 獲取單元(11, 11R)與熱(圖像)評估單元(15)相連接，其中該熱(圖像)評估單元(15 )能夠被選擇性地連接到所述熱(圖 像)獲取單元(ll， 11R),并用于在執(zhí)行向熱圖像的信號轉(zhuǎn)換之前，對指 示不正確地制造的導電連接(5)的所有接觸缺陷進行檢測和在需要時將 所述接觸缺陷傳輸至所述熱(圖像)獲取單元(11， IIR)。
26. 根據(jù)權利要求25所述的方法，其中通過以下方式來檢測根據(jù)步驟f)的所述接觸缺陷以對存儲在 所述熱(圖像)評估單元(15)的內(nèi)部存儲單元中的、基于正確地制造的 連接的標稱值與由所述熱(圖像)獲取單元(11, 11R)利用這些串聯(lián)的 系統(tǒng)元件(6, 7, 8)的熱圖像信號轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)而獲得的且被可檢取地傳輸 至所述熱(圖像)評估單元的、基于不正確地制造的連接的實際值進行比較的形式，來確定所制造的導電連接(5)的實際數(shù)據(jù)與標稱數(shù)據(jù)之間的 偏差。
27.根據(jù)權利要求26所述的方法，其中所存儲的不正確地制造的導電連接(5)的標稱值、以及所獲得 的導電連接(5)的實際值g) 與以下長度差(Al)的容許偏差相關位于接頭空腔(72)中且 被定位成沿著接頭軸線(F)的導線(6, 8)的導線末端(64)與(在接 頭出口 (74)處的)封閉的接頭末端之間的、或所述接頭空腔(72)中的 兩個相對的導線末端(64)之間的長度差(Al),和/或h) 與所需要的被用作接頭(壓接)表面(B)且被分配給容納在所 述接頭中的絕緣的導線區(qū)域的導線絕緣層(62)的區(qū)段的絕緣長度(lISO) 相關，其中所述絕緣的導線區(qū)域位于所述接觸接頭(71)的接頭空腔(72 ) 中、沿著接頭軸線(F)、且與延伸至接頭入口 (78)附近的、絕緣支持的 接頭區(qū)域相關聯(lián)。
全文摘要
本發(fā)明涉及根據(jù)權利要求1、2和23的前序部分所述的、用于檢測導電連接的接觸缺陷的測試設備和方法。本發(fā)明使得能夠使需要以非常精確且質(zhì)量敏感的方式來制造的(例如飛行器中的)、預制的導電連接受到預防性測試。該測試設備包括測量室，在該測量室中定位有導電地相連接的、所述連接的若干系統(tǒng)元件；被供應能量的熱輻射器，該熱輻射器的傳送的熱輻射被發(fā)射到測量室中并被定向成朝向所述系統(tǒng)元件的區(qū)域，其中所述系統(tǒng)元件在被加熱之后產(chǎn)生這些相連接的系統(tǒng)元件的絕緣金屬系統(tǒng)組件的熱場；熱(圖像)獲取單元，用于光學地采集所產(chǎn)生的熱場和實現(xiàn)向所述相連接的系統(tǒng)元件的熱圖像的信號轉(zhuǎn)換；以及熱(圖像)再現(xiàn)單元，用于可視化地再現(xiàn)轉(zhuǎn)換后的熱圖像，其中，熱(圖像)獲取單元和熱(圖像)再現(xiàn)單元利用信息技術相連接。用包括若干步驟并利用該測試設備的方法可以檢測到導電連接的已有的接觸缺陷。
文檔編號G01R31/04GK101460855SQ200680054816
公開日2009年6月17日 申請日期2006年6月2日 優(yōu)先權日2006年6月2日
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