專利名稱:在多個(gè)測(cè)試位置共享測(cè)試資源的方法、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、裝載和卸載要被測(cè)試的器件的處理 ...的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明的實(shí)施例涉及在對(duì)多個(gè)器件進(jìn)行測(cè)試的多個(gè)測(cè)試位置共享測(cè)試資源的方 法、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、用于將要被測(cè)試的器件裝載到自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的多個(gè)測(cè)試位置或?qū)⑵鋸?自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的多個(gè)測(cè)試位置卸載的處理機(jī)以及用于對(duì)多個(gè)器件的系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試的系統(tǒng)。
背景技術(shù):
需要對(duì)例如存儲(chǔ)器元件和集成電路(IC)的組件進(jìn)行測(cè)試。在測(cè)試過(guò)程中,這些被 測(cè)器件(DUT)暴露到各種類(lèi)型的激勵(lì)信號(hào)中,并且來(lái)自這些器件的響應(yīng)被測(cè)量、處理并與 預(yù)期的響應(yīng)相比較??梢酝ㄟ^(guò)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)來(lái)進(jìn)行這種測(cè)試,其中自動(dòng)測(cè)試設(shè)備通 常按照器件特定測(cè)試程序或測(cè)試流程來(lái)執(zhí)行這種任務(wù)。這種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的示例是Verigy V93000系列和Verigy V5000系列,其中前一 者是用于測(cè)試系統(tǒng)芯片、系統(tǒng)封裝以及高速存儲(chǔ)器器件的平臺(tái)。后一者是用于在晶片分類(lèi) 和最終測(cè)試中測(cè)試包括閃存存儲(chǔ)器和多芯片封裝的存儲(chǔ)器裝置。這種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備可以包括多個(gè)位置,其中每個(gè)位置都接收被測(cè)器件,由此允許 同時(shí)對(duì)多個(gè)器件進(jìn)行測(cè)試。這種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備可以包括具有握持機(jī)構(gòu)的器件處理機(jī),其用 于同時(shí)將多個(gè)要被測(cè)試的器件放置在測(cè)試位置或者用于在測(cè)試完成之后從測(cè)試位置移除 器件。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備提供了允許對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試的各種資源,并且多位置測(cè)試需要所有的 位置都能夠得到的相應(yīng)的ATE資源。雖然存在為每個(gè)位置提供的資源,但是在自動(dòng)測(cè)試設(shè) 備中也存在昂貴并且僅在各個(gè)測(cè)試位置處執(zhí)行的測(cè)試程序或測(cè)試流程的短時(shí)間內(nèi)使用的 資源(諸如,用于RF測(cè)量的RF資源等)。在一種傳統(tǒng)的方法中,可以在自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的每 個(gè)測(cè)試位置處提供這種特定的資源(例如,用于執(zhí)行RF測(cè)量的資源),然而這非常昂貴。可 選擇地,可以在自動(dòng)測(cè)試設(shè)備中提供單個(gè)資源并且可以在各個(gè)測(cè)試位置處執(zhí)行的共有的測(cè) 試流程中對(duì)該資源進(jìn)行復(fù)用。然而,這增加了測(cè)試時(shí)間的開(kāi)支。此外,可以調(diào)整測(cè)試流程或 測(cè)試程序來(lái)產(chǎn)生以以下方式執(zhí)行的循環(huán)測(cè)試流程,該方式為當(dāng)在各個(gè)測(cè)試位置同時(shí)執(zhí)行測(cè) 試流程時(shí)測(cè)試流程的獲取特定資源的這些部分不重疊,然而,這需要為每個(gè)測(cè)試位置建立 不同的測(cè)試流程,這增加了測(cè)試準(zhǔn)備的復(fù)雜度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供這樣一種改善的方法,其用于在具有多個(gè)測(cè)試位置的自動(dòng)測(cè) 試系統(tǒng)內(nèi)提供特定的資源,允許利用減小的成本來(lái)實(shí)施自動(dòng)測(cè)試設(shè)備并且避免測(cè)試時(shí)間開(kāi) 支和測(cè)試流程復(fù)雜度。該目的是通過(guò)根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,根據(jù)權(quán)利要求9所述的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、 根據(jù)權(quán)利要求13所述的處理機(jī)以及根據(jù)權(quán)利要求17所述的系統(tǒng)來(lái)實(shí)現(xiàn)的。本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種用于在多個(gè)測(cè)試位置共享測(cè)試資源的方法,所述方法 包括
在多個(gè)測(cè)試位置處以時(shí)間上的偏移量來(lái)執(zhí)行各個(gè)測(cè)試流程,各個(gè)所述測(cè)試流程在 所述測(cè)試流程中的預(yù)定位置處獲取所述測(cè)試資源。本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,包括多個(gè)測(cè)試位置,每個(gè)測(cè)試位置構(gòu)造為接收要被測(cè)試的裝置; 特定測(cè)試資源,其構(gòu)造為被選擇性地連接到所述測(cè)試位置中的一者;以及測(cè)試器,其構(gòu)造為在所述測(cè)試位置處以時(shí)間上的偏移量來(lái)開(kāi)始執(zhí)行各個(gè)測(cè)試流 程,其中,各個(gè)所述測(cè)試流程包括獲取所述測(cè)試資源的部分,所述時(shí)間上的偏移量被 選擇為使得所述測(cè)試流程中的、獲取所述測(cè)試資源的部分不重疊,并且其中,所述測(cè)試器構(gòu)造為將所述特定測(cè)試資源連接到正在執(zhí)行獲取所述特定測(cè)試 資源的部分的所述測(cè)試位置。本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種處理機(jī),其用于將器件裝載到自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的多個(gè)測(cè) 試位置或從其卸載器件,所述處理機(jī)包括機(jī)構(gòu),其構(gòu)造為將要被測(cè)試的器件裝載到所述自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的各個(gè)所述測(cè)試位置 并且構(gòu)造為從所述測(cè)試位置卸載器件;以及控制器,其構(gòu)造為控制所述機(jī)構(gòu),來(lái)以時(shí)間上的偏移量來(lái)裝載所述器件。本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種用于測(cè)試多個(gè)器件的測(cè)試系統(tǒng),所述測(cè)試系統(tǒng)包括根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備;以及根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的處理機(jī)。
將要在下文中參照附圖描述本發(fā)明的實(shí)施例。圖1是示出了圖示通過(guò)資源復(fù)用來(lái)共享特定測(cè)試資源的第一傳統(tǒng)方法的示意圖;圖2是示出了圖示通過(guò)使用循環(huán)測(cè)試流程來(lái)共享特定測(cè)試資源的第二傳統(tǒng)方法 的示意圖;圖3是示出了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的測(cè)試系統(tǒng)的框圖;而圖4是示出了圖示通過(guò)根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的管道測(cè)試流程來(lái)共享測(cè)試資源的 方法的示意圖。
具體實(shí)施例方式圖1是示出了圖示使用如圖1中示意性地示出的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備100來(lái)測(cè)試多個(gè)器 件的傳統(tǒng)方法的示意圖。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備100包括多個(gè)測(cè)試位置102、104、106和108。注意,在圖1中,自動(dòng) 測(cè)試設(shè)備示出為具有四個(gè)測(cè)試位置。此外,為了將要被測(cè)試的器件裝載IlOa到各個(gè)測(cè)試位 置102到108并且將經(jīng)測(cè)試的器件從各個(gè)測(cè)試位置102到108卸載而提供處理機(jī)構(gòu)110。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備包括特定資源112,例如,用于在保持在各個(gè)測(cè)試位置102到108中 的器件處執(zhí)行RF測(cè)量的RF資源。此外,為了選擇性地將資源112轉(zhuǎn)換到各個(gè)測(cè)試位置102 到108而設(shè)置復(fù)用器114。在各個(gè)測(cè)試位置102到108處,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備100已經(jīng)裝載了可 以相同或者可以不同的各個(gè)測(cè)試流程116到122。各個(gè)測(cè)試流程包括第一部分116a到122a和第二部分116b和122b。各個(gè)測(cè)試流程116到122的第一部分116a到122a使用測(cè)試資 源來(lái)在設(shè)置在各個(gè)測(cè)試位置102到108的被測(cè)器件處執(zhí)行各個(gè)測(cè)試,其中,每個(gè)位置102到 108包括各自的測(cè)試資源,使得可以并行執(zhí)行測(cè)試的部分116a到122a。各個(gè)測(cè)試流程116 到122的第二部分116b到122b獲取例如用于對(duì)于設(shè)置在各個(gè)測(cè)試位置處的器件執(zhí)行RF 測(cè)試的特定測(cè)試資源112。因?yàn)樽詣?dòng)測(cè)試設(shè)備100僅包括單個(gè)特定測(cè)試資源112,所以不能 并行執(zhí)行各個(gè)測(cè)試流程116到122的第二部分116b到122b。相反地,測(cè)試流程116到122 的部分116b到122b以順序的方式獲取測(cè)試資源112,并且測(cè)試資源112經(jīng)由復(fù)用器114連 接到測(cè)試位置102到108中的一者,更具體地,連接到正在執(zhí)行測(cè)試流程116到122的第二 部分的測(cè)試位置。更具體地,在時(shí)刻t1;處理機(jī)110將要被測(cè)試的器件裝載IlOa到測(cè)試位置102到 108,并且自動(dòng)測(cè)試設(shè)備100開(kāi)始執(zhí)行各個(gè)測(cè)試流程或測(cè)試程序116到122的第一部分116a 到122a,直到時(shí)刻t2。在、到t2之間的時(shí)間內(nèi),如上所述,因?yàn)樗械臏y(cè)試流程獲取設(shè)置在 每個(gè)測(cè)試位置102到108處的資源,所以并行完成器件的測(cè)試。在時(shí)刻t2,并行測(cè)試完成, 并且獲取為所有的測(cè)試位置102到108僅提供一次的特定資源112。在t2與t3之間的時(shí) 間段內(nèi),第一程序流程116在位置102處執(zhí)行其第二部分116b。此時(shí),特定資源112經(jīng)由 復(fù)用器114連接到當(dāng)前執(zhí)行獲取RF資源112的那部分測(cè)試流程的測(cè)試位置102。在時(shí)刻 t3,在第一位置102的測(cè)試完成并且通過(guò)執(zhí)行測(cè)試流程118的第二部分118b而開(kāi)始第二位 置104處的測(cè)試。此時(shí),資源112經(jīng)由復(fù)用器114連接到第二位置104,使得第二部分118b 可以獲取資源112。以類(lèi)似方式,在時(shí)刻t4與、之間以及t5與t6之間,在測(cè)試位置106和 108處執(zhí)行測(cè)試流程120和122的第二部分120b和122b。注意,圖1示出了提供單個(gè)測(cè)試資源112的示例,然而,也可以例如提供在四個(gè)測(cè) 試位置中的兩個(gè)之間共享的兩個(gè)特定測(cè)試資源112。此外,可以提供多于四個(gè)測(cè)試位置。此 外,測(cè)試流程可以略微地不同,例如,獲取特定資源112的各個(gè)部分116b到122b可以設(shè)置 在測(cè)試的開(kāi)頭或者測(cè)試流程中的某處。在時(shí)刻t6處,設(shè)置在位置102到108處的所有器件都被測(cè)試并且處理機(jī)110被再 次激活以將經(jīng)測(cè)試的器件從圖1中示出的系統(tǒng)中卸載110b。之后對(duì)處理進(jìn)行重復(fù),即,將要 被測(cè)試的新器件裝載IlOa到現(xiàn)在空了的位置102到108,并且如上所述地進(jìn)行測(cè)試流程的 執(zhí)行。雖然圖1中示出的方法減小了與在每個(gè)位置設(shè)置特定測(cè)試資源112的測(cè)試器有關(guān)的 成本,但是容易明白,所減小的成本是通過(guò)增加測(cè)試時(shí)間或通過(guò)測(cè)試時(shí)間開(kāi)支的增加而實(shí) 現(xiàn)的。更具體地,盡管在第一位置102處的器件的測(cè)試在時(shí)刻t3已經(jīng)完成了,但是所有的 器件在時(shí)刻t6處一起從測(cè)試器中移除。因此,在t3到t6的時(shí)間段內(nèi),測(cè)試位置102是空閑 的。因此,例如不可能將測(cè)試完成后的、位置102處的器件用新的器件替換,而是需要等待 直到所有的器件都測(cè)試了。圖2示出了用于共享特定測(cè)試資源的第二傳統(tǒng)方法的示意圖,然而,圖2中示出的 傳統(tǒng)方法使用了循環(huán)測(cè)試流程,而不是使用復(fù)用的方法。在圖2中,與圖1中描述的相應(yīng)元 件具有相同功能的那些元件對(duì)應(yīng)于相同的附圖標(biāo)記。如圖2所示,按照?qǐng)D2中示出的方法,每個(gè)測(cè)試流程被分割為四個(gè)部分Iiei到 Iie4UlS1到1184,120!到1204以及122:到1224,而不使用在各個(gè)測(cè)試位置102到108處具 有第一部分和第二部分的測(cè)試流程。各個(gè)部分1164到1224是各個(gè)測(cè)試流程116到122的獲取特定資源112的那些部分。以以下方式來(lái)設(shè)置測(cè)試流程的各個(gè)部分當(dāng)在各個(gè)測(cè)試位 置102到108處進(jìn)行并行測(cè)試時(shí),以使得獲取特定器件112的那些部分1164到1224不重疊 的方式來(lái)對(duì)部分進(jìn)行設(shè)置。因此,在、到t4的時(shí)間段內(nèi),在第一位置102處,執(zhí)行獲取與測(cè) 試位置102相關(guān)聯(lián)的測(cè)試資源的部分Iie1到1163,并且在t4到t5的時(shí)間段內(nèi),由部分Iie4 來(lái)獲取單個(gè)資源112。在第二測(cè)試位置104處,在、到t2的時(shí)間段處獲取資源112,在第三 測(cè)試位置106處,在t2到t3的時(shí)間段處獲取資源112,在第四測(cè)試位置108處,在、到t2的 時(shí)間段處獲取資源112。此外,復(fù)用器114將資源112選擇性地連接到當(dāng)前執(zhí)行獲取測(cè)試資 源112的測(cè)試流程部分1164到1224的那些測(cè)試位置。在與圖1中示出的方法相比較時(shí),可以看到,測(cè)試執(zhí)行更快并且在時(shí)刻t5,所有的 器件都被測(cè)試并可以由處理機(jī)110移除,使得在各個(gè)測(cè)試位置處不存在空閑時(shí)間。然而,也 如圖2所示,在位置102到108處執(zhí)行的各個(gè)測(cè)試流程非常復(fù)雜,即,測(cè)試程序復(fù)雜度顯著 地增加,并且再假設(shè)傳統(tǒng)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備包括比圖2的示例中示出的測(cè)試位置更多的測(cè)試 位置時(shí),測(cè)試程序復(fù)雜度變得更加復(fù)雜。換言之,通過(guò)增加測(cè)試位置的數(shù)目,測(cè)試程序的復(fù) 雜度相應(yīng)地增加。為了避免與現(xiàn)有技術(shù)的方法相關(guān)的問(wèn)題,諸如,在自動(dòng)系統(tǒng)的每個(gè)測(cè)試位置處提 供昂貴并且極少使用的特定資源112、如關(guān)于圖1描述的額外的測(cè)試時(shí)間開(kāi)支或者如在圖 2的示例中描述的測(cè)試程序復(fù)雜度,本發(fā)明的實(shí)施例提出了一種在自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的多個(gè)測(cè) 試位置之間共享特定測(cè)試資源的新穎方法。本發(fā)明的實(shí)施例將該方法稱作“管線測(cè)試流 程”(“pipelinedtest flow”)。如下文中更詳細(xì)地描述的,通過(guò)使得相測(cè)試位置中裝載和 卸載被測(cè)器件的時(shí)間偏移、通過(guò)使得多個(gè)位置的測(cè)試流程(在各個(gè)測(cè)試位置處的相同的測(cè) 試流程或不同的測(cè)試流程)的執(zhí)行在時(shí)間上偏移并且通過(guò)連續(xù)地共享測(cè)試資源,本發(fā)明的 實(shí)施例克服了現(xiàn)有技術(shù)方法的以上問(wèn)題。此外,本發(fā)明提供了這樣一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,其具 有在時(shí)間上偏移地執(zhí)行測(cè)試位置流程的能力以使得管線測(cè)試流程的執(zhí)行成為可能。此外, 本發(fā)明的實(shí)施例提供了這樣一種處理機(jī),其具有將部件以時(shí)移(time-shifted)的方式裝 載到位置或從位置卸載的能力。圖3是根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的測(cè)試系統(tǒng)的框圖。測(cè)試系統(tǒng)124包括按照本發(fā)明的 實(shí)施例的原理工作的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備100。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備包括四個(gè)測(cè)試位置102到108,各個(gè) 資源R^R1PRiii和Riv,剛剛描述的資源與測(cè)試位置102到108中相應(yīng)的一個(gè)相關(guān)聯(lián)。更具 體地,資源R1屬于測(cè)試位置102,資源R11屬于測(cè)試位置104,資源R111屬于測(cè)試位置106并 且資源Riv屬于測(cè)試位置108。此外,在全部的測(cè)試位置102到108之間共享的特定資源112 和相關(guān)聯(lián)的復(fù)用器114 一同示出。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備也包括經(jīng)由輸入IN接收各個(gè)信號(hào)并且經(jīng) 由輸出OUT輸出各個(gè)測(cè)試輸出信號(hào)的測(cè)試器126。在各個(gè)測(cè)試位置102到108處,測(cè)試器 提供對(duì)于要被測(cè)試的器件執(zhí)行的測(cè)試流程或測(cè)試程序。在各個(gè)測(cè)試位置處,測(cè)試程序可以 相同或可以不同。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例,如下文中將要更詳細(xì)地描述的,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的測(cè) 試器126構(gòu)造為以時(shí)間上的偏移量來(lái)在不同的測(cè)試位置102到108處開(kāi)始執(zhí)行各個(gè)測(cè)試流 程。系統(tǒng)124還包括處理機(jī)110,其含有控制器128和用于向自動(dòng)測(cè)試設(shè)備100裝載/ 卸載(更具體地,向各個(gè)測(cè)試位置102到108裝載或從其卸載)器件的機(jī)構(gòu)130。機(jī)構(gòu)130 包括第一部分130a,握持機(jī)構(gòu)130b可以沿著第一部分130a移動(dòng)(見(jiàn)箭頭132),以允許經(jīng)由各個(gè)握持器134到140分別裝載/卸載要測(cè)試的器件和已經(jīng)被測(cè)試的器件。按照本發(fā)明的 實(shí)施例,如下文中將要更詳細(xì)地描述的,處理機(jī)118的控制器128構(gòu)造為使得握持機(jī)構(gòu)130b 以時(shí)間上的偏移量來(lái)向自動(dòng)測(cè)試設(shè)備100的各個(gè)測(cè)試位置102到108裝載/卸載器件。圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的方法的示意圖。在圖4中,通過(guò)標(biāo)記IlOa1到IlOa4和 IlOb1到IlOb4示出由處理機(jī)采取的各個(gè)動(dòng)作。各個(gè)測(cè)試流程由附圖標(biāo)記116到122表示。 示出了獲取與各個(gè)測(cè)試位置有關(guān)的資源的部分116a到122a,并且也示出了經(jīng)由復(fù)用器114 來(lái)獲取單個(gè)資源112的部分116b到122b。圖4示出了如圖3中示出的測(cè)試系統(tǒng)的部分操作,并且將要在下文中描述根據(jù)本 發(fā)明的實(shí)施例的方法。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的原理,在各個(gè)測(cè)試位置102到108處對(duì)要測(cè) 試的器件進(jìn)行裝載IlOa1到IlOa4的時(shí)間以及進(jìn)行卸載IlOb1到IlOb4的時(shí)間在時(shí)間上偏 移。如可以看到的,在時(shí)刻t1;處理機(jī)110將器件裝載IlOa1到測(cè)試位置102。器件向其他 測(cè)試位置104到108的裝載在時(shí)間上偏移,使得在時(shí)刻t2將器件裝載IlOa2到位置104,在 時(shí)刻t3將器件裝載IlOa3到位置106并且在時(shí)刻t4將器件裝載IlOa4到位置108。在各個(gè)位置102到108,由自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的測(cè)試器來(lái)提供測(cè)試程序或測(cè)試流程116 到122,然而,根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的原理,在不同位置102到108處執(zhí)行的各個(gè)測(cè)試流程以 圖4中示出的方式在時(shí)間上偏移。更具體地,各個(gè)測(cè)試流程部分116a到122a的起點(diǎn)以與 裝載器件類(lèi)似的方式偏移,使得在位置102處的測(cè)試流程在時(shí)刻、開(kāi)始,在位置104處的 測(cè)試流程在時(shí)刻t2開(kāi)始,在位置106處的測(cè)試流程在時(shí)刻t3開(kāi)始并且在位置108處的測(cè)試 流程在時(shí)刻t4開(kāi)始。各個(gè)測(cè)試流程內(nèi)的部分116b到122b按照以下方式設(shè)置由于時(shí)間的 差異,當(dāng)開(kāi)始執(zhí)行測(cè)試位置102到108處的各個(gè)測(cè)試流程時(shí),以非重疊的方式執(zhí)行部分116b 到122b。這允許使用單個(gè)資源112并且允許在各個(gè)測(cè)試位置處執(zhí)行獲取元件112的測(cè)試流 程部分116b到122b的那些時(shí)刻,經(jīng)由復(fù)用器114來(lái)將單個(gè)資源112連接到各個(gè)測(cè)試位置 102到108。更具體地,在時(shí)刻t4到t5的時(shí)間段內(nèi),單個(gè)資源112連接到第一位置102,在 時(shí)刻t5到t6的時(shí)間段內(nèi),資源112連接到第二位置104,在時(shí)刻t6到t7的時(shí)間段內(nèi),資源 112連接到第三位置106,并且在時(shí)刻t7到、的時(shí)間段內(nèi),資源112連接到第一位置108。如上所述,處理機(jī)將各個(gè)器件以時(shí)間上的偏移量來(lái)放置在不同的位置,并且以類(lèi) 似的方式,使得能夠從各個(gè)位置以時(shí)間上的偏移量來(lái)移除或卸載經(jīng)測(cè)試的器件。以使得可 以測(cè)試一完成就從測(cè)試位置移除器件的方式來(lái)構(gòu)造處理機(jī)。更具體地,在測(cè)試完成t5之后, 處理機(jī)Iio從位置102移除IlOb1經(jīng)測(cè)試的器件,并且將新的要被測(cè)試的器件放置在位置 102,使得可以在時(shí)刻t6再次執(zhí)行測(cè)試流程。以類(lèi)似的方式,在其他的位置104到108完成 經(jīng)測(cè)試的器件的移除和新的要被測(cè)試的器件的裝載。更具體地,在時(shí)刻、將經(jīng)測(cè)試的器件 從位置104移除IlOb2,并且插入新的要被測(cè)試的器件,使得可以在時(shí)刻t7再次開(kāi)始執(zhí)行測(cè) 試流程。在時(shí)刻t7,將經(jīng)測(cè)試的器件從測(cè)試位置106移除,并且插入新的器件,由此允許在 時(shí)刻t8在位置106處執(zhí)行測(cè)試流程。以類(lèi)似方式,在時(shí)刻t8,將經(jīng)測(cè)試的器件從測(cè)試位置 108移除,并且裝載新的器件,由此允許在時(shí)刻t9再次在位置108處執(zhí)行測(cè)試流程。因此,根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的原理,沒(méi)有必要在自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的每個(gè)測(cè)試位置102 到108處提供昂貴的資源(例如RF資源112),由此允許減小成本。此外,通過(guò)允許處理機(jī)以 時(shí)間上的偏移量來(lái)將各個(gè)器件放置在測(cè)試位置并且也以時(shí)間上的偏移量來(lái)將經(jīng)測(cè)試的各 個(gè)器件從測(cè)試位置移除,而避免了測(cè)試流程復(fù)雜度和測(cè)試時(shí)間開(kāi)支的問(wèn)題,由此因?yàn)樾碌钠骷梢择R上裝載到測(cè)試位置并且可以開(kāi)始測(cè)試,所以避免了在各個(gè)測(cè)試位置102到108 的空閑時(shí)間。此外,通過(guò)允許自動(dòng)測(cè)試設(shè)備以時(shí)移的方式開(kāi)始執(zhí)行各個(gè)測(cè)試程序,允許為測(cè) 試程序的各個(gè)部分116b到122b使用公共資源112。在圖4中描述的實(shí)施例中,測(cè)試系統(tǒng)被假設(shè)為與圖3中示出的測(cè)試系統(tǒng)類(lèi)似,即, 測(cè)試系統(tǒng)具有帶有四個(gè)測(cè)試位置的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備以及四個(gè)處理機(jī)的握持器。本發(fā)明不限于 這些實(shí)施例,相反,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備可以具有更少的測(cè)試位置或更多的測(cè)試位置。處理機(jī)110 的握持機(jī)構(gòu)可以具有允許向各個(gè)測(cè)試位置裝載/卸載器件的相應(yīng)數(shù)目的握持元件??蛇x擇 地,處理機(jī)可以構(gòu)造為具有更少的握持器,以使得握持器順序地接收要被測(cè)試的器件并且 利用隨后的移動(dòng)來(lái)將器件(例如一個(gè)或多個(gè)器件)放置在各個(gè)位置。此外,測(cè)試流程不需要獲取單個(gè)器件112的特定部分116b到122b朝向測(cè)試流程 的一端來(lái)定位,相反,測(cè)試流程中的任何位置都是可以的,只要在各個(gè)測(cè)試位置中的測(cè)試流 程的分割的執(zhí)行不引起測(cè)試流程的獲取單個(gè)器件112的那些部分重疊。雖然圖4示出了其 中每個(gè)測(cè)試位置執(zhí)行相同的測(cè)試流程的實(shí)施例,注意,也可以為每個(gè)測(cè)試位置102到108提 供不同的測(cè)試流程。此外,本發(fā)明不限于根據(jù)該實(shí)施例在多個(gè)測(cè)試位置之間僅共享單個(gè)特定資源112 的這種實(shí)施例,相反,也可以提供多個(gè)特定測(cè)試資源112,其中每個(gè)都被在測(cè)試位置的子集 之間共享。例如,在圖4中,可以設(shè)置第二資源,其中,第一資源在位置102和104之間共享 并且第二資源在位置106與108之間共享。雖然上述本發(fā)明的實(shí)施例示出了在連續(xù)的測(cè)試位置處開(kāi)始執(zhí)行各個(gè)測(cè)試流程,但 是注意,可以以非連續(xù)的方式來(lái)開(kāi)始測(cè)試流程。例如,在觀察圖4時(shí),可以在時(shí)刻t2或之后 的時(shí)刻開(kāi)始裝載和執(zhí)行測(cè)試位置102處的測(cè)試流程,并且在時(shí)刻^開(kāi)始裝載和執(zhí)行在位置 106處的測(cè)試流程。此外,本發(fā)明不限于其中所有的測(cè)試位置共享一個(gè)或多個(gè)特定資源的實(shí)施例。例 如,測(cè)試位置102和104可以執(zhí)行需要獲取資源112的相同或不同的測(cè)試流程,而剩余的測(cè) 試位置在對(duì)放置在其上的器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)不需要獲取資源112。在這種情況下,器件112僅 在位置102與位置104之間共享,使得只有在位置102和104處使得要被測(cè)試的器件的裝 載/卸載以及測(cè)試流程的執(zhí)行的開(kāi)始在時(shí)間上偏移,同時(shí),例如在位置106和108處的測(cè)試 可以與在位置102處的測(cè)試同時(shí)地開(kāi)始或者在任何期望的開(kāi)始時(shí)間開(kāi)始。此外,注意,根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的上述方法可以實(shí)施為硬件或軟件。此外,可以 實(shí)施為用于執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的方法的數(shù)字存儲(chǔ)介質(zhì),例如,可以與可編程計(jì)算機(jī) 系統(tǒng)一同作用的、包括電可讀控制信號(hào)的盤(pán)或CD。通常,本發(fā)明也是具有執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的 實(shí)施例的方法的計(jì)算機(jī)代碼的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,該計(jì)算機(jī)代碼存儲(chǔ)在機(jī)器可讀載體上并且 當(dāng)計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行時(shí)被執(zhí)行。換言之,本發(fā)明也可以是計(jì)算機(jī)程序,其具有 用于當(dāng)在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行計(jì)算機(jī)程序時(shí)執(zhí)行本方法的程序代碼。
權(quán)利要求
一種用于在多個(gè)測(cè)試位置(102 108)共享測(cè)試資源(112)的方法,所述方法包括在多個(gè)測(cè)試位置(102 108)處以時(shí)間上的偏移量來(lái)執(zhí)行各個(gè)測(cè)試流程(116 122),各個(gè)所述測(cè)試流程(116 122)在所述測(cè)試流程(116 122)中的預(yù)定位置(116b 122b)處獲取所述測(cè)試資源(112)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,還包括以時(shí)間上的偏移量將要被測(cè)試的所述器件裝載(110al-110a4)到各個(gè)所述測(cè)試位置 (102-108);并且以時(shí)間上的偏移量將經(jīng)測(cè)試的所述器件從各個(gè)所述測(cè)試位置(102-108)卸載 (IlOb1-IlOb4)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,還包括在每個(gè)測(cè)試位置(102-108)處重復(fù)裝載、執(zhí)行和卸載的步驟。
4.根據(jù)權(quán)利要求1到3中任意一項(xiàng)所述的方法,其中,每個(gè)測(cè)試流程(116-122)包括獲 取所述測(cè)試資源(112)的部分(116b-122b),其中在每個(gè)測(cè)試流程(116-122)中,獲取所述 測(cè)試資源(112)的部分處于相同的部分,并且所述時(shí)間上的偏移量被選擇為使得獲取所述 測(cè)試資源(112)的部分不重疊。
5.根據(jù)權(quán)利要求1到4中任意一項(xiàng)所述的方法,其中,在多個(gè)所述測(cè)試位置(102-108) 處,執(zhí)行相同的測(cè)試流程或不同的測(cè)試流程。
6.根據(jù)權(quán)利要求1到5中任意一項(xiàng)所述的方法,其中,在多個(gè)所述測(cè)試位置(102-108) 處,測(cè)試相同或不同的器件。
7.根據(jù)權(quán)利要求1到6中任意一項(xiàng)所述的方法,包括在執(zhí)行所述測(cè)試流程(116-122)的獲取所述測(cè)試資源(112)的部分(116b-122b)的過(guò) 程中,將所述測(cè)試位置(102-108)中的一者連接到所述測(cè)試資源(112)。
8.一種包括計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其用于當(dāng)在計(jì)算機(jī)上執(zhí)行所述指令 時(shí)執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1到7中任意一項(xiàng)所述的方法。
9.一種自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(100),包括多個(gè)測(cè)試位置(102-108),每個(gè)測(cè)試位置(102-108)構(gòu)造為接收要被測(cè)試的裝置; 特定測(cè)試資源(112),其構(gòu)造為被選擇性地連接到所述測(cè)試位置(102-108)中的一者;以及測(cè)試器(126),其構(gòu)造為在所述測(cè)試位置(102-108)處以時(shí)間上的偏移量來(lái)開(kāi)始執(zhí)行 各個(gè)測(cè)試流程(116-122),其中,各個(gè)所述測(cè)試流程(116-122)包括獲取所述特定測(cè)試資源(112)的部分 (116b-122b),所述時(shí)間上的偏移量被選擇為使得所述測(cè)試流程(116-122)中的、獲取所述 特定測(cè)試資源(112)的部分(116b-122b)不重疊,并且其中,所述測(cè)試器(126)構(gòu)造為將所述特定測(cè)試資源(112)連接到正在執(zhí)行獲取所述 特定測(cè)試資源(112)的部分(116b-122b)的所述測(cè)試位置(102-108)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(100),其中,所述測(cè)試器(126)構(gòu)造為在連 續(xù)的測(cè)試位置(102-108)處以時(shí)間上的偏移量來(lái)開(kāi)始執(zhí)行測(cè)試流程(116-122)。
11.根據(jù)權(quán)利要求9或10所述的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(100),其中,所述測(cè)試器(126)構(gòu)造為 在所述測(cè)試位置(102-108)處開(kāi)始執(zhí)行相同或不同的測(cè)試流程。
12.根據(jù)權(quán)利要求9到11中任意一項(xiàng)所述的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(100),其中,以時(shí)間上的偏 移量來(lái)在全部的所述測(cè)試位置(102-108)或所述測(cè)試位置(102-108)的一部分處開(kāi)始執(zhí)行 測(cè)試流程(116-122)。
13.—種處理機(jī)(100),其用于將器件裝載到自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(100)的多個(gè)測(cè)試位置 (102-108)或從其卸載器件,所述處理機(jī)包括機(jī)構(gòu)(130、130a、130b、134-140),其構(gòu)造為將要被測(cè)試的器件裝載到所述自動(dòng)測(cè)試設(shè) 備(100)的各個(gè)所述測(cè)試位置(102-108)并且構(gòu)造為從所述測(cè)試位置(102-108)卸載經(jīng)測(cè) 試的器件;以及控制器(128),其構(gòu)造為控制所述機(jī)構(gòu)(130、130a、130b、134-140),來(lái)以時(shí)間上的偏移量來(lái)裝載所述器件。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的處理機(jī)(110),其中,所述控制器(128)還控制所述機(jī)構(gòu) (130、130a、130b、134-140),來(lái)以時(shí)間上的偏移量來(lái)卸載經(jīng)測(cè)試的所述器件。
15.根據(jù)權(quán)利要求13或14所述的處理機(jī)(110),其中,所述機(jī)構(gòu)(130、130a、130b、 134-140)包括握持器。
16.一種用于測(cè)試多個(gè)器件的測(cè)試系統(tǒng)(124),所述測(cè)試系統(tǒng)(124)包括 根據(jù)權(quán)利要求9到12中任意一項(xiàng)所述的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(100);以及 根據(jù)權(quán)利要求13到15中任意一項(xiàng)所述的處理機(jī)(110)。
全文摘要
在多個(gè)測(cè)試位置(102-108)處共享測(cè)試資源(112)的方法在多個(gè)測(cè)試位置(102-108)處以時(shí)間上的偏移量來(lái)執(zhí)行各個(gè)測(cè)試流程,各個(gè)測(cè)試流程(116-122)在測(cè)試流程中的預(yù)定位置(116b-122b)處獲取測(cè)試資源112。
文檔編號(hào)G01R31/319GK101932947SQ200880125841
公開(kāi)日2010年12月29日 申請(qǐng)日期2008年9月18日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月18日
發(fā)明者約亨·里瓦爾, 馬卡斯·羅塔克爾 申請(qǐng)人:惠瑞捷(新加坡)私人有限公司