專(zhuān)利名稱(chēng)：電連接器測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試系統(tǒng)，尤其涉一種電連接器測(cè)試系統(tǒng)。
技術(shù)背景電連接器廣泛地應(yīng)用計(jì)算機(jī)、個(gè)人數(shù)字助理、筆記本電腦、移動(dòng)電話等電子產(chǎn)品中，用 于提供電子裝置之間的電性連接及信號(hào)傳輸。為了確保產(chǎn)品性能及品質(zhì)，在電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階 段需反復(fù)測(cè)試電連接器的連接性能。通常地，用于測(cè)試電連接器的測(cè)試系統(tǒng)包括電路板和測(cè)試儀器，待測(cè)電連接器固定于該 電路板上。待測(cè)電連接器通常包括絕緣殼體及與若干導(dǎo)電端子，絕緣殼體具有一空腔，導(dǎo)電 端子被收容于空腔。其中，導(dǎo)電端子的一端與電路板電性連接，另一端裸露于空腔中。測(cè)試 儀器具有夾式和探針式兩種測(cè)試頭。測(cè)試時(shí)，將夾式測(cè)試頭或探針式測(cè)試頭插入電連接器的 空腔中，并分別夾住或接觸導(dǎo)電端子裸露于空腔中的一端，使導(dǎo)電端子和測(cè)試頭電性連接， 從而建立待測(cè)電連接器的導(dǎo)電端子與測(cè)試儀器之間的電連接關(guān)系；接著在電路板上加電平信 號(hào)，即可以在待測(cè)電連接器的導(dǎo)電端子上輸出相應(yīng)的信號(hào)；然后執(zhí)行測(cè)試。采用上述測(cè)試系統(tǒng)，當(dāng)使用夾式測(cè)試頭時(shí)，由于待測(cè)電連接器的導(dǎo)電端子排列比較緊湊 ，導(dǎo)電端子間距較小，不容易準(zhǔn)確地夾住。而當(dāng)使用上述探針式測(cè)試頭時(shí)， 一方面探針式測(cè) 試頭往往會(huì)在導(dǎo)電端子上打滑，從而會(huì)造成不同程度的干擾信號(hào)。另外，使用上述兩種測(cè)試 方式稍有不慎還會(huì)使導(dǎo)電端子短接，從而對(duì)待測(cè)電連接器產(chǎn)生誤測(cè)。發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，有必要提供一種準(zhǔn)確地測(cè)試電連接器的電連接器測(cè)試系統(tǒng)。一種電連接器測(cè)試系統(tǒng)，包括用于測(cè)試待測(cè)電連接器的測(cè)試儀器，待測(cè)電連接器具有若 干導(dǎo)電端子，測(cè)試儀器具有測(cè)試頭，測(cè)試頭與導(dǎo)電端子電性連通，電連接器測(cè)試系統(tǒng)還包括 一連接裝置，連接裝置包括第一連接元件及與若干第二連接元件，第一連接元件包括絕緣殼 體及容置于絕緣殼體中的若干導(dǎo)電體，每一導(dǎo)電體與待測(cè)電連接器的一個(gè)導(dǎo)電端子對(duì)應(yīng)電性 連接，每一第二連接元件可以電性連接測(cè)試頭和對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電體。上述電連接器測(cè)試系統(tǒng)由于使用了連接裝置，而不需要將測(cè)試頭與待測(cè)試電連接器的導(dǎo) 電端子直接接觸，避免了導(dǎo)電端子短接而產(chǎn)生誤測(cè)。


圖l為一較佳實(shí)施方式的電連接器測(cè)試系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)圖。 圖2為圖1所示連接裝置立體分解圖。 圖3為圖2所示第一連接元件的立體分解圖。
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參看圖l， 一較佳實(shí)施方式的電連接器測(cè)試系統(tǒng)100，包括電路板50、測(cè)試儀器20及連 接裝置30。其中，待測(cè)電連接器10固定于電路板50上。待測(cè)電連接器10具有若干導(dǎo)電端子 12，其一端與電路板50電性連通。測(cè)試儀器20具有探針式測(cè)試頭22。連接裝置30包括第一連接元件32和兩個(gè)第二連接元件34。第一連接元件32電性連接導(dǎo)電 端子12，每一第二連接元件34都分別電性連接至第一連接元件32以及測(cè)試頭22。即導(dǎo)電端子 12和測(cè)試頭22可以通過(guò)連接裝置30的第一連接元件32及第二連接元件34建立電性連通。請(qǐng)結(jié)合參看圖2及圖3，第一連接元件32包括兩個(gè)導(dǎo)電體36和絕緣殼體38。絕緣殼體38并 排設(shè)有兩個(gè)收容孔40。導(dǎo)電體36則與收容孔40對(duì)應(yīng)排配，并容置于對(duì)應(yīng)的收容孔40中。每一導(dǎo)電體36包括一體形成的對(duì)接部42和轉(zhuǎn)接部44。對(duì)接部42用于與導(dǎo)電端子12對(duì)接， 其包括一連接轉(zhuǎn)接部44的底板420。自底板420的兩側(cè)向上延伸出兩側(cè)板422和424，且側(cè)板 422和424靠近轉(zhuǎn)接部44的一端與底板420之間設(shè)置有狹縫426，從而形成懸空的接觸臂428a和 428b。接觸臂428a和428b相對(duì)折彎設(shè)置而呈燕尾狀。當(dāng)導(dǎo)電端子12與對(duì)接部32對(duì)接而插入接 觸臂428a和428b相對(duì)折彎處時(shí)，接觸臂428a和428b相背移動(dòng)而彈性張開(kāi)一定角度，從而使接 觸臂428a和428b的折彎處彈性?shī)A住導(dǎo)電端子12，利于對(duì)接部42與待測(cè)電連接器10的導(dǎo)電端子 12穩(wěn)定接觸。轉(zhuǎn)接部44呈圓筒狀，其包括圓周壁440及形成于圓周壁440內(nèi)圓周面的收容腔442。圓周 壁440沿著中心軸線開(kāi)設(shè)與收容腔442相通的缺口444，使圓周壁440可以隨著缺口444的向外 擴(kuò)張而產(chǎn)生彈性形變。絕緣殼體38基本呈長(zhǎng)方體，其設(shè)有一凹陷頸部380從而把絕緣殼體38分割成長(zhǎng)短不相同 的第一端部382及第二端部384。兩個(gè)收容孔40分別貫穿于整個(gè)絕緣殼體38，具體地，每一收 容孔40由貫穿于第一端部382及頸部380的方形孔及第二端部384的圓形孔組成。每一收容孔 40容置一個(gè)導(dǎo)電體36，并且收容孔40的方形孔和圓形孔分別與每個(gè)導(dǎo)電體36的對(duì)接部42和轉(zhuǎn) 接部44的對(duì)應(yīng)，也就是說(shuō)收容孔40的內(nèi)部形狀與導(dǎo)電體36的形狀相匹配，從而減小第一元件 32的體積并更好地固定導(dǎo)電體36。另外，各個(gè)收容孔40之間留有間隙386，使各收容孔40之 間互不連通，從而分隔導(dǎo)電體36，進(jìn)而使各導(dǎo)電體36之間不連通。每一第二連接元件34分別與一對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電體36電性連接。第二連接元件34包括導(dǎo)線340，以及設(shè)于導(dǎo)線340兩端的插接頭342及導(dǎo)體件344。插接頭342為圓柱體，并插入收容腔442 中，且其直徑比收容腔442的內(nèi)徑稍大。當(dāng)插接頭342插入收容腔442時(shí)，因?yàn)椴褰宇^342的 直徑比收容腔442的內(nèi)徑大，所以缺口444被迫向外擴(kuò)張而使圓周壁440發(fā)生彈性形變，從而 使插接頭342的外表面與圓周壁440的內(nèi)圓周面緊密配合，利于第二連接元件34與導(dǎo)電體36可 靠地電性連接。導(dǎo)體件344設(shè)有插孔346，在本實(shí)施例中，因?yàn)闇y(cè)試頭22為探針式，所以將測(cè) 試頭22插入插孔346中，即可以使測(cè)試頭22與導(dǎo)體件344電性連通，并防止測(cè)試頭22在導(dǎo)體件 344上發(fā)生滑動(dòng)。應(yīng)用電連接器測(cè)試系統(tǒng)100測(cè)試待測(cè)電連接器10時(shí)，首先將第一連接元件32與待測(cè)電連 接器10的導(dǎo)電端子12對(duì)接，也就是使導(dǎo)電端子12插入導(dǎo)電體36的對(duì)接部42中，并通過(guò)接觸臂 428a和428b的燕尾狀結(jié)構(gòu)固定住導(dǎo)電端子12;接著將第二連接元件34連接至第一連接元件 32，也就是使第二連接元件34的插接頭342插入對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電體36的轉(zhuǎn)接部44，并與收容腔442 接合；最后將第二連接元件34連接至測(cè)試頭22，也就是使測(cè)試頭22插入導(dǎo)體件344的插孔346 中，從而使得導(dǎo)電端子12通過(guò)連接裝置30的第一連接元件32及第二連接元件34與測(cè)試頭22建 立電性連通，即可以對(duì)待測(cè)電連接器lO進(jìn)行測(cè)試?？梢岳斫?，在其它實(shí)施例中，插接頭342可以為方柱體或其它形狀，而收容腔442設(shè)置成 相應(yīng)的方柱狀或其它形狀，即使得收容腔442的形狀與插接頭342的外表形狀相匹配，從而可 以確保第一連接元件32和第二連接元件34可靠地電性連接。另外，在其它實(shí)施例中，測(cè)試頭 22可能為夾式測(cè)試頭，應(yīng)將測(cè)試頭22夾住導(dǎo)體件344，即可以使測(cè)試頭22與導(dǎo)體件344電性連 通。在本實(shí)施例中，因?yàn)榈谝贿B接元件32設(shè)置了兩個(gè)導(dǎo)電體36和相同數(shù)目的第二連接元件 34，所以一次可測(cè)試待測(cè)電連接器10的兩個(gè)導(dǎo)電端子12。在其它實(shí)施例中，也可以根據(jù)待測(cè) 電連接器10的導(dǎo)電端子12數(shù)目，設(shè)置相同數(shù)目的導(dǎo)電體36，并依據(jù)待測(cè)電連接器10的類(lèi)型， 可以有相同數(shù)目或少于該數(shù)目的第二連接元件34。由此，對(duì)于每個(gè)導(dǎo)電端子12都有一個(gè)對(duì)應(yīng) 的導(dǎo)電體36，但對(duì)于每個(gè)導(dǎo)電體36并不是都有一個(gè)對(duì)應(yīng)的第二連接元件34，即由于每個(gè)導(dǎo)電 端子32不總是需要測(cè)試，因此第二連接元件34僅選擇與需要測(cè)試的導(dǎo)電端子12所對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電 體36電性相連，從而一次可以測(cè)試全部的或部分的導(dǎo)電端子12 。綜上所述，電連接器測(cè)試系統(tǒng)100中應(yīng)用了連接裝置30，由于第一連接元件32具有絕緣 外殼38以及絕緣外殼38的收容孔40互不連通，確保了測(cè)試時(shí)待測(cè)電連接器10的導(dǎo)電端子12不 會(huì)產(chǎn)生短接；此外，第二連接器34的導(dǎo)體件344上設(shè)有插孔346，可以將探針式測(cè)試頭22插入 插孔346中，避免在測(cè)試過(guò)程中用手捏拿探針式測(cè)試頭22探測(cè)信號(hào)的現(xiàn)象。因此，使用上述連接裝置30可以準(zhǔn)確而方便地對(duì)待測(cè)電連接器10進(jìn)行測(cè)試，提高了測(cè)試效率。
權(quán)利要求
1. 一種電連接器測(cè)試系統(tǒng)，包括用于測(cè)試待測(cè)電連接器的測(cè)試儀器，所述待測(cè)電連接器具有若干導(dǎo)電端子，所述測(cè)試儀器具有測(cè)試頭，所述測(cè)試頭與所述導(dǎo)電端子電性連通，其特征在于所述電連接器測(cè)試系統(tǒng)還包括一連接裝置，所述連接裝置包括第一連接元件及與若干第二連接元件，所述第一連接元件包括絕緣殼體及容置于所述絕緣殼體中的若干導(dǎo)電體，每一導(dǎo)電體與所述待測(cè)電連接器的一個(gè)導(dǎo)電端子對(duì)應(yīng)電性連接，每一第二連接元件可以電性連接所述測(cè)試頭和對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電體。
2.如權(quán)利要求l所述的電連接器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述絕緣殼 體并排設(shè)有若干貫穿于所述絕緣殼體收容孔，每個(gè)收容孔容置一個(gè)導(dǎo)電體。
3.如權(quán)利要求2所述的電連接器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述導(dǎo)電體 包括一體形成的對(duì)接部及轉(zhuǎn)接部，所述對(duì)接部具有相對(duì)折彎設(shè)置的兩接觸臂用于彈性?shī)A住所 述待測(cè)電連接器的導(dǎo)電端子，所述轉(zhuǎn)接部可以與所述第二連接元件電性連接。
4.如權(quán)利要求3所述的電連接器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述第二連 接元件包括導(dǎo)線以及設(shè)于該導(dǎo)線兩端的插接頭和導(dǎo)體件，所述插接頭與所述轉(zhuǎn)接部插接，所 述導(dǎo)體件與所述測(cè)試頭電性連接。
5.如權(quán)利要求4所述的電連接器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述轉(zhuǎn)接部 和所述插接頭包括相互配合插接的插槽和插頭。
6.如權(quán)利要求4所述的電連接器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述轉(zhuǎn)接部 和所述插接頭包括相互配合插接的插頭和插槽。
7.如權(quán)利要求4所述的電連接器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述轉(zhuǎn)接部 為一圓筒，所述插接頭為一圓柱。
8.如權(quán)利要求7所述的電連接器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述圓筒沿 著其圓周壁的軸線開(kāi)設(shè)一缺口。
9.如權(quán)利要求8所述的電連接器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述圓柱的 直徑大于所述圓筒的內(nèi)徑。
10.如權(quán)利要求4所述的電連接器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述導(dǎo)體 件上設(shè)有一插孔，所述測(cè)試頭插入所述插孔中。
全文摘要
一種電連接器測(cè)試系統(tǒng)，包括用于測(cè)試待測(cè)電連接器的測(cè)試儀器，待測(cè)電連接器具有若干導(dǎo)電端子，測(cè)試儀器具有測(cè)試頭，測(cè)試頭與導(dǎo)電端子電性連通，電連接器測(cè)試系統(tǒng)還包括一連接裝置，連接裝置包括第一連接元件及與若干第二連接元件，第一連接元件包括絕緣殼體及容置于絕緣殼體中的若干導(dǎo)電體，每一導(dǎo)電體與待測(cè)電連接器的一個(gè)導(dǎo)電端子對(duì)應(yīng)電性連接，每一第二連接元件可以電性連接測(cè)試頭和對(duì)應(yīng)的導(dǎo)電體。
文檔編號(hào)G01R31/327GK101281233SQ20071020040
公開(kāi)日2008年10月8日 申請(qǐng)日期2007年4月5日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月5日
發(fā)明者張小波, 李軍杰, 翁世芳 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司