專利名稱：一種可控硅檢測裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于可控硅檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種可控珪檢測裝置。
技術(shù)背景可控硅(SCR)又叫晶閘管，是一種大功率開關(guān)型半導(dǎo)體器件，有單向、 雙向、可關(guān)斷和光控等幾種類型，具有體積小、重量輕、效率高、壽命長、控 制方便等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛用于可控整流、調(diào)壓、逆變以及無觸點(diǎn)開關(guān)等各種自動(dòng) 控制和大功率的電能轉(zhuǎn)換的場合?？煽毓柙谶\(yùn)行時(shí)經(jīng)常發(fā)生損壞或脈沖控制信 號丟失等故障，從而影響設(shè)備的正常運(yùn)行，給生產(chǎn)帶來很大的影響。目前，對可控硅進(jìn)行檢測時(shí)，主要通過萬用表測量可控硅各管腳間的阻值 來判斷可控硅的好壞。但檢測時(shí)需將可控硅從設(shè)備上取下來，檢測不方便。同 時(shí)，只能檢測可控硅是否被擊穿短路，不能檢測可控硅斷路或者觸發(fā)脈沖信號 的有無，檢測不全面。另外，由于受到人為因素的影響，容易造成檢測失誤。實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種可控硅檢測裝置，旨在解決現(xiàn)有可控硅4企 測方案檢測不方便、檢測不全面以及容易造成才企測失誤的問題。本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的， 一種可控石圭;險(xiǎn)測裝置，所述裝置包括 電源電路，與待檢測的可控硅連接，為待檢測的可控硅提供導(dǎo)通電壓； 觸發(fā)電路，與待檢測的可控硅連接，為待檢測的可控硅提供觸發(fā)電壓；以及檢測結(jié)果指示裝置，串接在所述電源電路與待檢測的可控硅之間，指示待檢測的可控硅的檢測結(jié)果。本實(shí)用新型提供的檢測裝置結(jié)構(gòu)簡單，易于制作，造價(jià)低，使用方便，具 有多種檢測功能，可以方便、迅速、可靠地檢測可控硅的好壞，例如是否擊穿 或斷路，并可以檢測觸發(fā)脈沖信號的有無，給可控硅設(shè)備的維修帶來很大方便。 采用該檢測裝置可以直接對設(shè)備中的可控硅進(jìn)行沖企測，不需要將可控硅取出， 檢測結(jié)果可以直觀指示，不會(huì)導(dǎo)致檢測失誤。


圖1是本實(shí)用新型提供的可控硅檢測裝置的結(jié)構(gòu)圖； 圖2是本實(shí)用新型第 一 實(shí)施例提供的可控硅片企測裝置的電路結(jié)構(gòu)圖； 圖3是本實(shí)用新型第二實(shí)施例提供的可控硅檢測裝置的電路結(jié)構(gòu)圖； 圖4是本實(shí)用新型第三實(shí)施例提供的可控硅檢測裝置的電路結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施方式
為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，
以下結(jié)合附圖 及實(shí)施例，對本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體 實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。在本實(shí)用新型中，通過控制可控硅的通斷檢測可控硅的狀態(tài)，檢測結(jié)果全 面，可以直觀指示，對設(shè)備中的可控硅直接檢測時(shí)不需要將可控硅從設(shè)備中取 出。圖l示出了本實(shí)用新型提供的可控硅檢測裝置的結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示 出了與本實(shí)用新型相關(guān)的部分。電源電路101、觸發(fā)電路103分別與待檢測的可控硅102連接，電源電路 101為可控硅102提供導(dǎo)通電壓，觸發(fā)電路103為可控硅102提供觸發(fā)電壓， 檢測結(jié)果指示裝置104串接在電源電路101和可控硅102之間。檢測結(jié)果指示 裝置104可以是指示燈，或者聲音發(fā)生器等，通過燈光信號或者聲音信號指示檢測結(jié)果。對可控珪102進(jìn)行檢測時(shí)，如果對可控娃102施加導(dǎo)通電壓，不施加觸發(fā) 電壓時(shí)，可控硅102導(dǎo)通，檢測結(jié)果指示裝置104得電發(fā)出指示信號，表明可 控硅102短路；如果對可控硅102同時(shí)施加導(dǎo)通電壓和觸發(fā)電壓時(shí),檢測結(jié)果 指示裝置104未發(fā)出指示信號，表明可控硅102斷路，否則說明表明可控硅102 工作正常。在本實(shí)用新型中，利用該;險(xiǎn)測裝置可以實(shí)現(xiàn)對雙向可控^ 圭或者單向可控硅 的檢測，也可以同時(shí)對雙向可控硅和單向可控硅進(jìn)行檢測。圖2示出了本實(shí)用新型提供的實(shí)現(xiàn)雙向可控硅檢測的可控硅檢測裝置的電 路結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本實(shí)用新型相關(guān)的部分。交流220V電源作為電源電路101，為雙向可控硅VS1提供交流導(dǎo)通電壓， 其相線直接接雙向可控硅VS1的第二陽極T2，雙向可控硅VS1的第一陽極T1 接指示燈HL1的一端，指示燈HL1的另一端接交流220V電源的零線。可調(diào)電阻RP1和電容C1構(gòu)成一條阻容移相電路，作為觸發(fā)電路103為雙 向可控硅VS1提供觸發(fā)電壓。該阻容移相電路的一端接控制開關(guān)Sl的一端， 控制開關(guān)S1的另一端接雙向可控硅VS1的第二陽極T2，該阻容移相電路的另 一端接雙向可控珪VS1的第一陽極T1，阻容移相電路產(chǎn)生的脈沖信號接雙向 觸發(fā)二極管ST的一端，雙向觸發(fā)二極管ST的另一端接雙向可控硅VS1的控 制極G，為雙向可控硅VS1提供觸發(fā)電壓。具體工作過程為，合上控制開關(guān)Sl， 交流電源通過可調(diào)電阻RP1向電容C1充電，當(dāng)電容C1兩端的電壓上升到略高 于雙向觸發(fā)二極管ST的轉(zhuǎn)折電壓時(shí)，雙向觸發(fā)二極管ST導(dǎo)通，并且觸發(fā)雙向 可控硅VS1也導(dǎo)通，指示燈HL1得電發(fā)光。當(dāng)交流電源電壓過零瞬間，雙向 可控硅VS1自行關(guān)斷，接著電容C1又被電源反向充電，重復(fù)上述過程。該阻 容移相電路工作在交流電路中，阻容移相電路在交流電壓的正、負(fù)半周分別會(huì) 發(fā)出正、負(fù)觸發(fā)電壓到雙向可控硅VS1的控制極G，使雙向可控硅VS1在正、 負(fù)半周內(nèi)對稱地導(dǎo)通一次，改變可調(diào)電阻RP1的阻值，就改變了電容C1的充電速度，也就改變了雙向可控硅VS1的導(dǎo)通角，相應(yīng)地改變了指示燈HL1上 的交流電壓，實(shí)現(xiàn)了交流調(diào)壓。當(dāng)可調(diào)電阻RP1調(diào)到最大值時(shí)，電容C1充電速度變得很隄，以致在交流 電壓的半個(gè)周期時(shí)間內(nèi)，電容C1上的電壓還來不及上升到雙向觸發(fā)二極管ST 的轉(zhuǎn)折電壓，雙向可控硅VS1就不能導(dǎo)通。為了克服這一缺陷，本實(shí)用新型增 加了由電阻R1、電容C2和電阻R2組成的另一條阻容移相電^各，當(dāng)可調(diào)電阻 RP1調(diào)到極限值以上時(shí)，電容C2上的電壓可經(jīng)電阻R2向電容C1充電，使電 容C1上的電壓達(dá)到雙向觸發(fā)二極管ST的轉(zhuǎn)折電壓，以保證在低輸出電壓下雙 向可控硅VS1仍能導(dǎo)通。檢測雙向可控硅VS1時(shí)，如果控制開關(guān)S1未閉合，指示燈HL1發(fā)光，表明 雙向可控硅VS1被擊穿而短路，如果指示燈HL1未發(fā)光，控制開關(guān)S1閉合后， 指示燈HL1發(fā)光，表明雙向可控硅VS1正常，否則表明雙向可控硅VS1斷路損壞。圖3示出了本實(shí)用新型提供的實(shí)現(xiàn)單向可控硅檢測的可控硅檢測裝置的電 路結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本實(shí)用新型相關(guān)的部分。交流220V電源、變壓器T、整流橋D和控制開關(guān)S2構(gòu)成電源電^各101, 為單向可控硅VS2提供直流導(dǎo)通電壓，控制開關(guān)S3和電池組構(gòu)成觸發(fā)電路103 ， 為單向可控硅VS2提供觸發(fā)電壓，檢測結(jié)果指示裝置104采用指示燈HL2,待 檢測的可控硅102為單向可控硅VS2。變壓器T的原邊接交流220V電源，變壓器T的副邊的一端接整流橋D的 一輸入端，變壓器T的副邊的另一端接控制開關(guān)S2的一端，控制開關(guān)S2的另 一端接整流橋D的另 一輸入端。整流橋D的 一輸出端接單向可控硅VS2的陽 極A，單向可控硅VS2的陰極K接指示燈HL2的一端，指示燈HL2的另一端 接整流橋D的另 一輸出端。電池組的正極接控制開關(guān)S3的一端，控制開關(guān)S3的另一端接單向可控硅 VS2的控制極G，電池組的負(fù)極接單向可控硅VS2的陰極K。檢測單向可控硅VS2時(shí)，將控制開關(guān)S2閉合，若指示燈HL2發(fā)光，則表明單向可控硅VS2被擊穿而短路，若指示燈HL2不發(fā)光，將控制開關(guān)S3閉合， 如果指示燈HL2發(fā)光，表明單向可控硅VS2正常，否則就表明單向可控硅VS2 斷路損壞。本實(shí)用新型除了檢測可控硅是否短路或斷路外，還可以檢測可控硅中觸發(fā) 脈沖信號的有無，具體操作為，將正常的單向可控硅VS2放在檢測電路中，斷 開控制開關(guān)S3，將觸發(fā)脈沖信號的正極接在'T，的位置，負(fù)極接在"2"的位置， 閉合控制開關(guān)S2,如果指示燈HL2發(fā)光，就表明觸發(fā)脈沖信號正常，如果指 示燈HL2不發(fā)光，就表明沒有觸發(fā)脈沖信號。圖4示出了本實(shí)用新型提供的同時(shí)對雙向可控硅和單向可控硅進(jìn)行檢測的 可控硅檢測裝置的電路結(jié)構(gòu)，為了便于說明，僅示出了與本實(shí)用新型相關(guān)的部 分。將上述雙向可控硅VS1的檢測電路和單向可控珪VS2的檢測電路結(jié)合，可以 同時(shí)對雙向可控硅和單向可控硅進(jìn)行檢測，檢測過程不再贅述。本實(shí)用新型提供的檢測裝置結(jié)構(gòu)簡單，易于制作，造價(jià)低，使用方便，具 有多種檢測功能，可以方便、迅速、可靠地檢測可控硅的好壞，例如是否擊穿 或斷路，并可以檢測觸發(fā)脈沖信號的有無，給可控硅設(shè)備的維修帶來很大方便。 采用該檢測裝置可以直接對設(shè)備中的可控硅進(jìn)行檢測，不需要將可控硅取出， 檢測結(jié)果可以直觀指示，不會(huì)導(dǎo)致檢測失誤。以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型， 凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng) 包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1、一種可控硅檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括電源電路，與待檢測的可控硅連接，為待檢測的可控硅提供導(dǎo)通電壓；觸發(fā)電路，與待檢測的可控硅連接，為待檢測的可控硅提供觸發(fā)電壓；以及檢測結(jié)果指示裝置，串接在所述電源電路與待檢測的可控硅之間，指示待檢測的可控硅的檢測結(jié)果。
2、 如權(quán)利要求1所述的可控硅檢測裝置，其特征在于，所述電源電路包括 雙向可控硅檢測電源電路，與待檢測的雙向可控硅連接，為待檢測的雙向可控硅提供交流導(dǎo)通電壓。
3、 如權(quán)利要求1所述的可控硅檢測裝置，其特征在于，所述電源電路包括 單向可控硅檢測電源電路，與待檢測的單向可控硅連接，為待檢測的單向可控硅提供直流導(dǎo)通電壓。
4、 如權(quán)利要求3所述的可控硅檢測裝置，其特征在于，所述單向可控硅檢 測電源電路包括變壓器、控制開關(guān)和整流橋，其中變壓器的原邊接交流電源，副邊的一端接整流橋的一輸入端，副邊的另一 端接控制開關(guān)的一端，控制開關(guān)的另 一端接整流橋的另 一輸入端；整流橋的一輸出端接單向可控硅的陽極，另 一輸出端接檢測結(jié)果指示裝置。
5、 如權(quán)利要求1所述的可控硅檢測裝置，其特征在于，所述觸發(fā)電路包括 雙向可控硅觸發(fā)電路，與待檢測的雙向可控硅連接，為待檢測的雙向可控硅提供觸發(fā)電壓。
6、 如權(quán)利要求5所述的可控硅檢測裝置，其特征在于，所述雙向可控硅觸 發(fā)電路包含兩條阻容移相電路。
7、 如權(quán)利要求1所述的可控硅檢測裝置，其特征在于，所述觸發(fā)電路包括 單向可控硅觸發(fā)電路，與待檢測的單向可控硅連接，為待檢測的單向可控
8、 如權(quán)利要求7所述的可控硅檢測裝置，其特征在于，所述單向可控硅觸 發(fā)電路包括電池組和控制開關(guān)，其中電池組的正極接控制開關(guān)的一端，負(fù)極接待檢測的單向可控硅的陰極； 控制開關(guān)的另 一端接待檢測的單向可控硅的控制極。
9、 如權(quán)利要求1至8任一權(quán)利要求所述的可控硅檢測裝置，其特征在于， 所述^r測結(jié)果指示裝置為指示燈或者聲音發(fā)生器。
專利摘要本實(shí)用新型適用于可控硅檢測領(lǐng)域，提供了一種可控硅檢測裝置，包括電源電路，與待檢測的可控硅連接，為待檢測的可控硅提供導(dǎo)通電壓；觸發(fā)電路，與待檢測的可控硅連接，為待檢測的可控硅提供觸發(fā)電壓；以及檢測結(jié)果指示裝置，串接在所述電源電路與待檢測的可控硅之間，指示待檢測的可控硅的檢測結(jié)果。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單，易于制作，造價(jià)低，使用方便，具有多種檢測功能，可以方便、迅速、可靠地檢測可控硅的好壞，給可控硅設(shè)備的維修帶來很大方便。采用該檢測裝置可以直接對設(shè)備中的可控硅進(jìn)行檢測，不需要將可控硅取出，檢測結(jié)果可以直觀指示，不會(huì)導(dǎo)致檢測失誤。
文檔編號G01R31/27GK201218833SQ20082009372
公開日2009年4月8日 申請日期2008年4月29日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月29日
發(fā)明者張永清, 羅秋華 申請人:比亞迪股份有限公司