專利名稱：：一種欠飽和巖心巖電實驗參數(shù)m、n的校正方法
技術領域：
：本發(fā)明涉及一種低孔隙度低滲透率巖心在欠飽和狀態(tài)下巖電實驗參數(shù)附、"的校正方法。
背景技術：
：巖電實驗首先要求用地層水完全飽和巖心，然而對于低孔隙度低滲透率巖心，由于受實驗方法、實驗設備以及實驗周期的限制，巖心往往不能達到完全飽和，實驗只能是在一定條件下的近似，因而會存在一定誤差。在這些誤差當中，巖心欠飽和即是其中之一，它對地層因素F和電阻增大率/的實驗測量結果有較明顯的影響，進而影響到飽和度指數(shù)W直和膠結指數(shù)m值的求取，尤其是對于低孔隙度低滲透率地層的巖心，在不能達到完全飽和的情況下，按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗及計算，會使飽和度指數(shù)w值降低，使膠結指數(shù)^值增大。巖心欠飽和狀態(tài)下求得的巖電實驗參數(shù)w'值和m'值的絕對誤差雖然較小，但相對誤差卻往往較大，應對欠飽和狀態(tài)下求得的巖電實驗參數(shù)w'和m'加以校正。目前國內還沒有檢索到關于巖心欠飽和對巖電實驗參數(shù)m'、"'影響方面的研究報道，沒有檢索到有關于欠飽和巖心巖電實驗參數(shù)w'、"'的校正方法等方面的專利申請。通過本發(fā)明提供的對欠飽和巖心巖電實驗參數(shù)m'、w'的校正方法，解決了低孔隙度低滲透率巖心欠飽和狀態(tài)下按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗及計算，致使飽和度指數(shù)"值降低、膠結指數(shù)m值增大的問題。
發(fā)明內容本發(fā)明的目的是為了解決欠飽和狀態(tài)下低孔隙度低滲透率巖心按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗及計算而使飽和度指數(shù)w值降低、膠結指數(shù)w值增大的問題，提供一種欠飽和巖心巖電實驗參數(shù)附'、"'的校正方法。本發(fā)明采用的技術方案是對欠飽和狀態(tài)下的巖心，按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗及計算，每塊巖心測量57個不同的含水飽和度(含水飽和度介于0100%之間)及其對應的電阻率，求得每塊巖心在欠飽和狀態(tài)下的飽和度指數(shù)"'值及每塊巖心含水飽和度為100%時的巖石電阻率&。對欠飽和狀態(tài)下的巖心，按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗及計算，測量每塊巖心的地層因素F及其對應的孔隙度—求得欠飽和狀態(tài)下的膠結指數(shù)w'值。對每一塊巖心，選取欠飽和狀態(tài)下按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程實驗測量的57個不同的含水飽和度中最大的含水飽和度X及其對應的巖石電阻率《。求取巖心欠含水飽和程度^，//=1-《，《為欠飽和狀態(tài)下實驗測量的最大含水飽和度，S:記為小數(shù)。選取按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗測量的巖心孔隙度-，-記為小數(shù)。利用本發(fā)明實現(xiàn)對膠結指數(shù)w的校正，校正公式w=附一得巖心飽和狀態(tài)下的膠結指數(shù)w值。，求<formula>formulaseeoriginaldocumentpage6</formula>利用本發(fā)明實現(xiàn)對飽和度指數(shù)"的校正，校正公式<formula>formulaseeoriginaldocumentpage6</formula>，求得巖心飽和狀態(tài)下的飽和度指數(shù)w值。利用本發(fā)明提供的校正方法，分別對欠飽和狀態(tài)下的巖心按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗求取的膠結指數(shù)附'值和飽和度指數(shù)w'值進行校正，校正后的膠結指數(shù)m值和飽和度指數(shù)n值更接近于巖心真實的膠結指數(shù)w值和飽和度指數(shù)w值，校正效果明顯。圖l欠飽和對膠結指數(shù)m的影響及校正圖圖2欠飽和對飽和度指數(shù)"的影響及校正圖圖3欠飽和對計算含水飽和度的影響(校正前)圖4欠飽和對計算含水飽和度的影響(校正后)具體實施例方式選擇13塊巖心樣品(孔隙度在4%18%之間)在欠飽和狀態(tài)(巖心含水飽和度5;在85%98%之間)條件下，按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗及計算，分別求得欠飽和狀態(tài)下的膠結指數(shù)m'值和飽和度指數(shù)w'值。通過本發(fā)明提供的校正公式分別對欠飽和狀態(tài)下的巖電實驗參數(shù)m'f直、"'值進行校正，求得巖石真實的膠結指數(shù)m值和飽和度指數(shù)"值。利用阿爾奇飽和度模型公式，把欠飽和狀態(tài)下計算求取的w'、"'代入阿爾奇飽和度模型公式，計算求得欠飽和狀態(tài)下巖心含水飽和度^。利用阿爾奇飽和度模型公式，把附'、w'經該發(fā)明提供的校正公式校正后的w、"值代入阿爾奇飽和度模型公式，計算求得飽和狀態(tài)下巖心含水飽和度&，更加接近于巖石的實際含水飽和度。具體實驗測量及計算處理數(shù)據(jù)見表1。利用本發(fā)明對膠結指數(shù)附'、飽和度指數(shù)w'的校正分別見圖1、圖2，利用m'、"'計算的欠飽和狀態(tài)下的含水飽和度^及利用校正后的膠結指數(shù)m、飽和度指數(shù)"計算的飽和狀態(tài)下的含水飽和度&分別見圖3圖4。圖1是欠飽和狀態(tài)下實驗的膠結指數(shù)m校正前、校正后與完全飽和狀態(tài)下實驗結果對比圖，從附圖1可以看出，校正后的膠結指數(shù)m比校正前的膠結指數(shù)附'明顯更接近于巖心真實的膠結指數(shù)值，校正效果明顯。圖2是欠飽和狀態(tài)下實驗的飽和度指數(shù)w校正前、校正后與完全飽和狀態(tài)下實驗結果對比圖，從圖2可以看出，校正后的飽和度指數(shù)w比校正前的飽和度指數(shù)"'明顯更接近于巖心真實的飽和度指數(shù)值，校正效果明顯。圖3是13塊巖心欠飽和狀態(tài)對計算含水飽和度的影響圖(校正前)，從圖3可以看出，欠飽和狀態(tài)計算的每塊巖心的含水飽和度(校正前)均高于實際含水飽和度，不對欠飽和狀態(tài)下的膠結指數(shù)w'和飽和度指數(shù)n'進行校正，直接代入阿爾奇飽和度模型計算的含水飽和度與巖心實際含水飽和度會存在較大的誤差。圖4是13塊巖心欠飽和狀態(tài)對計算含水飽和度的影響圖(校正后)，從圖4可以看出，經對欠飽和狀態(tài)下膠結指數(shù)w'和飽和度指數(shù)"'進行校正后的膠結指數(shù)m和飽和度指數(shù)n代入阿爾奇飽和度模型計算的含水飽和度在45度線附近，接近于巖心實際含水飽和度，校正效果明顯。表1巖電實驗測試及分析處理數(shù)據(jù)表<table>tableseeoriginaldocumentpage8</column></row><table>權利要求1、一種欠飽和巖心巖電實驗參數(shù)m、n的校正方法，其特征在于巖心在欠飽和狀態(tài)下，按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗及計算，求得欠飽和狀態(tài)下的飽和度指數(shù)n′值和膠結指數(shù)m′值，利用校正公式(1)計算求得巖心飽和狀態(tài)下的飽和度指數(shù)n值；利用校正公式(2)計算求得巖心飽和狀態(tài)下的膠結指數(shù)m值；<mathsid="math0001"num="0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>n</mi><mo>=</mo><msup><mi>n</mi><mo>′</mo></msup><mo>+</mo><mfrac><mrow><mi>lg</mi><mrow><mo>(</mo><mfrac><msub><mi>R</mi><mn>0</mn></msub><msubsup><mi>R</mi><mn>0</mn><mo>′</mo></msubsup></mfrac><mo>)</mo></mrow></mrow><mrow><mi>lg</mi><mrow><mo>(</mo><mi>μ</mi><mo>)</mo></mrow></mrow></mfrac><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math></maths>其中n為n′經公式(1)校正后計算求取的飽和度指數(shù)；n′為欠飽和狀態(tài)下，按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗及計算求取的飽和度指數(shù)；R0為按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗及計算求取的含水飽和度為100％時的巖石電阻率；R′0為按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗測量的5～7個不同的含水飽和度中最大的含水飽和度S″w對應的巖石電阻率；μ為巖心欠含水飽和程度，即<mathsid="math0002"num="0002"><math><![CDATA[<mrow><mi>μ</mi><mo>=</mo><mn>1</mn><mo>-</mo><msubsup><mi>S</mi><mi>w</mi><mrow><mo>′</mo><mo>′</mo></mrow></msubsup><mo>,</mo></mrow>]]></math>id="icf0002"file="A2007101197370002C2.tif"wi="19"he="4"top="217"left="95"img-content="drawing"img-format="tif"orientation="portrait"inline="yes"/></maths>S″w為欠飽和狀態(tài)下實驗測量的最大含水飽和度，S″w記為小數(shù)；根據(jù)公式(2)對欠飽和狀態(tài)下的膠結指數(shù)m′進行校正<mathsid="math0003"num="0003"><math><![CDATA[<mrow><mi>m</mi><mo>=</mo><msup><mi>m</mi><mo>′</mo></msup><mo>-</mo><mfrac><mrow><mi>lg</mi><mrow><mo>(</mo><mfrac><msub><mi>R</mi><mn>0</mn></msub><msubsup><mi>R</mi><mn>0</mn><mo>′</mo></msubsup></mfrac><mo>)</mo></mrow></mrow><mrow><mi>lg</mi><mrow><mo>(</mo><mi>φ</mi><mo>)</mo></mrow></mrow></mfrac><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>2</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math></maths>其中m為m′經公式(2)校正后計算求取的膠結指數(shù)m′為欠飽和狀態(tài)下，按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗及計算求取的膠結指數(shù)；R0為按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗及計算求取的含水飽和度為100％時的巖石電阻率；R′0為按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗測量的5～7個不同的含水飽和度中最大的含水飽和度S″w對應的巖石電阻率；φ為巖心孔隙度。全文摘要本發(fā)明涉及一種低孔隙度低滲透率巖心在欠飽和狀態(tài)下巖電實驗參數(shù)m、n的校正方法，巖心在欠飽和狀態(tài)下，按照《巖石電阻率參數(shù)實驗室測量及計算方法(SY/T5385-1991)》標準流程進行實驗及計算，求得欠飽和狀態(tài)下的飽和度指數(shù)n′值和膠結指數(shù)m′值，利用校正公式(1)計算求得巖心飽和狀態(tài)下的飽和度指數(shù)n值；利用校正公式(2)計算求得巖心飽和狀態(tài)下的膠結指數(shù)m值；n＝n′+(lg(R<sub>0</sub>/R<sub>0</sub>′))/lg(μ)(1)；m＝m′-(lg(R<sub>0</sub>/R<sub>0</sub>′))/lg(φ)(2)；校正后的膠結指數(shù)m值和飽和度指數(shù)n值更接近于巖心真實的膠結指數(shù)m值和飽和度指數(shù)n值，校正效果明顯。文檔編號G01N27/04GK101358943SQ20071011973公開日2009年2月4日申請日期2007年7月31日優(yōu)先權日2007年7月31日發(fā)明者萬金彬,孫寶佃,新李,杜環(huán)虹,羅燕穎申請人:中國石油天然氣集團公司;中國石油集團測井有限公司