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鏡片光反射率檢測裝置及鏡片組裝設(shè)備的制作方法

文檔序號:5821212閱讀:177來源:國知局
專利名稱:鏡片光反射率檢測裝置及鏡片組裝設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種鏡片光反射率檢測裝置,以及涉及一種集成有該鏡片光反射率檢測裝置 的鏡片組裝設(shè)備。
技術(shù)背景鏡片,例如用在各式眼鏡中,用在攝像鏡頭中等,是生產(chǎn)和生活常見的光學(xué)元器件。這 類鏡片中,對光、或是對特定波段的光的反射率往往是衡量其光學(xué)性能的一個重要參數(shù)。一種典型的鏡片光反射率檢測方法采用如下方式對待測鏡片進(jìn)行檢測在待測鏡片一表 面上方設(shè)置一光源及一光電倍增管(Photo Multiplier Tube,簡稱PMT),當(dāng)該光源發(fā)出的 光束投射至該鏡片表面上時,部分光會自該鏡片表面反射且被該光電倍增管接收,然后使用 一比較器比較投射至該鏡片上的光信號強(qiáng)度與自該鏡片反射的光信號強(qiáng)度,從而得出該鏡片 的光反射率。然而,光電倍增管的偵檢速度極慢, 一次只能采集到一個像素,如此對于較大 的鏡片,此種檢測速率遠(yuǎn)遠(yuǎn)無法滿足現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)的要求。發(fā)明內(nèi)容有鑒于此,提供一種檢測速度較快的鏡片光反射率檢測裝置,以及集成有該鏡片光反射 率檢測裝置的鏡片組裝設(shè)備實為必要。一種鏡片光反射率檢測裝置,其包括一積分球、 一光源裝置、 一移動平臺、 一偵檢器以 及一處理器。所述積分球具有一樣品口及一出光口,所述樣品口及出光口分別用于放置待測 鏡片及出射所述待測鏡片反射的光線;所述光源裝置用于發(fā)出一定波長范圍的光束,該光束 在所述積分球內(nèi)投射至所述待測鏡片表面;所述移動平臺用于使所述待測鏡片與所述積分球 相對移動;所述偵檢器包括一感光元件以用于偵檢自所述積分球出射的光線并轉(zhuǎn)換為一待比 較信號,該感光元件選自電荷偶合裝置及互補金屬氧化物半導(dǎo)體之一;所述處理器用于比較 投射至所述待測鏡片的光束的信號強(qiáng)度與所述偵檢器偵檢到的待比較信號強(qiáng)度,以得出所述 待測鏡片的光反射率。一種鏡片組裝設(shè)備,其集成有一上述的鏡片光反射率檢測裝置。相對于現(xiàn)有技術(shù),所述鏡片光反射率檢測裝置使用一移動平臺使待測鏡片與積分球相對 移動,如此可連續(xù)地對待測鏡片進(jìn)行檢測,另外,所述偵檢器可以實現(xiàn)快速地偵檢信號,如 此整個鏡片光反射率檢測裝置可以成為自動的快速檢測裝置。所述鏡片組裝設(shè)備可以使鏡片光反射率檢測與鏡片組裝先后連續(xù)進(jìn)行。


圖l是本發(fā)明的實施例提供的鏡片光反射率檢測裝置示意圖。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明提供的鏡片光反射率檢測裝置及鏡片組裝設(shè)備作進(jìn)一步詳細(xì)說明請參閱圖l,本發(fā)明的實施例提供的鏡片光反射率檢測裝置100,用于對待測鏡片200的 光反射率進(jìn)行檢測,其包括一積分球IO, 一光源裝置20, 一偵檢器30, 一處理器40, 一承載 所述待測鏡片200的第一移動平臺400,以及一承載積分球10的第二移動平臺500,其中,所 述光源裝置20設(shè)置于所述積分球10內(nèi),所述偵檢器30與所述積分球10之間通過一具有一定長 度的光傳導(dǎo)元件50例如光纖連接,所述偵檢器30與所述處理器40之間電性連接。所述積分球10為中空,內(nèi)表面呈圓球形且內(nèi)壁設(shè)置有反射涂層101,其內(nèi)徑可以在 5(T60毫米之間。所述積分球10開設(shè)有一樣品口11及一出光口12,所述樣品口ll用于放置待 測鏡片200,其直徑可以在1(T12毫米之間;所述出光口12與所述光傳導(dǎo)元件50連接,用于出 射待測鏡片200反射的光線,其直徑也可以在1(T12毫米之間。所述光源裝置20的光源可以為鹵素?zé)?、白熾燈、激光二極管或發(fā)光二極管,且其功率可 以為150瓦(W)。優(yōu)選地,所述光源裝置20可以發(fā)出一定波長范圍的光束,例如在 20(Tll00納米(nm)之間。所述光源裝置20在檢測過程中可以置于所述積分球10內(nèi),通過所 述積分球10內(nèi)壁反射而投射至待測鏡片200上,或直接投射至該待測鏡片200上。所述光源裝 置20投射至待測鏡片200上的入射角優(yōu)選地控制在8度以內(nèi)。優(yōu)選地,還可以包括一全反射(反射率為100%)的標(biāo)準(zhǔn)片300,所述標(biāo)準(zhǔn)片300用于在檢 測待測鏡片200之前,全反射所述光源裝置20發(fā)出的光束至所述偵檢器30上,以得出將投射 至該待測鏡片200上的光束的信號強(qiáng)度,所述偵檢器30可以將此信號強(qiáng)度輸出作為一參考信 號。所述偵檢器30內(nèi)置一濾光裝置31、 一聚焦鏡32、 一反射鏡33,以及一感光元件34。所述 感光元件34選自電荷偶合裝置(Charge Coupled Device,簡稱CCD)及互補金屬氧化物半導(dǎo) 體(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Transistor, 簡禾爾CM0S)之^■, 且其像素 單元可以采用3648個。所述光傳導(dǎo)元件50將自所述積分球10的出光口12出射的光束傳導(dǎo)入所 述偵檢器30,該光束進(jìn)一步由所述濾光裝置31分成不同顏色的光,然后由所述聚焦鏡32及反 射鏡33聚焦反射至所述感光元件34上進(jìn)行光信號與電信號的轉(zhuǎn)換,并由所述感光元件34輸出作為一待比較信號。所述處理器40用于比較上述投射至待測鏡片200的光束的參考信號與待測鏡片200反射的 光線的待比較信號,以得出待測鏡片200的光反射率,優(yōu)選地,所述處理器40還可以連接一 顯示介面41以輸出該待測鏡片200的光反射率檢測結(jié)果。所述第一移動平臺400開設(shè)有一凹槽410以容置所述待測鏡片200,所述移動平臺500具有 一收容部510以收容所述積分球10于其中。所述第一移動平臺400及第二移動平臺500可以分 別由一預(yù)設(shè)的程序自動控制進(jìn)行位移及定位,以分別帶動所述待測鏡片200、所述積分球IO 位移及定位,并且在所述第一移動平臺400移動時,所述第二移動平臺500保持不動,反之則 相反。如此所述待測鏡片200與所述積分球10可相對移動,多個的所述待測鏡片200可被連續(xù) 檢測。所述鏡片光反射率檢測裝置100使用光傳導(dǎo)元件50與偵檢器30連接,如此可以避免環(huán)鏡 光線對檢測的影響,并且偵檢器30可以設(shè)置于一相對自由的位置。所述偵檢器30使用所述電 荷耦合裝置或互補金屬氧化物半導(dǎo)體,使整個檢測過程所需時間大大縮短,并且搭配上所述 第一及第二移動平臺400、 500,如此整個鏡片光反射率檢測裝置100可以成為一個自動的快 速檢測裝置,其對一個待測鏡片200的光反射率檢測時間在0. l秒以下。可以理解的是,所述鏡片光穿透率檢測裝置100可以僅有所述第一移動平臺400,而將所 述積分球10設(shè)置于一固定臺上;或僅有所述第二移動平臺500,而將所述待測鏡片200設(shè)置于 一固定臺上,如此均可達(dá)到使所述待測鏡片200與所述積分球10相對移動的目的。所述鏡片光反射率檢測裝置100還可以集成在一鏡片組裝設(shè)備上,如此光鏡片反射率檢 測與鏡片組裝可以先后連續(xù)進(jìn)行??梢岳斫獾氖?,對在本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案和技術(shù)構(gòu) 思做出其它各種相應(yīng)的改變和變形,而所有這些改變和變形都應(yīng)屬在本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù) 范圍。
權(quán)利要求
1. 一種鏡片光反射率檢測裝置,其包括一積分球,所述積分球具有一樣品口及一出光口,所述樣品口及出光口分別用于放置待測鏡片及出射所述待測鏡片反射的光線;一光源裝置,用于發(fā)出一定波長范圍的光束,該光束通過所述積分球投射至所述待測鏡片表面;一移動平臺,所述移動平臺用于使所述待測鏡片與所述積分球相對移動;一偵檢器,所述偵檢器包括一感光元件以用于偵檢自所述積分球出射的光線并轉(zhuǎn)換為一待比較信號,該感光元件選自電荷偶合裝置及互補金屬氧化物半導(dǎo)體之一;以及一處理器,用于比較投射至所述待測鏡片的光束的信號強(qiáng)度與所述偵檢器偵檢到的待比較信號強(qiáng)度,以得出所述待測鏡片的光反射率。
2. 如權(quán)利要求l所述的鏡片光反射率檢測裝置,其特征在于,進(jìn)一 步包括一全反射的標(biāo)準(zhǔn)片,用于在檢測所述待測鏡片之前全反射所述光源裝置發(fā)出的光束至 所述偵檢器,以得出將投射至所述待測鏡片的光束的信號強(qiáng)度。
3. 如權(quán)利要求l所述的鏡片光反射率檢測裝置,其特征在于,所述 光源裝置設(shè)置于所述積分球內(nèi)。
4. 如權(quán)利要求l所述的鏡片光反射率檢測裝置,其特征在于,所述 光源裝置的光源為鹵素?zé)?、白熾燈、激光二極管或發(fā)光二極管。
5. 如權(quán)利要求l所述的鏡片光反射率檢測裝置,其特征在于,所述 光源裝置投射至所述待測鏡片的光束的入射角小于或等于8度。
6. 如權(quán)利要求l所述的鏡片光反射率檢測裝置,其特征在于,進(jìn)一 步包括一具有一定長度的光傳導(dǎo)元件,所述光傳導(dǎo)元件連接所述積分球的出光口與所述偵檢器。
7. 如權(quán)利要求l所述的鏡片光反射率檢測裝置,其特征在于,所述 移動平臺由一預(yù)設(shè)的程序自動控制進(jìn)行位移及定位。
8.如權(quán)利要求l所述的鏡片光反射率檢測裝置,其特征在于,所述 移動平臺開設(shè)有凹槽以容置所述待測鏡片,所述移動平臺用于移動所述待測鏡片以相對所述 積分球移動。
9.如權(quán)利要求l所述的鏡片光反射率檢測裝置,其特征在于,所述 移動平臺具有一收容部用于收容所述積分球,所述移動平臺用于移動所述積分球以相對所述 待測鏡片移動。
10. 一種鏡片組裝設(shè)備,其包括一如權(quán)利要求1至9項中任一項所述的 鏡片光反射率檢測裝置。
全文摘要
一種鏡片光反射率檢測裝置,其包括一具有一樣品口及一出光口的積分球,該樣品口及出光口分別用于放置待測鏡片及出射所述待測鏡片反射的光線;一用于發(fā)出一定波長范圍光束的光源裝置,該光束通過所述積分球投射至所述待測鏡片表面;一用于使所述待測鏡片與所述積分球相對移動的移動平臺;一包括一感光元件以用于偵檢自所述積分球出射的光線并轉(zhuǎn)換為一待比較信號的偵檢器,該感光元件選自電荷偶合裝置及互補金屬氧化物半導(dǎo)體之一;一用于比較投射至所述待測鏡片的光束的信號強(qiáng)度與所述偵檢器偵檢到的待比較信號強(qiáng)度的處理器,以得出所述待測鏡片的光反射率。本發(fā)明還提供一集成有上述的鏡片光反射率檢測裝置的鏡片組裝設(shè)備。
文檔編號G01M11/00GK101221087SQ20071020002
公開日2008年7月16日 申請日期2007年1月9日 優(yōu)先權(quán)日2007年1月9日
發(fā)明者趙大翔, 黃寬德 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
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