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浮動式校檢平臺的制作方法

文檔序號:5827715閱讀:220來源:國知局
專利名稱:浮動式校檢平臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型屬于計量儀器檢測裝置領(lǐng)域,涉及一種浮動式校檢平臺。 背聚技術(shù)現(xiàn)有的計量檢測裝置,其被檢測物是固定不能浮動的,測微元件是浮動 的,但是測微元件在浮動校檢測過程中只能作單向測微而非雙向測微,由于 這種結(jié)構(gòu)設(shè)計的不合理,因而造成校檢精度大大降低。實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單,設(shè)計合理,有效提高校驗精 度的浮動式校檢平臺。本實用新型采用的技術(shù)方案 一種浮動式校檢平臺,其底座上設(shè)置有測 量元件本體、頂桿夾具及浮動工作臺夾具,測量元件測頭在測量元件本體的 控制下水平移動,頂桿緊固在頂桿夾具上,浮動工作臺緊固在浮動工作臺夾 具上,浮動工作臺上設(shè)置有被檢測物緊固夾具,所述的被檢測物緊固夾具底部固聯(lián)有浮動平臺。所述的浮動平臺底面設(shè)置有滑軌,浮動工作臺上面設(shè)置有與導(dǎo)軌相配合的滑動件。所述的滑動件選用滾珠、滾針、滑軌、直線導(dǎo)軌、氣浮導(dǎo)軌之一種或組合o口所述的浮動平臺底面為光滑平面或帶溝槽的光滑平面,與浮動工作臺的 光滑平面或帶溝槽的光滑平面相配合。本實用新型所具有的積極有益效果1. 設(shè)計為測量元件不浮動而被檢測物浮動的結(jié)構(gòu),徹底解決了現(xiàn)有計量 檢測儀測微元件只能做單向測微,導(dǎo)致檢測精度降低的問題,使校準(zhǔn)及檢測 的精度提高了約50%;2. 即符合檢測規(guī)程又符合檢測工作原理,該平臺上的被測物夾具可以以 絕對小于測微元件的浮動推力值與測微元件作用力做平行相對移動,通過測 微元件單向浮動推力與浮動校檢夾具的平行相對運動實現(xiàn)了對被測物大小相等,方向相反,雙向受力的檢測要求,有效提高了檢測精度;3. 本實用新型設(shè)計合理,結(jié)構(gòu)簡單,體積小,重量輕,精度高,易操作, 適于安裝在DS系列光柵式指示表檢定儀上使用,以滿足漲簧\鋼球式內(nèi)徑表
的檢定要求,提高檢測精度;也可廣泛用于內(nèi)徑測量及雙向測量的計量儀器及 其它需要雙向受力的高精度被測物體在浮動平臺上的校準(zhǔn)及檢測。


圖1為本實用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
參閱圖1所示, 一種浮動式校檢平臺,主要包括底座1、測量元件本體2、 測量元件測頭3、鎖緊鈕4、頂桿5、頂桿夾具6、旋鈕7、浮動工作臺夾具8、 被檢測物緊固夾具9、緊固旋鈕10、浮動平臺11、浮動工作臺12、滑動件13 等;其底座1上設(shè)置有測量元件本體2、頂桿夾具6及浮動工作臺夾具8,可 通過鎖緊鈕4緊固在底座1上;測量元件測頭3在測量元件本體2的控制下 可作水平左右移動,頂桿5穿過頂桿夾具6及浮動工作臺夾具8的內(nèi)孔通過 螺紋旋鈕7緊固在頂桿夾具6上;浮動工作臺12通過鎖緊鈕4緊固在浮動工 作臺夾具8上,浮動工作臺12上設(shè)置有被檢測物緊固夾具9,被檢測物15由 緊固旋鈕10夾緊;所述的底座l、測量元件本體2、測量元件測頭3、鎖緊鈕 4、頂桿5、頂桿夾具6、旋鈕7、浮動工作臺夾具8、被檢測物緊固夾具9、 緊固旋鈕10、浮動工作臺12均為光柵式指示表檢定儀的現(xiàn)有結(jié)構(gòu),本實用新 型設(shè)計為測量元件不浮動而被檢測物浮動的結(jié)構(gòu),具體實施是在被檢測物緊 固夾具9底部固聯(lián)有浮動平臺11,浮動平臺11底面設(shè)置有滑軌1101,浮動 工作臺12上面設(shè)置有滑動件13,滑動件13與導(dǎo)軌1101相配合作水平方向左 右滑動。由于所述的浮動平臺11受力極微即可作自由滑動,因此滑動件13可以 選用現(xiàn)有多種滑動方式,如采用滾珠、滾針、滑軌、直線導(dǎo)軌、氣浮導(dǎo)軌等 之一種或組合;而且浮動平臺11底面也可以是光滑平面或帶溝槽的光滑平面, 與浮動工作臺12的光滑平面或帶溝槽的光滑平面相配合,上述結(jié)構(gòu)均可實現(xiàn) 浮動平臺11的水平方向左右滑動。本實用新型的工作原理將被檢測物15,如漲簧式或鋼球式內(nèi)徑測微表 的桿部置入被檢測物緊固夾具9中,并插入浮動平臺11、浮動工作臺12的內(nèi) 孔,通過螺紋緊固旋鈕10夾緊,底部觸頭置于頂桿5與測量元件測頭3之間, 通過測量元件本體2帶動測量元件測頭3水平方向左右移動,同時帶動被檢 測物緊固夾具9及被檢測物15在滑動件13的作用下,作與測量元件本體2 相對的平行運動,實現(xiàn)計量檢測儀對被檢測物15的雙向測微。
權(quán)利要求1.一種浮動式校檢平臺,其底座上設(shè)置有測量元件本體、頂桿夾具及浮動工作臺夾具,測量元件測頭在測量元件本體的控制下水平移動,頂桿緊固在頂桿夾具上,浮動工作臺緊固在浮動工作臺夾具上,浮動工作臺上設(shè)置有被檢測物緊固夾具,其特征在于所述的被檢測物緊固夾具(9)底部固聯(lián)有浮動平臺(11)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的浮動式校檢平臺,其特征在于所述的浮動平臺 (11)底面設(shè)置有滑軌(1101),浮動工作臺(12)上面設(shè)置有與導(dǎo)軌(1101)相配合的滑動件(13)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的浮動式校檢平臺,其特征在于所述的滑動件(13) 選用滾珠、滾針、滑軌、直線導(dǎo)軌、氣浮導(dǎo)軌之一種或組合。
4. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的浮動式校檢平臺,其特征在于所述的浮動平臺 (11)底面為光滑平面或帶溝槽的光滑平面,與浮動工作臺(12)的光滑平面或帶溝槽的光滑平面相配合。
專利摘要本實用新型涉及一種浮動式校檢平臺。其底座上設(shè)置有測量元件本體、頂桿夾具及浮動工作臺夾具,頂桿緊固在頂桿夾具上,浮動工作臺緊固在浮動工作臺夾具上,浮動工作臺上設(shè)置有被檢測物緊固夾具,所述的被檢測物緊固夾具底部固聯(lián)有浮動平臺;使被測物夾具可以以絕對小于測微元件的浮動推力值與測微元件作用力做平行相對移動,通過測微元件單向浮動推力與浮動校檢平臺的平行相對運動實現(xiàn)了對被測物大小相等,方向相反,雙向受力的檢測要求,有效提高了校準(zhǔn)及檢測的精度;本實用新型結(jié)構(gòu)簡單,體積小,重量輕,精度高,易操作,適于安裝在DS系列光柵式指示表檢定儀上使用,也可廣泛用于內(nèi)徑測量及雙向測量的計量儀器及其它需要雙向受力的高精度被測物體在浮動平臺上的校準(zhǔn)及檢測。
文檔編號G01B5/08GK201034544SQ20072014303
公開日2008年3月12日 申請日期2007年4月23日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月23日
發(fā)明者田龍元 申請人:嚴(yán)為民
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