專利名稱：用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試裝置和方法，更具體i也，涉及一種用于測(cè) -試電蹤4反的測(cè)i式裝置和方法。
背景技術(shù)：
在PDP電^各的生產(chǎn)開發(fā)中，通常需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試以進(jìn)行質(zhì) 量控制，而目前PDP 4莫組電^各所采用的測(cè)試i殳備通常都結(jié)構(gòu)復(fù)雜， 功能繁鎖，而且價(jià)格也非常昂貴，這在大規(guī)模的生產(chǎn)測(cè)試中會(huì)使成 本增加，影響產(chǎn)品的竟?fàn)幜?。PDP顯示模組控制電路板上面的控制 信號(hào)非常多，并且由于很多信號(hào)頻率很高，需要一個(gè)能同時(shí)檢測(cè)多 ^各信號(hào)，而且4企測(cè)速度快的測(cè)試裝置。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是簡(jiǎn)化用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置和方法，從而 簡(jiǎn)化測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)并降低了制造成本。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明一方面提出了一種用于測(cè)試電路板的 測(cè)試裝置，包括測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；測(cè)試信號(hào) 輸出模塊，與測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生模塊連接，用于將測(cè)試信號(hào)輸出至待測(cè) 的電路板；待測(cè)信號(hào)接收模塊，用于接收來(lái)自電路板的待測(cè)信號(hào)； 信號(hào)處理模塊，與待測(cè)信號(hào)接收模塊連接，用于根據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)信 號(hào)對(duì)待測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理，并產(chǎn)生處理結(jié)果信號(hào)；以及控制模塊，用于控制測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生模塊產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)，以及接收來(lái)自信號(hào)處理模
塊的處理結(jié)果信號(hào)，處理結(jié)果信號(hào)用于判斷電路板是否合格。
其中，所述信號(hào)處理模塊包括比較單元，將待測(cè)信號(hào)與標(biāo)準(zhǔn) 信號(hào)進(jìn)行比較，得到比較結(jié)果信號(hào)；以及計(jì)數(shù)單元，用于獲取比較 結(jié)果信號(hào)的脈沖信息。
此外，所述信號(hào)處理才莫塊還包括采樣單元，i殳置在比較單元 后，采用頻率可變的時(shí)鐘對(duì)比較結(jié)果信號(hào)進(jìn)行采樣，以過(guò)濾比較結(jié) 果信號(hào)中脈沖寬度小于時(shí)鐘脈沖的部分，并將過(guò)濾后的波形傳輸至 計(jì)數(shù)單元。
本發(fā)明另一方面提出了一種用于測(cè)試電路板的測(cè)試方法，包括 以下步驟產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；將測(cè)試信號(hào)輸出至待測(cè)的電路板；接收 來(lái)自電路板的待測(cè)信號(hào)；根據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)對(duì)待測(cè)信號(hào)進(jìn)行處 理，并產(chǎn)生處理結(jié)果信號(hào)；接收處理結(jié)果信號(hào)，處理結(jié)果信號(hào)用于 判斷電路板是否合格。
其中，所述的根據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)對(duì)待測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理包括以 下步驟將待測(cè)信號(hào)與標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較，得到比較結(jié)果信號(hào)；獲 取比較結(jié)果信號(hào)的脈沖信息。
此外，所述的^^艮據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)對(duì)待測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理還包括 以下步驟在得到比較結(jié)果之后，采用頻率可變的時(shí)鐘對(duì)比較結(jié)果 信號(hào)進(jìn)行采樣，以過(guò)濾比較結(jié)果信號(hào)中脈沖寬度小于時(shí)鐘脈沖的部 分。
本發(fā)明的有益效果是提供了更為簡(jiǎn)化的電路設(shè)計(jì)和檢測(cè)流程， 并且，由于本發(fā)明的比較單元運(yùn)用了諸如異或門的邏輯電路，故使 得該裝置可以測(cè)試4交高頻率的信號(hào)。此外，本發(fā)明主要針對(duì)PDP電路模組中信號(hào)數(shù)量種類較多而且數(shù)據(jù)速率最快的控制電路，該電 路的原理和方法同樣可以用來(lái)測(cè)試其它電路。


此處所i兌明的附圖用來(lái)^是供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申 請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明，并
不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限定。在附圖中
圖1是根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置 的框圖。
圖2是根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的對(duì)待測(cè)信號(hào)和標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行 比較和采樣的波形圖。
具體實(shí)施例方式
下面將參照附圖，詳細(xì)地說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例。
圖1是根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置 的才匡圖。如圖l所示，本示例性實(shí)施例的測(cè)試裝置IOO可以采用以 下電路模塊控制模塊101、測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生模塊103、測(cè)試信號(hào)輸 出模塊105、待測(cè)信號(hào)接收模塊107、信號(hào)處理模塊109、和通信模 塊110等。
才艮據(jù)本發(fā)明，測(cè)試裝置100的測(cè)試信號(hào)發(fā)生才莫塊103產(chǎn)生一個(gè) 測(cè)試信號(hào)，通過(guò)測(cè)試信號(hào)輸出^^莫塊105輸出到待測(cè)電路板上，待測(cè) 電鴻4反對(duì)測(cè)試信號(hào)進(jìn)4于處理，即才莫擬正常工作時(shí)的狀態(tài)，并將處理后的待測(cè)信號(hào)輸入回測(cè)試電路中，再通過(guò)待測(cè)信號(hào)接收模塊107輸 入到信號(hào)處理模塊109。信號(hào)處理模塊109通常存儲(chǔ)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)， 待測(cè)信號(hào)在測(cè)試裝置100中需要通過(guò)信號(hào)處理模塊109與標(biāo)準(zhǔn)信號(hào) 進(jìn)行比較，并將比較結(jié)果進(jìn)行分析，然后通過(guò)通信模塊110傳輸?shù)?計(jì)算機(jī)上。其中，測(cè)試信號(hào)可以通過(guò)查表產(chǎn)生，即將預(yù)設(shè)好的多個(gè) 波形數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在測(cè)試裝置100的內(nèi)部存儲(chǔ)器中，測(cè)試的時(shí)候由測(cè)試 信號(hào)產(chǎn)生模塊103讀取該波形數(shù)據(jù)并將其輸出。
圖2是根據(jù)本發(fā)明示例性實(shí)施例的對(duì)待測(cè)信號(hào)和標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行 比較和釆樣的波形圖。如圖2所示，測(cè)試裝置100檢測(cè)到從待測(cè)電 路板輸出的待測(cè)信號(hào)以后，可以使用異或門將待測(cè)信號(hào)與內(nèi)部存儲(chǔ) 的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較，即進(jìn)行異或運(yùn)算，以得出待測(cè)信號(hào)與標(biāo)準(zhǔn)信 號(hào)之間的相位差，即一系列脈沖組成的比較結(jié)果的波形。之后，可 以使用諸如D觸發(fā)器的采樣單元對(duì)比專交結(jié)果的脈沖波形進(jìn)行采樣 過(guò)濾，即，采集當(dāng)采樣單元的時(shí)鐘信號(hào)處于上升沿時(shí)的比較結(jié)果的 值作為采樣結(jié)果。
數(shù)的波形圖。如圖3所示，將經(jīng)過(guò)采樣處理的比較結(jié)果的脈沖輸送 到下一級(jí)處理電3各，即，月永沖計(jì)數(shù)電3各，來(lái)對(duì)月永沖的凄丈量和寬度進(jìn) 行統(tǒng)計(jì)。計(jì)數(shù)電路不僅僅是對(duì)前級(jí)電路的結(jié)果進(jìn)行計(jì)數(shù)，而且還要 對(duì)這些脈沖的寬度進(jìn)行測(cè)量，并且確定這些脈沖出現(xiàn)在哪些時(shí)刻。 在每次測(cè)試開始時(shí)，計(jì)時(shí)器開始計(jì)時(shí)，在遇到一個(gè)^c沖時(shí)(如圖3 中的白色三角標(biāo)記處)，把計(jì)時(shí)器里面的時(shí)間值寫入存儲(chǔ)器，即， 記錄每個(gè)脈沖到來(lái)的時(shí)刻。每個(gè)脈沖來(lái)到后，脈寬計(jì)數(shù)器開始計(jì)凄t, 在每個(gè)脈沖歸零時(shí)(如圖三中的黑色三角標(biāo)記處)，把脈寬計(jì)數(shù)器 里面的數(shù)值寫入存儲(chǔ)器，即，記錄每個(gè)脈沖的寬度，然后立即將脈 寬計(jì)數(shù)器清零，等待下一次計(jì)數(shù)。脈沖計(jì)數(shù)器在每次測(cè)試開始時(shí)清 零，每遇到一個(gè)脈沖計(jì)一個(gè)H 一次測(cè)試完成后，計(jì)數(shù)器里面的凄t值寫入存儲(chǔ)器，表示脈沖的個(gè)數(shù)。存儲(chǔ)器中的各個(gè)數(shù)值在測(cè)試結(jié)束
后，經(jīng)I2C總線以編碼形式傳送到計(jì)算機(jī)上，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)只需根據(jù) 預(yù)先設(shè)置的關(guān)于脈沖時(shí)刻、脈沖寬度、以及脈沖個(gè)數(shù)的閾值參數(shù)對(duì) 電路的合格情況進(jìn)行判定。
此外，信號(hào)處理模塊109中的比較、采樣、以及計(jì)數(shù)功能還可 以通過(guò)^f鼓控制器硬件編程加以實(shí)現(xiàn)。
以上所述4又為本發(fā)明的實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對(duì) 于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡是將 顯示器的功耗信息反饋至主機(jī)的技術(shù)方案，所作的任何修改、等同 替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍之內(nèi)
權(quán)利要求
1.一種用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置，包括測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；測(cè)試信號(hào)輸出模塊，與所述測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生模塊連接，用于將所述測(cè)試信號(hào)輸出至待測(cè)的電路板；待測(cè)信號(hào)接收模塊，用于接收來(lái)自所述電路板的待測(cè)信號(hào)；信號(hào)處理模塊，與所述待測(cè)信號(hào)接收模塊連接，用于根據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)對(duì)所述待測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理，并產(chǎn)生處理結(jié)果信號(hào)；以及控制模塊，用于控制所述測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生模塊產(chǎn)生所述測(cè)試信號(hào)，以及接收來(lái)自所述信號(hào)處理模塊的所述處理結(jié)果信號(hào)，所述處理結(jié)果信號(hào)用于判斷所述電路板是否合格。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置，其特征在 于，所述信號(hào)處理模塊包括比較單元，將所述待測(cè)信號(hào)與所述標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較， 得到比較結(jié)果信號(hào)；以及計(jì)數(shù)單元，用于獲取所述比較結(jié)果信號(hào)的脈沖信息。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置，其特征在 于，所述信號(hào)處理才莫塊還包括采樣單元，-沒置在所述比專交單元后，采用頻率可變的時(shí) 鐘對(duì)所述比較結(jié)果信號(hào)進(jìn)行采樣，以過(guò)濾所述比較結(jié)果信號(hào)中脈沖寬度小于時(shí)鐘脈沖的部分，并將過(guò)濾后的波形傳輸至所述 計(jì)凄t單元。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1至3中的任一項(xiàng)所述的用于測(cè)試電3各板的測(cè)試 裝置，其特征在于，還包括通信模塊，與所述控制模塊連接， 用于建立所述控制模塊與計(jì)算機(jī)之間的通信。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置，其特征在 于，還包括存儲(chǔ)單元，用于存儲(chǔ)所述比較結(jié)果信號(hào)的脈沖信息 以及所述標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)。
6. 4艮據(jù)權(quán)利要求4所述的用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置，其特征在 于，所述比較單元包括一個(gè)或多個(gè)異或門電路，所述異或門電 3各的兩個(gè)輸入端的一個(gè)輸入所述〗寺測(cè)信號(hào)而另一個(gè)輸入所述 標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，所述異或門電路的輸出端連接至所述計(jì)凄t單元。
7. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置，其特征在 于，所述比4交單元包4舌一個(gè)或多個(gè)異或門電^各，所述異或門電 路的兩個(gè)輸入端的一個(gè)輸入所述待測(cè)信號(hào)而另一個(gè)輸入所述 標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，所述異或門電路的輸出端連接至所述采樣單元。
8. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置，其特征在 于，所述測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生模塊通過(guò)查表產(chǎn)生所述測(cè)試信號(hào)。
9. 一種用于測(cè)試電聘^反的測(cè)試方法，包4舌以下步駛《產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；將所述測(cè)試信號(hào)輸出至待測(cè)的電路板； 接收來(lái)自所述電路板的待測(cè)信號(hào)；才艮據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)對(duì)所述4寺測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理，并產(chǎn)生處理結(jié)果信號(hào)；接收所述處理結(jié)果信號(hào)，所述處理結(jié)果信號(hào)用于判斷所 述電路板是否合格。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的用于測(cè)試電路板的測(cè)試方法，其特征在 于，所述的根據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)對(duì)所述待測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理包括 以下步駛《將所述待測(cè)信號(hào)與所述標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較，得到比較結(jié) 果信號(hào)；獲取所述比較結(jié)果信號(hào)的脈沖信息。
11. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的用于測(cè)試電路板的測(cè)試方法，其特征 在于，所述的根據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)對(duì)所述待測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理還 包4舌以下步-驟在得到所述比較結(jié)果之后，采用頻率可變的時(shí)鐘對(duì)所述 比較結(jié)果信號(hào)進(jìn)行采樣，以過(guò)濾所述比較結(jié)果信號(hào)中脈沖寬度 小于時(shí)鐘脈沖的部分。
12. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的用于測(cè)試電路板的測(cè)試方法，其特征 在于，通過(guò)查表產(chǎn)生所述測(cè)試信號(hào)。
13. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的用于測(cè)試電路板的測(cè)試方法，其特征 在于，所述標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)是預(yù)先確定并存儲(chǔ)的。
全文摘要
本發(fā)明提出了一種用于測(cè)試電路板的測(cè)試裝置，包括測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生模塊，用于產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)；測(cè)試信號(hào)輸出模塊，與測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生模塊連接，用于將測(cè)試信號(hào)輸出至待測(cè)的電路板；待測(cè)信號(hào)接收模塊，用于接收來(lái)自電路板的待測(cè)信號(hào)；信號(hào)處理模塊，與待測(cè)信號(hào)接收模塊連接，用于根據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)對(duì)待測(cè)信號(hào)進(jìn)行處理，并產(chǎn)生處理結(jié)果信號(hào)；以及控制模塊，用于控制測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生模塊產(chǎn)生測(cè)試信號(hào)，以及接收來(lái)自信號(hào)處理模塊的處理結(jié)果信號(hào)，處理結(jié)果信號(hào)用于判斷電路板是否合格。
文檔編號(hào)G01R31/28GK101685135SQ200810223469
公開日2010年3月31日 申請(qǐng)日期2008年9月28日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月28日
發(fā)明者亮 許 申請(qǐng)人:四川虹歐顯示器件有限公司