專利名稱：銅帶厚度測量儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種利用光學(xué)測量銅帶厚度的裝置，確切地說是一種用 于銅帶壓軋生產(chǎn)線上的銅帶厚度測量儀。
技術(shù)背景銅帶生產(chǎn)過程中，對于厚度的要求特別高，必須嚴(yán)格控制銅帶的厚度， 規(guī)模小的企業(yè)都是用卡尺人工測量，銅帶在壓軋生產(chǎn)線上是在不停地運行， 手工測量就很困難，誤差也大，質(zhì)量無法保證，只能生產(chǎn)要求較低的產(chǎn)品； 規(guī)模較大的企業(yè)廣泛采用接觸式測厚儀進行測量，接觸式的測量會對銅帶表 面造成傷害，具有一定的破壞性。實用新型內(nèi)容-本實用新型的目的在于提供一種測量方便、精確度高的非接觸式銅帶厚 度測量儀。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采取如下技術(shù)方案 一種銅帶厚度測量儀， 包括低相干度光源、二個干涉儀、三組傳光光纖、光電接收器和信號處理器， 所述的二個干涉儀對稱設(shè)置于被測銅帶的兩側(cè)，銅帶的兩個對應(yīng)表面分別作 為兩個干涉儀的反射面，所述的低相干度光源經(jīng)第一組傳光光纖射至第一干 涉儀，第一干涉光經(jīng)第二組傳光光纖至第二干涉儀，第二干涉光經(jīng)第三組傳 光光纖、光電接收器至信號處理器。本實用新型進一步的技術(shù)方案是，所述的低相干度光源為寬帶光源，干 涉儀為邁克爾遜干涉儀。通過上述技術(shù)方案可以看出，將被測銅帶位于兩個干涉儀之間，銅帶的 兩個對應(yīng)表面分別作為兩個干涉儀的反射面， 一個低相干度光源經(jīng)第一組傳 光光纖射至第一個干涉儀，第一個干涉儀輸出的干涉光經(jīng)第二組傳光光纖作 為光源照射至第二干涉儀，第二個干涉儀輸出的干涉光經(jīng)第三組傳光光纖被光電接收器接收，經(jīng)信號處理器處理得出被測銅帶的厚度。本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有的有益效果是，測量精度高、測量速度快，由于是非接觸式測量，對銅帶表面沒有任何損傷，特別適合不透明且兩面都有較強反射度的帶材的厚度測量。

附圖為本實用新型實施例的結(jié)構(gòu)框圖。
具體實施方式
本實用新型由低相干度光源、二個邁克爾遜干涉儀、三組傳光光纖、光 電接收器和信號處理器組成，如附圖所示，二個邁克爾遜干涉儀3、 5對稱設(shè) 置于被測銅帶的兩側(cè)，低相干度光源采用寬帶光源，銅帶9的兩個對應(yīng)表面 分別作為兩個邁克爾遜干涉儀的反射面， 一個低相干度光源1通過透鏡經(jīng)第一組傳光光纖2射至第一邁克爾遜干涉儀3中的光纖耦合器31上，第一邁克 爾遜干涉儀3還包括測量反射鏡32和參考反射鏡33,測量反射鏡32就是銅 帶9的一個表面，第一邁克爾遜干涉儀3輸出的干涉光經(jīng)第二組傳光光纖4 作為光源照射至第二邁克爾遜千涉儀5中的光纖耦合器51上，第二邁克爾遜 干涉儀5還包括測量反射鏡52和參考反射鏡53，測量反射鏡52是銅帶9的 另一個表面，第二邁克爾遜干涉儀5輸出的干涉光經(jīng)第三組傳光光纖6被光 電接收器7接收，經(jīng)信號處理器8處理得出被測銅帶的厚度。
權(quán)利要求1、銅帶厚度測量儀，包括低相干度光源、二個干涉儀、三組傳光光纖、光電接收器和信號處理器，其特征在于二個干涉儀對稱設(shè)置于被測銅帶的兩側(cè)，銅帶的兩個對應(yīng)表面分別作為兩個干涉儀的反射面，所述低相干度光源經(jīng)第一組傳光光纖射至第一干涉儀，第一干涉光經(jīng)第二組傳光光纖至第二干涉儀，第二干涉光經(jīng)第三組傳光光纖、光電接收器至信號處理器。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的銅帶厚度測量儀，其特征在于所述的低相干 度光源為寬帶光源，干涉儀為邁克爾遜干涉儀。
專利摘要本實用新型公開一種銅帶厚度測量儀，包括低相干度光源、二個干涉儀、三組傳光光纖、光電接收器和信號處理器，所述的二個干涉儀對稱設(shè)置于被測銅帶的兩側(cè)，銅帶的兩個對應(yīng)表面分別作為兩個干涉儀的反射面，所述的低相干度光源經(jīng)第一組傳光光纖射至第一干涉儀，第一干涉光經(jīng)第二組傳光光纖至第二干涉儀，第二干涉光經(jīng)第三組傳光光纖、光電接收器至信號處理器；具有的有益效果是，測量精度高、測量速度快，由于是非接觸式測量，對銅帶表面沒有任何損傷，特別適合不透明且兩面都有較強反射度的帶材的厚度測量。
文檔編號G01B11/06GK201352109SQ20082022539
公開日2009年11月25日 申請日期2008年11月9日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月9日
發(fā)明者封全虎 申請人:蕪湖眾源金屬帶箔有限公司