專利名稱：電壓突波測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
電壓突波測試裝置技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是一種電壓突波測試裝置，特別是一種可產(chǎn)生間隙性電壓突波 的電壓突波測試裝置。背景技術(shù)：
當(dāng)電源所接負(fù)載設(shè)備中，附近高電流的設(shè)備在關(guān)機(jī)后，在電力的運(yùn)送中會造 成慣性的電壓突波。 一般計算機(jī)或精密設(shè)備均有設(shè)計一定的電壓范圍，以接受此 種狀況之發(fā)生。但若此電壓突波超過所設(shè)范圍將會損壞設(shè)備組件(例如風(fēng)扇)而 導(dǎo)致故障與壽命減短。因此，對設(shè)備組件的耐突波能力測試顯得非常重要，但目前的測試裝置屮 并未涉及耐突波的測試。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種可產(chǎn)生間隙性電壓突波的電壓突波測 試裝置。為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型提供一種電壓突波測試裝置，其電性連接一設(shè)備組 件以測試該設(shè)備組件的耐突波能力，且該電壓突波測試裝置包括一第一電壓輸 入端及一控制模塊，且該控制模塊具有一電壓控制端，且該電壓控制端間隙性 輸出高電壓與低電壓；該控制模塊電性連接一第一場效應(yīng)晶體管，且該第--場 效應(yīng)晶體管設(shè)有一第一柵極、 一第一源極及一第一漏極，其中，該第一柵極電 性連接電壓控制端，該第一源極接地，第一漏極電性連接一分壓電阻的一端； 而該分壓電阻的另一端電性連接一第二電壓輸入端；且該第一場效應(yīng)晶體管電 性連接一第二場效應(yīng)晶體管，且該第二場效應(yīng)晶體管設(shè)有一第二柵極、一第二 源極及一第二漏極，其中，第二柵極電性連接第一漏極，第二源極電性連接第 二電壓輸入端，第二漏極電性連接一壓控開關(guān)的負(fù)極，而該壓控開關(guān)的正極電 性連接第一電壓輸入端。另，該第二漏極電性連接一電壓輸出端，且該電壓輸 出端電性連接該設(shè)備組件的輸入端。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型可產(chǎn)生間隙性電壓突波，當(dāng)電壓控制端為高 電壓時，第一場效應(yīng)晶體管與第二場效應(yīng)晶體管均為斷開狀態(tài)，此時，電壓輸 出端輸出的電壓來自第一電壓輸入端；而當(dāng)電壓控制端為低電壓時，第一場效 應(yīng)晶體管與第二場效應(yīng)晶體管均為導(dǎo)通狀態(tài)，電壓輸出端的電壓來自第二電壓 輸入端；因此，電壓輸出端的電壓即為二種電壓的交替，可作為設(shè)備組件的突 波測試電壓，從而滿足測試的要求。

圖1為本實(shí)用新型電壓突波測試裝置的電路圖。
具體實(shí)施方式
請參閱圖1所示，本實(shí)用新型電壓突波測試裝置電性連接一設(shè)備組件80(例 如風(fēng)扇)以測試該設(shè)備組件80的耐突波能力，且該電壓突波測試裝置包括一第 一電壓輸入端11及一控制模塊20，于本實(shí)施例中，該控制模塊20為SOW芯片， 且該控制模塊20包括-一電源端22及至少 -電壓控制端21 (該控制模塊20共設(shè) 有二十四個電壓控制端21,可同步測試二十四個設(shè)備組件80)，其中，該電源 端22可電性連接一外部電源，也可間接地電性連接第一電壓輸入端U;而該電 壓控制端21間隙性輸出高電壓與低電壓；于本實(shí)施例中，該控制模塊20的電 壓控制端21電性連接一上拉電阻31的一端，而該上拉電阻31的另一端電性連 接-—第一二極管32的負(fù)極，而該第一二極管32的正極電性連接第一電壓輸入 端11及控制模塊20的電源端22。該控制模塊20電性連接--第一場效應(yīng)品體管 40，且該第一場效應(yīng)晶體管40設(shè)有一第一柵極41、 一第一源極42及一第一漏 極43，其中，該第一柵極41電性連接電壓控制端21，該第一源極42接地，第 一漏極43電性連接一分壓電阻50的一端；而該分壓電阻50的另一端電性連接 一第二電壓輸入端12; &該第一場效應(yīng)晶體管40電性連接--第二場效應(yīng)晶體管 60，且該第二場效應(yīng)晶體管60設(shè)有一第二柵極61、 一第二源極62及一第二漏 極63，其中，第二柵極61電性連接第一漏極43。且第二源極62電性連接該第 二電壓輸入端12;于本實(shí)施例中，第二源極62與第二電壓輸入端12之間串聯(lián) 一單向?qū)K90(該單向?qū)K90由六個第二二極管91同向串聯(lián)而成)， 且該單向?qū)K90的正輸入端電性連接第二電壓輸入端12，而該爭向?qū)?塊90的負(fù)輸入端電性連接第二源極62。而第二漏極63電性連接一壓控開關(guān):W 的負(fù)極，而該壓控開關(guān)33的正極電性連接第一電壓輸入端11;于本實(shí)施例中， 該壓控開關(guān)33為二極管，且該二極管的正極電性連接第一電壓輸入端11，而該 二極管的負(fù)極電性連接第二漏極63。且該第二漏極6:i電性連接一電壓輸出端 70，且該電壓輸出端70電性連接該設(shè)備組件80的輸入端。當(dāng)電壓控制端21為高電壓時，第一場效應(yīng)晶體管40與第二場效應(yīng)晶體管 60均為斷開狀態(tài)，此時，電壓輸出端70輸出的電壓來自第一電壓輸入端11: 而當(dāng)電壓控制端21為低電壓時，第一場效應(yīng)晶體管40與第二場效應(yīng)晶體管60 均為導(dǎo)通狀態(tài)，電壓輸出端70的電壓來自第二電壓輸入端12;因此，電壓輸出 端70的電壓即為二種電壓的交替，可作為設(shè)備組件80的突波測試電壓?，F(xiàn)舉一實(shí)例加以說明，設(shè)備組件80的工作電壓設(shè)為5-7.8V，上拉電阻31 及分壓電阻50的阻值設(shè)為10K歐姆，且第一二極管32、壓控開關(guān)33及第二二 極管91的正向?qū)妷簽?. IV，而第一電壓輸入端U外接5. IV電壓源，第二 電壓輸入端12外接8.6V電壓源。當(dāng)電壓控制端21為高電壓時，第--場效應(yīng)晶 體管40與第二場效應(yīng)晶體管60均為斷開狀態(tài)，此時，電壓輸出端70輸出的電
壓來自第一電壓輸入端11，扣除壓控開關(guān)33的正向?qū)妷?. IV，便得到電 壓輸出端70輸出的電壓為5V;而當(dāng)電壓控制端21為低電壓時，第一場效應(yīng)晶 體管40與第二場效應(yīng)晶體管60均為導(dǎo)通狀態(tài)，電壓輸出端70的電壓來自第二 電壓輸入端L2，扣除六個第二二極管9i的正向?qū)妷?.6V，便得到電壓輸 出端70輸出的電壓為8V。通過控制模塊20的控制，電壓控制端21會間隙性輸 出高電壓與低電壓，以使電壓輸出端70處的電壓在5V與8V(超出正常工作時的 7.8V，即為突波)之間交替變換，充分模擬了電壓突波的測試環(huán)境。
權(quán)利要求1.一種電壓突波測試裝置，電性連接一設(shè)備組件以測試該設(shè)備組件的耐突波能力，其特征在于該電壓突波測試裝置包括一第一電壓輸入端，一控制模塊，具有一電壓控制端，且該電壓控制端間隙性輸出高電壓與低電壓；一第一場效應(yīng)晶體管，電性連接該控制模塊，且該第一場效應(yīng)晶體管設(shè)有一第一柵極、一第一源極及一第一漏極，其中，該第一柵極電性連接電壓控制端，而該第一源極接地；一第二場效應(yīng)晶體管，電性連接該第一場效應(yīng)晶體管，且該第二場效應(yīng)晶體管設(shè)有一第二柵極、一第二源極及一第二漏極，其中，該第二柵極電性連接該第一漏極；一壓控開關(guān)，其正極電性連接第一電壓輸入端，而其負(fù)極電性連接第二漏極；一分壓電阻，其一端電性連接第一漏極；一第二電壓輸入端，電性連接該分壓電阻的另一端及第二源極；一電壓輸出端，電性連接第二漏極及該設(shè)備組件的輸入端。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓突波測試裝置，其特征在于該控制模塊為 8051芯片，且該控制模塊共設(shè)有二十四個電壓控制端。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓突波測試裝置，其特征在于該控制模塊的 電壓控制端電性連接一上拉電阻的一端，而該上拉電阻的另一端電性連接--第 一二極管的負(fù)極，而該第一二極管的正極電性連接第一電壓輸入端。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓突波測試裝置，其特征在于該壓控開關(guān)為 二極管，且該二極管的正極電性連接第一電壓輸入端，而該二極管的負(fù)極電性 連接電壓輸出端。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓突波測試裝置，其特征在于第二電壓輸入 端與第二源極之間串聯(lián)一單向?qū)K，且該單向?qū)K的正輸入端電性連 接第二電壓輸入端，而該單向?qū)K的負(fù)輸入端電性連接第二源極。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的電壓突波測試裝置，其特征在于該單向?qū)?塊由六個第二二極管同向串聯(lián)而成。
專利摘要一種電壓突波測試裝置，其包括一第一電壓輸入端及一控制模塊，且該控制模塊具有一電壓控制端，該控制模塊電性連接一第一場效應(yīng)晶體管，其設(shè)有一第一柵極、一第一源極及一第一漏極，以分別電性連接電壓控制端、接地端及一分壓電阻的一端；而分壓電阻的另一端電性連接一第二電壓輸入端；且第一場效應(yīng)晶體管電性連接一第二場效應(yīng)晶體管，其設(shè)有一第二柵極、一第二漏極及一第二源極，以分別電性連接第一漏極、一壓控開關(guān)的負(fù)極及第二電壓輸入端，且第二漏極電性連接一電壓輸出端，而壓控開關(guān)的正極電性連接第一電壓輸入端。如此一來，電壓控制端控制第一、第二場效應(yīng)晶體管的通斷，以交替式改變電壓輸出端的電壓，以作為設(shè)備組件的突波測試電壓。
文檔編號G01R19/00GK201025484SQ200720035719
公開日2008年2月20日 申請日期2007年3月27日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月27日
發(fā)明者逄錦軼 申請人:神訊電腦(昆山)有限公司