專利名稱：電路板測試方法及裝置的制作方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及電路板測試技術(shù)，尤其涉及一種電路板測試方法及裝置。
背景技術(shù)：
在集散型控制系統(tǒng)(DCS, Dsitributed Control System )或可編程邏輯控 制器(PLC, Programmable Logic Controller)系統(tǒng)中，采用機籠單板插槽或機 架式設計時，需使用母板。母板是連接單板或模塊的基礎。母板的焊接和制 板的可靠性，決定了系統(tǒng)運行的穩(wěn)定性和可靠性?；谀赴逶谠O計中的重要 作用和特殊地位，對其進行全面、有效的測試就變得非常關(guān)鍵和重要。
母板的特點是面積大、走線密集、接插件數(shù)量多、走線類型豐富。其 中，就接插件來看，包括64芯歐插、DB25、 DB9、 20芯歐插、8芯接線端子 等；就走線類型來看，包括電源走線、屏蔽地線、 一對一信號線、 一對多信 號線等。
在母板測試過程中，主要測試母板的焊點是否存在短路、母板上的走線 是否存在斷線，母板上的接插件是否存在方向性錯誤等。目前，現(xiàn)有技術(shù)中 對母板進行測試的方法主要有兩種
一種是由人工按照母板上的走線，用萬用表進行——測試。但是，這種 測試方式僅測試走線的——對應性，已需要非常大的工作量，若需進一步測 試相鄰走線間是否短接，則工作量將更加龐大；同時，在大量重復勞動時， 在測試過程中遺漏測試一定數(shù)量走線的可能性很大?；谝陨显?，使得這
種母板測試方法工藝上難以保障，且測試效率低下。
另一種母板測試方法是用基于母板使用的單板來測試其對應的母板。這
種方法的缺點是基于母板使用的單板有自身的使用要求，并不能使用母板 上的所有走線和連接，只能使用其中的一部分，因此，使用單板測試其對應 的母板并不能達到全面測試母板上所有走線和連接的目的。
綜上所述，現(xiàn)有技術(shù)中的母板測試方法，并不能自動、全面地對母板進 行測試，且測試效率j氐下。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是，提供一種電路板測試方法及裝 置，能夠?qū)崿F(xiàn)對于電路板的自動、全面測試，且測試效率較高。
為此，本發(fā)明實施例采用如下技術(shù)方案
本發(fā)明提供了一種電路板測試裝置，該裝置包括微處理器單元、信號 源單元、測試才乘作臺、數(shù)據(jù)分組單元；其中，
微處理器單元，用于根據(jù)電路板上當前所需測試走線及測試內(nèi)容，控制 信號源單元向電路板上相應的走線輸出測試信號，以及控制數(shù)據(jù)分組單元對 所述當前所需測試走線輸出的信號進行測試；還用于對數(shù)據(jù)分組單元發(fā)來的 測試后得到的信號進行分析處理，得到所需測試走線的狀態(tài)信息；
信號源單元，用于在^i:處理器單元控制下向測試才喿作臺上所安裝電3各斧反 的相應走線發(fā)送測試信號；
測試操作臺，用于為所需測試的電路板提供連接信號源單元和數(shù)據(jù)分組 單元的接口；
數(shù)據(jù)分組單元，用于在微處理器單元控制下，對所述所需測試走線輸出 的信號進行測試，并將測試后得到的信號發(fā)送給微處理器單元。
其中，所述數(shù)據(jù)分組單元還用于在微處理器單元控制下，使用與所述 所需測試走線類型相適應的測試方法進行所需測試走線的所述測試；相應的,
微處理器單元進一步用于根據(jù)所需測試走線的類型，控制數(shù)據(jù)分組單 元使用與所述所需測試走線類型相適應的測試方法進行所需測試走線的所述 測試。
該裝置還包括結(jié)果顯示單元，用于將微處理器單元分析處理得到的走 線的狀態(tài)信息向用戶顯示。
該裝置還包括接口轉(zhuǎn)換單元，用于進行數(shù)據(jù)分組單元與測試操作臺之 間的接口轉(zhuǎn)換。
微處理器單元包括模擬開關(guān)控制單元、模擬開關(guān)單元以及數(shù)據(jù)輸入處 理單元；其中，模擬開關(guān)控制單元，根據(jù)電路板上當前所需測試的走線、測試內(nèi)容以及
走線類型，控制模擬開關(guān)單元中各個模擬開關(guān)的開關(guān)狀態(tài)；
模擬開關(guān)單元，用于通過自身所包含各個模擬開關(guān)的開關(guān)狀態(tài)的改變， 控制信號源單元向電路板上相應的走線輸出高低電平測試信號，以及控制數(shù) 據(jù)分組單元選擇當前所需測試的走線以及與所需測試走線相適應的測試方 法；
數(shù)據(jù)輸入處理單元，用于對數(shù)據(jù)分組單元發(fā)來的所述測試后得到的信號 進行分析處理，得到所需測試走線的狀態(tài)信息。
數(shù)據(jù)分組單元包括電源線測試單元、 一對一走線方式測試單元、以及 一對多走線方式測試單元；其中，
電源線測試單元，用于對電絲4反中電源線輸出的信號進行測試；
一對一走線方式測試單元，用于對電路板中一對一走線輸出的信號進行 測試；
一對多走線方式測試單元，用于對電路板中一對多走線輸出的信號進行 測試。
所述結(jié)果顯示單元包括簡易顯示單元和/或詳細顯示單元；其中， 簡易顯示單元，用于根據(jù)所述狀態(tài)信息使用蜂鳴器和/或LED燈進行走線 狀態(tài)信息的顯示；
詳細顯示單元，用于直接將電路板中走線的所述狀態(tài)信息進行輸出顯示。 該裝置進一步包括
通訊單元，用于將所述狀態(tài)信息轉(zhuǎn)發(fā)給詳細顯示單元。 本發(fā)明同時提供了 一種電路板測試方法，該方法包括 根據(jù)電路板上當前所需測試走線、測試內(nèi)容向電路板中相應走線的 一側(cè) 輸入測試信號；
對所述當前所需測試走線輸出的信號進行測試；
將測試后得到的信號進行分析處理，得到所述所需測試走線的狀態(tài)信息。 其中，對輸出的信號進行測試之前，該方法進一步包括根據(jù)所述所需 測試走線的類型，確定與所述所需測試走線相適應的測試方法。 該方法進一步包括將得到的所述狀態(tài)信息向用戶進行顯示。
所述分析處理具體為
將獲得的所述測試后得到的信號與一樣本數(shù)據(jù)進行逐位比較，數(shù)據(jù)相同
的數(shù)據(jù)位，該數(shù)據(jù)位對應的走線狀態(tài)為未發(fā)生故障；而數(shù)據(jù)不相同的凄t據(jù)位， 該數(shù)據(jù)位對應的走線狀態(tài)為故障；其中，
所述樣本數(shù)據(jù)為所述所需測試走線均未發(fā)生故障時對其輸出的信號測試 后得到的信號。
走線的類型包括電源線、 一對一走線方式、以及一對多走線方式。 所述顯示具體為
使用蜂鳴器和/或LED燈進行走線狀態(tài)信息的顯示；和/或 使用上位機直接將電路板中走線的所述狀態(tài)信息進行輸出顯示。 對于上述技術(shù)方案的技術(shù)效果分析如下
直接通過微處理器單元控制信號源單元向電路板中的走線輸入測試信 號，并通過數(shù)據(jù)分組單元實現(xiàn)對于走線輸出信號的測試，之后，再次通過微 處理器單元完成對于測試后得到信號的分析處理，得到電路板中各走線的狀 態(tài)信息，所有過程由裝置自動完成，無需人工進行走線的測試，提高了測試 效率。
而且，本發(fā)明所述測試方法和裝置通過在各個走線的一側(cè)輸入測試信號, 測試走線另 一側(cè)輸出的信號的方法進行走線狀態(tài)的測試，可以對電路板中的 所有走線進行測試；而且，由于測試自動完成，不存在遺漏所需測試的走線 的情況?；谝陨蟽牲c，本發(fā)明所述測試方法及裝置使得對于電路板中走線 的測i式更力。全面。


圖1為本發(fā)明電路板測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖； 圖la為本發(fā)明電路板測試裝置中微處理器單元實現(xiàn)示例圖； 圖lb為本發(fā)明電路板測試裝置中模擬開關(guān)單元實現(xiàn)示例圖； 圖lc為本發(fā)明電路板測試裝置中信號源單元實現(xiàn)示例圖； 圖ld為本發(fā)明電路板測試裝置中接口轉(zhuǎn)換單元實現(xiàn)示例圖；圖le為本發(fā)明電路板測試裝置中電源線測試單元實現(xiàn)示例圖lf為本發(fā)明電^各板測試裝置中一對一走線方式測試單元實現(xiàn)示例圖lg為本發(fā)明電路板測試裝置中一對多走線方式測試單元實現(xiàn)示例圖lh為本發(fā)明電絲4反測試裝置中簡易顯示單元實現(xiàn)示例圖li為本發(fā)明電^各板測試裝置中通訊單元實現(xiàn)示例圖2為本發(fā)明電路板測試方法流程示意圖。
具體實施例方式
本發(fā)明的基本思想是微處理器單元控制信號源單元向電路板中相應的 走線輸入測試信號；數(shù)據(jù)分組單元根據(jù)走線的類型使用相應的測試方法對所 需測試的走線輸出的信號進行測試，并將測試后得到的信號發(fā)送給微處理器 單元進行分析處理，得到所述所需測試走線的狀態(tài)信息。
以下，通過具體實施例結(jié)合附圖詳細說明本發(fā)明電路板測試方法及裝置 的實現(xiàn)。
圖1為本發(fā)明電路板測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖，如圖1所示，該裝置包括 微處理器單元110、信號源單元120、測試操作臺130、數(shù)據(jù)分組單元140、 以及結(jié)果顯示單元150;其中，
微處理器單元110,用于根據(jù)電路板上當前所需測試的走線以及測試內(nèi)容 確定電路板中當前所需被輸入測試信號的走線，控制信號源單元120向電路 板上相應的走線輸出測試信號；還用于根據(jù)所述當前所需測試走線及走線的 類型確定需使用的測試方法，控制數(shù)據(jù)分組單元140選擇當前所需測試的走 線、以及與所需測試走線相適應的測試方法，進行走線中輸出信號的測試； 還用于接收數(shù)據(jù)分組單元140發(fā)來的測試后得到的信號，對所述測試后得到 的信號進行分析處理，獲得所測試走線的狀態(tài)信息，并將所述狀態(tài)信息發(fā)送 給結(jié)果顯示單元150。
其中，在測試過程中，測試內(nèi)容主要包括測試走線是否斷線、以及走 線之間是否短路。具體的原理為
在走線始端輸入測試信號，在走線末端如果測試到信號則可以排除斷線 的可能；循環(huán)改變某一走線的測試信號，使得該走線輸出的信號有效區(qū)別于其他 走線，若任何其他走線和該走線間有短路現(xiàn)象，則在數(shù)據(jù)采集端接收到兩個 相同的信號，從而確定輸出相同信號的兩條走線之間存在短路。
基于以上原理，信號源單元120所發(fā)送測試信號的走線與數(shù)據(jù)分組單元 140所選擇的所述所需測試走線可能相同，也可能不同。但是，數(shù)據(jù)分組單元
140所選擇的所述所需測試走線與信號源單元120所發(fā)送測試信號的走線相關(guān) 聯(lián)，所述所需測試走線中輸出的信號理論上需才艮據(jù)被輸入測試信號的走線中 的測試信號而發(fā)生變化，從而在向所述被輸入測試信號的走線中輸入測試信 號時，通過測試所述所需測試走線中輸出的信號得知所述所需測試走線的狀 態(tài)。
走線的狀態(tài)一般可以分為發(fā)生故障和未發(fā)生故障兩種狀態(tài)。所述分析處 理一般為將獲得的所述測試后得到的信號與一樣本數(shù)據(jù)進行逐位比較，所 述樣本數(shù)據(jù)為所述所需測試走線均未發(fā)生故障時對其輸出的信號測試后得到
的信號，從而，通過比較，其中數(shù)據(jù)相同的數(shù)據(jù)位，該數(shù)據(jù)位對應的走線未 發(fā)生故障；而數(shù)據(jù)不相同的數(shù)據(jù)位，該數(shù)據(jù)位對應的走線發(fā)生故障。
所述微處理器單元IIO可以使用AT89系列單片機實現(xiàn)。圖la給出了一 種^f鼓處理器單元110的實現(xiàn)電路，同時給出了一種用于保護所述^:處理器單 元110的看門狗電路。
其中，微處理器單元IIO還可以進一步劃分為模擬開關(guān)控制單元1101、 模擬開關(guān)單元1102、以及數(shù)據(jù)輸入處理單元1103,其中，
模擬開關(guān)控制單元1101,根據(jù)電路板上當前所需測試的走線以及測試內(nèi) 容確定電路板中當前所需被輸入測試信號的走線，控制模擬開關(guān)單元1102中 各個模擬開關(guān)的開關(guān)狀態(tài)。
模擬開關(guān)單元1102,用于通過自身所包含各個模擬開關(guān)的開關(guān)狀態(tài)的變 化，控制信號源單元120向電路板上相應的走線輸出高低電平測試信號，以 及控制數(shù)據(jù)分組單元140選擇當前所需測試的走線以及與所需測試走線相適 應的測試方法進4于測試。
所述模擬開關(guān)單元1102可以釆用多路模擬開關(guān)MC14051完成。如圖lb 所示，給出了一種模擬開關(guān)單元1102實現(xiàn)的實例圖，這里不再贅述。數(shù)據(jù)輸入處理單元1103,用于接收數(shù)據(jù)分組單元140發(fā)來的所述測試后 得到的信號，對所述測試后得到的信號進行分析處理，獲得所需測試走線的 狀態(tài)信息，并將所述狀態(tài)信息發(fā)送給結(jié)果顯示單元150。
在微處理器單元110的控制下，進一步地，在;f莫擬開關(guān)控制單元1101借 由模擬開關(guān)單元1102的控制下，信號源單元120向電路板上各個走線循環(huán)輸 入測試信號，使得當前被輸入測試信號的走線中的信息有效區(qū)別于其他未被 輸入測試信號的走線，通過對所述所需測試走線輸出信號的測試，使得微處 理器單元110，進一步地，使得所述微處理器單元110中包含的數(shù)據(jù)輸入處理 單元1103通過對測試結(jié)果進行分析處理，對各走線的走線有無短路做出判斷。
信號源單元120,用于在微處理器單元110的控制下向測試操作臺130所 連接電路板上的相應走線發(fā)送有序的高低電平測試信號。
如圖lc所示，給出了一種信號源單元120的實現(xiàn)示例圖。
測試操作臺130,用于為所需測試的電路板提供電氣連接的接口，并將電
而接收信號源單元120發(fā)來的高低電平測試信號，并輸入電路板對應走線的 一側(cè)；將走線另一側(cè)產(chǎn)生的信號發(fā)送給數(shù)據(jù)分組單元140。
測試梯:作臺130所提供的所述接口用于實現(xiàn)所需測試電路板與本發(fā)明所 述電路板測試裝置的連接。而且，所提供的接口最好為制具安裝接口，以通 過和各類制具進行組合以及制具的更換，實現(xiàn)對多種類型電路板的兼容，達 到擴展所能測試的電路板類型的作用。例如，當進行母板的測試時，制具依 照母板類型，設置相應的接口，且，接口一般采用方向性的接插件，滿足測 試過程中對母4反4妻口的方向性識別。
另外，測試操作臺130還可以采用由多重彈簧組合設計的可自復位接口， 用以實現(xiàn)多個接口同時有效連接的作用。
在實際應用中，測試操作臺130與數(shù)據(jù)分組單元140之間一般還包括接 口轉(zhuǎn)換單元160，用于進行數(shù)據(jù)分組單元140與測試操作臺130之間的接口轉(zhuǎn) 換。如圖ld所示，給出了一種接口轉(zhuǎn)換單元160的實現(xiàn)示例圖。
數(shù)據(jù)分組單元140,用于接收測試操作臺130傳來的電路板中所述所需測 試走線所輸出的信號，并在微處理器單元IIO，進一步地，在微處理器單元110包含的模擬開關(guān)單元1102控制下，將所迷走線輸出的信號傳輸給與所述 所需測試走線類型相對應的測試電路進行測試，并將測試后得到的信號發(fā)送 給微處理器單元110。
所述數(shù)據(jù)分組單元可以^使用邏輯芯片74HC30和74HC245實現(xiàn)。 其中，依據(jù)走線類型的不同，走線所輸出的信號在數(shù)據(jù)分組單元140中 使用不同的測試方式進行測試。
對于走線的類型，走線按照功能分為信號線和電源線兩種。其中，信號 線按照走線方式的不同，又可以分為一對一走線和一對多走線；電源走線中 包括二極管時，需要進行二極管極性測試。在二極管極性測試上，主要使用 電源進行正反方向輸入，來判斷二極管的極性。對于信號線，分為一對一走 線方式和一對多走線方式。 一對一走線方式是指只有一對起止點的走線方式； 一對多走線方式是指有 一個起始點并對應有多個中間點的走線方式。
數(shù)據(jù)分組單元140可以根據(jù)上述走線類型，對每種走線類型設計一個具 有針對性的測試功能單元，分別為電源線測試單元1401、 一對一走線方式 測試單元1402、以及一對多走線方式測試單元1403 。其中，
電源線測試單元1401,用于對電路板中電源線輸出的信號進行測試。 其中，對于電源線進行測試一般主要涉及到電源走線內(nèi)包括的二極管、 電阻的合格性測試。如圖le所示，根據(jù)電路板上電源線的設計方式，在每一 走線設置2個PH0T0M0S,與圖lb所示的模擬開關(guān)單元結(jié)構(gòu)示例圖結(jié)合， 通過模擬開關(guān)單元1102的74HC244的控制選通，使得在同一時刻內(nèi)電源線只 存在唯一狀態(tài)，并且在相鄰的走線上的電平狀態(tài)相反。通過該方式就可以判 定走線間是否存在短路。這種測試方法對電源線上存在二極管構(gòu)成冗余電路 的方式同樣滿足。
一對一走線方式測試單元1402,用于對一對一走線輸出的信號進行測試。 如圖lf所示，測試一對一走線，即是起始于一測試點并終止于另一測試 點的走線時，將相應走線輸出的信號傳輸?shù)?4HC30芯片上，在同一個芯片上 的信號空間上不可能存在短接情況。在測試時，通過微處理器單元IIO有序 改變信號源單元120輸出的測試信號，從而使得唯一存在一個74HC30輸出電 平區(qū)別于組內(nèi)其他芯片的輸出電平，由該方法判斷走線間是否存在短路。確切地說，通過改變信號源單元120的測試信號，使得唯一存在一個74HC30 輸出電平為高電平，而其他74HC30輸出電平都為低電平。若存在另一個 74HC30輸出電平為高電平，就可以判定走線間存在短路。
一對多走線方式測試單元1403,用于對電路板中類型為一對多走線的走 線輸出的信號進行測試。
該測試方法一般需要具備記憶功能，通過對測試過的走線進行記憶，防 止測試重復或遺漏。如圖lg所示，測試一對多走線，即是起始于一測試點并 經(jīng)過多個中間點后終止于另 一測試點的走線時，要分兩個過程進行
首先，測試走線間是否存在短路的現(xiàn)象。結(jié)合圖lb所示的模擬開關(guān)單元 結(jié)構(gòu)示例圖，通過對模擬開關(guān)單元1102的74HC245進行選通，使得在同一時 刻有唯一的一組走線中輸入的測試信號被改變，從而實現(xiàn)該組走線所對應的 74HC30芯片的輸出電平區(qū)別于其他組，從而實現(xiàn)對走線間短^各的測試。
其次，要測試起始點和各個中間過程點是否存在斷路的問題以及在測試 過程中如何防止重復操作的問題。在測試起始點和過程點間的斷線問題時， 可以對各過程端點的信號進行采集，從而轉(zhuǎn)換成一對一走線的形式來測試， 其測試原理和一對一測試的原理是一致的。最大的不同點在于對于已測試 完成的過程點進行記憶。主要實現(xiàn)方法可以為使用74HC32芯片，將采集測試 過程點時的信號反饋到孩么處理器單元110。在微處理器單元110中設置緩沖區(qū) 來暫存各個標志位，最后對標志位進行統(tǒng)一計算，從而給出測試過程中重測 或漏測的提示。
結(jié)果顯示單元150，用于將微處理器單元IIO發(fā)來的所述狀態(tài)信息顯示給 測試用戶。
其中，結(jié)果顯示單元150還可以包括簡易顯示單元1501和/或詳細顯示單 元1502;其中，
簡易顯示單元1501，用于根據(jù)微處理器單元IIO發(fā)來的所述狀態(tài)信息， 使用蜂鳴器和/或LED燈等進行各走線狀態(tài)信息的提示。 簡易顯示單元1501的實現(xiàn)示例圖如圖lh所示。
簡易顯示單元1501對各走線的狀態(tài)進行簡易提示，主要從操作的方便性 角度出發(fā)，將測試結(jié)果直接表達出來。詳細顯示單元1502,用于根據(jù)微處理器單元IIO發(fā)來的所述狀態(tài)信息， 對電路板各走線狀態(tài)的數(shù)據(jù)信息進行詳細顯示。
詳細顯示單元1502中對各走線狀態(tài)進行詳細顯示，主要是從結(jié)果分析的 角度出發(fā)。通過通訊單元，將詳細的狀態(tài)信息上傳到所述詳細顯示單元1502 中進行顯示。
所述詳細顯示單元1502—般位于上位機中，通過屏幕向用戶顯示所述狀 態(tài)信息。此時，微處理器單元110中數(shù)據(jù)輸入處理單元1103和詳細顯示單元 1502之間還包括
通訊單元170,用于將微處理器單元110的狀態(tài)信息轉(zhuǎn)發(fā)給詳細顯示單元 1502。
通訊單元170可以使用RS-232電平轉(zhuǎn)換單元完成，具體的，可以釆用 MAX232芯片完成，如圖li所示。
所述通訊單元170可以位于孩(處理器單元110中或結(jié)果顯示單元150中， 或者，也可以作為獨立的通訊單元存在。
其中，圖la 圖li所示的各個單元可以組成一具體的電^各板測試裝置應 用例。
另外，圖l所示本發(fā)明實施例、以及圖la 圖li所組成的電路板測試裝 置應用例均可以應用于對于母^1的測試。
圖2為本發(fā)明電鴻4反測試方法流程示意圖，如圖2所示，該方法包括
步驟201:根據(jù)電路板上當前所需測試的走線、測試內(nèi)容以及這些走線的 類型向相應的電路斧反走線中輸入測試信號。
所需測試走線與被輸入測試信號的走線相關(guān)聯(lián)，所述所需測試走線中輸 出的信號理論上需根據(jù)被輸入測試信號的走線中的測試信號而發(fā)生變化，從 而在向所述被輸入測試信號的走線中輸入測試信號時，通過測試所述所需測 試走線中輸出的信號得知所述所需測試走線的狀態(tài)。
其中，通過向電路板上相應的走線輸入測試信號，使得當前被輸入測試 信號的走線中的信息有效區(qū)別于其他未被輸入測試信號的走線。
步驟202:才艮據(jù)所述所需測試走線的類型^f吏用相應的測試方法，對所述當 前所需測試走線輸出的信號進行測試。一般的，對于走線的不同類型需使用不同的測試方法，在圖le 圖lf分
別給出了進行三種不同類型走線測試的測試電路示例，當然，也可以使用其 他現(xiàn)有技術(shù)中的走線測試方法和電路，這里不再贅述。
步驟203:將測試后得到的信號進行分析處理，得到所述所需測試走線的 狀態(tài)信息。
走線的狀態(tài)一般可以分為發(fā)生故障和未發(fā)生故障兩種狀態(tài)。所述分析處 理一般為將獲得的所述測試后得到的信號與一樣本數(shù)據(jù)進行逐位比較，數(shù) 據(jù)相同的數(shù)據(jù)位，該數(shù)據(jù)位對應的走線狀態(tài)為未發(fā)生故障；而數(shù)據(jù)不相同的 數(shù)據(jù)位，該數(shù)據(jù)位對應的走線狀態(tài)為故障。其中，所述樣本數(shù)據(jù)為所述所需 測試走線均未發(fā)生故障時對其輸出的信號測試后得到的信號。
步驟204:將所述走線的狀態(tài)信息向用戶進行顯示。
其中，所述顯示可以分為詳細顯示和簡易顯示兩種。簡易提示主要從操 作的方便性角度出發(fā)，使用蜂鳴器和LED燈等進行各走線狀態(tài)信息的提示， 從而將測試結(jié)果直接表達出來，例如在流水生產(chǎn)方式下，可以將各走線的狀 態(tài)向測試人員進行直觀有效的提示，提高生產(chǎn)的效率。詳細顯示是指直接將 電路板中走線的所述狀態(tài)信息在上位機等輸出設備上進行輸出顯示；該方式 主要是對故障分析人員開放，用以提供詳細的故障信息，方便故障點的定位。
本領域普通技術(shù)人員可以理解，實現(xiàn)上述實施例電路板測試方法的過程 可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成，所述的程序可以存儲于可讀取存儲介 質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時執(zhí)行上述方法中的對應步驟。所述的存儲介質(zhì)可以如: ROM/RAM、磁碟、光盤等。
以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出，對于本技術(shù)領域的普 通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤 飾，這些改進和潤飾也應視為本發(fā)明的保護范圍。
權(quán)利要求
1、一種電路板測試裝置，其特征在于，該裝置包括微處理器單元、信號源單元、測試操作臺、數(shù)據(jù)分組單元；其中，微處理器單元，用于根據(jù)電路板上當前所需測試走線及測試內(nèi)容，控制信號源單元向電路板上相應的走線輸出測試信號，以及控制數(shù)據(jù)分組單元對所述當前所需測試走線輸出的信號進行測試；還用于對數(shù)據(jù)分組單元發(fā)來的測試后得到的信號進行分析處理，得到所需測試走線的狀態(tài)信息；信號源單元，用于在微處理器單元控制下向測試操作臺上所安裝電路板的相應走線發(fā)送測試信號；測試操作臺，用于為所需測試的電路板提供連接信號源單元和數(shù)據(jù)分組單元的接口；數(shù)據(jù)分組單元，用于在微處理器單元控制下，對所述所需測試走線輸出的信號進行測試，并將測試后得到的信號發(fā)送給微處理器單元。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)分組單元還用于 在微處理器單元控制下，使用與所述所需測試走線類型相適應的測試方法進 行所需測試走線的所述測試；相應的，微處理器單元進一步用于根據(jù)所需測試走線的類型，控制數(shù)據(jù)分組單 元^f吏用與所述所需測試走線類型相適應的測試方法進行所需測試走線的所述 測試。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于，該裝置還包括 結(jié)果顯示單元，用于將^L處理器單元分析處理得到的走線的狀態(tài)信息向用戶顯示。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于，該裝置還包括接口轉(zhuǎn)換單元，用于進行數(shù)據(jù)分組單元與測試操作臺之間的接口轉(zhuǎn)換。
5、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，微處理器單元包括模擬 開關(guān)控制單元、模擬開關(guān)單元以及數(shù)據(jù)輸入處理單元；其中，模擬開關(guān)控制單元，根據(jù)電路板上當前所需測試的走線、測試內(nèi)容以及 走線類型，控制模擬開關(guān)單元中各個模擬開關(guān)的開關(guān)狀態(tài)；模擬開關(guān)單元，用于通過自身所包含各個模擬開關(guān)的開關(guān)狀態(tài)的改變， 控制信號源單元向電路^1上相應的走線輸出高低電平測試信號，以及控制數(shù)據(jù)分組單元選擇當前所需測試的走線以及與所需測試走線相適應的測試方 法；數(shù)據(jù)輸入處理單元，用于對數(shù)據(jù)分組單元發(fā)來的所述測試后得到的信號 進行分析處理，得到所需測試走線的狀態(tài)信息。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于，數(shù)據(jù)分組單元包括 電源線測試單元、 一對一走線方式測試單元、以及一對多走線方式測試單元； 其中，電源線測試單元，用于對電路板中電源線輸出的信號進行測試； 一對一走線方式測試單元，用于對電路板中一對一走線輸出的信號進行 測試；一對多走線方式測試單元，用于對電路板中一對多走線輸出的信號進行 測試。
7、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述結(jié)果顯示單元進一步 包括簡易顯示單元和/或詳細顯示單元；其中，簡易顯示單元，用于根據(jù)所述狀態(tài)信息使用蜂鳴器和/或LED燈進行走線 狀態(tài)信息的顯示；詳細顯示單元，用于直接將電路板中走線的所述狀態(tài)信息進行輸出顯示。
8、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，該裝置包括 通訊單元，用于將所述狀態(tài)信息轉(zhuǎn)發(fā)給詳細顯示單元。
9、 一種電路板測試方法，其特征在于，該方法包括 才艮據(jù)電^各板上當前所需測試走線、測試內(nèi)容向電路^1中相應走線的一側(cè)輸入測試信號；對所述當前所需測試走線輸出的信號進行測試；將測試后得到的信號進^f于分析處理，得到所述所需測試走線的狀態(tài)信息。
10、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，對輸出的信號進行測試 之前，該方法進一步包括根據(jù)所述所需測試走線的類型，確定與所述所需 測試走線相適應的測試方法。
11、 根據(jù)權(quán)利要求9或IO所述的方法，其特征在于，該方法進一步包括: 將得到的所述狀態(tài)信息向用戶進行顯示。
12、 根據(jù)權(quán)利要求9或IO所述的方法，其特征在于，所述分析處理具體為將獲得的所述測試后得到的信號與一樣本數(shù)據(jù)進行逐位比較，數(shù)據(jù)相同 的數(shù)據(jù)位，該數(shù)據(jù)位對應的走線狀態(tài)為未發(fā)生故障；而數(shù)據(jù)不相同的數(shù)據(jù)位， 該凝:據(jù)位對應的走線狀態(tài)為故障；其中，所述樣本數(shù)據(jù)為所述所需測試走線均未發(fā)生故障時對其輸出的信號測試 后得到的信號。
13、 根據(jù)權(quán)利要求IO所述的方法，其特征在于，走線的類型包括電源 線、 一對一走線方式、以及一對多走線方式。
14、 根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，其特征在于，所述顯示具體為: 使用蜂鳴器和/或LED燈進行走線狀態(tài)信息的顯示；和/或使用上位機直接將電路板中走線的所述狀態(tài)信息進行輸出顯示。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電路板測試裝置，包括微處理器單元、信號源單元、測試操作臺以及數(shù)據(jù)分組單元，微處理器單元控制信號源單元向固定于測試操作臺的電路板中相應的走線輸入測試信號；數(shù)據(jù)分組單元根據(jù)走線的類型對所需測試走線輸出的信號進行測試，并將測試后得到的信號發(fā)送給微處理器單元進行分析處理，從而得到所述所需測試走線的狀態(tài)信息。本發(fā)明同時公開了一種電路板測試方法，該裝置及方法能夠?qū)崿F(xiàn)對于電路板的自動、全面測試，且測試效率較高。
文檔編號G01R31/02GK101408582SQ20081017841
公開日2009年4月15日 申請日期2008年11月24日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月24日
發(fā)明者夏曉麟, 徐建龍, 鄭偉建 申請人:浙江中控技術(shù)股份有限公司