專利名稱：具有開(kāi)出繼電器狀態(tài)自檢的電纜絕緣測(cè)試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及電纜絕緣測(cè)試設(shè)備，尤其是涉及具有開(kāi)出繼電器狀態(tài)自檢的 電纜絕緣測(cè)試設(shè)備。
技術(shù)背景電纜絕緣測(cè)試設(shè)備是用來(lái)測(cè)試信號(hào)電纜芯線對(duì)地絕緣程度的專用設(shè)備，在測(cè) 試過(guò)程中通過(guò)控制相應(yīng)的繼電器組合來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)各電纜芯線對(duì)地絕緣電阻的測(cè)試， 目前所使用的電纜絕緣測(cè)試設(shè)備，其繼電器組合的實(shí)際工作狀態(tài)只能通過(guò)人工觀 察的方式進(jìn)行了解和校對(duì)，因此，校對(duì)工作較低而且易出現(xiàn)誤校對(duì)現(xiàn)象。 實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型目的在于提供一種具有開(kāi)出繼電器狀態(tài)自檢的電纜絕緣測(cè)試設(shè)備o為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型可采取下述技術(shù)方案本實(shí)用新型所述的具有開(kāi)出繼電器狀態(tài)自檢的電纜絕緣測(cè)試設(shè)備，它包括設(shè) 置在開(kāi)出板上的開(kāi)出電路和繼電器組合單元；所述開(kāi)出電路由多組三級(jí)管構(gòu)成； 所述繼電器組合單元由分別串接在開(kāi)出電路三級(jí)管集電極的繼電器線圈組成；所 述每個(gè)繼電器線圈所控制的空閑觸點(diǎn)的動(dòng)觸點(diǎn)或靜觸點(diǎn)分別與設(shè)置在開(kāi)入板上的 自檢電路輸入端電連接，而靜觸點(diǎn)或動(dòng)觸點(diǎn)分別與電源電連接；所述自檢電路由 多組光電耦合器組成。本實(shí)用新型優(yōu)點(diǎn)在于通過(guò)在原有測(cè)試電路中通過(guò)采集繼電器的空接點(diǎn)，在空 閑繼電器的中接點(diǎn)上接入電源，在前接點(diǎn)上采集信號(hào)，通過(guò)開(kāi)關(guān)量采集板進(jìn)行采 集，當(dāng)電纜絕緣采集設(shè)備控制繼電器動(dòng)作后，通過(guò)監(jiān)測(cè)電纜絕緣繼電器狀態(tài)的開(kāi) 關(guān)量從機(jī)讀入繼電器狀態(tài)，比較其控制的繼電器的狀態(tài)與實(shí)際繼電器的工作狀態(tài) 是否一致，如果不一致，說(shuō)明有繼電器沒(méi)有按照預(yù)定流程進(jìn)行，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試 繼電器狀態(tài)的監(jiān)測(cè)。

圖1是本實(shí)用新型的電路原理圖。圖2是圖1的電路原理框圖。
具體實(shí)施方式
如圖所示，本實(shí)用新型所述的具有開(kāi)出繼電器狀態(tài)自檢的電纜絕緣測(cè)試設(shè)備,
它包括設(shè)置在開(kāi)出板上的開(kāi)出電路和繼電器組合單元；所述開(kāi)出電路由多組三級(jí) 管Ql、 Q2 Qn構(gòu)成；所述繼電器組合單元由分別串接在開(kāi)出電路三級(jí)管Ql、 Q2 Qn集電極的繼電器線圈Jl、 J2、 Jn組成;所述每個(gè)繼電器線圈Jl、 J2 'Jn 所控制的空閑觸點(diǎn)的靜觸點(diǎn)分別與設(shè)置在開(kāi)入板上的自檢電路輸入端電連接，而 動(dòng)觸點(diǎn)分別與電源JZ24電連接；所述自檢電路由多組光電耦合器U1、 U2"*Un 組成。
權(quán)利要求1、一種具有開(kāi)出繼電器狀態(tài)自檢的電纜絕緣測(cè)試設(shè)備，它包括設(shè)置在開(kāi)出板上的開(kāi)出電路和繼電器組合單元；所述開(kāi)出電路由多組三級(jí)管(Q1、Q2…Qn)構(gòu)成；所述繼電器組合單元由分別串接在開(kāi)出電路三級(jí)管(Q1、Q2…Qn)集電極的繼電器線圈(J1、J2、Jn)組成；其特征在于所述每個(gè)繼電器線圈(J1…J2、Jn)所控制的空閑觸點(diǎn)的動(dòng)觸點(diǎn)或靜觸點(diǎn)分別與設(shè)置在開(kāi)入板上的自檢電路輸入端電連接，而靜觸點(diǎn)或動(dòng)觸點(diǎn)分別與電源(JZ24)電連接；所述自檢電路由多組光電耦合器(U1、U2…Un)組成。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種具有開(kāi)出繼電器狀態(tài)自檢的電纜絕緣測(cè)試設(shè)備，它包括設(shè)置在開(kāi)出板上的開(kāi)出電路和繼電器組合單元；所述開(kāi)出電路由多組三極管(Q1、Q2…Qn)構(gòu)成；所述繼電器組合單元由分別串接在開(kāi)出電路三極管(Q1、Q2…Qn)集電極的繼電器線圈(J1、J2、Jn)組成；所述每個(gè)繼電器線圈(J1…J2、Jn)所控制的空閑觸點(diǎn)的動(dòng)觸點(diǎn)或靜觸點(diǎn)分別與設(shè)置在開(kāi)入板上的自檢電路輸入端電連接，而靜觸點(diǎn)或動(dòng)觸點(diǎn)分別與電源(JZ24)電連接；所述自檢電路由多組光電耦合器(U1、U2…Un)組成。本實(shí)用新型優(yōu)點(diǎn)在于實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試?yán)^電器狀態(tài)的監(jiān)測(cè)。
文檔編號(hào)G01R31/08GK201051132SQ200720090909
公開(kāi)日2008年4月23日 申請(qǐng)日期2007年7月3日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月3日
發(fā)明者張祖濤, 杜旭升, 范松森 申請(qǐng)人:河南輝煌科技股份有限公司