專(zhuān)利名稱(chēng):可降低分析儀器譜圖相對(duì)偏差rsd的定量分析方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種可降低分析儀器譜圖相對(duì)偏差RSD的定量分析方法,該
方法至少可適用于極譜分析、溶出伏安分析、電位溶出分析、色譜分析、以
及光譜分析及各種類(lèi)型微量元素的定量測(cè)定過(guò)程。
背景技術(shù):
由于受到公知的操作條件影響,在現(xiàn)有的分析儀器分析方法和微量元素
定量分析方法中所獲取的峰高或峰面積的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD普遍都很大, 這自然會(huì)影響到分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。比如當(dāng)采用溶出分析法測(cè)量血鉛時(shí), RSD值通常都會(huì)大于10%,所測(cè)得的結(jié)果自然會(huì)有很大誤差。再有,當(dāng)采 用靜汞電極進(jìn)行極譜分析時(shí),其RSD值也至少會(huì)大于2y"還有,在色譜分 析儀的使用中,由于進(jìn)樣量的不準(zhǔn)確,因此所測(cè)得的絕對(duì)峰高或峰面積其 RSD值也同樣較大。圖1為現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)量譜圖。
上述各種測(cè)量方法之所以都會(huì)出現(xiàn)同一種共性的問(wèn)題,其主要原因是在 設(shè)備及操作功能設(shè)計(jì)方面所考慮的因素還比較單一,或者說(shuō)是在思維方面還 存在著很大的局限性。如果要想大大地減少RSD值所帶來(lái)的偏差,就必須 要對(duì)相關(guān)的參數(shù)和方法加以改進(jìn),而目前有關(guān)此類(lèi)技術(shù)的相關(guān)報(bào)導(dǎo)至今還尚 未發(fā)現(xiàn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種可降低分析儀器譜圖相對(duì)偏差RSD的定量分析方法。
本發(fā)明方法是通過(guò)以下技術(shù)方案加以實(shí)現(xiàn)的。 1、測(cè)量溶液的配制
在待測(cè)溶液中可以含有一種、或多種被測(cè)組分,同時(shí)還需要再定量地加 入內(nèi)標(biāo)物組分。所述的內(nèi)標(biāo)物組分在溶出分析和極譜分析中可選用由重金屬元 素、如鎘、鎳、鈷配制的內(nèi)標(biāo)物,在色譜及光譜分析中還可以進(jìn)一步擴(kuò)大選擇 范圍。
如在測(cè)定白酒的成分時(shí),可用乙酸正丁酯作為內(nèi)標(biāo)物,測(cè)量碳酸二甲酯和 碳酸二苯酯時(shí),均可用苯甲酸乙酯作內(nèi)標(biāo)物,做天然氣分析時(shí),還可以用庚二 酸作內(nèi)標(biāo)物。
2、測(cè)量曲線繪制
根據(jù)所使用的分析儀器和相應(yīng)分析方法,可以以測(cè)量峰高和電位、時(shí)間
或波長(zhǎng)為坐標(biāo)參數(shù)繪制出各自的測(cè)量曲線。
下面是針對(duì)不同的儀器和方法所分別設(shè)定坐標(biāo)參數(shù)。 采用極譜法時(shí),測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定為測(cè)量峰高與電位。 采用溶出伏安法時(shí),測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù)也設(shè)定為測(cè)量峰高與電位。 采用電位溶出法時(shí),測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù)同樣設(shè)定為測(cè)量峰高與電位。 采用色譜分析法時(shí),測(cè)量曲線的坐標(biāo)參數(shù)設(shè)為測(cè)量峰高與時(shí)間。 采用光譜分析法時(shí),測(cè)量曲線的坐標(biāo)參數(shù)設(shè)為測(cè)量峰高與波長(zhǎng)。 在按照各自的常規(guī)方法完成相關(guān)的測(cè)量后,在新的坐標(biāo)系上我們可以得
到一系列的離散信號(hào)點(diǎn),再將這些離散信號(hào)點(diǎn)依次連接,就可以得到不同類(lèi)
型設(shè)備及相應(yīng)方法的連續(xù)曲線了。3、測(cè)量值的計(jì)算
通過(guò)計(jì)算譜圖,我們可以首先得到全部組分的峰高以及對(duì)應(yīng)該峰高的峰 電位、峰時(shí)間,或者是峰波長(zhǎng)。所計(jì)算的峰高稱(chēng)為峰高的絕對(duì)高度。我們還 可以再根據(jù)內(nèi)標(biāo)物的峰電位或峰時(shí)間,或者是峰波長(zhǎng)來(lái)計(jì)算內(nèi)標(biāo)物的峰高或 峰面積。最后,我們還可以得出全部離散峰高與內(nèi)標(biāo)物的峰高,或它們與峰 面積之比,由此便形成了一組新的無(wú)量綱的離散信號(hào)數(shù)值,通過(guò)將這些無(wú)量 綱離散信號(hào)數(shù)值連接所得到的曲線即為本發(fā)明所定義的內(nèi)標(biāo)歸一譜圖。計(jì)算 內(nèi)標(biāo)歸一譜圖中的全部組分的峰高和所對(duì)應(yīng)的峰電位、峰時(shí)間或峰波長(zhǎng),所 計(jì)算的峰高或峰面積稱(chēng)為相對(duì)峰高或相對(duì)峰面積。
上述設(shè)計(jì)方法所依據(jù)的數(shù)學(xué)定量原理是
C=KH/m (1) H = Hi/Hs;
其中H為峰高,Hs為內(nèi)標(biāo)物的峰高,通常設(shè)定H^1; Hi為i組分的峰高, K為常數(shù)。
以上方法還可以再包括一套計(jì)算機(jī)軟件程序。 利用本發(fā)明的方法可以繪制如下內(nèi)標(biāo)歸一譜圖
1、 在血鉛溶出分析試劑中加入內(nèi)標(biāo)物鎘離子,測(cè)量?jī)?nèi)標(biāo)歸一溶出譜圖。
2、 在極譜分析試劑中加入內(nèi)標(biāo)物,測(cè)量?jī)?nèi)標(biāo)歸一極譜圖。
3、 在色譜分析試液中加入內(nèi)標(biāo)物,測(cè)量?jī)?nèi)標(biāo)歸一色譜圖。
4、 在光譜分析試液中加入內(nèi)標(biāo)物,測(cè)量?jī)?nèi)標(biāo)歸一光譜曲線。 本發(fā)明的有益效果是由于首次設(shè)計(jì)并采用了內(nèi)標(biāo)歸一譜圖這種新的譜
圖表達(dá)方法,從而大大地降低了現(xiàn)有分析儀器譜圖的相對(duì)偏差RSD值,即明 顯地減少了操作條件對(duì)峰高的影響。經(jīng)過(guò)試驗(yàn)證實(shí),在現(xiàn)有的各種儀器分析方法中均取得了顯著的改善效果。尤為突出的是采用內(nèi)標(biāo)歸一譜圖后在色譜 分析中峰高受操作條件的影響大大減小,在溶出分析與極譜分析中不僅峰高 受電極面積和稀釋度的影響有了明顯的降低,峰高的重復(fù)性也變得特別穩(wěn) 定。
圖l為現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)量譜圖2是本發(fā)明中的內(nèi)標(biāo)歸一化譜圖3是本發(fā)明內(nèi)標(biāo)物峰高,峰電位、定性數(shù)據(jù)或峰面積的設(shè)定文本框; 圖4是本發(fā)明中內(nèi)標(biāo)歸一譜圖的計(jì)算流程圖 圖5是本發(fā)明中內(nèi)標(biāo)歸一譜圖計(jì)算子程序 具體實(shí)施例 例l
本例為本發(fā)明的極譜定量分析方法,具體步驟如下
(1) 測(cè)量溶液的配制 在待測(cè)溶液中含有一種被測(cè)組分,再定量地加入內(nèi)標(biāo)物組分。所述的內(nèi)
標(biāo)物組分選用由重金屬元素鎘配制的內(nèi)標(biāo)物。
(2) 測(cè)量曲線繪制
測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定為測(cè)量峰高與電位。見(jiàn)圖2。 (3)測(cè)量值的計(jì)算
首先得到全部組分的峰高以及對(duì)應(yīng)該峰高的峰電位、峰時(shí)間,或者是峰 波長(zhǎng)。所計(jì)算的峰高稱(chēng)為峰高的絕對(duì)高度。再根據(jù)內(nèi)標(biāo)物的峰電位或峰時(shí)間, 或者是峰波長(zhǎng)來(lái)計(jì)算內(nèi)標(biāo)物的峰高或峰面積。最后,我們還可以得出全部離散峰高與內(nèi)標(biāo)物的峰高,或它們與峰面積之比,由此便形成了一組新的無(wú)量 綱的離散信號(hào)數(shù)值,通過(guò)將這些無(wú)量綱離散信號(hào)數(shù)值連接所得到的曲線即為
本發(fā)明所定義的內(nèi)標(biāo)歸一譜圖。見(jiàn)圖2。計(jì)算內(nèi)標(biāo)歸一譜圖中的全部組分的 峰高和所對(duì)應(yīng)的峰電位、峰時(shí)間或峰波長(zhǎng),所計(jì)算的峰高或峰面積稱(chēng)為相對(duì) 峰高或相對(duì)峰面積。 例2
本例為本發(fā)明的溶出伏安定量分析方法,具體步驟如下
(1) 測(cè)量溶液的配制 在待測(cè)溶液中含有兩種被測(cè)組分,再定量地加入內(nèi)標(biāo)物組分。所述的內(nèi)
標(biāo)物組分為由重金屬元素鎳配制的內(nèi)標(biāo)物。
(2) 測(cè)量曲線繪制
測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定為測(cè)量峰高與電位。
(3)測(cè)量值的計(jì)算 與例1同。 例3
本例為本發(fā)明的電位溶出定量分析方法,具體步驟如下
(1) 測(cè)量溶液的配制
在待測(cè)溶液中含有三種被測(cè)組分,再定量地加入內(nèi)標(biāo)物組分。所述的內(nèi) 標(biāo)物組分為由重金屬元素鈷配制的內(nèi)標(biāo)物。
(2) 測(cè)量曲線繪制
測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定為測(cè)量峰高與電位。
(3)測(cè)量值的計(jì)算與例1同。
例4
本例為本發(fā)明的電位色譜定量分析方法,具體步驟如下
(1) 測(cè)量溶液的配制 在待測(cè)溶液中含有三種被測(cè)組分,再定量地加入內(nèi)標(biāo)物組分。所述的內(nèi)
標(biāo)物組分為由重金屬元素鈷配制的內(nèi)標(biāo)物。
(2) 測(cè)量曲線繪制 測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定為測(cè)量峰高與時(shí)間。
(3)測(cè)量值的計(jì)算 與例1同。 例5
本例為本發(fā)明的電位光譜定量分析方法,具體步驟如下
(1) 測(cè)量溶液的配制 與例4同。
(2) 測(cè)量曲線繪制 測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定為測(cè)量峰高、與波長(zhǎng)。
(3)測(cè)量值的計(jì)算 與例4同。 例6
以上方法還可以包括如下計(jì)算機(jī)軟件程序參見(jiàn)圖3、圖4、圖5。 1、在分析儀器軟件設(shè)計(jì)中加入識(shí)別內(nèi)標(biāo)物定性數(shù)據(jù)、峰高或峰面積數(shù)據(jù)的 文本框界面,增加內(nèi)標(biāo)歸一譜圖計(jì)算程序。2、 在分析儀的軟件界面上設(shè)有內(nèi)標(biāo)物定性的數(shù)據(jù),作為內(nèi)標(biāo)物峰高的識(shí)別 依據(jù),并且規(guī)定識(shí)別內(nèi)標(biāo)物峰高的絕對(duì)誤差或相對(duì)誤差。在分析儀的軟件界面 上設(shè)有規(guī)定內(nèi)標(biāo)物的大于0的峰高的文本框,通常規(guī)定內(nèi)標(biāo)物的峰高是1。見(jiàn)圖 3。
3、 設(shè)有測(cè)量有內(nèi)標(biāo)物溶液,得到離散的連續(xù)數(shù)據(jù)的控制系統(tǒng)。
4、 設(shè)有將原始的離散的連續(xù)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成內(nèi)標(biāo)歸一譜圖的控制執(zhí)行系統(tǒng)。見(jiàn)
上述內(nèi)標(biāo)物的峰高可以任意設(shè)置。在分析儀器的計(jì)算機(jī)軟件中設(shè)有內(nèi)標(biāo)物 的峰電位,峰時(shí)間,峰波長(zhǎng)的設(shè)定界面。在分析儀器的計(jì)算機(jī)軟件中設(shè)有內(nèi)標(biāo) 物的峰高設(shè)置界面。
在被測(cè)物的溶液中加入內(nèi)標(biāo)物后測(cè)量。用離散信號(hào)與內(nèi)標(biāo)峰高或峰面積 的比值作為新的分析儀器譜圖信號(hào)。^分析儀器軟件中增加內(nèi)標(biāo)物定性數(shù) 據(jù),軟件中編寫(xiě)內(nèi)標(biāo)物判別程序,計(jì)算內(nèi)標(biāo)歸一譜圖的離散信號(hào)值。
權(quán)利要求
1、可降低分析儀器譜圖相對(duì)偏差RSD的定量分析方法,其特征是該方法包括以下步驟(1)測(cè)量溶液的配制在待測(cè)溶液中可以含有一種、或多種被測(cè)組分,同時(shí)還需要再定量地加入內(nèi)標(biāo)物組分,所述的內(nèi)標(biāo)物組分在溶出分析和極譜分析中選用由重金屬元素配制的內(nèi)標(biāo)物;(2)測(cè)量曲線繪制根據(jù)所使用的分析儀器和相應(yīng)分析方法,以測(cè)量峰高和電位、時(shí)間或波長(zhǎng)為坐標(biāo)參數(shù)繪制出各自的測(cè)量曲線;在按照各自的常規(guī)方法完成相關(guān)的測(cè)量后,在新的坐標(biāo)系上我們可以得到一系列的離散信號(hào)點(diǎn),再將這些離散信號(hào)點(diǎn)依次連接,就可以得到不同類(lèi)型設(shè)備及相應(yīng)方法的連續(xù)曲線;(3)測(cè)量值的計(jì)算通過(guò)計(jì)算譜圖,我們可以首先得到全部組分的峰高以及對(duì)應(yīng)該峰高的峰電位、峰時(shí)間,或者是峰波長(zhǎng);所計(jì)算的峰高稱(chēng)為峰高的絕對(duì)高度;我們?cè)俑鶕?jù)內(nèi)標(biāo)物的峰電位或峰時(shí)間,或者是峰波長(zhǎng)來(lái)計(jì)算內(nèi)標(biāo)物的峰高或峰面積;最后,我們得出全部離散峰高高度與內(nèi)標(biāo)物的峰高高度,或它們與峰面積之比,由此便形成了一組新的無(wú)量綱的離散信號(hào)數(shù)值,通過(guò)將這些無(wú)量綱離散信號(hào)數(shù)值連接所得到的曲線即為本發(fā)明所定義的內(nèi)標(biāo)歸一譜圖;計(jì)算內(nèi)標(biāo)歸一譜圖中的全部組分的峰高和所對(duì)應(yīng)的峰電位、峰時(shí)間或峰波長(zhǎng),所計(jì)算的峰高或峰面積稱(chēng)為相對(duì)峰高或相對(duì)峰面積。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的可降低分析儀器譜圖相對(duì)偏差RSD的定量分 析方法,其特征是所述的定量分析方法為極譜法,測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定 為測(cè)量峰高與電位。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的可降低分析儀器譜圖相對(duì)偏差RSD的定量分析方法,其特征是所述的定量分析方法為溶出伏安法,測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定為測(cè)量峰高與電位。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的可降低分析儀器譜圖相對(duì)偏差RSD的定量分 析方法,其特征是所述的定量分析方法為電位溶出法,測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù) 設(shè)定為測(cè)量峰高與電位。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的可降低分析儀器譜圖相對(duì)偏差RSD的定量分 析方法,其特征是所述的定量分析方法為色譜分析法,測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù) 設(shè)定為測(cè)量峰高與時(shí)間。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的可降低分析儀器譜圖相對(duì)偏差RSD的定量分析方法,其特征是所述的定量分析方|*為光譜分析法,測(cè)量曲線坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定為測(cè)量峰高與波長(zhǎng)。
7、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的可降低分析儀器譜圖相對(duì)偏差RSD的定量分 析方法,其特征是該方法還包括計(jì)算機(jī)軟件的具體程序(1) 在分析儀器軟件設(shè)計(jì)中加入識(shí)別內(nèi)標(biāo)物定性數(shù)據(jù)、峰高或峰面積數(shù)據(jù) 的文本框界面,增加內(nèi)標(biāo)歸一譜圖計(jì)算程序;(2) 在分析儀的軟件界面上設(shè)有內(nèi)標(biāo)物定性的數(shù)據(jù),作為內(nèi)標(biāo)物峰高的識(shí) 別依據(jù),并且規(guī)定識(shí)別內(nèi)標(biāo)物峰高的絕對(duì)誤差或相對(duì)誤差;在分析儀的軟件界面上設(shè)有規(guī)定內(nèi)標(biāo)物的大于0的峰高的文本框,通常規(guī)定內(nèi)標(biāo)物的峰高是1;(3) 設(shè)有測(cè)量有內(nèi)標(biāo)物溶液,得到離散的連續(xù)數(shù)據(jù)的控制系統(tǒng);(4) 設(shè)有將原始的離散的連續(xù)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成內(nèi)標(biāo)歸一譜圖的控制執(zhí)行系統(tǒng); 上述內(nèi)標(biāo)物的峰高可以任意設(shè)置;布分析儀器的計(jì)算機(jī)軟件中設(shè)有內(nèi)標(biāo)物的峰電位,峰時(shí)間,峰波長(zhǎng)的設(shè)定界面;在分析儀器的計(jì)算機(jī)軟件中設(shè)有內(nèi)標(biāo) 物的峰高設(shè)置界面;在被測(cè)物的溶液中加入內(nèi)標(biāo)物后測(cè)量,用離散信號(hào)與內(nèi) 標(biāo)峰高或峰面積的比值作為新的分析儀器譜圖信號(hào),在分析儀器軟件中增加內(nèi)標(biāo)物定性數(shù)據(jù),軟件中編寫(xiě)內(nèi)標(biāo)物判別程序,計(jì)算內(nèi)標(biāo)歸一譜圖的離散信 號(hào)值。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種可降低分析儀器譜圖相對(duì)偏差RSD的定量分析方法,該方法包括測(cè)量溶液的配制,測(cè)量曲線繪制,測(cè)量值的計(jì)算;其中在待測(cè)量溶液的配制中除被測(cè)組分外,還需要再定量加入內(nèi)標(biāo)物組分,經(jīng)測(cè)量后,在新的坐標(biāo)系上得到一系列的離散信號(hào)點(diǎn),進(jìn)而得到不同類(lèi)型設(shè)備及相應(yīng)方法的連續(xù)曲線,通過(guò)計(jì)算譜圖,得到本發(fā)明所定義的內(nèi)標(biāo)歸一譜圖,由此計(jì)算的峰高高度或峰面積稱(chēng)為相對(duì)峰高或相對(duì)峰面積;有益效果是由于首次設(shè)計(jì)并采用了內(nèi)標(biāo)歸一譜圖這種新的譜圖表達(dá)方法,從而大大地降低了現(xiàn)有分析儀器譜圖的相對(duì)偏差RSD值,即明顯地減少了操作條件對(duì)峰高的影響;經(jīng)過(guò)試驗(yàn)證實(shí),在現(xiàn)有的各種儀器分析方法中均取得了顯著的改善效果。
文檔編號(hào)G01N27/26GK101509885SQ20081013745
公開(kāi)日2009年8月19日 申請(qǐng)日期2008年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2008年10月31日
發(fā)明者劉吉成, 榕 張, 波 張 申請(qǐng)人:齊齊哈爾醫(yī)學(xué)院