專利名稱:具測試架構的液晶顯示裝置及相關測試方法
技術領域:
本發(fā)明是有關于一種具測試架構的液晶顯示裝置及相關測試方法,尤指一 種可提供精確缺陷檢測的具測試架構的液晶顯示裝置及相關測試方法。
背景技術:
液晶顯示裝置(Liquid Crystal Display; LCD)是目前廣泛使用的一種平面顯 示器,其具有外型輕薄、省電以及無輻射等特征。液晶顯示裝置的工作原理是 利用改變液晶層兩端的電壓差來改變液晶層內的液晶分子的排列狀態(tài),藉以改 變液晶層的透光性,再配合背光模塊所提供的光源以顯示影像。
在目前高分辨率顯示設計的要求下,液晶顯示裝置中的組件尺寸不斷地縮 小,期能提高組件積集度,所以微小缺陷或微粒對液晶顯示裝置的質量影響也 日趨嚴重,使得液晶顯示裝置的工藝越來越不容易達到高生產合格率的目標。 因此,為維持產品質量的穩(wěn)定,通常在液晶顯示裝置的生產過程中,亦須針對 所生產的液晶顯示裝置進行缺陷檢測, 一方面可淘汰不良品,另一方面可根據 檢測結果來分析造成缺陷的原因,之后才能進一步地藉由工藝參數(shù)的調整或生 產環(huán)境的改善來避免或減少缺陷的產生。換句話說,能實時地對生產過程所產 生的缺陷做出分析,找出缺陷發(fā)生的原因,并加以排除,不但已成為品保技術 的核心能力之一,更是快速開發(fā)高質量液晶顯示裝置工藝的關鍵。
一般而言,為使液晶顯示裝置具有廣視角的特性,在一個像素單元內會設 計兩個子像素單元,相對應于兩子像素單元的兩條伽瑪曲線(Gamma Curve, 亦稱為灰階曲線),經由灰階平均效應,可在不同視角產生最佳視覺效果,即 具有高質量廣視角特性。通常液晶顯示裝置的短路缺陷發(fā)生在相鄰子像素單元 之間,所以如何精確地檢測出相鄰子像素單元之間的短路缺陷實為生產過程的 重要關鍵技術之一。然而在習知的檢測短路缺陷測試方法中,只能檢測部分相 鄰子像素單元之間的短路缺陷,因此無法提供完整的缺陷檢測信息以及時淘汰 所有不良品,而缺陷檢測結果的分析也難以提供足夠信息以改良工藝提高合格率。
發(fā)明內容
依據本發(fā)明的實施例,其揭露一種液晶顯示裝置,包含多條數(shù)據線、多條 柵極線、多條共享電極線及多列像素單元。每一條數(shù)據線用以接收對應數(shù)據信 號。每一條柵極線用以接收對應柵極信號。多條奇數(shù)共享電極線用以接收第一 共享電壓,多條偶數(shù)共享電極線用以接收第二共享電壓。每一列像素單元包含 多個像素單元,奇數(shù)列像素單元的多個像素單元耦合于對應奇數(shù)共享電極線, 偶數(shù)列像素單元的多個像素單元耦合于對應偶數(shù)共享電極線。
依據本發(fā)明的實施例,其另揭露一種用以測試液晶顯示裝置的測試方法, 被測試的液晶顯示裝置包含多條第一柵極線、多條第二柵極線、多條數(shù)據線、 多條第一共享電極線、及多條第二共享電極線,此測試方法包含于第一時段, 供應柵極致能信號至該些第一柵極線及該些第二柵極線,供應第一測試電壓至 該些數(shù)據線的一數(shù)據線,供應第一共享測試電壓至該些第一共享電極線,供應 第二共享測試電壓至該些第二共享電極線;于第二時段,供應柵極致能信號至 該些第一柵極線,供應柵極除能信號至該些第二柵極線,供應第二測試電壓至 該數(shù)據線,供應第一共享測試電壓至該些第一共享電極線,供應第二共享測試 電壓至該些第二共享電極線;以及于第三時段,供應柵極除能信號至該些第一 柵極線及該些第二柵極線,供應第三共享測試電壓至該些第二共享電極線。
圖1為本發(fā)明第一實施例液晶顯示裝置的示意圖2為依圖1的液晶顯示裝置執(zhí)行本發(fā)明第一測試方法的工作相關信號測 試波形示意圖,其中橫軸為時間軸;
圖3為根據圖2所示的相關信號以檢測圖1的液晶顯示裝置的第一測試方 法流程圖4為圖1的液晶顯示裝置在無缺陷狀況下,經圖2的波形測試后的子像 素電壓示意表列;
圖5為依圖1的液晶顯示裝置執(zhí)行本發(fā)明第二測試方法的工作相關信號測 試波形示意圖,其中橫軸為時間軸;圖6為報據圖5所示的相關信號以檢測圖1的液晶顯小裝置的第二測試方 法流程圖7為圖1的液晶顯示裝置在無缺陷狀況下,經圖5的波形測試后的子像 素電壓示意表列;
圖8為本發(fā)明第二實施例液晶顯示裝置的示意圖。主要組件符號說明
400、 800 液晶顯示裝置 410、 810 柵極線 420、 820 430、 830
440、 840
441、 841 443、 843 445、 845 447、 847 460
470 480 600 812 832
890
891 893 895 897
899
900
Cll、 C21、 C31、 C41 C12、 C22、 C32、 C42
共享電極線 像素單元 第一開關 第二開關 第一像素電容 第二像素電容 電壓產生器 柵極驅動電路 源極驅動電路 第一測試方法 輔助柵極線 輔助共享電極線 前置輔助像素單元 第一輔助開關 第一輔助電容 后置輔助像素單元 第二輔助開關 第二輔助電容 第二測試方法 第一像素電容 第二像素電容CU 、CUastl 、 CXn-CXn+3 CLA1 CLA2
DLm、 DLm+l
GLn畫GLn+3
Plm、 P2m、
Pn—m-Pn+3—m
PA1
PA2
S605-S635、 S905-S935 SDm、 SDm+l SGeven SGn-SGn+3 SGodd Ta、 Td Tb、 Te Tc、 Tf
VI、 V2、 V3、 V4
Vcoml
Vcom2
Vctl
Vct2
Vtsl
Vts2
Vpii畫Vp42
共享電極線
第一輔助共享電極線
第二輔助共享電極線
數(shù)據線
柵極線
像素單元
前置輔助像素單元 后置輔助像素單元 步驟
數(shù)據信號
偶數(shù)柵極信號
柵極信號
奇數(shù)柵極信號
第一時段
第二時段
第三時段
電壓
第一共享電壓
第二共享電壓
第一共享測試電壓
第二共享測試電壓
第一測試電壓
第二測試電壓
子像素電壓
具體實施例方式
為讓本發(fā)明更顯而易懂,下文依本發(fā)明具測試架構的液晶顯示裝置及相關測試方法,特舉實施例配合所附圖式作詳細說明,但所提供的實施例并非用以 限制本發(fā)明所涵蓋的范圍,而方法流程步驟編號更非用以限制其執(zhí)行先后次 序,任何由方法步驟重新組合的執(zhí)行流程所產生具有均等功效的方法,皆為本 發(fā)明所涵蓋的范圍。
圖1為本發(fā)明第一實施例液晶顯示裝置的示意圖。如圖1所示,液晶顯示
裝置400包含多條柵極線410、多條數(shù)據線420、多條共享電極線430、多列 像素單元、電壓產生器460、柵極驅動電路470及源極驅動電路480。每一列 像素單元包含多個像素單元440。每一個像素單元440包含第一開關441、第 二開關443、第一像素電容445及第二像素電容447,其中第一開關441及第 一像素電容445組合為一子像素單元,第二開關443及第二像素電容447組合 為另一子像素單元。第一開關441及第二開關443可為金屬氧化物半導體場效 晶體管(Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor)或薄膜晶體管(Thin Film Transistor)。
第一像素電容445包含第一端及第二端,其中第一端耦合于對應共享電極 線430。第二像素電容447包含第一端及第二端,其中第一端耦合于對應共享 電極線430。第一開關441包含第一端、第二端與門極端,其中第一端耦合于 對應第一像素電容445的第二端,第二端耦合于對應數(shù)據線420,柵極端耦合 于對應柵極線410。第二開關443包含第一端、第二端與門極端,其中第一端 耦合于對應第二像素電容447的第二端,柵極端耦合于對應柵極線410,第二 端耦合于相異像素單元440的第一開關441的第一端。奇數(shù)列像素單元的多個 像素單元440耦合于對應奇數(shù)共享電極線430以接收第一共享電壓Vcoml, 偶數(shù)列像素單元的多個像素單元440耦合于對應偶數(shù)共享電極線430以接收第 二共享電壓Vcom2。在另一實施例中,奇數(shù)共享電極線430用以接收第二共 享電壓Vcom2,即奇數(shù)列像素單元的多個像素單元440接收第二共享電壓 Vcom2,而偶數(shù)共享電極線430則用以接收第一共享電壓Vcoml,即偶數(shù)列 像素單元的多個像素單元440接收第一共享電壓Vcoml。
舉例而言,在第n列像素單元(奇數(shù)列像素單元)的第m個像素單元Pn—m 中(m和n是大于0的整數(shù)),第一像素電容Cll及第二像素電容C12的第一端 耦合于奇數(shù)共享電極線CLn,第一開關Tll及第二開關T12的柵極端耦合于 柵極線GLn,第一開關Tll的第一端耦合于第一像素電容Cll的第二端,第二開關T12的第一端耦合于第二像素電容C12的第二端,第一開關Tll的第
二端耦合于數(shù)據線DLm,第二開關T12的第二端耦合于第n+l列像素單元的 第m個像素單元Pn+1—m的第一開關T21的第一端,第--開關T21的第二端 耦合于數(shù)據線DLm。因此,第一開關Tll及第一開關T21的第二端均耦合于 數(shù)據線DLm,即第一像素電容Cll及第二像素電容C12均由數(shù)據線DLm所 提供的數(shù)據信號SDm進行充電。
在第n+l列像素單元(偶數(shù)列像素單元)的第m個像素單元Pn+1—m中,第 一像素電容C21及第二像素電容C22的第一端耦合于偶數(shù)共享電極線CLn+l , 第一開關T21及第二開關T22的柵極端耦合于柵極線GLn+l,第一開關T21 的第一端耦合于第一像素電容C21的第二端,第二開關T22的第一端耦合于 第二像素電容C22的第二端,第一開關T21的第二端耦合于數(shù)據線DLm,第 二開關T22的第二端耦合于第n+2列像素單元的第m個像素單元Pn+2—m的 第一開關T31的第一端,第一開關T31的第二端耦合于數(shù)據線DLm。因此, 第一開關T21及第 一開關T31的第二端均耦合于數(shù)據線DLm,即第一像素電 容C21及第二像素電容C22均由數(shù)據線DLm所提供的數(shù)據信號SDm進行充 電。
由上述可知,每一個第一像素電容445經由對應數(shù)據線420及相同像素單 元440的第一開關441進行充電。每一個第二像素電容447經由對應數(shù)據線 420、相異像素單元440的第一開關441、及相同像素單元440的第二開關443 進行充電。舉例而言,像素單元Pn—m的第一像素電容Cll由數(shù)據信號SDm 經數(shù)據線DLm及像素單元Pn—m的第一開關Tl 1進行充電,第二像素電容C12 由數(shù)據信號SDm經數(shù)據線DLm、像素單元Pn+l一m的第一開關T21 、及像素 單元Pn—m的第二開關T12進行充電。
電壓產生器460包含第一輸出端及第二輸出端,其中第一輸出端耦合于多 條奇數(shù)共享電極線430,第二輸出端耦合于多條偶數(shù)共享電極線430,第一輸 出端用以輸出第一共享電壓Vcoml至多條奇數(shù)共享電極線430,第二輸出端 用以輸出第二共享電壓Vcom2至多條偶數(shù)共享電極線430。舉例而言,奇數(shù) 共享電極線CLn及CLn+2耦合于電壓產生器460的第一輸出端以接收第一共 享電壓Vcoml ,偶數(shù)共享電極線CLn+l及CLn+3耦合于電壓產生器460的第 二輸出端以接收第二共享電壓Vcom2。圖2為依圖1的液晶顯示裝置400執(zhí)行本發(fā)明第-測試方法的工作相關信
號測試波形示意圖,其中橫軸為時間軸。在執(zhí)行液晶顯示裝置400的缺陷測試 中,多條奇數(shù)柵極線及多條偶數(shù)柵極線分別被饋入奇數(shù)柵極信號SGodd及偶 數(shù)柵極信號SGeven,多條奇數(shù)共享電極線及多條偶數(shù)共享電極線分別被饋入 第一共享電壓Vcoml及第二共享電壓Vcom2。在圖2中,由上往下的信號分 別為奇數(shù)柵極信號SGodd、偶數(shù)柵極信號SGeven、數(shù)據信號SDm、第一共享 電壓Vcoml、第二共享電壓Vcom2、及對應于四個像素單元Pn—m-Pn+3—m的 子像素電壓VP11-VP42,其中第一共享電壓Vcoml保持于固定電壓準位Vct3。
請參考第l、 2及3圖,圖3為根據圖2所示的相關信號以檢測圖1的液 晶顯示裝置的第一測試方法流程圖。如圖3所示,第一測試方法600包含F(xiàn)列
歩驟
歩驟S605:于第一時段Ta內,將第二共享電壓Vcom2及第一共享電壓 Vcoml分別設為第一共享測試電壓Vctl及第三共享測試電壓Vct3,并將奇數(shù) 柵極信號SGodd及偶數(shù)柵極信號SGeven均設為高準位的致能信號,用以切換 多個第一開關Tl 1-T41及多個第二開關T12-T42至導通狀態(tài);
步驟S610:于第一時段Ta內,將數(shù)據信號SDm設為第一測試電壓Vtsl, 用以對像素單元Pn一m-Pn+3—m的第一像素電容C11-C41及第二像素電容 C12-C42充電,使多個子像素電壓Vpu-Vp42提升至電壓VI;
步驟S615:于第二時段Tb內,將奇數(shù)柵極信號SGodd設為高準位的致 能信號,并將偶數(shù)柵極信號SGeven設為低準位的除能信號,用以切換第一開 關T21,T41及第二開關T22,T42至截止狀態(tài),及保持第一開關Tl 1,T31及第二 開關T12,T32于導通狀態(tài);
步驟S620:于第二時段Tb內,將數(shù)據信號SDm設為第二測試電壓Vts2, 用以對像素單元Pn—m及Pn+2一m的第一像素電容Cll及C31充電,使子像素 電壓VP11及VP31變更為電壓V2;
步驟S625:在第二時段Tb后,將奇數(shù)柵極信號SGodd及偶數(shù)柵極信號 SGeven均設為低準位的除能信號,用以切換第一開關T11,T31及第二開關 T12,T32至截止狀態(tài),及保持第一開關T21,T41及第二開關T22,T42于截止狀 態(tài);
步驟S630:于第三時段Tc內,將第二共享電壓Vcom2設為第二共享測
12試電壓Vct2,用以使子像素電壓VP21、 VP22、 Vm及Vp42變更為電壓V3;以
及
步驟S635:于第三時段Tc內,根據子像素電壓Vpn-Vp42的電壓同異關系 以檢測液晶顯示裝置400的像素單元Pn—m-Pn+3—m的相關短路缺陷。
在上述第一測試方法600的流程中,第一時段Ta、第二時段Tb及第三時 段Tc不互相重疊,第一測試電壓Vtsl及第二測試電壓Vts2為相異電壓,第 一共享測試電壓Vctl及第二共享測試電壓Vct2也為相異電壓。在歩驟S630 中,將第二共享電壓Vcom2設為第二共享測試電壓Vct2,用以使子像素電壓 VP21、 VP22、 Vm及Vp42變更為電壓V3,為利用第一像素電容C21,C41及第二 像素電容C22,C42的電容效應,于第二共享電壓Vcom2從第一共享測試電壓 Vctl變更為第二共享測試電壓Vct2時,將子像素電壓VP21、 VP22、 VP41& VP42 從電壓V1變更為電壓V3。在另一實施例中,步驟S630可包含將第一共享電 壓Vcoml設為相異于第三共享測試電壓Vct3的另一共享測試電壓,用以變更
子像素電壓Vpu、 VP12、 Vf^及Vp32。
圖4為圖1的液晶顯示裝置400在無缺陷狀況下,經圖2的波形測試后的 子像素電壓示意表列。如圖4所示,像素單元Pn+l一m的相鄰子像素單元的子 像素電壓V^及Vp22均為電壓V3,且像素單元Pn+3一m的相鄰子像素單元的 子像素電壓VP41及Vw均為電壓V3,其余相鄰子像素單元的子像素電壓均為 相異電壓。因此,在檢測短路缺陷的第一測試方法600中,只有像素單元 Pn+1—m的相鄰子像素單元間的短路缺陷模式以及像素單元Pn+3—m的相鄰子 像素單元間的短路缺陷模式無法被檢測出來,其余相鄰子像素單元間的短路缺 陷模式均可被檢測出來。
圖5為依圖1的液晶顯示裝置400執(zhí)行本發(fā)明第二測試方法的工作相關信 號測試波形示意圖,其中橫軸為時間軸。在圖5中,由上往下的信號分別為奇 數(shù)柵極信號SGodd、偶數(shù)柵極信號SGeven、數(shù)據信號SDm、第一共享電壓 Vcoml、第二共享電壓Vcom2、及對應于四個像素單元Pn一m-Pn+3—m的子像 素電壓Vpn-Vp42,其中第一共享電壓Vcoml保持于固定電壓準位Vct3。
請參考第1、 5及6圖,圖6為根據圖5所示的相關信號以檢測圖1的液 晶顯示裝置的第二測試方法流程圖。如圖6所示,第二測試方法900包含下列 歩驟步驟S905:于第一時段Td內,將第一共享電壓Vcom 1及第二共享電壓 Vcom2分別設為第三共享測試電壓Vct3及第一共享測試電壓Vctl ,并將奇數(shù) 柵極信號SGodd及偶數(shù)柵極信號SGeven均設為高準位的致能信號,用以切換 多個第一開關T11-T41及多個第二開關T12-T42至導通狀態(tài);
歩驟S910:于第一時段Td內,將數(shù)據信號SDm設為第一測試電壓Vtsl , 用以對像素單元Pn一m-Pn+3—m的第一像素電容C11-C41及第二像素電容 C12-C42充電,使多個子像素電壓Vpn-Vp42提升至電壓VI;
步驟S915:于第二時段Te內,將偶數(shù)柵極信號SGeven設為高準位的致 能信號,并將奇數(shù)柵極信號SGodd設為低準位的除能信號,用以切換第一開 關Tl 1,T31及第二開關T12,T32至截止狀態(tài),及保持第一開關T21,T41及第二 開關T22,T42于導通狀態(tài);
步驟S920:于第二時段Te內,將數(shù)據信號SDm設為第二測試電壓Vts2, 用以對像素單元Pn+1—m及Pn+3—m的第一像素電容C21及C41充電,使子 像素電壓VP21及VP41變更為電壓V2;
步驟S925:在第二時段Te后,將奇數(shù)柵極信號SGodd及偶數(shù)柵極信號 SGeven均設為低準位的除能信號,用以切換第一開關T21,T41及第二開關 T22,T42至截止狀態(tài),及保持第一開關T11,T31及第二開關T12,T32于截止狀 態(tài);
步驟S930:于第三時段Tf內,將第二共享電壓Vcom2設為第二共享測
試電壓Vct2,用以使子像素電壓Vp22及Vp42變更為電壓V3,及使子像素電壓 Vp2,及Vpw變更為電壓V4;以及
步驟S935:于第三時段Tf內,根據子像素電壓Vp『Vp42的電壓同異關系 以檢測液晶顯示裝置400的像素單元Pn—m-Pn+3—m的相關短路缺陷。
在上述第二測試方法900的流程中,第一時段Td、第二時段Te及第三時 段Tf不互相重疊,第一測試電壓Vtsl及第二測試電壓Vts2為相異電壓,第 一共享測試電壓Vctl及第二共享測試電壓Vct2也為相異電壓。在步驟S930 中,將第二共享電壓Vcom2設為第二共享測試電壓Vct2,用以使子像素電壓
Vp22及Vp42變更為電壓V3,及使子像素電壓Vp2i及Vp^變更為電壓V4,為
利用第一像素電容C21,C41及第二像素電容C22,C42的電容效應,于第二共 享電壓Vcom2從第一共享測試電壓Vctl變更為第二共享測試電壓Vct2時,將子像素電壓Vf^及Vw從電壓VI變更為電壓V3,及將子像素電壓Vp2,及
VP41從電壓V2變更為電壓V4。在另一實施例中,步驟S930可包含將第一共 享電壓Vcoml設為相異于第三共享測試電壓Vct3的另一共享測試電壓,用以
變更子像素電壓Vpu、 VP12、 Vpw及Vp32。
圖7為圖1的液晶顯示裝置400在無缺陷狀況下,經圖5的波形測試后的 子像素電壓示意表列。如圖7所示,像素單元Pn一m的相鄰子像素單元的子像 素電壓VP11及Vm均為電壓VI,且像素單元Pn+2—m的相鄰子像素單元的子 像素電壓VP31及Vm為均電壓VI,其余相鄰子像素單元的子像素電壓均為相 異電壓。所以在檢測短路缺陷的第二測試方法900中,只有像素單元Pn—m的 相鄰子像素單元間的短路缺陷模式,及像素單元Pn+2一m的相鄰子像素單元間 的短路缺陷模式無法被檢測出來,其余相鄰子像素單元間的短路缺陷模式均可 被檢測出來。
由上述可知,第一測試方法600無法檢測的短路缺陷模式可被第二測試方 法900檢測出來,而第二測試方法卯0無法檢測的短路缺陷模式可被第一測試 方法600檢測出來,所以整合第一測試方法600及第二測試方法900的測試結 果,就可檢測所有模式的短路缺陷。
圖8為本發(fā)明第二實施例液晶顯示裝置的示意圖。如圖8所示,液晶顯示 裝置800包含多條柵極線810、多條輔助柵極線812、多條數(shù)據線820、多條 共享電極線830、多條輔助共享電極線832、多列像素單元、及多列輔助像素 單元。多列輔助像素單元包含第一列輔助像素單元及第二列輔助像素單元,第 一列輔助像素單元相鄰于第一列像素單元,第二列輔助像素單元相鄰于倒數(shù)第 一列像素單元。多條輔助柵極線812包含第一輔助柵極線GLA1及第二輔助柵 極線GLA2。多條輔助共享電極線832包含第一輔助共享電極線CLA1及第二 輔助共享電極線CLA2。第一條共享電極線CL1及第一輔助共享電極線CLA1 分別用以接收第一共享電壓Vcoml及第二共享電壓Vcom2。若倒數(shù)第一條共 享電極線CLlastl為偶數(shù)共享電極線,則如圖所示,倒數(shù)第一條共享電極線 CLlastl及第二輔助共享電極線CLA2分別用以接收第二共享電壓Vcom2及第 一共享電壓Vcoml。在另一實施例中,若倒數(shù)第一條共享電極線CLlastl為奇 數(shù)共享電極線,則倒數(shù)第一條共享電極線CLlastl及第二輔助共享電極線CLA2 分別用以接收第一共享電壓Vcoml及第二共享電壓Vcom2。每一列像素單元包含多個像素單元840。每一個像素單元840包含第一開 關841、第二開關843、第一像素電容845及第二像素電容847。前述像素單 元的第二列像素單元至倒數(shù)第二列像素單元的像素單元耦合關系同于上述圖 1的液晶顯示裝置400的像素單元耦合關系。
第一列輔助像素單元包含多個前置輔助像素單元890。第二列輔助像素單 元包含多個后置輔助像素單元895。前置輔助像素單元890包含第一輔助開關 891及第一輔助電容893。后置輔助像素單元895包含第二輔助開關897及第 二輔助電容899。第一開關841、第二開關843、第一輔助開關891及第二輔 助開關897可為金屬氧化物半導體場效晶體管或薄膜晶體管。
第一輔助電容893包含第一端及第二端,其中第一端耦合于第一輔助共享 電極線CLA1。第一輔助開關891包含第一端、第二端與門極端,其中第一端 耦合于對應第一輔助電容893的第二端,柵極端耦合于第一輔助柵極線GLA1, 第二端耦合于對應第一開關841。第二輔助電容899包含第一端及第二端,其 中第一端耦合于第二輔助共享電極線CLA2。第二輔助開關897包含第一端、 第二端與門極端,其中第二端耦合于對應數(shù)據線820,柵極端耦合于第二輔助 柵極線GLA2,第一端耦合于對應第二輔助電容899的第二端,第一端另耦合 于對應第二開關843。
舉例而言,在第一列輔助像素單元的第m個前置輔助像素單元PA1中, 第一輔助電容CA1的第一端耦合于第一輔助共享電極線CLA1,第一輔助開 關TA1的第一端耦合于第一輔助電容CA1的第二端,第一輔助開關TA1的第 二端耦合于第一列像素單元的第m個像素單元Plm的第一開關Tlm。
在第二列輔助像素單元的第m個后置輔助像素單元PA2中,第二輔助電 容CA2的第一端耦合于第二輔助共享電極線CLA2,第二輔助開關TA2的第 一端耦合于第二輔助電容CA2的第二端,第二輔助開關TA2的第二端耦合于 數(shù)據線DLm,第二輔助開關TA2的第一端另耦合于倒數(shù)第一列像素單元的第 m個像素單元P2m的第二開關T2m。
第一列輔助像素單元用來輔助第一列像素單元的第一像素電容845以執(zhí) 行精確的測試電壓寫入操作,若沒有第一列輔助像素單元,則會導致第一列像 素單元的第一像素電容845的測試電壓寫入失真狀況。第二列輔助像素單元用 來輔助倒數(shù)第一列像素單元的第二像素電容847以執(zhí)行精確的測試電壓寫入操作,若沒有第—二列輔助像素單元,則無法執(zhí)行倒數(shù)第一列像素單元的第二像 素電容847的測試電壓寫入操作。
由上述可知,本發(fā)明液晶顯示裝置配合本發(fā)明第一測試方法及第二測試方 法,可將液晶顯示裝置的所有模式的短路缺陷檢測出來,所以本發(fā)明液晶顯示 裝置的驅動電路架構特別適用于高分辨率顯示設計,用以在高分辨率液晶顯示 裝置的制造過程中,提供各種短路缺陷模式的精確檢測, 一方面可及時淘汰不 良品以節(jié)省后續(xù)制造成本,另一方面可根據檢測結果分析造成缺陷的原因以調 整工藝參數(shù)或改善生產環(huán)境來避免或減少缺陷的產生。
在本發(fā)明的均等實施例中,液晶顯示裝置的電壓產生器可用以提供異于第 一共享電壓及第二共享電壓的額外共享電壓,相異共享電壓饋入相異共享電極 線,用以在不同時段根據相異共享電壓,配合數(shù)據信號的電壓切換及相關柵極 信號的致能/除能切換,以精確地檢測出所有模式的短路缺陷。
雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上,然其并非用以限定本發(fā)明,在不 背離本發(fā)明精神及其實質的情況下,熟悉本領域的技術人員當可根據本發(fā)明作 出各種相應的改變和變形,但這些相應的改變和變形都應屬于本發(fā)明所附的權 利要求的保護范圍。
權利要求
1.一種具測試架構的液晶顯示裝置,其特征在于,包含多條數(shù)據線,每一條數(shù)據線接收一對應數(shù)據信號;多條柵極線,每一條柵極線接收一對應柵極信號;多條共享電極線,該些共享電極線的多條奇數(shù)共享電極線用以接收一第一共享電壓,該些共享電極線的多條偶數(shù)共享電極線用以接收一第二共享電壓;以及多列像素單元,每一列像素單元包含多個像素單元,其中該些列像素單元的一奇數(shù)列像素單元的多個像素單元耦合于該些共享電極線的一對應奇數(shù)共享電極線,該些列像素單元的一偶數(shù)列像素單元的多個像素單元耦合于該些共享電極線的一對應偶數(shù)共享電極線。
2. 如權利要求1所述的液晶顯示裝置,其特征在于,每一個像素單元包含一第一像素電容,包含一第一端及一第二端,其中該第一端耦合于該些共 享電極線的一對應共享電極線;一第二像素電容,包含一第一端及一第二端,其中該第一端耦合于該對應 共享電極線;一第一開關,包含一第一端、 一第二端及一柵極端,其中該第一端耦合于 該第一像素電容的第二端,該柵極端耦合于該些柵極線的一對應柵極線,該第 二端耦合于該些數(shù)據線的一對應數(shù)據線;以及一第二開關,包含一第一端、 一第二端及一柵極端,其中該第一端耦合于 該第二像素電容的第二端,該柵極端耦合于該對應柵極線,該第二端耦合于一 對應第一開關的第一端,其中該對應第一開關的第二端耦合于該對應數(shù)據線。
3. 如權利要求2所述的液晶顯示裝置,其特征在于,該些列像素單元的一第n列像素單元的一第m個像素單元的第一開關的 第二端耦合于該些數(shù)據線的一第m條數(shù)據線,其中m與n為大于0的整數(shù);該些列像素單元的一第n+l列像素單元的一第m個像素單元的第一開關 的第二端耦合于該第m條數(shù)據線;以及該第n列像素單元的第m個像素單元的第二開關的第二端耦合于該第n+l列像素單元的第m個像素單元的第一開關的第一端。
4. 如權利要求3所述的液晶顯示裝置,其特征在于,該第n列像素單元的 第m+l個像素單元的第一開關的第二端耦合于該 些數(shù)據線的一第m+l條數(shù)據線;該第n+l列像素單元的一第m+l個像素單元的第一開關的第二端耦合于 該第m+l條數(shù)據線;以及該第n列像素單元的第m+l個像素單元的第二開關的第二端耦合于該第 n+l列像素單元的第m+l個像素單元的第一開關的第一端。
5. 如權利要求2所述的液晶顯示裝置,其特征在于,另包含 一電壓產生器,包含一第一輸出端及一第二輸出端,其中該第一輸出端耦合于該些奇數(shù)共享電極線以提供該第一共享電壓,該第二輸出端耦合于該些偶 數(shù)共享電極線以提供該第二共享電壓;一輔助柵極線,相鄰于該些柵極線的一第一條柵極線,該輔助柵極線用以 接收一輔助柵極信號;一輔助共享電極線,耦合于該電壓產生器的第二輸出端,用以接收該第二 共享電壓;以及一輔助列像素單元,該輔助列像素單元包含多個輔助像素單元,每一個輔 助像素單元包含一輔助電容,包含一第一端及一第二端,其中該第一端耦合于該輔助共享 電極線;以及一輔助開關,包含一第一端、 一第二端及一柵極端,其中該第一端耦合于 該輔助電容的第二端,該柵極端耦合于該輔助柵極線,該第二端耦合于一對應 第一開關的第一端。
6. 如權利要求5所述的液晶顯示裝置,其特征在于,該輔助列像素單元的一第m個輔助像素單元的輔助開關的第二端耦合于 該些列像素單元的一第一列像素單元的一第m個像素單元的第一開關的第一A山順。
7. 如權利要求2所述的液晶顯示裝置,其特征在于,另包含一電壓產生器,包含一第一輸出端及一第二輸出端,其中該第一輸出端耦 合于該些奇數(shù)共享電極線以提供該第一共享電壓,該第二輸出端耦合于該些偶數(shù)共享電極線以提供該第二共享電壓;一輔助柵極線,相鄰于該些柵極線的一倒數(shù)第-一條柵極線,該輔助柵極線 用以接收一輔助柵極信號;以及一輔助列像素單元,該輔助列像素單元包含多個輔助像素單元,每一個輔 助像素單元包含一輔助開關,包含一第一端、 一第二端及一柵極端,其中該第一端耦合于 一對應第二開關的第二端,該柵極端耦合于該輔助柵極線,該第二端耦合于一 對應數(shù)據線。
8. 如權利要求7所述的液晶顯示裝置,其特征在于,該輔助像素單元另 包含一輔助電容,包含一第一端及一第二端,其中該第一端用以接收該第一共 享電壓或該第二共享電壓,該第二端耦合于該輔助開關的第一端。
9. 如權利要求8所述的液晶顯示裝置,其特征在于,另包含 一輔助共享電極線,耦合于該輔助電容的第一端。
10. 如權利要求9所述的液晶顯示裝置,其特征在于,該輔助共享電極線另耦合于該電壓產生器的第一輸出端或第二輸出端。
11. 如權利要求7所述的液晶顯示裝置,其特征在于, 該輔助列像素單元的一第m個輔助像素單元的輔助開關的第一端耦合于該些列像素單元的一倒數(shù)第一列像素單元的一第m個像素單元的第二開關的第一端。
12. 如權利要求1所述的液晶顯示裝置,另包含一源極驅動電路,耦合于該些數(shù)據線,用以提供該些數(shù)據信號;以及 一柵極驅動電路,耦合于該些柵極線,用以提供該些柵極信號。
13. —種用以測試一液晶顯示裝置的測試方法,該液晶顯示裝置包含多條 第一柵極線、多條第二柵極線、多條數(shù)據線、多條第一共享電極線、及多條第 二共享電極線,該測試方法包含于一第一時段,供應一柵極致能信號至該些第一柵極線及該些第二柵極 線,供應一第一測試電壓至該些數(shù)據線的一數(shù)據線,供應一第一共享測試電壓 至該些第一共享電極線,供應一第二共享測試電壓至該些第二共享電極線;于一第二時段,供應該柵極致能信號至該些第一柵極線,供應一柵極除能信號至該些第二柵極線,供應一第二測試電壓至該數(shù)據線,供應該第一共享測 試電壓至該些第一共享電極線,供應該第二共享測試電壓至該些第二共享電極 線;以及于 -第三時段,供應該柵極除能信號至該些第一-柵極線及該些第二柵極 線,供應一第三共享測試電壓至該些第二共享電極線。
14. 如權利要求13所述的測試方法,其特征在于,該些第一柵極線為多 條奇數(shù)柵極線,該些第二柵極線為多條偶數(shù)柵極線,該些第一共享電極線為多 條奇數(shù)共享電極線,該些第二共享電極線為多條偶數(shù)共享電極線。
15. 如權利要求13所述的測試方法,其特征在于,該些第一柵極線為多 條奇數(shù)柵極線,該些第二柵極線為多條偶數(shù)柵極線,該些第一共享電極線為多 條偶數(shù)共享電極線,該些第二共享電極線為多條奇數(shù)共享電極線。
16. 如權利要求13所述的測試方法,其特征在于,該些第一柵極線為多 條偶數(shù)柵極線,該些第二柵極線為多條奇數(shù)柵極線,該些第一共享電極線為多 條偶數(shù)共享電極線,該些第二共享電極線為多條奇數(shù)共享電極線。
17. 如權利要求13所述的測試方法,其特征在于,該些第一柵極線為多 條偶數(shù)柵極線,該些第二柵極線為多條奇數(shù)柵極線,該些第一共享電極線為多 條奇數(shù)共享電極線,該些第二共享電極線為多條偶數(shù)共享電極線。
18. 如權利要求13所述的測試方法,其特征在于,該第一時段、該第二 時段及該第三時段不互相重疊。
19. 如權利要求13所述的測試方法,其特征在于,該第一時段在該第二 時段之前,且該第二時段在該第三時段之前。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種具測試架構的液晶顯示裝置,主要包含多條數(shù)據線、多條柵極線、多條共享電極線及多列像素單元。多條奇數(shù)共享電極線是用以饋送第一共享電壓,多條偶數(shù)共享電極線是用以饋送第二共享電壓。奇數(shù)列像素單元及偶數(shù)列像素單元分別耦合于對應奇數(shù)共享電極線及對應偶數(shù)共享電極線。另揭露一種檢測液晶顯示裝置的缺陷的測試方法,包含于第一時段致能所有柵極線及饋入第一測試電壓至對應數(shù)據線;于第二時段除能偶數(shù)柵極線及饋入第二測試電壓至對應數(shù)據線;及于第三時段將第二共享電壓從第一共享測試電壓切換為第二共享測試電壓。
文檔編號G01R31/00GK101308306SQ200810132560
公開日2008年11月19日 申請日期2008年7月15日 優(yōu)先權日2008年7月15日
發(fā)明者李斳倫, 林家強, 黃韋凱 申請人:友達光電股份有限公司