專(zhuān)利名稱(chēng)：Pdp基板介質(zhì)層特性測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種平板電視檢測(cè)技術(shù)，尤其是一種平板電視中的基板介質(zhì) 絕緣特性和耐壓特性檢測(cè)裝置，具體地說(shuō)是一種PDP基板介質(zhì)層特性測(cè)試裝 置。
背景技術(shù)：
眾所周知，在等離體平板電視(PDP)中，作為顯示部分的基板由前基板 和后基板組成，在前后基板中均設(shè)有一層介質(zhì)層，該介質(zhì)層是一層透明的絕 緣層，在交流等離子體顯示板工作中起到電極之間隔離及存儲(chǔ)電荷作用，因 此介質(zhì)層的性能的好壞在一定程度上決定了基板的特性。在基板的性能指標(biāo) 中要求介質(zhì)層要有較好的絕緣性以及較高的耐壓性，因此如何測(cè)試介質(zhì)的絕 緣性和介質(zhì)的耐壓性是檢驗(yàn)基板品質(zhì)的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。目前尚無(wú)相應(yīng)的測(cè)試裝置 可供使用。 發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是針對(duì)PDP基板介質(zhì)特征缺乏相應(yīng)的檢測(cè)裝置的問(wèn)題，設(shè) 計(jì)一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便的PDP基板介質(zhì)層特性測(cè)試裝置。本發(fā)明的技術(shù)方案是一種PDP基板介質(zhì)層特性測(cè)試裝置，包括蓋板l、承片臺(tái)3和耐壓測(cè)試 儀6，蓋板1的一邊和承片臺(tái)3的一邊相鉸接，其特征是所述的蓋板1上設(shè) 有大面積導(dǎo)電薄膜2和電極引出條201， 202， 203， 204， 205，其中電極引 出條202與大面積導(dǎo)電薄膜2相連，電極引出條201， 203， 204， 205與被 測(cè)PDP基板的前基板和后基板上的電極相對(duì)應(yīng)；在承片臺(tái)3上設(shè)有軟玻璃密 封條5，該軟玻璃密封條5的周邊與PDP基板的周邊相匹配，在承片臺(tái)3中 安裝有無(wú)油真空泵4，無(wú)油真空泵4的吸氣口與承片臺(tái)3上的抽氣口 7相通， 耐壓測(cè)試儀6的檢測(cè)電極與蓋板1上對(duì)應(yīng)的電極引出條201， 202， 203， 204，
205相連。在蓋板1上與承片臺(tái)3上的軟玻璃密封條5相對(duì)位置處設(shè)有硅橡膠密封條。所述的電極引出條201， 204與PDP基板的前基板上的電極相對(duì)應(yīng)，電極 引出條203， 205與PDP基板的后基板上的電極相對(duì)應(yīng)，大面積導(dǎo)電薄膜2 與PDP基板上的介質(zhì)層相對(duì)，并通過(guò)電極引出條202引出蓋板1形成基板電 極的對(duì)電極。所述的無(wú)油真空泵4的真空壓力為0. 08MPa左右。 本發(fā)明的有益效果本發(fā)明的測(cè)試裝置將耐壓測(cè)試儀、基板承片臺(tái)和真空抽氣系統(tǒng)集成為一 體，測(cè)試時(shí)利用真空抽氣系統(tǒng)抽去其中的氣體，使基板和蓋板緊密貼合，同 時(shí)蓋板上的薄膜電極將基板電極引出，構(gòu)成閉合電路，啟動(dòng)耐壓測(cè)試儀，進(jìn) 而進(jìn)行測(cè)試。本發(fā)明的檢測(cè)裝置具有搭建簡(jiǎn)單，操作方便，測(cè)試結(jié)果比較準(zhǔn) 確的特點(diǎn)，是檢驗(yàn)基板特性的一種較為理想的方式。本發(fā)明的測(cè)試平臺(tái)既可以測(cè)試基板介質(zhì)的絕緣性又能測(cè)試介質(zhì)的耐壓 性，同時(shí)也可以準(zhǔn)確的測(cè)出介質(zhì)的擊穿電壓。本發(fā)明的測(cè)試裝置既適用于大 面積的前后基板，同時(shí)也能測(cè)試小面積的是實(shí)驗(yàn)面板。本發(fā)明的測(cè)試裝置還 可以用來(lái)測(cè)量與基板結(jié)構(gòu)相似的產(chǎn)品的耐壓，用途廣泛。本發(fā)明的檢測(cè)裝置可等效為一個(gè)由耐壓測(cè)試儀、電極和基板介質(zhì)構(gòu)成的 閉合電路；使用時(shí)，設(shè)置電源的漏電流，加高電壓，通過(guò)觀察耐壓測(cè)試儀是 否過(guò)流來(lái)確定基板特性的好壞，同時(shí)也可以準(zhǔn)確的測(cè)量出介質(zhì)的耐壓以及擊 穿電壓。


圖l是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本發(fā)明的測(cè)試原理圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說(shuō)明。 如圖l所示。
一種PDP基板介質(zhì)層特性測(cè)試裝置，包括蓋板l、承片臺(tái)3和耐壓測(cè)試 儀6 (型號(hào)可為DZ2672A)，蓋板1的一邊和承片臺(tái)3的一邊相鉸接，所述的 蓋板1上設(shè)有大面積導(dǎo)電薄膜2和電極引出條201， 202， 203， 204， 205， 其中電極引出條202與大面積導(dǎo)電薄膜2相連，電極引出條201， 203,204， 205與被測(cè)PDP基板8的前基板和后基板上的電極相對(duì)應(yīng)；在承片臺(tái)3上設(shè) 有軟玻璃密封條5，該軟玻璃密封條5的周邊與PDP基板8的周邊相匹配(軟 玻璃密封條5所圍區(qū)域應(yīng)略大于PDP基板8)，在蓋板1上與承片臺(tái)3上的軟 玻璃密封條5相對(duì)位置處設(shè)有硅橡膠密封條，以進(jìn)一上提高蓋板1與軟玻璃 密封條5的結(jié)合力，方便抽真空的進(jìn)行。在承片臺(tái)3中安裝有無(wú)油真空泵4 (真空壓力為0.08MPa左右，無(wú)油設(shè)計(jì))，無(wú)油真空泵4的吸氣口與承片臺(tái)3 上的抽氣口7相通，耐壓測(cè)試儀6可安裝在承片臺(tái)3下部的空間中，也可安 裝在承片臺(tái)3外部，通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)與蓋板上的電極引出線(xiàn)相連，耐壓測(cè)試儀6的 檢測(cè)電極與蓋板1上對(duì)應(yīng)的電極引出條201， 202， 203， 204， 205相連。所 述的電極引出條201， 204與PDP基板8的前基板上的電極相對(duì)應(yīng)，電極引出 條203， 205與PDP基板8的后基板上的電極相對(duì)應(yīng)，大面積導(dǎo)電薄膜2與 PDP基板8上的介質(zhì)層相對(duì)，并通過(guò)電極引出條202引出蓋板1外形成基板 電極的對(duì)電極。本發(fā)明的測(cè)試裝置將耐壓測(cè)試儀與基板承片臺(tái)集成與一體，并配以真空 抽氣系統(tǒng)，在承片臺(tái)上貼有軟玻璃制成的密封條，蓋板邊框上也貼有硅橡膠 的密封條，以保證基板放置進(jìn)去，可以用真空系統(tǒng)抽去其中的氣體，保證基 板與蓋板緊密貼合，同時(shí)在蓋板上用薄膜將基板的電極引出，2011、 2044引 出條可覆蓋前基板電極，203、 205引出條可覆蓋后基板電極，202引出條與 覆蓋在介質(zhì)層面積上的大面積導(dǎo)電薄膜2相連，作為基板電極的對(duì)電極使用， 如圖1所示。本發(fā)明的介質(zhì)的絕緣特性測(cè)試如下將待測(cè)基板放在承片臺(tái)上，啟動(dòng)照明開(kāi)關(guān)，調(diào)整位置直至前基板的兩端 電極與蓋板上的l、 4引出條對(duì)齊，啟動(dòng)真空開(kāi)關(guān)，使基板與蓋板緊密貼緊。 使用萬(wàn)用表的電阻自動(dòng)檔，將萬(wàn)用表的(com)端測(cè)試筆與引線(xiàn)條202的接線(xiàn)
柱相連，用萬(wàn)用表的(VQ)引線(xiàn)筆分別與引線(xiàn)條201、 204的接線(xiàn)柱相連。 如果萬(wàn)用表指示有電阻值，表明介質(zhì)層中有直接短路點(diǎn)，作出記號(hào)，在缺陷 允許情況下可以把該電極割斷。如果萬(wàn)用表電阻值指示無(wú)窮大，表示絕緣特 性合格。介質(zhì)的耐壓特性測(cè)試將經(jīng)過(guò)絕緣特性測(cè)試的基板，按照上述方法，置于承片臺(tái)上并使之貼緊。 啟動(dòng)耐壓測(cè)試儀，并進(jìn)行電壓和漏電流的設(shè)置。AC/DC鍵置于AC檔，1.5KV/5KV 健置于1.5KV，電流測(cè)量范圍置于0.2mA，時(shí)間置于20s。耐壓測(cè)試儀的(十)端 接有耐高壓的測(cè)試棒，耐壓測(cè)試儀的一端接在引線(xiàn)條202的接線(xiàn)柱上。將測(cè) 試棒接在引線(xiàn)條201的接線(xiàn)柱上，按下啟動(dòng)鍵，調(diào)節(jié)電壓旋紐，電壓增至200V, 記下此時(shí)的漏電流值，如果漏電流值小于10mA，則為耐壓合格，測(cè)試結(jié)束， 按下復(fù)位鍵。同樣方法，測(cè)試引線(xiàn)條204對(duì)應(yīng)的另一端耐壓情況。兩端耐壓 合格，則為合格品。實(shí)驗(yàn)階段，可根據(jù)漏電流的大小，將后板分為三個(gè)等級(jí)， 如下表所示，其中A、 B是合格板，C板為實(shí)驗(yàn)板。等級(jí)ABC漏電流(mA)〈9<15〉二15介質(zhì)擊穿電壓的測(cè)試在進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí)，可調(diào)高電流的設(shè)置，操作與耐壓測(cè)試相同，提高電壓直到介質(zhì)擊穿。后基板中的介質(zhì)層的絕緣特性、耐壓特性和擊穿電壓的測(cè)試方法與前基 板介質(zhì)層相同。本發(fā)明未涉及部分與現(xiàn)有技術(shù)相同或可采用現(xiàn)有技術(shù)加以實(shí)現(xiàn)。
權(quán)利要求
1、一種PDP基板介質(zhì)層特性測(cè)試裝置，包括蓋板(1)、承片臺(tái)(3)和耐壓測(cè)試儀(6)，蓋板(1)的一邊和承片臺(tái)(3)的一邊相鉸接，其特征是所述的蓋板(1)上設(shè)有大面積導(dǎo)電薄膜(2)和電極引出條(201，202，203，204，205)，其中電極引出條(202)與大面積導(dǎo)電薄膜(2)相連，電極引出條(201，203，204，205)與被測(cè)PDP基板的前基板和后基板上的電極相對(duì)應(yīng)；在承片臺(tái)(3)上設(shè)有軟玻璃密封條(5)，該軟玻璃密封條(5)的周邊與PDP基板的周邊相匹配，在承片臺(tái)(3)中安裝有無(wú)油真空泵(4)，無(wú)油真空泵(4)的吸氣口與承片臺(tái)(3)上的抽氣口(7)相通，耐壓測(cè)試儀(6)的檢測(cè)電極與蓋板(1)上對(duì)應(yīng)的電極引出條(201，202，203，204，205)相連。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的PDP基板介質(zhì)層特性測(cè)試裝置，其特征是在蓋板(l) 上與承片臺(tái)(3)上的軟玻璃密封條(5)相對(duì)位置處設(shè)有硅橡膠密封條。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的PDP基板介質(zhì)層特性測(cè)試裝置，其特征是所述的電 極引出條(201，204)與PDP基板的前基板上的電極相對(duì)應(yīng)，電極引出條(203， 205)與PDP基板的后基板上的電極相對(duì)應(yīng)，大面積導(dǎo)電薄膜(2)與PDP基 板上的介質(zhì)層相對(duì)，并通過(guò)電極引出條(202)引出蓋板(1)形成基板電極 的對(duì)電極。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的PDP基板介質(zhì)層特性測(cè)試裝置，其特征是所述的無(wú) 油真空泵(4)的真空壓力為0.08MPa左右。
全文摘要
一種PDP基板介質(zhì)層特性測(cè)試裝置，屬于一種平板電視檢測(cè)技術(shù)，包括蓋板(1)、承片臺(tái)(3)和耐壓測(cè)試儀(6)，蓋板(1)的一邊和承片臺(tái)(3)的一邊相鉸接，其特征是所述的蓋板(1)上設(shè)有大面積導(dǎo)電薄膜(2)和電極引出條(201，202，203，204，205)，在承片臺(tái)(3)上設(shè)有軟玻璃密封條(5)，該軟玻璃密封條(5)的周邊與PDP基板的周邊相匹配，在承片臺(tái)(3)中安裝有無(wú)油真空泵(4)，無(wú)油真空泵(4)的吸氣口承片臺(tái)(3)上的抽氣口(7)相通，耐壓測(cè)試儀(6)的檢測(cè)電極與蓋板(1)上對(duì)應(yīng)的電極引出條(201，202，203，204，205)相連。本發(fā)明解決了生產(chǎn)急需，具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，測(cè)試準(zhǔn)確可靠的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01R31/00GK101162253SQ20071019047
公開(kāi)日2008年4月16日 申請(qǐng)日期2007年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2007年11月30日
發(fā)明者吉志堅(jiān), 雄 張, 朱立鋒, 青 李, 林青園, 王保平 申請(qǐng)人:南京華顯高科有限公司