專利名稱：用于光學(xué)平板的高精度量具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種量具，特別是涉及一種用于光學(xué)平板玻璃在加工過程中 的外圍寸法測量的高精度量具。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)光學(xué)平板玻璃(或稱光學(xué)平板)加工中，外圍寸法測量工序是光學(xué)行 業(yè)中很重要的一道工序，傳統(tǒng)的測量方法是用游標(biāo)卡尺進(jìn)行光學(xué)平板測量， 這種測量方法效率不高，測量工時(shí)很大，而且會因游標(biāo)卡尺的誤差及操作方 法各異造成誤檢，其對寸法要求非常嚴(yán)格的產(chǎn)品更是容易誤檢，造成這種誤 檢的主要原因是由于卡尺在使用時(shí)，不斷的來回運(yùn)動，造成磨損，引起精度誤 差。用數(shù)顯卡尺測量光學(xué)平板玻璃，對精度要求高的產(chǎn)品經(jīng)常會有數(shù)字顯示 誤差等異常，另夕卜，因操作不當(dāng)引起的誤差更是很難避免。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的就是要解決傳統(tǒng)光學(xué)平板玻璃加工中外圍寸法測量 效率不高、誤差較大甚至誤檢的問題，設(shè)計(jì)一種用于光學(xué)平板玻璃在加工過 程中的外圍寸法測量的高精度量具。
本實(shí)用新型通過如下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的本實(shí)用新型包括靠體、底板和 兩組基準(zhǔn)塊，靠體為一長條形狀并固定于底板的一側(cè)表面上， 一組基準(zhǔn)塊一 基準(zhǔn)塊A及基準(zhǔn)塊B設(shè)于底板的一側(cè)表面上部，另 一組基準(zhǔn)塊一基準(zhǔn)塊C及 基準(zhǔn)塊D,設(shè)于底板的一側(cè)表面下部，各基準(zhǔn)塊與底板之間設(shè)有可使基準(zhǔn)塊 上下左右滑動的滑動鍵、槽，在兩組基準(zhǔn)塊間設(shè)有鏡片(或稱光學(xué)平板玻 璃)放置區(qū)，基準(zhǔn)塊A、 D和基準(zhǔn)塊B、 C之間有一定的間隙，靠體的一側(cè)面設(shè) 計(jì)為基準(zhǔn)面E，基準(zhǔn)塊A —側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面Al ，基準(zhǔn)塊B —側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn) 面Bl,基準(zhǔn)塊C 一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面Cl,基準(zhǔn)塊D —側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面Dl, 基準(zhǔn)面A1、 Bl、 Cl、 Dl、 E均為平面。
本實(shí)用新型與傳統(tǒng)光學(xué)平板玻璃的測量方法相比，本實(shí)用新型改變原來 用卡尺測量光學(xué)平板玻璃尺寸的方法，本實(shí)用新型通過兩組基準(zhǔn)塊的定位尺 寸來確定尺寸的正負(fù)公差，移動鏡片的四個(gè)測量方向可以判斷鏡片尺寸是否 合格，解決了用卡尺測量光學(xué)平板玻璃尺寸時(shí)，因卡尺誤差造成的測量誤差 以及測量效率低的問題,具有準(zhǔn)確度高、測量效率高、制作簡單、調(diào)整方便等 優(yōu)點(diǎn)。本實(shí)用新型很有推廣價(jià)值，必受使用者歡迎，有很大市場。


圖1為用傳統(tǒng)卡尺測量光學(xué)平板玻璃平面示意圖
圖2為光學(xué)平板玻璃平面示意圖。
圖3是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)的平面示意圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖的具體實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。(但不是對本實(shí) 用新型的限制)。
如圖1為傳統(tǒng)用數(shù)顯卡尺測量光學(xué)平板玻璃平面示意圖，圖2為光學(xué)平 板玻璃平面示意圖。光學(xué)平板玻璃3在卡尺固定測量爪2和移動測量爪1之 間進(jìn)行測量，光學(xué)平板玻璃在測量爪的位置和方向均會影響到測量精度，在 測量超過測量爪端面的光學(xué)平板玻璃(或稱鏡片)時(shí)誤差會更大，同時(shí)為了 保證產(chǎn)品質(zhì)量需要增加測量的次數(shù)，這樣就降低了檢驗(yàn)的效率。圖3是本實(shí) 用新型的結(jié)構(gòu)平面示意圖，如圖3所示，本實(shí)用新型包括靠體4、底板5和 兩組基準(zhǔn)塊，靠體4為一長條形狀并固定于底板5的一側(cè)表面上， 一組基準(zhǔn) 塊一基準(zhǔn)塊A及基準(zhǔn)塊B設(shè)于底板5的一側(cè)表面上部，另 一組基準(zhǔn)塊一基準(zhǔn) 塊C及基準(zhǔn)塊D,設(shè)于底板5的一側(cè)表面下部，各基準(zhǔn)塊與底板5之間設(shè)有 可使基準(zhǔn)塊上下左右滑動的滑動鍵、槽(注 一面為鍵，對應(yīng)面即為槽)，在 兩組基準(zhǔn)塊之間設(shè)有鏡片(或稱光學(xué)平板玻璃)放置區(qū)6，基準(zhǔn)塊A、 D和 基準(zhǔn)塊B、 C之間有一定的間隙，以便清除異物，靠體的一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面 E,基準(zhǔn)塊A —側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面Al,基準(zhǔn)塊B —側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面Bl,基準(zhǔn) 塊C 一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面Cl，基準(zhǔn)塊D —側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面Dl,基準(zhǔn)面Al、 Bl、 Cl、 Dl、 E均為平面?；鶞?zhǔn)面均是平面度很好的平面。
基準(zhǔn)塊A、 B、 C、 D可以與聯(lián)接手動或電動直線調(diào)節(jié)臺連接，可以通過聯(lián) 接手動或電動直線調(diào)節(jié)臺，來調(diào)節(jié)基準(zhǔn)塊A、 B、 C、 D上下左右方向的尺寸， 可以通過調(diào)節(jié)臺的讀數(shù)裝置，設(shè)定實(shí)際測量的尺寸基準(zhǔn)，調(diào)節(jié)范圍可根據(jù)調(diào) 節(jié)臺的不同而定。
基準(zhǔn)塊連接前用產(chǎn)品的最大正公差標(biāo)準(zhǔn)塊靠緊基準(zhǔn)面E面來定位基準(zhǔn)塊 B和基準(zhǔn)塊C，用產(chǎn)品的最小負(fù)公差標(biāo)準(zhǔn)塊靠緊基準(zhǔn)面E面來定位基準(zhǔn)塊A和 基準(zhǔn)塊D。
測量方法如下例如測量待檢鏡片的L尺寸，在測量時(shí)將祠，4企鏡片的一 個(gè)端面靠緊基準(zhǔn)面E,作前后兩個(gè)方向運(yùn)動，分別至基準(zhǔn)塊B和C,如可以通過 基準(zhǔn)塊B和C，則繼續(xù)運(yùn)動到基準(zhǔn)塊A和D,若不能通過，則產(chǎn)品在正公差范 圍內(nèi)，是合格的；如不能通過基準(zhǔn)塊B和C,則產(chǎn)品尺寸超過公差范圍偏大 了，判定為不合才各；如可以通過基準(zhǔn)塊A和D,則產(chǎn)品尺寸超過公差范圍偏 小了 ，判定為不合格。如要測量待檢鏡片的W尺寸，重復(fù)測量待檢鏡片的L尺 寸的過程即可。本實(shí)用新型可根據(jù)鏡片大小，調(diào)整兩組基準(zhǔn)塊的位置和鏡片放 置區(qū)域，從而測量不同規(guī)格的產(chǎn)品。本實(shí)用新型通過兩組基準(zhǔn)塊的定位尺寸 來確定尺寸的正負(fù)公差，移動鏡片的四個(gè)測量方向可以判斷鏡片尺寸是否合 格。
以上是本實(shí)用新型的具體實(shí)施例，凡依上述構(gòu)思所作的相類似改變，理 應(yīng)屬本實(shí)用新型的范圍。
權(quán)利要求1.用于光學(xué)平板的高精度量具，其特征在于，所述的用于光學(xué)平板的高精度量具包括靠體、底板和兩組基準(zhǔn)塊，靠體為一長條形狀并固定于底板的一側(cè)表面上，一組基準(zhǔn)塊--基準(zhǔn)塊A及基準(zhǔn)塊B設(shè)于底板的一側(cè)表面上部，另一組基準(zhǔn)塊--基準(zhǔn)塊C及基準(zhǔn)塊D，設(shè)于底板的一側(cè)表面下部，基準(zhǔn)塊與底板之間設(shè)有可使基準(zhǔn)塊上下左右滑動的滑動鍵、槽，在兩組基準(zhǔn)塊之間設(shè)有鏡片放置區(qū)，基準(zhǔn)塊A、D和基準(zhǔn)塊B、C之間有一定的間隙，靠體的一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面E，基準(zhǔn)塊A一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面A1，基準(zhǔn)塊B一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面B1，基準(zhǔn)塊C一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面C1，基準(zhǔn)塊D一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面D1，基準(zhǔn)面A1、B1、C1、D1、E均為平面。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的用于光學(xué)平板的高精度量具，其特征在于，所 述的基準(zhǔn)塊A、 B、 C、 D與聯(lián)接手動或電動直線調(diào)節(jié)臺連接。
3、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的用于光學(xué)平板的高精度量具，其特征在于，用 產(chǎn)品的最大正公差標(biāo)準(zhǔn)塊靠緊基準(zhǔn)面E面來定位基準(zhǔn)塊B和基準(zhǔn)塊C，用產(chǎn) 品的最小負(fù)公差標(biāo)準(zhǔn)塊靠緊基準(zhǔn)面E面來定位基準(zhǔn)塊A和基準(zhǔn)塊D。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種用于光學(xué)平板的高精度量具，其包括靠體、底板和兩組基準(zhǔn)塊，靠體為一長條形狀并固定于底板的一側(cè)表面上，一組基準(zhǔn)塊-基準(zhǔn)塊A及基準(zhǔn)塊B設(shè)于底板的一側(cè)表面上部，另一組基準(zhǔn)塊-基準(zhǔn)塊C及基準(zhǔn)塊D，設(shè)于底板的一側(cè)表面下部，各基準(zhǔn)塊與底板之間設(shè)有可使基準(zhǔn)塊上下左右滑動的滑動鍵槽，在兩組基準(zhǔn)塊間設(shè)有鏡片放置區(qū)，基準(zhǔn)塊A、D和基準(zhǔn)塊B、C之間有一定的間隙，靠體的一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面E，基準(zhǔn)塊A一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面A1，基準(zhǔn)塊B一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面B1，基準(zhǔn)塊C一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面C1，基準(zhǔn)塊D一側(cè)面設(shè)計(jì)為基準(zhǔn)面D1，基準(zhǔn)面A1、B1、C1、D1、E均為平面。
文檔編號G01B5/02GK201293626SQ20082014608
公開日2009年8月19日 申請日期2008年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月3日
發(fā)明者鄧全清, 陳本榮, 黃國章 申請人:阿石托隆(福建)光學(xué)科技有限公司