專利名稱：金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及金屬薄板片電阻的四端法測(cè)量技術(shù)，更具體地說，涉 及一種金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置，該測(cè)量裝置能夠保證測(cè)量的重復(fù) 性和可靠性。
背景技術(shù)：
四端法是國(guó)際上通用的測(cè)量低值電阻的標(biāo)準(zhǔn)方法之一，該測(cè)量方法通 過測(cè)量流經(jīng)待測(cè)樣品的電流及兩固定位置的電壓來確定其阻值。四端法具 有直接測(cè)量并克服觸點(diǎn)電阻和引線電阻等特點(diǎn)，適用于各類電阻的測(cè)量， 尤其是低值電阻的測(cè)量。目前，常用的四端法測(cè)量金屬薄板片試樣條電阻 的方式一般有以下三種， 一種是采用非固定的帶測(cè)試觸頭的夾具直接夾持 在試樣條上進(jìn)行測(cè)量，該方法較為簡(jiǎn)單，但測(cè)量隨意性較大，無法完全一致的重復(fù)測(cè)量，較難保證測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠性；另一種是采用精密定位設(shè)備, 使四個(gè)測(cè)試觸頭在導(dǎo)軌或活塞上進(jìn)行上下移動(dòng)，并結(jié)合彈簧結(jié)構(gòu)使試樣觸 頭與試樣條進(jìn)行良好的接觸，但該方法的精密定位設(shè)備的成本較高，增加 了測(cè)量成本，并且一般較多的被用于半導(dǎo)體硅片的，阻測(cè)量；還有一種是 采用螺栓的固定方式來實(shí)現(xiàn)測(cè)試觸頭與試樣接觸，從而進(jìn)行電阻測(cè)量，但 是該方法操作十分不便，增加了測(cè)量作業(yè)難度，因此并不適合用于工業(yè)常 規(guī)測(cè)量。實(shí)用新型內(nèi)容針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述隨意性大、無法保證測(cè)量的重復(fù)性和可靠 性、精密定位設(shè)備成本較高以及螺栓固定搡作不便的缺點(diǎn)，本實(shí)用新型的 目的是提供一種金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置，該測(cè)量裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單， 使用方便，能夠保證測(cè)量的重復(fù)性和可靠性。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案該金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置包括測(cè)量?jī)x表和測(cè)量架，所述的測(cè) 量架包括絕緣底板、絕緣蓋板和觸頭機(jī)構(gòu)，絕緣底板一端面與絕緣蓋板相應(yīng)的端面通過鉸鏈連接；兩個(gè)觸頭機(jī)構(gòu)對(duì)稱設(shè)于絕緣蓋板的內(nèi)表面上，每個(gè)觸頭機(jī)構(gòu)均包括兩個(gè)測(cè)試觸頭，所述的測(cè)試觸頭一端連接有導(dǎo)線，導(dǎo)線 另一端連接至測(cè)量?jī)x表。所述的每個(gè)觸頭機(jī)構(gòu)進(jìn)一步包括固定塊和絕緣塊，固定塊分別設(shè)于絕緣塊兩側(cè)，并固定于絕緣蓋板的內(nèi)表面上；所述的測(cè)試觸頭分別設(shè)于絕緣 塊的兩端，并分別與絕緣塊的兩端連接固定。所述的固定塊之間設(shè)有轉(zhuǎn)軸，轉(zhuǎn)軸穿過絕緣塊，并且轉(zhuǎn)軸兩端分別與 固定塊連接。所述的導(dǎo)線一端連接有墊片，墊片設(shè)置并夾緊于相應(yīng)的測(cè)試觸頭與絕 緣塊之間。所述的絕緣底板上設(shè)有橫向定位凸銷，所述的絕緣蓋板的內(nèi)表面上設(shè) 有相對(duì)應(yīng)的橫向定位凹孔。所述的絕緣底板上還設(shè)有縱向定位凹孔。所述的絕緣蓋板的外表面還設(shè)置固定有把手。在上述技術(shù)方案中，本實(shí)用新型的金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置包 括測(cè)量?jī)x表和測(cè)量架，測(cè)量架包括絕緣底板、絕緣蓋板和觸頭機(jī)構(gòu)，絕緣 底板一端面與絕緣蓋板相應(yīng)的端面通過鉸鏈連接；兩個(gè)觸頭機(jī)構(gòu)對(duì)稱設(shè)于 絕緣蓋板的內(nèi)表面上，每個(gè)觸頭機(jī)構(gòu)均包括兩個(gè)測(cè)試觸頭，測(cè)試觸頭一端 連接有導(dǎo)線，導(dǎo)線另一端連接至測(cè)量?jī)x表。該測(cè)量裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方 便，只需在絕緣底板上設(shè)置試樣條，通過鉸鏈作用使絕緣蓋板翻壓，使測(cè) 試觸頭與試樣條接觸，便能夠進(jìn)行測(cè)量，不但保證了測(cè)量的可靠性，而且 還能夠進(jìn)行完全一致的重復(fù)測(cè)量；通過轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)以及把手施加的一定壓力， 可以使測(cè)試觸頭與試樣條接觸良好，從而更加保證了測(cè)量的效果。


圖1是本實(shí)用新型的金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置的測(cè)量架的結(jié)構(gòu) 示意圖；圖2是本實(shí)用新型的測(cè)量裝置的觸頭機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本實(shí)用新型的測(cè)量裝置的測(cè)量架的使用狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖和實(shí)施例進(jìn)一步說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案 請(qǐng)參閱圖l所示，本實(shí)用新型的金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置包括 測(cè)量?jī)x表(圖中未示出)和測(cè)量架10，測(cè)量?jī)x表用于顯示測(cè)量所得的電阻 數(shù)據(jù)。該測(cè)量架IO包括絕緣底板11、絕緣蓋板12和觸頭機(jī)構(gòu)13,絕緣 底板11用于設(shè)載試樣條1，絕緣底板11 一端面與絕緣蓋板12相應(yīng)的端面 通過鉸鏈14連接，使絕緣蓋板12可以通過鉸鏈14進(jìn)行翻轉(zhuǎn)開合，圖1 所示的測(cè)量裝置即為翻開狀態(tài)，并且鉸鏈14設(shè)置為相對(duì)稱的兩個(gè)；兩個(gè)觸 頭機(jī)構(gòu)13對(duì)稱設(shè)于絕緣蓋板12的內(nèi)表面上，每個(gè)觸頭機(jī)構(gòu)13均包括兩 個(gè)測(cè)試觸頭131，測(cè)試觸頭131 —端連接有導(dǎo)線15,導(dǎo)線15另一端連接 至測(cè)量?jī)x表，使測(cè)試觸頭131與測(cè)量?jī)x表連接導(dǎo)通。請(qǐng)結(jié)合圖2所示，每 個(gè)觸頭機(jī)構(gòu)13進(jìn)一步包括固定塊132和絕緣塊133,固定塊132分別設(shè) 于絕緣塊133兩側(cè)，并通過螺栓固定于絕緣蓋板12的內(nèi)表面上；測(cè)試觸 頭131分別設(shè)于絕緣塊133的兩端，通過螺釘134穿過絕緣塊133以及兩 測(cè)試觸頭131并擰緊，使測(cè)試觸頭131與絕緣塊133的兩端連接固定。固 定塊132之間設(shè)有轉(zhuǎn)軸135，并且固定塊132內(nèi)側(cè)面上分別開有轉(zhuǎn)軸孔 136，轉(zhuǎn)軸135兩端分別設(shè)于固定塊132的轉(zhuǎn)軸135孔內(nèi)，并與固定塊132 連接，轉(zhuǎn)軸135的中間部分穿過絕緣塊133，使得絕緣塊133能夠沿轉(zhuǎn)軸 135徑向進(jìn)行旋轉(zhuǎn)，并使兩端的測(cè)試觸頭131隨絕緣塊133 —起進(jìn)行旋轉(zhuǎn)， 在絕緣蓋板12翻壓后，能夠使測(cè)試觸頭131與試樣條1有效的接觸。導(dǎo) 線15 —端連接有墊片151,墊片151為金屬材料，設(shè)置并夾緊于相應(yīng)的測(cè) 試觸頭131與絕緣塊133之間，導(dǎo)線15的另一端均穿出絕緣蓋板12,并 連接到測(cè)量?jī)x表的電流端和電壓端的一極上。絕緣底板11上設(shè)有橫向定位 凸銷137,絕緣蓋板12的內(nèi)表面上設(shè)有相對(duì)應(yīng)的橫向定位凹孔138，當(dāng)絕 緣蓋板12翻壓時(shí)，橫向定位凸銷137能夠正好插入相應(yīng)的橫向定位凹孔 138內(nèi)，不但能夠起到試樣條l設(shè)載在絕緣底板ll上的橫向定位作用，而且還能夠起到測(cè)試觸頭131與試樣條1的定位作用。絕緣底板11上還設(shè) 有縱向定位凹孔139，同樣也起到試樣條1的設(shè)載在絕緣底板11上的縱向 定位作用。圖1中所示的橫向定位凸銷137、橫向定位凹孔138和縱向定 位凹孔139均為相對(duì)稱的兩個(gè)。絕緣蓋板12的外表面還設(shè)置固定有把手 16(見圖3),通過把手16不但能夠方便絕緣蓋板12的翻蓋壓合，而且 在翻蓋時(shí)還能夠用于施加的適當(dāng)壓力，使測(cè)試觸頭131能夠更好的與試樣 條1接觸，保證測(cè)試效果。請(qǐng)參閱圖3所示，使用時(shí)，只需先將試樣條1設(shè)置于絕緣底板11上 的由橫向、縱向定位凹孔137、 139構(gòu)成的固定位置上，然后將絕緣蓋板 12翻轉(zhuǎn)蓋合在絕緣底板11上，并可通過把手16施壓適當(dāng)?shù)膲毫Γ沟脺y(cè) 試觸頭131與試樣條1接觸良好，從而便能夠?qū)υ嚇訔l1的電阻進(jìn)行測(cè)量， 并通過測(cè)試儀表進(jìn)行讀數(shù)，十分方便快捷，而且還可以以相同的測(cè)試條件 進(jìn)行重復(fù)多次測(cè)量，從而確保了測(cè)量的可靠性，效果十分顯著。本技術(shù)領(lǐng)域中的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到，以上的實(shí)施例僅是用來說 明本實(shí)用新型，而并非用作為對(duì)本實(shí)用新型的限定，只要在本實(shí)用新型的 實(shí)質(zhì)精神范圍內(nèi)，對(duì)以上所述實(shí)施例的變化、變型都將落在本實(shí)用新型的 權(quán)利要求書范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置，該測(cè)量裝置包括測(cè)量?jī)x表和測(cè)量架，其特征在于所述的測(cè)量架包括絕緣底板、絕緣蓋板和觸頭機(jī)構(gòu)，絕緣底板一端面與絕緣蓋板相應(yīng)的端面通過鉸鏈連接；兩個(gè)觸頭機(jī)構(gòu)對(duì)稱設(shè)于絕緣蓋板的內(nèi)表面上，每個(gè)觸頭機(jī)構(gòu)均包括兩個(gè)測(cè)試觸頭，所述的測(cè)試觸頭一端連接有導(dǎo)線，導(dǎo)線另一端連接至測(cè)量?jī)x表。
2. 如權(quán)利要求l所述的金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置，其特征在于 所述的每個(gè)觸頭機(jī)構(gòu)進(jìn)一步包括固定塊和絕緣塊，固定塊分別設(shè)于絕緣塊兩側(cè)，并固定于絕緣蓋板的內(nèi)表面上；所述的測(cè)試觸頭分別設(shè)于絕緣 塊的兩端，并分別與絕緣塊的兩端連接固定。
3. 如權(quán)利要求2所述的金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置，其特征在于 所述的固定塊之間設(shè)有轉(zhuǎn)軸，轉(zhuǎn)軸穿過絕緣塊，并且轉(zhuǎn)軸兩端分別與固定塊連接。
4. 如權(quán)利要求l所述的金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置，其特征在于 所述的導(dǎo)線一端連接有墊片，墊片設(shè)置并夾緊于相應(yīng)的測(cè)試觸頭與絕緣塊之間。
5. 如權(quán)利要求l所述的金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置，其特征在于 所述的絕緣底板上設(shè)有橫向定位凸銷， 所述的絕緣蓋板的內(nèi)表面上設(shè)有相對(duì)應(yīng)的橫向定位凹孔。
6. 如權(quán)利要求l所述的金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置，其特征在于 所述的絕緣底板上還設(shè)有縱向定位凹孔。7.如權(quán)利要求l所述的金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置，其特征在于 所述的絕緣蓋板的外表面還設(shè)置固定有把手。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種金屬薄板片試樣條電阻測(cè)量裝置，該測(cè)量裝置包括測(cè)量?jī)x表和測(cè)量架，測(cè)量架包括絕緣底板、絕緣蓋板和觸頭機(jī)構(gòu)，絕緣底板一端面與絕緣蓋板相應(yīng)的端面通過鉸鏈連接；兩個(gè)觸頭機(jī)構(gòu)對(duì)稱設(shè)于絕緣蓋板的內(nèi)表面上，每個(gè)觸頭機(jī)構(gòu)均包括兩個(gè)測(cè)試觸頭，測(cè)試觸頭一端連接有導(dǎo)線，導(dǎo)線另一端連接至測(cè)量?jī)x表。該測(cè)量裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便，只需在絕緣底板上設(shè)置試樣條，通過鉸鏈作用使絕緣蓋板翻壓，使測(cè)試觸頭與試樣條接觸，便能夠進(jìn)行測(cè)量，不但保證了測(cè)量的可靠性，而且還能夠進(jìn)行完全一致的重復(fù)測(cè)量。
文檔編號(hào)G01R27/14GK201096840SQ20072007556
公開日2008年8月6日 申請(qǐng)日期2007年10月18日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月18日
發(fā)明者星 周, 施強(qiáng)忠, 胡志遠(yuǎn) 申請(qǐng)人:寶山鋼鐵股份有限公司