專利名稱：一種電路調試筆的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及測試電子線路的測試工具領域，尤其是涉及一種電路調試筆。
技術背景在現(xiàn)有的電路調試過程中，當要測試某個元器件對電路的影響時，通常要將電路板上 的元件用電焊鐵取下，再用電焊鐵焊上待測的元件，而當需要測試較多元件時，這種更換 過程就較為煩瑣了 ，不但效率低下同時由于焊接等原因也造成大量元件的浪費。實用新型內(nèi)容本實用新型所要解決的技術問題是提供一種電路調試筆，其可使電路調試過程中無需 拆卸待測元件，操作簡單方便且無耗材。為解決本實用新型的技術問題，本實用新型公開一種電路調試筆，其包括筆桿和兩端 筆頭，所述至少一端筆頭上設有夾持裝置及至少兩個連接到夾持裝置上且向外伸出筆頭的 金屬探針。其中所述夾持裝置包4ti殳置于筆頭上的夾持室和位于夾持室內(nèi)且沿電路調試筆的中 心線方向放置的彈簧片。其中所述夾持室是開于所述筆頭側面的通孔。其中所述金屬探針的末端固定于所迷夾持室內(nèi)，前端朝電路調試筆的中心線方向伸出筆頭。其中所述金屬探針末端通過固定座固定于夾持室內(nèi)。 其中所述另一端筆頭可設有筆芯。與現(xiàn)有技術相比，本實用新型具有如下有益效果通過設置在筆頭上的夾持裝置夾 持電阻、電容等元器件，且連接到金屬探針末端，從而通過金屬探針將元器件連接到待測 的電路板上，使調試過程更為簡單方便，且無需將待測元件拆卸下來，不會造成大量元件 浪費。
附困說明

圖1是本實用新型的縱截面剖視圖； 圖2是本實用新型的仰視圖； 圖3是本實用新型的待測電路圖。
具體實施方式

以下結合附圖和實施例，對本實用新型作進一步詳細說明。本實用新型主要是通過設于筆頭上的夾持裝置將電阻、電容等元器件夾住，并使其兩 端連接到固定于筆頭上且伸出筆頭的金屬探針，再通過金屬探針將待測電路與所夾住的元 件相連，從而可簡單方便地進行電路調試。如圖1和圖2所示，本實施例的電路調試筆包括筆桿10、上端筆頭20和下端筆頭30， 下端筆頭30上設有夾持裝置和兩個金屬探針33，其中夾持裝置包括一夾持室31和位于夾 持室31內(nèi)且沿中心線方向放置的彈簧片32，所述夾持室31是開口于下端筆頭30側面的 方形通孔，彈簧片32用于夾住元器件40,可通過膠粘或卡扣等方式固定在夾持室31內(nèi)。兩個金屬探針33的末端通過固定座34固定于夾持室31內(nèi)，且金屬探針33的末端露 出一段與元器件40的兩端相接觸，金屬探針33的前端朝中心線方向伸出下端筆頭30的 端面35,金屬探針33伸出端面35的長度約為2cm至2.5cm。為方便記錄測試結果，在上端筆頭20上還設置有筆芯21。如圖3所示，Vi是倌號輸入端，Vo是信號輸出端，在對這個電路進行調試時，若要 確定Ll對電路的影響，如果按照傳統(tǒng)方法來調試，必須先把測試儀器斷開，把電路板關 掉，然后用烙鐵把L1焊掉，再換個其它電感值的電感貼上去，再打開電路板電源，再連 接到測試儀器上，進行調試。而使用本實施例的電路調試筆后，將使調試過程非常方便，不用斷開測試儀器及電路 板，也不用把L1焊掉，只需在夾持室31上裝上新電感，并且電感兩端分別與兩個金屬探 針33的末端相接觸，手握筆桿10,將兩金屬探針33的前端分別接觸Ll的兩端，從而使 夾持室31內(nèi)的電感與L1相并聯(lián)，透過測試儀器可直觀的，高效率的判斷出該如何調試。 同時，還可以很隨意的將筆放在其它地方，比如L2、 L3、 Rl、 R2、 Cl、 C2等上面。另夕卜， 也可容易地將夾持室31內(nèi)的電感等元件取出。由此可見，使用本實用新型進行電路調試，可使調試過程更為簡單方便，且無需將待 測元件拆卸下來，不會造成大量元件浪費。
權利要求1、一種電路調試筆，其包括筆桿和兩端筆頭，其特征在于所述至少一端筆頭上設有夾持裝置及至少兩個連接到夾持裝置上且向外伸出筆頭的金屬探針。
2、 如權利要求1所述的電路調試筆，其特征在于所述夾持裝置包括設置于筆頭上 的夾持室和位于夾持室內(nèi)且沿電路調試筆的中心線方向放置的彈簧片。
3、 如權利要求2所述的電路調試筆，其特征在于所述夾持室是開于所述筆頭側面 的通孔。
4、 如權利要求2或3所述的電路調試筆，其特征在于所述金屬探針的末端固定于 所述夾持室內(nèi)，前端朝電路調試筆的中心線方向伸出筆頭。
5、 如權利要求4述的電路調試筆，其特征在于所迷金屬揮:針末端通過固定座固定 于夾持室內(nèi)。
6、 如權利要求1所迷的電路調試筆，其特征在于所述另一端筆頭可設有筆芯。
專利摘要本實用新型提供一種電路調試筆，其包括筆桿和兩端筆頭，所述至少一端筆頭上設有夾持裝置及至少兩個連接到夾持裝置上且向外伸出筆頭的金屬探針。本實用新型通過夾持裝置夾持電阻、電容等元器件，且連接到金屬探針末端，從而通過金屬探針將元器件連接到待測的電路板上，使調試過程更為簡單方便，且無需將待測元件拆卸下來，不會造成大量元件浪費。
文檔編號G01R1/06GK201035044SQ20072011994
公開日2008年3月12日 申請日期2007年4月27日 優(yōu)先權日2007年4月27日
發(fā)明者劉偉治 申請人:深圳市同洲電子股份有限公司