專利名稱：內(nèi)部集成電路總線接口測試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種內(nèi)部集成電路總線接口測試系統(tǒng)及方法。
技術(shù)背景提高和保證產(chǎn)品質(zhì)量，是企業(yè)活動中的重要內(nèi)容。為了提高和保證產(chǎn)品質(zhì)量，企業(yè)必須 對產(chǎn)品實(shí)施測試以獲得產(chǎn)品及其制造過程的質(zhì)量信息，按照這些信息對產(chǎn)品的制造過程實(shí)施 控制——進(jìn)行修正和補(bǔ)償活動，使廢次品與返修品率降到最低程度，最終保證產(chǎn)品質(zhì)量形成 過程的穩(wěn)定性及其產(chǎn)出產(chǎn)品的一致性。眾所周知，由于內(nèi)部集成電路總線(I2C: Inter — Integrated Circuit)簡單性和有效 性以及其接口直接在組件之上，12C總線占用的空間非常小，減少了電路板的空間和芯片管 腳的數(shù)量，降低了互聯(lián)成本。因此，在個人計(jì)算機(jī)(PC: Personal Computer)上安裝有 12C接口越來越廣泛。另外，由于通用串行總線(USB: Universal Serial Bus)允許外設(shè)在 開機(jī)狀態(tài)下熱插拔，最多可串接127個外設(shè)，傳輸速度可達(dá)480MB/S，且向低壓設(shè)備提供5伏 電源，同時可以減少個人計(jì)算機(jī)(PC: Personal Computer) 1/0接口數(shù)量，因此在PC上幾乎 都安裝有USB接口。目前，在對I2C接口進(jìn)行測試時，都是單獨(dú)對其進(jìn)行測試，而不能在USB接口測試合格之 后，通過USB接口發(fā)送的信號對I2C接口進(jìn)行測試。如此既費(fèi)時又耗資，測試成本增加。 發(fā)明內(nèi)容鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種內(nèi)部集成電路總線接口測試系統(tǒng)，其可以通過通用串行 總線接口發(fā)送的信號對內(nèi)部集成電路總線接口進(jìn)行測試。鑒于以上內(nèi)容，還有必要提供一種內(nèi)部集成電路總線接口測試方法，其可以通過通用串 行總線接口發(fā)送的信號對內(nèi)部集成電路總線接口進(jìn)行測試。一種內(nèi)部集成電路總線接口測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括主機(jī)及信號轉(zhuǎn)換設(shè)備，所述主機(jī)包括 通用串行總線控制器、通用串行總線接口、串行存在探測芯片及內(nèi)部集成電路總線接口，所 述信號轉(zhuǎn)換設(shè)備用于將通用串行總線信號轉(zhuǎn)換成內(nèi)部集成電路總線信號，所述主機(jī)還包括 啟動模塊，用于主機(jī)中的啟動通用串行總線控制器，使其產(chǎn)生通用串行總線信號；傳送模塊 ，用于將上述產(chǎn)生的通用串行總線信號通過通用串行總線接口傳送給與主機(jī)相連的信號轉(zhuǎn)換 設(shè)備；所述傳送模塊，還用于將信號轉(zhuǎn)換設(shè)備轉(zhuǎn)換成的內(nèi)部集成電路總線信號通過內(nèi)部集成 電路總線接口傳送給串行存在探測芯片；判斷模塊，用于判斷所述內(nèi)部集成電路總線的信號 是否能對串行存在探測芯片進(jìn)行操作以確定內(nèi)部集成電路總線接口測試是否通過。一種內(nèi)部集成電路總線接口測試方法，該方法包括如下步驟啟動主機(jī)中的通用串行總 線控制器，使其產(chǎn)生通用串行總線信號；將所述通用串行總線信號通過通用串行總線接口傳 送給與主機(jī)相連的信號轉(zhuǎn)換設(shè)備；信號轉(zhuǎn)換設(shè)備將接收到的通用串行總線信號轉(zhuǎn)換成內(nèi)部集 成電路總線信號；將該內(nèi)部集成電路總線信號通過內(nèi)部集成電路總線接口傳送給主機(jī)中的串 行存在探測芯片；判斷所述內(nèi)部集成電路總線信號是否能對串行存在探測芯片進(jìn)行操作以確 定內(nèi)部集成電路總線接口測試是否通過。相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述的內(nèi)部集成電路總線接口測試系統(tǒng)及方法，其可以在USB接口測 試合格之后，通過USB接口發(fā)送的信號對I2C接口進(jìn)行測試，節(jié)約測試成本及測試時間。


圖1是本發(fā)明內(nèi)部集成電路總線接口測試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的硬件架構(gòu)圖。 圖2是圖1中所示主機(jī)的功能模塊圖。圖3是本發(fā)明內(nèi)部集成電路總線接口測試方法較佳實(shí)施例的流程圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示，是本發(fā)明內(nèi)部集成電路總線接口測試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的系統(tǒng)架構(gòu)圖。該系 統(tǒng)主要包括主機(jī)l、信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6及顯示設(shè)備7。所述主機(jī)l中包含有通用串行總線(USB: Universal Serial Bus)控制器2、通用串行總線接口3、串行存在探測(SPD: Serial Presence Detect)芯片4、內(nèi)部集成電路總線(I2C: Inter —Integrated Circuit)接口5 。所述USB控制器2通過USB接口3連接信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6，該信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6通過I2C接口5連接 SPD芯片4。所述主機(jī)1還連接有顯示設(shè)備7。所述USB控制器2用于通過USB接口3發(fā)出信號，通常USB控制器2集成在主機(jī)1的南橋芯片上。所述SPD芯片4用于保存內(nèi)存模組的配置信息(速度、容量、電壓與行、列地址帶寬等參 數(shù)信息)，所述配置信息存放在一個容量為256字節(jié)的EEPR0M (Electrically Erasable Programmable Read Only Memory,電擦除可編程只讀存儲器)中，并與I2C接口5相連。所述主機(jī)1用于將USB控制器2發(fā)出的USB信號通過USB接口3傳送給信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6。所述信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6用于將接收到的USB信號轉(zhuǎn)換成I2C的信號。所述主機(jī)1還用于將信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6轉(zhuǎn)換的I2C通過I2C接口5傳送給SPD芯片4，通過轉(zhuǎn)換 的I2C信號是否能對SPD芯片4進(jìn)行操作判斷I2C接口5是否合格。 所述信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6用于將USB的信號轉(zhuǎn)換成I2C的信號。所述顯示設(shè)備7用于顯示測試的結(jié)果。所述的顯示設(shè)備7可以是顯示器，也可以是其它任 意合適顯示裝置。如圖2所示，是圖l中所示主機(jī)l的功能模塊圖。所述主機(jī)1包括啟動模塊210、傳送模塊 211、判斷模塊212、顯示模塊213。本發(fā)明所稱的模塊是完成一特定功能的計(jì)算機(jī)程序段， 比程序更適合于描述軟件在計(jì)算機(jī)中的執(zhí)行過程，因此在本發(fā)明以下對軟件描述中都以模塊 描述。其中，所述啟動模塊210用于啟動USB控制器2，使其產(chǎn)生USB信號。所述USB控制器用于 對USB接口發(fā)出信號，通常USB控制器集成在主機(jī)1的南橋芯片上。所述傳送模塊211用于將USB控制器2產(chǎn)生的USB信號通過USB接口3傳送給信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6 。該信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6將該USB的信號轉(zhuǎn)換成I2C的信號。所述傳送模塊211還用于將信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6轉(zhuǎn)換成的I2C信號通過I2C接口5傳送給SPD芯片4 所述判斷模塊212用于判斷所述I2C的信號是否能對SPD芯片4進(jìn)行操作。所述的操作是指 12C的信號對SPD芯片4上的信息進(jìn)行讀取或者修改，例如讀取SPD芯片4上的電壓。所述顯示模塊213用于當(dāng)所述I2C的信號能對SPD芯片4進(jìn)行操作時，在與主機(jī)l相連的顯 示設(shè)備7上顯示I2C接口5測試通過。具體而言，若USB控制器2發(fā)出是讀取SPD芯片4上電壓的 USB信號，信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6轉(zhuǎn)換該信號為I2C信號，之后通過I2C接口傳給SPD芯片4，而經(jīng)過轉(zhuǎn) 換的I2C信號能夠讀取SPD芯片4上的電壓，表明通過I2C接口5進(jìn)行信號傳輸正常，則所述的 12C接口5合格，顯示設(shè)備7上顯示I2C接口5測試"PASS"。所述顯示模塊213還用于當(dāng)所述I2C的信號不能對SPD芯片4進(jìn)行操作時，在與主機(jī)l相連 的顯示設(shè)備7上顯示I2C接口5測試異常。具體而言，若USB控制器2發(fā)出是讀取SPD芯片4上電 壓的USB信號，信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6轉(zhuǎn)換該信號為I2C信號，之后通過I2C接口5傳給SPD芯片4，而 經(jīng)過轉(zhuǎn)換的I2C信號不能夠讀取SPD芯片4上的電壓，表明通過I2C接口5進(jìn)行信號傳輸異常， 則所述的I2C接口5不合格，顯示設(shè)備7上顯示I2C接口5測試"FAIL"。如圖3所示，是本發(fā)明內(nèi)部集成電路總線接口測試方法較佳實(shí)施例的流程圖。步驟SIO，首先，啟動模塊210啟動USB控制器2，使其產(chǎn)生USB信號。所述USB控制器2用 于通過USB接口3發(fā)出信號， 一般而言，USB控制器2集成在主機(jī)1的南橋芯片上。步驟Sll，傳送模塊211將USB控制器2產(chǎn)生的USB信號通過USB接口3傳送給信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6 步驟S12，信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6把接收到的USB信號轉(zhuǎn)換成I2C信號。步驟S13，傳送模塊211將信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6轉(zhuǎn)換成的I2C信號通過I2C接口5傳送給SPD芯片4 步驟S14，判斷模塊212判斷所述I2C的信號是否能對SPD芯片4進(jìn)行操作。所述的操作是 指I2C的信號對SPD芯片4上的信息進(jìn)行讀取或者修改，例如讀取SPD芯片4上的電壓。步驟S15，當(dāng)所述I2C的信號能對SPD芯片4進(jìn)行操作時，在與主機(jī)1相連的顯示設(shè)備7上顯 示I2C接口5測試通過。具體而言，若USB控制器2發(fā)出是讀取SPD芯片4上電壓的USB信號，信 號轉(zhuǎn)換設(shè)備6轉(zhuǎn)換該信號為I2C信號，之后通過I2C接口5傳給SPD芯片4，而經(jīng)過轉(zhuǎn)換的I2C信 號能夠讀取SPD芯片4上的電壓，表明通過I2C接口5進(jìn)行信號傳輸正常，則所述的I2C接口5合 格，顯示設(shè)備7上顯示I2C接口測試"PASS"。步驟S16，當(dāng)所述I2C的信號不能對SPD芯片4進(jìn)行操作時，在與主機(jī)1相連的顯示設(shè)備7上 顯示I2C接口5測試異常。具體而言，若USB控制器2發(fā)出是讀取SPD芯片4上電壓的USB信號， 信號轉(zhuǎn)換設(shè)備6轉(zhuǎn)換該信號為I2C信號，之后通過I2C接口5傳給SPD芯片4，而經(jīng)過轉(zhuǎn)換的I2C 信號不能夠讀取SPD芯片4上的電壓，表明通過I2C接口5進(jìn)行信號傳輸異常，則所述的I2C接 口5不合格，顯示設(shè)備7上顯示I2C接口5測試"FAIL"。本發(fā)明所述的內(nèi)部集成電路總線接口測試系統(tǒng)及方法利用依次連接的顯示設(shè)備、主機(jī)、 信號轉(zhuǎn)換設(shè)備及主機(jī)上的通用串行總線控制器、通用串行總線接口、串行存在探測芯片判斷 主機(jī)上的內(nèi)部集成電路總線接口是否合格，以達(dá)到測試內(nèi)部集成電路總線接口的功能。最后所應(yīng)說明的是，以上實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照以上 較佳實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對本發(fā)明的技 術(shù)方案進(jìn)行修改或等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
權(quán)利要求1一種內(nèi)部集成電路總線接口測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括主機(jī)及信號轉(zhuǎn)換設(shè)備，所述主機(jī)包括通用串行總線控制器、通用串行總線接口、串行存在探測芯片及內(nèi)部集成電路總線接口，所述信號轉(zhuǎn)換設(shè)備用于將通用串行總線信號轉(zhuǎn)換成內(nèi)部集成電路總線信號，其特征在于，所述主機(jī)還包括啟動模塊，用于主機(jī)中的啟動通用串行總線控制器，使其產(chǎn)生通用串行總線信號；傳送模塊，用于將上述產(chǎn)生的通用串行總線信號通過通用串行總線接口傳送給與主機(jī)相連的信號轉(zhuǎn)換設(shè)備；所述傳送模塊，還用于將信號轉(zhuǎn)換設(shè)備轉(zhuǎn)換成的內(nèi)部集成電路總線信號通過內(nèi)部集成電路總線接口傳送給串行存在探測芯片；及判斷模塊，用于判斷所述內(nèi)部集成電路總線的信號是否能對串行存在探測芯片進(jìn)行操作以確定內(nèi)部集成電路總線接口測試是否通過。
2.如權(quán)利要求l所述的內(nèi)部集成電路總線接口測試系統(tǒng)，其特征在于 ，所述通用串行總線控制器集成在主機(jī)的南橋芯片上。
3.如權(quán)利要求l所述的內(nèi)部集成電路總線接口測試系統(tǒng)，其特征在于 ，所述主機(jī)還包括顯示模塊，所述顯示模塊用于當(dāng)所述內(nèi)部集成電路總線的信號能對串行存 在探測芯片進(jìn)行操作時，在與主機(jī)相連的顯示設(shè)備上顯示內(nèi)部集成電路總線接口測試通過， 當(dāng)所述內(nèi)部集成電路總線的信號不能對串行存在探測芯片進(jìn)行操作時，在與主機(jī)相連的顯示 設(shè)備上顯示內(nèi)部集成電路總線接口測試異常。
4.一種內(nèi)部集成電路總線接口測試方法，其特征在于，該方法包括如下步驟啟動主機(jī)中的通用串行總線控制器，使其產(chǎn)生通用串行總線信號； 將所述通用串行總線信號通過通用串行總線接口傳送給與主機(jī)相連的信號轉(zhuǎn)換設(shè)備； 信號轉(zhuǎn)換設(shè)備將接收到的通用串行總線信號轉(zhuǎn)換成內(nèi)部集成電路總線信號； 將該內(nèi)部集成電路總線信號通過內(nèi)部集成電路總線接口傳送給主機(jī)中的串行存在探測芯片；及判斷所述內(nèi)部集成電路總線信號是否能對串行存在探測芯片進(jìn)行操作以確定內(nèi)部集成 電路總線接口測試是否通過。
5.如權(quán)利要求4所述的內(nèi)部集成電路總線接口測試方法，其特征在于 ，所述串行總線控制器集成在主機(jī)的南橋芯片上。
6.如權(quán)利要求4所述的內(nèi)部集成電路總線接口測試方法，其特征在于 ，該方法還包括步驟當(dāng)所述內(nèi)部集成電路總線的信號能對串行存在探測芯片進(jìn)行操作時，在與主機(jī)相連的 顯示設(shè)備上顯示內(nèi)部集成電路總線接口測試通過；當(dāng)所述內(nèi)部集成電路總線的信號不能對串行存在探測芯片進(jìn)行操作時，在與主機(jī)相連 的顯示設(shè)備上顯示內(nèi)部集成電路總線接口測試異常。
全文摘要
一種內(nèi)部集成電路總線接口測試方法，該方法包括如下步驟啟動主機(jī)中的通用串行總線控制器，使其產(chǎn)生通用串行總線信號；將所述通用串行總線信號通過通用串行總線接口傳送給與主機(jī)相連的信號轉(zhuǎn)換設(shè)備；信號轉(zhuǎn)換設(shè)備將接收到的通用串行總線信號轉(zhuǎn)換成內(nèi)部集成電路總線信號；將該內(nèi)部集成電路總線信號通過內(nèi)部集成電路總線接口傳送給主機(jī)中的串行存在探測芯片；判斷所述內(nèi)部集成電路總線信號是否能對串行存在探測芯片進(jìn)行操作以確定內(nèi)部集成電路總線接口測試是否通過。另外，本發(fā)明還提供一種內(nèi)部集成電路總線接口測試系統(tǒng)。
文檔編號G01R31/28GK101398467SQ20071020185
公開日2009年4月1日 申請日期2007年9月26日 優(yōu)先權(quán)日2007年9月26日
發(fā)明者翼 廖, 彭朝東, 陳軍民 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司