專利名稱：熔點儀及消除熔點儀測量值漂移的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種熔點儀和一種消除熔點儀測量值漂移的方法。
背景技術(shù)：
物質(zhì)的熔點是指該物質(zhì)由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時的溫度。在有機(jī)化學(xué)領(lǐng)域中，熔 點測定是辨認(rèn)該物質(zhì)本性的基本手段，也是純度測定的重要方法之一 。
熔點儀用于藥粉、聚酯切片、化纖等物體的熔點測試，該儀器通過分析物 體在加熱過程中透光量的變化自動判別熔點。儀器使用鉑電阻作為溫度傳感器， 隨著溫度升高，鉑電阻的阻值變大。
隨著氣溫變化、電源電壓變化等因素影響，熔點儀的溫度測量電路會發(fā)生 零點漂移，滿度漂移，造成測量誤差加大。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種帶有漂移溫度補償功能的熔點儀即基于該熔點 儀的溫度補償方法。
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是
一種熔點儀，它包括光源、用于感受光源發(fā)射的光束經(jīng)過被測物的透光量 并將其轉(zhuǎn)換成電信號的光敏器件；
用于加熱被測物的加熱爐，用于感受加熱溫度并將其轉(zhuǎn)換成電信號的溫度 測量電路；
用于處理光敏器件和溫度測量電路輸出的電信號的單片機(jī)；
溫度測量電路包括用于校正溫度測量值漂移的低值標(biāo)準(zhǔn)電阻I^、高值標(biāo)準(zhǔn) 電阻R2和一個阻值隨溫度而變化的鉑電阻Rt，低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Ri的阻值與一選定 的較低溫度時鉑電阻Rt的阻值相等，高值標(biāo)準(zhǔn)電阻Rz的阻值與一選定的較高溫 度時鉑電阻Rt的阻值相等；單片機(jī)還輸出用于控制低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Rt、高值標(biāo)準(zhǔn)電阻Rz、鉑電阻Rt接入 和斷開溫度測量電路的控制信號，單片機(jī)根據(jù)低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Ri、高值標(biāo)準(zhǔn)電阻 Rz對溫度測量電路的校正結(jié)果，將已漂移的熔點測量值轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)值。
本發(fā)明的另 一種技術(shù)方案是
一種消除熔點儀測量值漂移的方法，它包括以下步驟
接入低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Ri至溫度測量電路，低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Ri的阻值與一選定的 較低溫度ti時鉑電阻Rt的阻值相等，單片機(jī)記錄溫度測量電路輸出的測量值V"
斷開低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Ri，接入高值標(biāo)準(zhǔn)電阻112至溫度測量電路，高值標(biāo)準(zhǔn)電 阻R2的阻值與一選定的較高溫度12時鉑電阻Rt的阻值相等，單片機(jī)記錄溫度測 量電路輸出的測量值^;
斷開高值標(biāo)準(zhǔn)電阻112，接入鉑電阻Rt,單片機(jī)根據(jù)透光量判斷被測物處于 完全熔化狀態(tài)時，讀取溫度測量電路輸出的測量值Vj
根據(jù)以下公式，單片機(jī)得出對應(yīng)柏電阻Rt溫度的無漂移標(biāo)準(zhǔn)值T,
由于上述技術(shù)方案的采用，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下優(yōu)點
用低值標(biāo)準(zhǔn)電阻、高值標(biāo)準(zhǔn)電阻分別代替鉑電阻Rt處于選定的較低溫度和 較高溫度時的電阻值，通過在單片機(jī)中加載校正功能，把已漂移的溫度測量值 補償成無漂移時的溫度值。
圖1為本發(fā)明的原理框其中1、光源；2、光敏器件；3、 A/D轉(zhuǎn)換電路；4、加熱爐；5、溫度測 量電路；6、單片機(jī)；7、打印機(jī)；8、液晶顯示裝置；9、操作4務(wù)睫。
具體實施例方式
一種熔點^f義，它包括光源1、用于感受光源l發(fā)射的光束經(jīng)過被測物的透光量并將其轉(zhuǎn)換成電信
號的光敏器件2;
用于加熱被測物的加熱爐4，用于感受加熱溫度并將其轉(zhuǎn)換成電信號的溫度 測量電路5，溫度測量電路5包括一個阻值隨溫度而變化的柏電阻Rt，柏電阻Rt 作為溫度傳感器，感受被測物的加熱溫度，結(jié)合溫度測量電路5輸出相應(yīng)的電 信號；
用于處理光敏器件2和溫度測量電路5輸出的電信號的單片機(jī)6，其中光敏 器件2輸出代表被測物在不同溫度下的透光量的電信號至單片機(jī)6，溫度測量電 路5輸出代表被測物溫度的電信號至單片機(jī)6;
設(shè)置在光敏器件2和溫度測量電路5的輸出端與單片機(jī)6的輸入端之間的 A/D轉(zhuǎn)換電路3;
與單片機(jī)6輸出端相連接的打印機(jī)7和液晶顯示裝置8，以及用于向單片機(jī) 6輸入操作命令的操作按鍵9。
溫度測量電路5包括用于校正溫度測量值漂移的低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Rr高值標(biāo) 準(zhǔn)電阻112和一個阻值隨溫度而變化的鉑電阻Rt，低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Ri的阻值與 一選 定的較低溫度時鉑電阻Rt的阻值相等，高值標(biāo)準(zhǔn)電阻狡2的阻值與一選定的較高 溫度時鉑電阻Rt的阻值相等；在本實施例中，低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Ri的阻值與IOO'C 時柏電阻Rt的阻值相等，高值標(biāo)準(zhǔn)電阻112的阻值與30(TC時鈿電阻Rt的阻值相等。
單片機(jī)6還輸出用于控制低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Ri、高值標(biāo)準(zhǔn)電阻112、鉑電阻Rt接 入和斷開溫度測量電路5的控制信號，單片機(jī)6根據(jù)低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Ri、高值標(biāo) 準(zhǔn)電阻R2對溫度測量電路5的校正結(jié)果，將已漂移的熔點測量值轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)值。
單片機(jī)的校正過程如下
1、接入低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Ri接入溫度測量電路，低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Rt的阻值與一 選定的較低溫度"時鉑電阻Rt的阻值相等，單片機(jī)記錄溫度測量電路輸出的測 量值W;
2、 斷開低值標(biāo)準(zhǔn)電阻Ri，接入高值標(biāo)準(zhǔn)電阻112至溫度測量電路，高值標(biāo) 準(zhǔn)電阻112的阻值與一選定的較高溫度ts時柏電阻Rt的阻值相等，單片機(jī)記錄溫 度測量電路輸出的測量值K;
3、 斷開高值標(biāo)準(zhǔn)電阻112,接入鉑電阻Rt,單片機(jī)根據(jù)透光量判斷被測物處 于完全熔化狀態(tài)時，讀取溫度測量電路輸出的測量值K;
4、 根據(jù)以下公式，單片機(jī)得出對應(yīng)鉑電阻Rt溫度的無漂移標(biāo)準(zhǔn)值T，
<formula>formula see original document page 7</formula> ， 當(dāng)tflOO。C， t^30(TC時，上式轉(zhuǎn)化為，<formula>formula see original document page 7</formula>
權(quán)利要求
1. 一種熔點儀，它包括光源(1)、用于感受所述的光源(1)發(fā)射的光束經(jīng)過被測物的透光量并將其轉(zhuǎn)換成電信號的光敏器件(2)；用于加熱所述的被測物的加熱爐(4)，用于感受加熱溫度并將其轉(zhuǎn)換成電信號的溫度測量電路(5)，所述的溫度測量電路(5)包括一個阻值隨溫度而變化的鉑電阻(Rt)；用于處理所述的光敏器件(2)和溫度測量電路(5)輸出的電信號的單片機(jī)(6)；其特征在于所述的溫度測量電路(5)包括用于校正溫度測量值漂移的低值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R1)、高值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R2)，所述的低值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R1)的阻值與一選定的較低溫度時所述的鉑電阻(Rt)的阻值相等，所述的高值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R2)的阻值與一選定的較高溫度時所述的鉑電阻(Rt)的阻值相等；所述的單片機(jī)(6)還輸出用于控制所述的低值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R1)、高值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R2)、鉑電阻(Rt)接入和斷開所述的溫度測量電路(5)的控制信號，所述的單片機(jī)(6)根據(jù)所述的低值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R1)、高值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R2)對所述的溫度測量電路(5)的校正結(jié)果，將已漂移的熔點測量值轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)值。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的熔點儀，其特征在于所述的低值標(biāo)準(zhǔn)電阻(Rj) 的阻值與IO(TC時所述的鉑電阻(Rt)的阻值相等，所述的高值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R2) 的阻值與30(TC時所述的鉑電阻(Rt)的阻值相等。
3、 一種消除熔點儀測量值漂移的方法，運用如權(quán)利要求1所述的熔點儀， 它包括以下步驟接入低值標(biāo)準(zhǔn)電阻(Rt)至溫度測量電路，低值標(biāo)準(zhǔn)電阻(RJ的阻 值與一選定的較低溫度ti時鉑電阻(Rt)的阻值相等，單片機(jī)記錄溫度測量電 路輸出的測量值Vt;斷開低值標(biāo)準(zhǔn)電阻(Ri),接入高值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R2)至溫度測量電路， 高值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R2)的阻值與一選定的較高溫度t2時柏電阻(Rt)的阻值相等， 單片機(jī)記錄溫度測量電路輸出的測量值V2;斷開高值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R2)，接入鉑電阻(Rt)，單片機(jī)根據(jù)透光量判斷被 測物處于完全熔化狀態(tài)時，讀取溫度測量電路輸出的測量值Vx;根據(jù)以下公式，單片機(jī)得出對應(yīng)鉑電阻Rt溫度的無漂移標(biāo)準(zhǔn)值T,<formula>formula see original document page 3</formula><formula>formula see original document page 3</formula>
4、根據(jù)權(quán)利要求3所述的消除熔點儀測量值漂移的方法，其特征在于 低值標(biāo)準(zhǔn)電阻(RJ的阻值與IO(TC時所述鉑電阻(Rt)的阻值相等，高值標(biāo)準(zhǔn)電阻(R2)的阻值與30(TC時所述柏電阻(Rt)的阻值相等。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種熔點儀，用低值標(biāo)準(zhǔn)電阻、高值標(biāo)準(zhǔn)電阻分別代替鉑電阻R<sub>t</sub>處于選定的較低溫度和較高溫度時的電阻值；單片機(jī)輸出用于控制低值標(biāo)準(zhǔn)電阻R<sub>1</sub>、高值標(biāo)準(zhǔn)電阻R<sub>2</sub>、鉑電阻R<sub>t</sub>接入和斷開溫度測量電路的控制信號，單片機(jī)根據(jù)低值標(biāo)準(zhǔn)電阻R<sub>1</sub>、高值標(biāo)準(zhǔn)電阻R<sub>2</sub>對溫度測量電路的校正結(jié)果，將已漂移的熔點測量值轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)值。本發(fā)明同時還公開了一種消除熔點儀測量值漂移的方法。
文檔編號G01N25/04GK101281150SQ200810024109
公開日2008年10月8日 申請日期2008年4月30日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月30日
發(fā)明者峰 俞, 球 王, 邢勝鎖 申請人:太倉宏大紡織儀器有限公司