專利名稱：顯示面板的測(cè)試治具及測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于測(cè)試顯示面板，特別是一種可測(cè)試不同規(guī)格顯示面板的測(cè)試 治具及測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
顯示面板在制作完成之后，必須利用測(cè)試機(jī)臺(tái)產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)，送入顯示 面板中，以確認(rèn)顯示面板是否可以正確動(dòng)作。由于剛由產(chǎn)線完成制作的顯示 面板還沒有設(shè)置信號(hào)排線或是電連接器，因此這時(shí)候測(cè)試機(jī)臺(tái)必須透過具備 探針的測(cè)試治具，來對(duì)顯示面板饋入測(cè)試信號(hào)。測(cè)試治具以探針接觸顯示面板邊緣外露的信號(hào)接點(diǎn)(Contact Pad)來達(dá)成電性連接，而將測(cè)試信號(hào)傳 送至待測(cè)試的顯示面板上。不同規(guī)格的顯示面板尺寸大小并不相同，在顯示面板上的信號(hào)接點(diǎn)數(shù)目 及配置位置也會(huì)不同。現(xiàn)有技術(shù)中是將測(cè)試治具可移動(dòng)地設(shè)置于測(cè)試平臺(tái) 上，使測(cè)試治具可以快速地改變于測(cè)試平臺(tái)上的位置，以配合不同尺寸的顯 示面板，或是將復(fù)數(shù)個(gè)探針可移動(dòng)地設(shè)置于測(cè)試治具上，并使該些探針除了 可以沿著測(cè)試治具的長(zhǎng)軸方向移動(dòng)而改變位置外，也可以進(jìn)行伸縮以選擇是 否接觸信號(hào)接點(diǎn)，以配合不同顯示面板的信號(hào)接點(diǎn)位置配置。但當(dāng)顯示面板 除了尺寸變化之外，信號(hào)接點(diǎn)的配置位置也有變化時(shí)，采用將測(cè)試治具可移 動(dòng)地設(shè)置于測(cè)試平臺(tái)上的方式測(cè)試顯示面板時(shí)，仍需要更換探針的配置位置 不同的測(cè)試治具。而當(dāng)顯示面板的信號(hào)接點(diǎn)數(shù)量眾多時(shí)，為了將復(fù)數(shù)個(gè)探針 可移動(dòng)地設(shè)置于測(cè)試治具上的正確位置時(shí)或決定每一探針突出或縮入測(cè)試 治具，將耗去許多時(shí)間。不論是采用將測(cè)試治具可移動(dòng)地設(shè)置于測(cè)試平臺(tái)上
的方式或是采用將復(fù)數(shù)個(gè)探針可移動(dòng)地設(shè)置于測(cè)試治具上的方式測(cè)試顯示 面板皆無法快速地在產(chǎn)線上進(jìn)行測(cè)試規(guī)格的變換。發(fā)明內(nèi)容鑒于現(xiàn)有技術(shù)的顯示面板的測(cè)試機(jī)臺(tái)無法快速變換測(cè)試規(guī)格的問題，本 發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種顯示面板的測(cè)試治具及測(cè)試方法，可任 意地測(cè)試不同規(guī)格的顯示面板。為了達(dá)成上述目的，本發(fā)明提出一種顯示面板的測(cè)試治具，其包括有一 板件、復(fù)數(shù)個(gè)第一探針、復(fù)數(shù)個(gè)第二探針、 一第一電連接組件及一第二電連 接組件。第一探針設(shè)于板件的一側(cè)邊，分別用以接觸一具有第一規(guī)格的第一 受測(cè)面板的信號(hào)接點(diǎn)。第二探針設(shè)于板件的側(cè)邊，分別用以接觸一具有第二 規(guī)格的第二受測(cè)面板的信號(hào)接點(diǎn)。第一電連接組件用以接收一第一測(cè)試信 號(hào)，透過各第一探針傳送至第一受測(cè)面板的信號(hào)接點(diǎn)。第二電連接組件，用 以接收一第二測(cè)試信號(hào)，透過各第二探針傳送至第二受測(cè)面板的信號(hào)接點(diǎn)。 如此一來，就可以透過同一套測(cè)試治具，對(duì)具備不同規(guī)格的面板進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明還提出一種顯示面板的測(cè)試方法，其先提供一板件，并于板件的 側(cè)邊設(shè)復(fù)數(shù)個(gè)第一探針及復(fù)數(shù)個(gè)第二探針。接著將一待測(cè)試顯示面板置于一 測(cè)試平臺(tái)上，并將待測(cè)試顯示面板的信號(hào)接點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的第一探針或第二探針 接觸。判斷待測(cè)試顯示面板與對(duì)應(yīng)的第一探針或第二探針接觸，若待測(cè)試顯 示面板與第一探針接觸，則對(duì)第一探針傳輸一第一測(cè)試信號(hào)。若待測(cè)試顯示 面板與第二探針接觸，則對(duì)第二探針傳輸一第二測(cè)試信號(hào)。本發(fā)明的功效在于，本發(fā)明只要選擇測(cè)試信號(hào)由第一電連接組件或第二 電連接組件饋入，就可以快速地變換測(cè)試治具的測(cè)試規(guī)格，不需要針對(duì)不同 的顯示面板更換測(cè)試治具，或耗費(fèi)時(shí)間調(diào)整測(cè)試治具，使測(cè)試流程可以快速 地適應(yīng)產(chǎn)線產(chǎn)品的變化。


圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例的測(cè)試機(jī)臺(tái)。圖2A及圖2B為本發(fā)明第一實(shí)施例的測(cè)試治具的局部立體圖。圖3A及圖3B為本發(fā)明第一實(shí)施例的測(cè)試治具的局部分解圖，揭示第一電連接組件及第二電連接組件。圖4A及圖4B為本發(fā)明第一實(shí)施例的平面示意圖。 圖5A及圖5B為本發(fā)明第二實(shí)施例的平面示意圖。 圖6為本發(fā)明測(cè)試治具的又一種電性連接組件示意圖。 主要元件符號(hào)說明100測(cè)試機(jī)臺(tái)110測(cè)試平臺(tái)120測(cè)試治具121板件122第一探針123第二探針124第一電連接組件124a第一電路板124b金屬線路層124c第一導(dǎo)線125第二電連接組件125a第二電路板125b金屬線路層125c第二導(dǎo)線126第三探針127a針座127b針座127c針座131電連接器132排線200顯示面板200a第一受測(cè)面板200b第二受測(cè)面板201a信號(hào)接點(diǎn)201b信號(hào)接點(diǎn)具體實(shí)施方式
以上關(guān)于本發(fā)明內(nèi)容的說明及以下的實(shí)施方式的說明是用以示范與解 釋本發(fā)明的原理，并且提供本發(fā)明的權(quán)利要求書更進(jìn)一步的解釋。
以下在實(shí)施方式中詳細(xì)敘述本發(fā)明的詳細(xì)特征以及優(yōu)點(diǎn)，其內(nèi)容足以使 任何熟習(xí)相關(guān)技藝者了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，且根據(jù)本說明書所 揭露的內(nèi)容、權(quán)利要求書及圖式，任何熟習(xí)相關(guān)技藝者可輕易地理解本發(fā)明 相關(guān)的目的及優(yōu)點(diǎn)。為使對(duì)本發(fā)明的目的、構(gòu)造、特征及其功能有進(jìn)一步的了解，現(xiàn)配合實(shí) 施例詳細(xì)說明如下。參閱圖1所示，為本發(fā)明第一實(shí)施例所揭露的一種測(cè)試機(jī)臺(tái)100，用以 測(cè)試顯示面板200。該測(cè)試機(jī)臺(tái)100包含有用以承載顯示面板200的測(cè)試平 臺(tái)110及二可測(cè)試不同規(guī)格顯示面板200的測(cè)試治具120。 二測(cè)試治具120 分別設(shè)置于測(cè)試平臺(tái)110兩側(cè)，用以傳送測(cè)試信號(hào)至顯示面板200，以對(duì)顯 示面板200進(jìn)行測(cè)試。再參照?qǐng)D2A及圖2B所示，各測(cè)試治具120包括一板件121、復(fù)數(shù)個(gè)第 一探針122及復(fù)數(shù)個(gè)第二探針123。復(fù)數(shù)個(gè)第一探針122設(shè)于板件121的一 側(cè)邊，同時(shí)第一探針122的位置配置，是相對(duì)于一具有第一規(guī)格的第一受測(cè) 面板200a的信號(hào)接點(diǎn)201a的位置。當(dāng)?shù)谝皇軠y(cè)面板200a放置于測(cè)試平臺(tái) 110，且使測(cè)試治具120位于第一受測(cè)面板200a的邊緣上方時(shí)，各第一探針 122接觸第一受測(cè)面板200a的信號(hào)接點(diǎn)201a，如圖2A所示。復(fù)數(shù)個(gè)第二探 針123也設(shè)置于板件121的側(cè)邊。第二探針123的位置配置，是相對(duì)于一具 有第二規(guī)格的第二受測(cè)面板200b的信號(hào)接點(diǎn)201b的位置。當(dāng)?shù)诙軠y(cè)面板 200b放置于測(cè)試平臺(tái)110使測(cè)試治具120位于第二受測(cè)面板200b的邊緣上 方時(shí)，各第二探針123接觸第二受測(cè)面板200b的信號(hào)接點(diǎn)201b，如圖2B 所示。由于第一探針122及第二探針123的位置配置，是分別相對(duì)于第一受 測(cè)面板200a及第二受測(cè)面板200b配置，因此第一探針122及第二探針123 的位置配置較佳是交錯(cuò)或是間隔配置。當(dāng)?shù)谝皇軠y(cè)面板200a ^C置于測(cè)試平 臺(tái)110時(shí)，第一受測(cè)面板200a的信號(hào)接點(diǎn)只會(huì)與第一探針122接觸，而不 會(huì)與第二探針123接觸。反之，當(dāng)?shù)诙軠y(cè)面板200b放置于測(cè)試平臺(tái)110 時(shí)，第二受測(cè)面板200b的信號(hào)接點(diǎn)201b只會(huì)與第二探針123接觸，而不會(huì) 與第一探針122接觸。參照?qǐng)D3A及圖3B所示，測(cè)試治具120還包含復(fù)數(shù)個(gè) 針座127a、 127b、 127c，設(shè)置于板件121的邊緣。這些第一探針122及這些 第二探針123固定于各針座127a、 127b、 127c上，而設(shè)置于板件121的邊 緣。其中，第一探針122及第二探針123先固定于針座127a、 127b、 127c 上，針座127a、 127b、 127c再被設(shè)置于板件121邊緣，以使板件121的組 裝較為便利，同時(shí)，針座127a、 127b、 127c也可以延長(zhǎng)第一探針122及第 二探針123距離。探針設(shè)置于針座127a、 127b、 127c上的數(shù)目，可依據(jù)各 探針?biāo)O(shè)置的相對(duì)位置來決定。以本實(shí)施例為例，各針座127a、 127b、 127c 的探針數(shù)目(第一探針122加上第二探針123)可為二個(gè)、三個(gè)或四個(gè)，但數(shù)目并不以前述為限。再參照?qǐng)D2A、圖2B、圖3A及圖3B所示，測(cè)試治具120還包含有一第 一電連接組件124及第二電連接組件125。第一電連接組件124電性連接于 第一探針122，用以接收一第一測(cè)試信號(hào)。第二電連接組件125電性連接第 二探針123，用以接收一第二測(cè)試信號(hào)。于測(cè)試第一受測(cè)面板200a時(shí)，是以 測(cè)試信號(hào)源(圖未繪示)的電連接器131電性連接于第一電連接組件124， 并以排線132連接電連接器131及測(cè)試信號(hào)源。當(dāng)測(cè)試第一受測(cè)面板200a 時(shí)，測(cè)試信號(hào)源提供一第一測(cè)試信號(hào)，該第一測(cè)試信號(hào)通過排線132及電連 接器131，將第一測(cè)試信號(hào)傳輸至第一電連接組件124，并透過各第一探針 122傳輸至第一受測(cè)面板200a的信號(hào)接點(diǎn)201a。相同地，當(dāng)測(cè)試第二受測(cè) 面板200b時(shí)，是以測(cè)試信號(hào)源(圖未繪示)的電連接器131電性連接于第 二電連接組件125，測(cè)試信號(hào)源提供一第二測(cè)試信號(hào)，該第二測(cè)試信號(hào)通過 排線132及電連接器131，將第二測(cè)試信號(hào)傳輸至第二電連接組件125，并 透過各第二探針123，傳輸至第二受測(cè)面板200b的信號(hào)接點(diǎn)201b。請(qǐng)參照?qǐng)D4A及圖4B所示，第一電連接組件124還包含一第一電路板 124a及復(fù)數(shù)條第一導(dǎo)線124c，且第一電路板124a之上具有一金屬線路層 124b，電性連接于第一導(dǎo)線124c。各第一導(dǎo)線124c的另一端分別電性連接 于各第一探針122，以傳送第一測(cè)試信號(hào)至各第一探針122。同樣地，第二 電連接組件125還包含一第二電路板125a及復(fù)數(shù)條第二導(dǎo)線125c，且第二 電路板125a之上具有一金屬線路層125b，電性連接于第二導(dǎo)線125c。各第 二導(dǎo)線125c的另一端分別電性連接于各第二探針123，以傳送第二測(cè)試信號(hào) 至各第二探針123。應(yīng)用上述測(cè)試治具110進(jìn)行的測(cè)試方法，是先提供一側(cè)邊設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)第 一探針122及復(fù)數(shù)個(gè)第二探針123的板件120。接著將一待測(cè)試顯示面板置 于測(cè)試平臺(tái)110上，并將待測(cè)試顯示面板的信號(hào)接點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的第一探針122 或第二探針123接觸。然后判斷待測(cè)試顯示面板的信號(hào)接點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的第一探 針122或第二探針123接觸。若待測(cè)試顯示面板的信號(hào)接點(diǎn)與第一探針122 接觸，則決定待測(cè)試顯示面板的規(guī)格為第一規(guī)格，并對(duì)這些第一探針122傳 輸?shù)谝粶y(cè)試信號(hào)。若待測(cè)試面板的信號(hào)接點(diǎn)與第二探針123接觸，則決定待 測(cè)試面板的規(guī)格為第二規(guī)格，并對(duì)第二探針123傳輸?shù)诙y(cè)試信號(hào)。如此一 來，只要選擇測(cè)試信號(hào)由第一電連接組件124或第二電連接組件125饋入， 就可以透過同一套測(cè)試治具110，對(duì)具備不同規(guī)格的面板進(jìn)行測(cè)試。參閱圖5A及圖5B所示，為本發(fā)明第二實(shí)施例所提供的一種測(cè)試治具 120，該測(cè)試治具120包含一板件121、復(fù)數(shù)個(gè)第一探針122、復(fù)數(shù)個(gè)第二探 針123、復(fù)數(shù)個(gè)第三探針126、第一電連接組件124、第二電連接組件125。 第一探針122、第二探針123及第三探針126設(shè)置于板件120的一側(cè)邊。對(duì) 于具備不同規(guī)格的第一受測(cè)面板200a及第二受測(cè)面板200b而言，它們的信 號(hào)接點(diǎn)201a、 201b中，會(huì)有部分位于相同的配置位置，這一部份的信號(hào)接 點(diǎn)201a、 201b可透過第三探針126來接觸，也就是說第三探針126是可選 擇地接觸第一受測(cè)面板200a的部分信號(hào)接點(diǎn)201a,或是第二受測(cè)面板200b 的部分信號(hào)接點(diǎn)201b。于此實(shí)施例中，第一探針122及第三探針126共同組 成的位置配置，是相對(duì)于第一受測(cè)面板200a的信號(hào)接點(diǎn)201a的位置，如圖 5A所示。同樣地，相同的這些第三探針126與第二探針123共同組成的位置 配置，是相對(duì)于第二受測(cè)面板200b的信號(hào)接點(diǎn)201b的位置，如圖5B所示。 因此，第一探針122與第三探針126可共同用于接觸第一受測(cè)面板200a的 信號(hào)接點(diǎn)201a，而第二探針123與第三探針126可共同用于接觸第二受測(cè)面 板200b的信號(hào)接點(diǎn)201b。對(duì)于第一測(cè)試信號(hào)及第二測(cè)試信號(hào)的傳遞而言，于第一電性連接組件 124的第一導(dǎo)線124c中，部分的第一導(dǎo)線124c連接于第三探針126，其余 第一導(dǎo)線124c連接于第一探針122。于第二電性連接組件125的第二導(dǎo)線 125c中，部分的第二導(dǎo)線125c連接于第三探針126，其余第二導(dǎo)線125c連 接于第二探針123。也就是說，至少一第一導(dǎo)線124c及至少一第二導(dǎo)線125c 共同電性連接于第三探針126。因此，當(dāng)測(cè)試第一受測(cè)面板200a時(shí)，測(cè)試信 號(hào)源提供一第一測(cè)試信號(hào)時(shí)，該第一測(cè)試信號(hào)通過第一探針122及第三探針 126傳輸至第一受測(cè)面板200a的信號(hào)接點(diǎn)201a。相同的，當(dāng)測(cè)試第二受測(cè) 面板200b時(shí)，測(cè)試信號(hào)源提供一第二測(cè)試信號(hào)，該第二測(cè)試信號(hào)通過第二 探針123及第三探針126傳輸至第二受測(cè)面板200b的信號(hào)接腳點(diǎn)201b。參閱圖6所示，為本發(fā)明所揭露測(cè)試治具120的又一種電性連接組件示 意圖，該測(cè)試治具120大致與第一實(shí)施例相同，其差異在于第一電性連接組 件124及第二電性連接組件125是分別電性連接有一電連接器131。各電連 接器131分別透過排線132連接第一電性連接組件124和第二電性連接組件 125,以快速地插接于測(cè)試信號(hào)源，接收第一測(cè)試信號(hào)或是第二測(cè)試信號(hào)。 當(dāng)然，第一電性連接組件124及第二電性連接組件125也可以僅包含一個(gè)電 連接器131，該電連接器131透過一排線132可選擇性的連接于第一電性連 接組件124或第二電性連接組件125 (省略附圖)，可以降低成本。雖然本發(fā)明以前述的實(shí)施例揭露如上，然而其并非用以限定本發(fā)明。在 不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)所作的更動(dòng)與潤飾，均屬本發(fā)明的專利保護(hù)范 圍。關(guān)于本發(fā)明所界定的保護(hù)范圍將以權(quán)利要求書所限定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種顯示面板的測(cè)試治具，其特征在于，包括有一板件；復(fù)數(shù)個(gè)第一探針，設(shè)于該板件的一側(cè)邊，分別用以接觸一具有第一規(guī)格的受測(cè)面板的信號(hào)接點(diǎn)；復(fù)數(shù)個(gè)第二探針，設(shè)于該板件的該側(cè)邊，分別用以接觸一具有第二規(guī)格的受測(cè)面板的信號(hào)接點(diǎn)；一第一電連接組件，電性連接這些第一探針，其中該第一電連接組件用以接收一第一測(cè)試信號(hào)，并透過各該第一探針傳送該第一測(cè)試信號(hào)至該第一規(guī)格的受測(cè)面板的信號(hào)接點(diǎn)；及一第二電連接組件，電性連接這些第二探針，其中該第二電連接組件用以接收一第二測(cè)試信號(hào)，并透過各該第二探針傳送至該第二規(guī)格的受測(cè)面板的信號(hào)接點(diǎn)。
2. 如權(quán)利要求1所述的顯示面板的測(cè)試治具，其特征在于，還包含一電 連接器，電性連接于該第一電連接組件或該第二電連接組件。
3. 如權(quán)利要求2所述的顯示面板的測(cè)試治具，其特征在于，還包含一排 線，用以電性連接該第一電連接組件及該電連接器，或電性連接該第二電連 接組件及該電連接器。
4. 如權(quán)利要求1所述的顯示面板的測(cè)試治具，其特征在于，還包含二電 連接器，分別電性連接于該第一電連接組件和該第二電連接組件。
5. 如權(quán)利要求4所述的顯示面板的測(cè)試治具，其特征在于，還包含二排 線，該二電連接器分別透過該二排線連接該第一 電性連接組件和第二電性連 接組件。
6. 如權(quán)利要求1所述的顯示面板的測(cè)試治具，其特征在于，該第一電連 接組件具有復(fù)數(shù)條第一導(dǎo)線，用以分別電性連接這些第一探針。
7. 如權(quán)利要求6所述的顯示面板的測(cè)試治具，其特征在于，該第一電連 接組件具有一第一電路板，其上具有一金屬線路層，該金屬線路層電性連接 于這些第一導(dǎo)線。
8. 如權(quán)利要求1所述的顯示面板的測(cè)試治具，其特征在于，該第二電連 接組件具有復(fù)數(shù)條第二導(dǎo)線，用以分別電性連接這些第二探針。
9. 如權(quán)利要求8所述的顯示面板的測(cè)試治具，其特征在于，該第二電連 接組件具有一第二電路板，其上具有一金屬線路層，該金屬線路層電性連接 于這些第二導(dǎo)線。
10. 如權(quán)利要求1所述的顯示面板的測(cè)試治具，其特征在于，還包含 至少一第三探針，設(shè)于該板件的該側(cè)邊，用以接觸該第一規(guī)格的受測(cè)面板的 部份信號(hào)接點(diǎn)，或是該第二規(guī)格的受測(cè)面板的部份信號(hào)接點(diǎn)。
11. 如權(quán)利要求10所述的顯示面板的測(cè)試治具，其特征在于，該第三 探針電性連接于該第一電連接組件與該第二電連接組件。
12. 如權(quán)利要求1所述的顯示面板的測(cè)試治具，其特征在于，這些第 一探針與這些第二探針是以交錯(cuò)或間隔的方式排列于該板件的該側(cè)邊。
13. —種顯示面板的測(cè)試方法，其特征在于，包括有如下步驟 提供一側(cè)邊設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)第一探針及復(fù)數(shù)個(gè)第二探針的板件； 將一待測(cè)試顯示面板置于一測(cè)試平臺(tái)上，并將該待測(cè)試顯示面板的信號(hào)接點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的第一探針或第二探針接觸；及判斷該待測(cè)試顯示面板與第一探針或第二探針接觸，若該待測(cè)試顯示面 板與第一探針接觸，則對(duì)這些第一探針傳輸一第一測(cè)試信號(hào)，若該待測(cè)試面 板與第二探針接觸，則對(duì)該第二探針傳輸一第二測(cè)試信號(hào)。
全文摘要
一種顯示面板的測(cè)試治具及測(cè)試方法，該測(cè)試治具包括有一板件及設(shè)置于板件側(cè)邊的探針。這些探針至少包含復(fù)數(shù)個(gè)第一探針，用以接觸具有第一規(guī)格的第一受測(cè)面板的信號(hào)接點(diǎn)，而傳送第一測(cè)試信號(hào)至第一受測(cè)面板的信號(hào)接點(diǎn)；以及復(fù)數(shù)個(gè)第二探針，用以接觸具有第二規(guī)格的第二受測(cè)面板的信號(hào)接點(diǎn)，而傳送第二測(cè)試信號(hào)至第二受測(cè)面板的信號(hào)接點(diǎn)。因此該測(cè)試治具可選擇地用于測(cè)試不同規(guī)格的顯示面板。
文檔編號(hào)G01R1/073GK101101314SQ20071014663
公開日2008年1月9日 申請(qǐng)日期2007年8月23日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月23日
發(fā)明者林憲杰 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司