專利名稱：基板檢測裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種基板檢測裝置，更特別涉及一種檢測基板背面的裝置。
背景技術：
在封裝技術領域中，為使芯片固定于基板上，常在芯片背面涂布一層銀膠， 并烘烤使其固化，以使芯片能牢固地附著于基板上。在某些時候，當銀膠尚未 烘烤固化完全時，基板背面常需要檢測，以了解是否有缺陷。目前所使用的檢 測方式，是將基板翻轉(zhuǎn)以讓人員能夠清楚地看到基板背面的情況，從而了解是 否有缺陷。然而，當銀膠尚未完全固化時，翻轉(zhuǎn)基板常會造成芯片的偏移。
因此，便需要提供一種基板檢測裝置，以解決上述問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種基板檢測裝置，可讓檢測員無須翻轉(zhuǎn)基板即可 清楚地看到基板背面，從而避免因黏膠尚未固化而造成因翻轉(zhuǎn)基板導致芯片偏 移的問題。
為達到上述目的，本發(fā)明的基板檢測裝置包括底座以及由底座向上延伸的 兩相對支撐件，兩支撐件共同界定出觀測開口及檢測開口。承置架跨設于兩支 撐件上，并圍構出該檢測開口，使得當待測的基板以正面朝上的方式放置于承 置架上時，基板背面待檢測的部分將露出檢測開口。在承置架的下方設置有反
射鏡，該反射鏡位于兩支撐件之間，并可繞旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)；位于支撐件上的旋鈕 則可調(diào)整反射鏡的反射面的轉(zhuǎn)動角度，以使基板背面的影像能從觀測開口反射 出，以方便檢測員觀察，由此檢測基板背面的缺陷。此外，本發(fā)明的基板檢測 裝置還包括光源，用來照亮露出承置架開口的基板背面，以使檢測員能夠更清楚地看到基板背面的缺陷。
本發(fā)明的基板檢測裝置可讓檢測員無須翻轉(zhuǎn)基板即可清楚地看到基板背 面，從而避免因黏膠尚未固化而造成因翻轉(zhuǎn)基板導致芯片偏移的問題。
為了讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、和優(yōu)點能更明顯，下文將結合附 圖，作詳細說明如下。


圖1為本發(fā)明的基板檢測裝置的立體圖。
圖2表示待檢測的基板放置于本發(fā)明的基板檢測裝置上。
主要組件符號說明
100:基板檢測裝置，110:底座，120:支撐件，122:頂面， 130:承置架，131:檢測開口，132:桿件，133:觀測開口， 134:凹部，136:突起部分，138:缺口，140:反射鏡， 142:反射面，150:光源，160:旋鈕，170:固定件， 180:旋轉(zhuǎn)軸，190:片狀結構。
具體實施例方式
參考圖1，本發(fā)明的基板檢測裝置100包括底座110以及兩個由底座100向 上延伸的相對支撐件120，兩支撐件120共同界定出觀測開口 133及檢測開口 131。在兩支撐件120之間設置有反射鏡140，并且反射鏡140可繞旋轉(zhuǎn)軸180 旋轉(zhuǎn)，設置在支撐件120上的旋鈕160則可調(diào)整反射鏡140的反射面142的轉(zhuǎn) 動角度。
參考圖2，當欲檢測基板的背面時，先將基板210以背面朝下的方式置于兩 支撐件120之間，并使基板210位于檢測開口 131中，檢測員可轉(zhuǎn)動旋鈕160 調(diào)整反射鏡的反射面142的轉(zhuǎn)動角度，以使基板210背面的影像能由觀測開口 133反射出，以方便檢測員觀察，由此檢測基板210背面的缺陷。
再參考圖1與圖2，為使基板210能夠放置于支撐件120上的固定位置，本發(fā)明的基板檢測裝置100優(yōu)選還包括承置架130，該承置架設置于反射鏡140的 上方，并跨設于兩支撐件120的頂面122，同時圍構出該檢測開口 131。檢測時 檢測員可將基板210放置于承置架130上，因此基板210會很自然地露出檢測 開口 131。另外，為讓檢測員能清楚地看到具有不同顏色的基板背面，兩支撐件 120之間還包括光源150，用來照亮露出檢測開口 131的基板背面，以使檢測員 能透過觀測開口 133，更清楚地看到基板背面的缺陷。
由于絕大部分的基板都呈矩形，因此，承置架130優(yōu)選以兩根相互平行的 桿件132構成，各桿件132的兩端分別設置在兩支撐件120上。當基板以背面 朝下的方式置于兩桿件132上時，基板背面待檢測的部分會很自然地暴露出。 為使基板能夠穩(wěn)固地置于桿件132上，兩桿件132的相對側(cè)的上表面形成有平 行桿件132的凹部134，檢測員可將基板的相對兩側(cè)放在凹部134上。由于桿件 132的凹部134的旁邊為突起部分136，因此基板可受所述兩突起部分136的阻 擋，從而不致因晃動而從桿件132上滑出。
為使桿件132的凹部134能夠容納不同大小的基板，至少一個桿件132為 可滑動地設置于支撐件120的頂面122上，以使兩桿件132間的距離可以調(diào)整。 當兩桿件132間的距離調(diào)整適當后，可通過設置在可滑動桿件132上的固定件 170將該可滑動桿件132固定在支撐件120上。固定件170可為例如旋鈕，利用 將所述旋鈕旋緊可使該可滑動桿件132固定于支撐件120上。此外，各桿件132 的中央處的突起部分136上還設置有通至凹部134的缺口 138，檢測員僅需以兩 個指頭穿過缺口 138即可輕松地將基板從桿件132上提起。為避免光源150所 射出的光束干擾他人的作業(yè)，支撐件120優(yōu)選為兩相對的片狀結構，并與另外 兩個設置于底座100上的片狀結構190，共同將光源150圈圍住。
本發(fā)明的基板檢測裝置可讓檢測員無須翻轉(zhuǎn)基板即可清楚地看到基板背 面，從而避免因黏膠尚未固化而造成因翻轉(zhuǎn)基板導致芯片偏移的問題。
雖然本發(fā)明已經(jīng)以上述優(yōu)選實施方式揭示，但是其并非用以限制本發(fā)明， 任何本領域技術人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下，可作出各種變 動與修改。因此本發(fā)明的保護范圍應當以后附的權利要求所界定的為準。
權利要求
1.一種基板檢測裝置，包括底座；兩個支撐件，所述兩個支撐件由該底座向上延伸并相對設置，并且界定出觀測開口及檢測開口，當待檢測的基板放置于所述兩個支撐件之間時，該基板位于該檢測開口中；及反射鏡，所述反射鏡設置于所述兩個支撐件之間，并可繞旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)，以將該檢測開口中的基板影像反射至該觀測開口。
2. 如權利要求1所述的基板檢測裝置，其中，所述兩個支撐件上還設置有 承置架，該承置架跨設于所述兩個支撐件之間，以在所述兩個支撐件間圍構出 該檢測開口。
3. 如權利要求2所述的基板檢測裝置，其中，該待檢測的基板以正面朝上 的方式放置于該承置架上，該反射鏡通過該檢測開口接收該待檢測基板的背面 影像。
4. 如權利要求3所述的基板檢測裝置，還包括光源，所述光源設置于所述兩個支撐件之間，用以照亮待檢測基板的背面。
5. 如權利要求l所述的基板檢測裝置，還包括旋鈕，所述旋鈕設置于其中一個支撐件上，用以控制該反射鏡繞該旋轉(zhuǎn)軸 旋轉(zhuǎn)的角度。
6. 如權利要求2所述的基板檢測裝置，其中，該承置架由兩個相互平行的 桿件構成，各桿件跨設于所述兩個支撐件上。
7. 如權利要求6所述的基板檢測裝置，其中，所述兩個桿件的相對側(cè)的上 表面形成有平行于各桿件的凹部。
8. 如權利要求6所述的基板檢測裝置，其中，所述兩個桿件中的其中一個可在所述支撐件上移動，以調(diào)整兩桿件間的距離。
9. 如權利要求8所述的基板檢測裝置，其中，該可移動的桿件可滑動地設 置于所述支撐件上。
10. 如權利要求9所述的基板檢測裝置，還包括兩個旋鈕，所述兩個旋鈕分別用以將該可滑動的桿件固定于所述兩個支撐
11. 如權利要求6所述的基板檢測裝置，其中，各桿件中央處的上表面形 成有通至所述凹部的缺口。
12. 如權利要求4所述的基板檢測裝置，其中，所述兩個支撐件為相對設 置于該底座的第一片狀結構，該基板檢測裝置還包括兩個設置于該底座上的第 二片狀結構，所述第二片狀結構與所述第一片狀結構共同將光源圈圍住。
全文摘要
本發(fā)明提供一種基板檢測裝置，待檢測的基板放置于支撐件上，并通過調(diào)整位于基板下方的反射鏡的反射角度，使基板底面的缺陷能通過反射鏡的反射被檢測員看見，從而避免了因翻轉(zhuǎn)基板而導致尚未固著于基板正面的芯片偏移。
文檔編號G01R31/28GK101285783SQ20071009822
公開日2008年10月15日 申請日期2007年4月13日 優(yōu)先權日2007年4月13日
發(fā)明者周美惠, 林煜斌, 王政宏, 蘇振平, 鄭益騏 申請人:華泰電子股份有限公司