專利名稱：適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備及量測(cè)方法
適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備及量測(cè)方法技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于 一種用于顯示屏光學(xué)特性量測(cè)設(shè)備及量測(cè)方法，特 別是指一種適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備及量測(cè)方法。背景技術(shù)：
LCD (Liquid crystal display, 液晶顯示屏)的光學(xué)特性量測(cè) 依其測(cè)試場(chǎng)合、測(cè)試精度需求，常見(jiàn)的有
1)針對(duì)少量的高精度要求的檢測(cè)場(chǎng)合，這時(shí)常需要使用一套搭 建在實(shí)驗(yàn)室的復(fù)雜昂貴的光學(xué)量測(cè)系統(tǒng)，比如WESTAR公司的型號(hào) 為F P M - 5 2 0的光學(xué)量測(cè)系統(tǒng)，該系統(tǒng)除了有特定的光學(xué)量測(cè)設(shè)備外， 還有一套非常復(fù)雜精密的自動(dòng)化定位系統(tǒng)，可以實(shí)現(xiàn)量測(cè)設(shè)備和待測(cè) 模組之間的復(fù)雜定位關(guān)系，這套系統(tǒng)通常自帶信號(hào)發(fā)生系統(tǒng)，來(lái)控制 模組的畫(huà)面顯示，這類(lèi)系統(tǒng)的特點(diǎn)是自動(dòng)化程度高，測(cè)試功能完善、 測(cè)試結(jié)果精度高，缺點(diǎn)則是系統(tǒng)龐大/昂貴，測(cè)試效率低，不適合批 量測(cè)試。
2 )針對(duì)批量中等精度要求的檢測(cè)場(chǎng)合，比如傳統(tǒng)的LCD全檢的 方案是將某一光學(xué)量測(cè)設(shè)備集成到流水線上的特定站別，該站別通常 提供一模組定位裝置，另外光學(xué)量測(cè)設(shè)備也會(huì)有另一個(gè)相關(guān)聯(lián)的定位 裝置，當(dāng)模組到達(dá)該站別后會(huì)被定位裝置卡到特定位置，這時(shí)再將光 學(xué)量測(cè)設(shè)備通過(guò)其定位裝置移動(dòng)到相對(duì)模組的某個(gè)特定位置，比如量 測(cè)設(shè)備的測(cè)試軸線垂直對(duì)準(zhǔn)模組的中心位置，然后由操作員通過(guò) 一 些 開(kāi)關(guān)來(lái)調(diào)整顯示畫(huà)面并控制完成各項(xiàng)測(cè)試，即該方式適用于流水線的 作業(yè)方式。
3)另外還有一種適合小型實(shí)驗(yàn)室使用的光學(xué)測(cè)試設(shè)備，類(lèi)似美 能達(dá)的CA-210,這類(lèi)系統(tǒng)通常具有類(lèi)似圖1所示的結(jié)構(gòu)，包括具有 顯示屏的控制主機(jī)，及與控制主機(jī)連接的測(cè)試頭，該類(lèi)設(shè)備通常僅提 供可簡(jiǎn)單定位的測(cè)試頭，測(cè)試結(jié)果則連續(xù)顯示在對(duì)應(yīng)的控制主機(jī)的顯示屏上。實(shí)際應(yīng)用時(shí)，需要使用者提供待測(cè)模組的定位方法并為其提 供信號(hào)系統(tǒng)，并需要對(duì)測(cè)試結(jié)果自行攫取并做相應(yīng)處理。這種設(shè)備特 點(diǎn)是便攜、價(jià)格相對(duì)低廉，適合小型實(shí)驗(yàn)室用，但不適合現(xiàn)場(chǎng)的批量 測(cè)試。目前仍有大量LCM (LCD module,液晶顯示器模組)廠使用 Off-line (離線)的方式生產(chǎn)，若需要批量檢測(cè)產(chǎn)品光學(xué)特性，而方 式1、 3顯然又不適合批量測(cè)試。鑒于對(duì)顯示屏的光學(xué)品質(zhì)要求曰益 提高，配合Off-Line作業(yè)方式提供一種可執(zhí)行的光學(xué)特性全檢方案 成為目前液晶顯示器模組廠的迫切需求。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題之一在于提供一種配合Off-Line作業(yè)方 式的適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備。本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題之二在于提供一種配合Off-Line作業(yè)方 式的適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)方法。本發(fā)明是通過(guò)以下技術(shù)方案解決上述技術(shù)問(wèn)題之一的 一種適用于顯示 屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備，包括測(cè)試頭、測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊，和個(gè)人 電腦，其中測(cè)試頭連接于測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊，測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊 連接于個(gè)人電腦，還包括可移動(dòng)的小車(chē)，所述測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊與個(gè) 人電腦統(tǒng)一裝載在可移動(dòng)的小車(chē)上，所述測(cè)試頭包括作為測(cè)試探頭的手持部 和輔助定位塊，其中輔助定位塊包括套在測(cè)試頭頭部的套筒以及一體連接延 伸出套筒的外端并向外呈圓錐形放大的接觸部，所述接觸部的最外端形成的 平面與手持部的軸線成一定角度，當(dāng)測(cè)試頭置于顯示屏上時(shí)，接觸部的最外 端完全貼合在顯示屏的表面上，所述測(cè)試頭上安裝有觸發(fā)器。所述接觸部的最外端形成的平面與手持部的軸線垂直。所述輔助定位塊的套筒與接觸部交界的位置設(shè)有至少一個(gè)擋塊，手持部 止擋于該擋塊，另外，輔助定位塊的套筒上開(kāi)設(shè)有至少一個(gè)螺孔，鎖固在該 螺孔內(nèi)的螺栓頂住手持部，使輔助定位塊定位在手持部的前端。本發(fā)明是通過(guò)以下技術(shù)方案解決上述技術(shù)問(wèn)題之二的 一種適用于顯 示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)方法，包括依次進(jìn)行的下述步驟步驟100:模組點(diǎn)燈，使用點(diǎn)燈機(jī)臺(tái)單片點(diǎn)燈，或者使用高溫爐多片同 時(shí)點(diǎn)燈；步驟200:啟動(dòng)待測(cè)模組的顯示屏的測(cè)試畫(huà)面；步驟300:作業(yè)人員手持測(cè)試頭的手持部，利用輔助定位塊完成對(duì)待測(cè) 模組的顯示屏的測(cè)試畫(huà)面定位；步驟400:觸動(dòng)手持部上的觸發(fā)器，給個(gè)人電腦一個(gè)觸發(fā)信號(hào)，個(gè)人電 腦利用其上運(yùn)行的控制程序完成一次量測(cè)；步驟500:完成單片測(cè)量；步驟600:完成測(cè)試結(jié)果判斷記錄；步驟70(h移動(dòng)測(cè)試頭，開(kāi)始定位下一片待測(cè)^t組的顯示屏的測(cè)試畫(huà)面， 并返回步驟400。所述步驟400中的控制程序包括依次進(jìn)行的下述步驟 步驟410:等待觸發(fā)信號(hào)； 步驟420:接收觸發(fā)信號(hào)； 步驟430:控制硬件完成一次量測(cè)；步驟440:判斷測(cè)試結(jié)果是否合理，若合理，則進(jìn)入步驟450，若不合 理，則返回步驟430;步驟450:提取畫(huà)面特征值和畫(huà)面特征庫(kù)進(jìn)行比較，判定對(duì)應(yīng)畫(huà)面； 步驟460:記錄測(cè)試畫(huà)面和測(cè)試結(jié)果；步驟470:判斷是否已完成所需畫(huà)面量測(cè)，若完成，則進(jìn)入步驟480， 若未完成，則返回步驟430;步驟480:判定、記錄測(cè)試結(jié)果，提示單次測(cè)試完成，并返回步驟410， 循環(huán)執(zhí)行。本發(fā)明適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備及量測(cè)方法的優(yōu)點(diǎn)在于 結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，適用于顯示屏離線生產(chǎn)方式的批量測(cè)試，操作方便，并且測(cè)試效率高。
下面參照附圖結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一 步的描述。圖l是現(xiàn)有的一種適合小型實(shí)驗(yàn)室使用的光學(xué)測(cè)試設(shè)備示意圖。圖2是本發(fā)明適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備組成示意圖。6圖3是本發(fā)明適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備的測(cè)試頭的第一實(shí) 施例結(jié)構(gòu)示意圖。圖4是本發(fā)明適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備的測(cè)試頭的第二實(shí) 施例結(jié)構(gòu)示意圖。圖5是本發(fā)明適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)方法的執(zhí)行流程圖。 圖6是本發(fā)明中手持測(cè)試頭垂直方向定位示意圖。 圖7至圖9是為滿足不同測(cè)試要求，顯示屏顯示的畫(huà)面圖。 圖10是配合適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)方法的執(zhí)行流程的軟件 流程圖。
具體實(shí)施方式請(qǐng)同時(shí)參閱圖1，本發(fā)明適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備主要由 三部分組成測(cè)試頭10、測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊20、 PC (個(gè)人電腦)30 和可移動(dòng)的小車(chē)40。其中測(cè)試頭10連接于測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊20，測(cè)試 控制/數(shù)據(jù)處理模塊20連接于PC30,且為適應(yīng)Off-line生產(chǎn)方式的批量測(cè)試 需求，測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊20與PC30統(tǒng)一裝載在可移動(dòng)的小車(chē)40上。如圖3所示，是測(cè)試頭IO的一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖，該測(cè)試頭10包括 作為測(cè)試探頭的手持部12、觸發(fā)器(圖未示)和輔助定位塊16。其中輔助 定位塊16包括套在測(cè)試頭10頭部的套筒122，以及一體連接延伸出套筒122 的外端并向外呈圓錐形放大的接觸部164，該接觸部164的最外端形成的平 面與手持部12的軸線垂直，從而當(dāng)該測(cè)試頭IO置于顯示屏上時(shí)，接觸部164 的最外端完全貼合在顯示屏的表面上，從而手持部12垂直于顯示屏。其中輔助定位塊16的套筒122與接觸部164交界的位置設(shè)有至少一個(gè) 擋塊166，手持部12止擋于該擋塊166,不至于通過(guò)接觸部164滑出，另外， 輔助定位塊16的套筒122上開(kāi)設(shè)有至少一個(gè)螺孔，通過(guò)鎖固在該螺孔內(nèi)的 螺栓168頂住手持部12,從而使輔助定位塊16定位在手持部12的前端。請(qǐng)參閱圖4，是測(cè)試頭IO的另一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖，其與上述測(cè)試頭 IO的區(qū)別僅在于，接觸部164的最外端形成的平面與手持部12的軸線不垂 直，其他結(jié)構(gòu)完全相同，用于當(dāng)需要手持部12與顯示屏成其他角度定位的 場(chǎng)合，如實(shí)現(xiàn)類(lèi)似上下左右顯示角的測(cè)試。測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊20搭配測(cè)試頭IO工作，主要是利用特定功能的電路板，實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試頭IO的控制和對(duì)測(cè)試頭IO傳送過(guò)來(lái)的電信號(hào)進(jìn)行處理。另外，對(duì)本系統(tǒng)而言，還實(shí)現(xiàn)和PC30之間的通信功能。該測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊20可采用現(xiàn)有的各種處理模塊。PC 30則主要用于測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊20的驅(qū)動(dòng)和針對(duì)該光學(xué)量測(cè)裝置設(shè)計(jì)的光學(xué)測(cè)試控制軟體，對(duì)測(cè)試過(guò)程進(jìn)行精細(xì)控制，并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行加工，完成特定的光學(xué)特性測(cè)試、判定和儲(chǔ)存需求。 請(qǐng)參閱圖5，在進(jìn)行光學(xué)量測(cè)時(shí)，依次包括下述步驟 步驟100:模組點(diǎn)燈，可使用點(diǎn)燈機(jī)臺(tái)單片點(diǎn)燈，或者使用高溫爐多片同時(shí)點(diǎn)燈；步驟200:啟動(dòng)待測(cè)模組的顯示屏的測(cè)試畫(huà)面；步驟300'.作業(yè)人員手持該測(cè)試頭IO的手持部12，利用輔助定位塊16 完成對(duì)待測(cè)模組的顯示屏的測(cè)試畫(huà)面定位；步驟400:觸動(dòng)手持部12上的觸發(fā)器，給PC30—個(gè)觸發(fā)信號(hào)，PC 30 利用其上運(yùn)行的控制程序完成一次量測(cè)，測(cè)試頭10內(nèi)部包含一光學(xué)組件， 將進(jìn)入的光轉(zhuǎn)換成包含特定光學(xué)信息的電信號(hào)，此部分的實(shí)現(xiàn)方案已很成 熟，因此，可采用現(xiàn)有的光學(xué)組件，該測(cè)試頭IO上安裝觸發(fā)器，則在作業(yè) 人員手持測(cè)試頭IO完成定位后，可使用同一只手完成觸發(fā)動(dòng)作，啟動(dòng)一次 光學(xué)測(cè)試。這樣可以空出另一只手來(lái)完成其他作業(yè)，比如另一只手持標(biāo)簽掃 描裝置，來(lái)同時(shí)錄入待測(cè)屏的相關(guān)資訊；步驟500:完成單片測(cè)量；步驟600:完成測(cè)試結(jié)果判斷記錄；步驟700:移動(dòng)測(cè)試頭10,開(kāi)始定位下一片待測(cè)^t組的顯示屏的測(cè)試畫(huà) 面，并返回步驟400。本發(fā)明通過(guò)下述方案解決測(cè)試過(guò)程中步驟300中手持測(cè)試頭10的定位 問(wèn)題。一、垂直方向定4立如圖6所示，是使用本發(fā)明中第一實(shí)施例的測(cè)試頭IO完成手持部12與 顯示屏50的垂直方向的定位，其中輔助定位塊16的接觸部164的最外端完 全貼合在顯示屏50的表面上，從而手持部12垂直于顯示屏50。二水平方向定位(實(shí)現(xiàn)對(duì)顯示面特定點(diǎn)位量測(cè))通過(guò)讓顯示屏顯示特定的畫(huà)面，如圖7及圖8所示，為顯示屏的中心點(diǎn) 顯示定位點(diǎn)60,并配合輔助定位塊16的貼緊顯示屏的表面時(shí)的輪廓來(lái)實(shí)現(xiàn) 測(cè)試顯示面中心點(diǎn)的水平定位；
定位畫(huà)面的輪廓配合輔助定位塊16提供定位限，其畫(huà)面形狀不局限于 圖示，也可以為其他需要測(cè)試的畫(huà)面；
另外，為實(shí)現(xiàn)不同的測(cè)試目的，比如紅色畫(huà)面中心點(diǎn)的色坐標(biāo)，則可通 過(guò)變換定位畫(huà)面的顏色來(lái)實(shí)現(xiàn)；
另外，為實(shí)現(xiàn)類(lèi)似均一性測(cè)試時(shí)需要定位多個(gè)點(diǎn)的需求，可通過(guò)將顯示 畫(huà)面按圖9所示的方案顯示，即顯示屏上分開(kāi)顯示復(fù)數(shù)個(gè)定位點(diǎn)60。
本發(fā)明通過(guò)下述方案來(lái)解決多畫(huà)面同時(shí)量測(cè)的問(wèn)題。
測(cè)試對(duì)比度和色飽和度時(shí)分別需要測(cè)量全白全黑兩個(gè)畫(huà)面和RGB ( red, green,andblue，紅鄉(xiāng)錄藍(lán))三色畫(huà)面，即不只一個(gè)畫(huà)面，這時(shí)需要解決如^T確 定測(cè)試結(jié)果和測(cè)試畫(huà)面間的對(duì)應(yīng)關(guān)系問(wèn)題。
傳統(tǒng)的光學(xué)量測(cè)設(shè)備對(duì)該問(wèn)題的解決方式是，測(cè)試設(shè)備集成信號(hào)發(fā)生裝 置，該裝置控制畫(huà)面的顯示和切換，由此來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)試設(shè)備動(dòng)作和畫(huà)面切換的 同步關(guān)系，因此傳統(tǒng)的光學(xué)量測(cè)系統(tǒng)在顯示屏和測(cè)試設(shè)備之間存在固定的連 接，這也是限制了測(cè)試設(shè)備移動(dòng)性的一個(gè)重要原因。
本發(fā)明為完善地實(shí)現(xiàn)測(cè)試設(shè)備的移動(dòng)性，提供了以下的解決方案。
光學(xué)量測(cè)設(shè)備和信號(hào)發(fā)生裝備完全分離。測(cè)試時(shí)， 一方面信號(hào)發(fā)生裝置 只是機(jī)械地讓顯示屏的顯示畫(huà)面按一定的速率自動(dòng)切換；另一方面本發(fā)明光 學(xué)量測(cè)設(shè)備則對(duì)待測(cè)顯示屏屏進(jìn)行連續(xù)量測(cè)，且將每個(gè)測(cè)試結(jié)果均傳送給 PC30的控制軟體?？刂栖涹w對(duì)每個(gè)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析，結(jié)合各測(cè)試畫(huà)面自 身的特征(比如黑白畫(huà)面的亮度差異等)遵循一定的邏輯進(jìn)行判斷，在測(cè)試 畫(huà)面經(jīng)過(guò)數(shù)次循環(huán)后，控制程序即可獲得所需的多個(gè)畫(huà)面的測(cè)試值，并完成 最終所需測(cè)試值的計(jì)算。僅需將循環(huán)切換的顯示畫(huà)面改成分別包含R/G/B中 心定位塊三個(gè)畫(huà)面即可使用同樣的方案解決色飽和度測(cè)試問(wèn)題。
針對(duì)本發(fā)明光學(xué)測(cè)試設(shè)備提供的測(cè)試系統(tǒng)，為簡(jiǎn)化測(cè)試作業(yè)和提高測(cè)試 效率，實(shí)現(xiàn)一鍵量測(cè)的操作方式，上述操作步驟中對(duì)測(cè)試結(jié)果的判定和測(cè)試 結(jié)果的記錄均自動(dòng)化完成，是通過(guò)編制控制軟體來(lái)實(shí)現(xiàn)的，請(qǐng)參閱圖10，上 述步驟400中的控制程序包括依次進(jìn)行的下述步驟步驟410:等待觸發(fā)信號(hào)； 步驟420:接收觸發(fā)信號(hào)； 步驟430:控制硬件完成一次量測(cè)；步驟440:判斷測(cè)試結(jié)果是否合理，若合理，則進(jìn)入步驟450，若不合 理，則返回步驟430;步驟450:提取畫(huà)面特征值和畫(huà)面特征庫(kù)進(jìn)行比較，判定對(duì)應(yīng)畫(huà)面； 步驟460:記錄測(cè)試畫(huà)面和測(cè)試結(jié)果；步驟470:判斷是否已完成所需畫(huà)面量測(cè)，若完成，則進(jìn)入步驟480, 若未完成，則返回步驟430;步驟480:判定、記錄測(cè)試結(jié)果，提示單次測(cè)試完成，并返回步驟410， 循環(huán)l丸4亍。雖然以上描述了本發(fā)明的具體實(shí)施方式
，但是熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人 員應(yīng)當(dāng)理解，我們所描述的具體的實(shí)施例只是說(shuō)明性的，而不是用于對(duì)本發(fā) 明的范圍的限定，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員在依照本發(fā)明的精神所作的等效的 修飾以及變化，都應(yīng)當(dāng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求所保護(hù)的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1. 一種適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備，包括測(cè)試頭、測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊，和個(gè)人電腦，其中測(cè)試頭連接于測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊，測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊連接于個(gè)人電腦，其特征在于還包括可移動(dòng)的小車(chē)，所述測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊與個(gè)人電腦統(tǒng)一裝載在可移動(dòng)的小車(chē)上，所述測(cè)試頭包括作為測(cè)試探頭的手持部和輔助定位塊，其中輔助定位塊包括套在測(cè)試頭頭部的套筒以及一體連接延伸出套筒的外端并向外呈圓錐形放大的接觸部，所述接觸部的最外端形成的平面與手持部的軸線成一定角度，當(dāng)測(cè)試頭置于顯示屏上時(shí)，接觸部的最外端完全貼合在顯示屏的表面上，所述測(cè)試頭上安裝有觸發(fā)器。
2. 如權(quán)利要求1所述的適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備， 其特征在于所述接觸部的最外端形成的平面與手持部的軸線垂直。
3. 如權(quán)利要求1所述的適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備， 其特征在于所述輔助定位塊的套筒與接觸部交界的位置設(shè)有至少一個(gè)擋 塊，手持部止擋于該擋塊，另外，輔助定位塊的套筒上開(kāi)設(shè)有至少一個(gè)螺孔， 鎖固在該螺孔內(nèi)的螺栓頂住手持部，使輔助定位塊定位在手持部的前端。
4. 使用如權(quán)利要求1所述的適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè) 備進(jìn)行的適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)方法，其特征在于包括 依次進(jìn)行的下述步驟步驟100:模組點(diǎn)燈，使用點(diǎn)燈機(jī)臺(tái)單片點(diǎn)燈，或者使用高溫爐多片同 時(shí)點(diǎn)燈；步驟200:啟動(dòng)待測(cè)模組的顯示屏的測(cè)試畫(huà)面；步驟300:作業(yè)人員手持測(cè)試頭的手持部，利用輔助定位塊完成對(duì)待測(cè) 模組的顯示屏的測(cè)試畫(huà)面定位；步驟400:觸動(dòng)手持部上的觸發(fā)器，給個(gè)人電腦一個(gè)觸發(fā)信號(hào)，個(gè)人電 腦利用其上運(yùn)行的控制程序完成一次量測(cè)；步驟500:完成單片測(cè)量；步驟600:完成測(cè)試結(jié)果判斷記錄；步驟700:移動(dòng)測(cè)試頭，開(kāi)始定位下一片待測(cè)模組的顯示屏的測(cè)試畫(huà)面， 并返回步驟400。
5.如權(quán)利要求4所述的適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)方法，其特征在 于所述步驟400中的控制程序包括依次進(jìn)行的下述步驟 步驟410:等待觸發(fā)信號(hào)； 步驟420:接收觸發(fā)信號(hào)； 步驟430:控制硬件完成一次量測(cè)；步驟440:判斷測(cè)試結(jié)果是否合理，若合理，則進(jìn)入步驟450，若不合理， 則返回步驟430;步驟450:提耳又畫(huà)面特征值和畫(huà)面特征庫(kù)進(jìn)行比較，判定對(duì)應(yīng)畫(huà)面； 步驟460:記錄測(cè)試畫(huà)面和測(cè)試結(jié)果；步驟470:判斷是否已完成所需畫(huà)面量測(cè)，若完成，則進(jìn)入步驟480,若 未完成，則返回步驟430;步驟480:判定、記錄測(cè)試結(jié)果，提示單次測(cè)試完成，并返回步驟410, 循環(huán)執(zhí)行。
全文摘要
一種適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)設(shè)備，包括依次連接的測(cè)試頭、測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊，和個(gè)人電腦，所述測(cè)試控制/數(shù)據(jù)處理模塊與個(gè)人電腦統(tǒng)一裝載在可移動(dòng)的小車(chē)上，所述測(cè)試頭包括作為測(cè)試探頭的手持部和輔助定位塊，其中輔助定位塊的最外端形成的平面在測(cè)試時(shí)完全貼合在顯示屏的表面上，所述測(cè)試頭上安裝有觸發(fā)器。本發(fā)明還提供一種適用于顯示屏離線全檢的光學(xué)量測(cè)方法，包括模組點(diǎn)燈；啟動(dòng)待測(cè)模組的顯示屏的測(cè)試畫(huà)面；測(cè)試畫(huà)面定位；觸動(dòng)手持部上的觸發(fā)器；完成單片測(cè)量；完成測(cè)試結(jié)果判斷記錄；移動(dòng)測(cè)試頭，開(kāi)始下一次測(cè)量。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，適用于顯示屏離線生產(chǎn)方式的批量測(cè)試，操作方便，并且測(cè)試效率高。
文檔編號(hào)G01M11/02GK101290403SQ200810109839
公開(kāi)日2008年10月22日 申請(qǐng)日期2008年5月29日 優(yōu)先權(quán)日2008年5月29日
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