專利名稱：放射線斷層攝影裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及將放射線形成圖像的放射線斷層攝影裝置，特別涉及將塊狀的放射線 檢測(cè)器排列成環(huán)狀的放射線斷層攝影裝置。
背景技術(shù)：
放射線斷層攝影裝置(ECT :Emission Computed Tomography)在醫(yī)療領(lǐng)域已經(jīng) 得到應(yīng)用，它對(duì)局部存在于關(guān)心部位的放射性藥劑所放出的消滅放射線對(duì)(例如Y射 線)進(jìn)行檢測(cè)，取得所關(guān)心的被檢體部位的放射性藥劑分布的斷層圖像。ECT中主要列舉 PET(Positoron EmissionTomography)裝置、SPECT(Single Photon Emission Computed Tomography)裝置等。以PET裝置為例進(jìn)行說明。PET裝置具有將塊狀的放射線檢測(cè)器排列成環(huán)狀的檢 測(cè)環(huán)。該檢測(cè)環(huán)是為了包圍被檢體而設(shè)置的，構(gòu)成為可以檢測(cè)透過被檢體的放射線。在這種PET裝置的檢測(cè)環(huán)所配備的放射線檢測(cè)器中，為提高分解效率，常常搭載 如下機(jī)構(gòu)，其構(gòu)成為可以辨別放射線檢測(cè)器上設(shè)置的閃爍體的深度方向的位置。首先，說明 現(xiàn)有PET裝置的構(gòu)成。如圖21所示，現(xiàn)有PET裝置具有架臺(tái)(gantry) 51，具備導(dǎo)入被檢體 的導(dǎo)入孔；檢測(cè)環(huán)53，在架臺(tái)51的內(nèi)部，檢測(cè)放射線的塊狀放射線檢測(cè)器52圍繞導(dǎo)入孔排 列而形成；和支撐部件54，圍繞檢測(cè)環(huán)53設(shè)置。另外，各放射線檢測(cè)器52與上述支撐部件 54之間設(shè)有具備泄放電路的泄放單元55，它將支撐部件54與放射線檢測(cè)器52連結(jié)起來。 該泄放單元55與放射線檢測(cè)器52的后述的光檢測(cè)器62結(jié)合。接下來，對(duì)放射線檢測(cè)器52的構(gòu)成進(jìn)行說明。如圖22所示，現(xiàn)有的放射線檢測(cè) 器52包括將放射線轉(zhuǎn)換成熒光的閃爍體61 ；和檢測(cè)熒光的光電倍增管(以下稱為光檢測(cè) 器)62。閃爍體61是長(zhǎng)方體狀的閃爍晶體63三維排列而成。光檢測(cè)器62可以辨別熒光是 從哪一個(gè)閃爍晶體63發(fā)出的。也就是說，放射線檢測(cè)器52可以辨別放射線射入到閃爍體 61的何處。PET裝置50通過檢測(cè)消滅放射線對(duì)，對(duì)被檢體關(guān)心部位進(jìn)行成像。也就是說，對(duì)于 插入PET裝置50的被檢體，其體內(nèi)局部存在的放射性藥劑射出方向彼此相反的消滅放射線 對(duì)。該消滅放射線對(duì)會(huì)被2個(gè)不同的閃爍體61檢測(cè)出。但是，對(duì)于所有閃爍體61，它們的 放射線檢測(cè)效率未必均勻。其檢測(cè)效率的不均勻使放射線斷層圖像的可視性變差。所以，現(xiàn)有PET裝置50使用Fan Sum( 7 7 > 寸A )法，對(duì)各閃爍體61的放射 線檢測(cè)效率的不均勻進(jìn)行預(yù)測(cè)。并且，構(gòu)成為用1對(duì)閃爍體61檢測(cè)投給被檢體的放射性 藥劑所射出消滅放射線對(duì)時(shí)，參照提前取得的檢測(cè)效率的不均勻情況，消除各閃爍體61的 放射線檢測(cè)效率的不均勻。這種構(gòu)成被記述在例如非專利文獻(xiàn)1中。非專利文獻(xiàn)1 “ IEEE 核科學(xué)會(huì)刊” (IEEE TRANSACTIONS 0NNUCLEAR SCIENCE)(美 國(guó))1999 年 8 月，第 46 卷，第 4 號(hào)，p. 1062-1069但是，根據(jù)以往的構(gòu)成，F(xiàn)an Sum法只能用于放射線檢測(cè)器排列成環(huán)狀的檢測(cè)環(huán)。 也就是說，放射線檢測(cè)器呈C狀排列的乳房檢查用乳腺PET無法簡(jiǎn)單套用上述Fan Sum法。所以，乳房檢查用乳腺PET肯定不能充分預(yù)測(cè)到各閃爍體61的放射線檢測(cè)效率的不均勻情況。這里，對(duì)現(xiàn)有的Fan Sum法進(jìn)行簡(jiǎn)單的說明。圖23是說明現(xiàn)有Fan Sum法的概 念圖。在希望了解閃爍晶體Ca的放射線檢測(cè)效率的情況下，使用與閃爍晶體Ca相對(duì)的閃 爍晶體C1 閃爍晶體Cn。也就是說，在向架臺(tái)內(nèi)部導(dǎo)入射出消滅放射線對(duì)的放射性物質(zhì)的 狀態(tài)下，如圖23所示，成對(duì)的消滅放射線對(duì)中的一個(gè)放射線射入閃爍晶體Ca ；另一個(gè)射入 閃爍晶體C1 閃爍晶體Cn中的一個(gè)，利用此時(shí)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，就應(yīng)該得到閃爍晶體Ca的放 射線檢測(cè)效率。在希望了解閃爍晶體Ca的放射線檢測(cè)效率的情況下，不使用從上述的閃爍 晶體組合以外得來的放射線關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。如果用線將閃爍晶體Ca與閃爍晶體C1 閃爍晶體 Cn中的一個(gè)連接，就會(huì)形成扇形。稱之為扇區(qū)。另外，如果閃爍晶體Ca的檢測(cè)效率被判明，下一次就使用同樣方法，求出與閃爍 晶體Ca相鄰的閃爍晶體的放射線檢測(cè)效率。這樣，就會(huì)得到所有閃爍晶體的放射線檢測(cè)效 率。由此，就會(huì)了解各閃爍晶體的放射線檢測(cè)效率的不均勻情況。圖23 (a)的閃爍晶體Cp和閃爍晶體Cq是相對(duì)的閃爍晶體。而且，以閃爍晶體Cp 為中心的扇區(qū)形狀、與以閃爍晶體Cq為中心的扇區(qū)形狀相同。也就是說，是與閃爍晶體Ca 的扇區(qū)形狀相同的形狀。這是因?yàn)殚W爍晶體被排列成圓環(huán)狀的緣故。所以，在Fan 法 中，所有閃爍晶體都是旋轉(zhuǎn)對(duì)稱的，因此對(duì)于各閃爍晶體，保證了檢測(cè)效率測(cè)定條件的均一性。但是，在乳房檢查用乳腺PET中，放射線檢測(cè)器被排列成C狀。對(duì)于乳腺PET，為 取得適于診斷的放射線斷層圖像，必需使被檢體的關(guān)心部位較深地插入架臺(tái)51的開口。為 此，優(yōu)選使被檢體手腕部與架臺(tái)51緊密接觸。因此，架臺(tái)51是C狀。檢測(cè)環(huán)12只有按照 架臺(tái)51的形狀，不能將放射線檢測(cè)器設(shè)置為圓環(huán)狀。因此，乳腺PET的放射線檢測(cè)器就被 排列為C狀。在這種情況下，圖23 (b)的閃爍晶體Cp和閃爍晶體Cq成為相對(duì)的閃爍晶體。這 時(shí)，以閃爍晶體Cp為中心的扇區(qū)形狀與以閃爍晶體Cq為中心的扇區(qū)形狀不同。這是由于 放射線檢測(cè)器被排列為C狀，閃爍晶體的排列破壞了旋轉(zhuǎn)對(duì)稱性的緣故。在Fan Sum法中，閃爍晶體的放射線檢測(cè)效率是為了 了解各閃爍晶體的放射線檢 測(cè)效率的不均勻情況而測(cè)定的。因此，上述的以閃爍晶體Cp為中心的扇區(qū)形狀與以閃爍晶 體Cq為中心的扇區(qū)形狀不同，是表示不能正確了解各閃爍晶體的放射線檢測(cè)效率的不均 勻情況。因?yàn)橛糜讷@得閃爍晶體Cp的放射線檢測(cè)效率的扇區(qū)與閃爍晶體Cq的不同。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明就是鑒于這種情況提出的，其目的在于，提供一種放射線斷層攝影裝置，即 便放射線檢測(cè)器被排列為C狀，也可以在測(cè)定閃爍晶體的檢測(cè)效率時(shí)，保證其測(cè)定條件的 均一性，正確取得各閃爍晶體的放射線檢測(cè)效率的不均勻情況。本發(fā)明為達(dá)到這種目的，采取以下結(jié)構(gòu)。也就是說，本發(fā)明的放射線斷層攝影裝置包括檢測(cè)環(huán)，檢測(cè)放射線的放射線元件 被配置為弧狀；同時(shí)計(jì)數(shù)機(jī)構(gòu)，進(jìn)行同時(shí)事件數(shù)的計(jì)數(shù)，該同時(shí)事件數(shù)是第1放射線檢測(cè)元 件和第2放射線檢測(cè)元件同時(shí)檢測(cè)放射線的次數(shù)；位置確定機(jī)構(gòu)，輸出位置信息，該位置信息是第1放射線檢測(cè)元件與第2放射線檢測(cè)元件的連線；和關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)，保存將 同時(shí)事件數(shù)和與之對(duì)應(yīng)的位置信息關(guān)聯(lián)起來的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。在放射線斷層攝影裝置中，檢測(cè) 環(huán)具有排列檢測(cè)放射線的放射線檢測(cè)元件的排列部分；和沒有排列放射線檢測(cè)元件的欠缺 部分，其包括關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)，根據(jù)關(guān)聯(lián)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，求出第1放射線檢測(cè)元件假定在 欠缺部分時(shí)的同時(shí)事件數(shù)和與之對(duì)應(yīng)的位置信息，將其追加到關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)并進(jìn)行保 存，由此對(duì)欠缺部分的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)充；檢測(cè)效率取得機(jī)構(gòu)，使用關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)和通過補(bǔ)充形 成的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，得到配置在檢測(cè)環(huán)上的各放射線檢測(cè)元件的放射線檢測(cè)效率；和修正機(jī)構(gòu)， 根據(jù)放射線檢測(cè)效率，對(duì)放射線斷層圖像進(jìn)行修正。[作用 效果]本發(fā)明的結(jié)構(gòu)中的檢測(cè)環(huán)具備沒有排列放射線檢測(cè)元件的欠缺部 分。也就是說，對(duì)于構(gòu)成檢測(cè)環(huán)的放射線檢測(cè)元件，其排列的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱性被打亂。對(duì)于這樣 的結(jié)構(gòu)，如果按照以往去套用Fan Sum法，因?yàn)镕an Sum法的扇區(qū)形狀是因放射線檢測(cè)元 件而不同，所以檢測(cè)效率就要在不同的條件下計(jì)算。因此，計(jì)算出的檢測(cè)效率不能真實(shí)再現(xiàn) 實(shí)際的放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率。但是，本發(fā)明具備關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)。關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充 機(jī)構(gòu)形成檢測(cè)環(huán)實(shí)際具備的第1放射線檢測(cè)元件假定處在欠缺部分時(shí)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，將其追 加到關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)并進(jìn)行保存，由此對(duì)欠缺部分的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)充。這樣，關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù) 補(bǔ)充機(jī)構(gòu)就會(huì)取得假定放射線檢測(cè)元件排列在欠缺部分時(shí)得到的位置信息和與之對(duì)應(yīng)的 同時(shí)事件數(shù)。在這種結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，使用Fan Sum法進(jìn)行檢測(cè)效率的計(jì)算，放射線檢測(cè)元 件就會(huì)使Fan Sum法的扇區(qū)形狀固定。這是因?yàn)榕c欠缺部分有關(guān)的無法實(shí)測(cè)的位置信息 和與之對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件數(shù)(關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù))得到補(bǔ)充。因此，本發(fā)明算出的放射線檢測(cè)元件的 檢測(cè)效率高度真實(shí)地再現(xiàn)了現(xiàn)實(shí)的檢測(cè)效率。使用這樣的檢測(cè)效率對(duì)放射線斷層圖像進(jìn)行 加權(quán)處理的話，疊加在放射線斷層圖像上的各個(gè)放射線檢測(cè)元件的放射線檢測(cè)效率的不均 勻就會(huì)被切實(shí)除去。這樣，根據(jù)本發(fā)明，就可以提供一種放射線斷層攝影裝置，生成適于診 斷的放射線斷層圖像。此外，進(jìn)一步優(yōu)選，上述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)通過復(fù)制關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)保存的關(guān) 聯(lián)數(shù)據(jù)，將該復(fù)制數(shù)據(jù)充當(dāng)在欠缺部分進(jìn)行計(jì)數(shù)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，來求出假定第1放射線檢測(cè) 元件處在欠缺部分時(shí)的同時(shí)事件數(shù)和與之對(duì)應(yīng)的位置信息，進(jìn)行補(bǔ)充。[作用 效果]根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，復(fù)制關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)保存的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，將該復(fù)制 數(shù)據(jù)充當(dāng)在欠缺部分進(jìn)行計(jì)數(shù)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，來進(jìn)行上述的補(bǔ)充。根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，由于使用已 經(jīng)在關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部保存的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，所以欠缺部分的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)會(huì)可靠地得到補(bǔ)充。此外，進(jìn)一步優(yōu)選，上述的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)對(duì)欠缺部分的同時(shí)事件數(shù)和與之對(duì) 應(yīng)的位置信息的補(bǔ)充通過以下方式進(jìn)行，即在保持第1放射線檢測(cè)元件和第2放射線檢測(cè) 元件的相對(duì)位置的狀態(tài)下，虛擬地旋轉(zhuǎn)二者，假定第1放射線檢測(cè)元件就在欠缺部分。[作用 效果]上述結(jié)構(gòu)是更為具體的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)的補(bǔ)充方法。也就是說，上述結(jié)構(gòu) 是在保持第1放射線檢測(cè)元件和第2放射線檢測(cè)元件的相對(duì)位置的狀態(tài)下，虛擬地旋轉(zhuǎn)二 者，假定第1放射線檢測(cè)元件就在欠缺部分。也就是說，將屬于檢測(cè)環(huán)的第1放射線檢測(cè)元 件和第2放射線檢測(cè)元件實(shí)測(cè)的同時(shí)事件數(shù)充當(dāng)欠缺部分的同時(shí)事件數(shù)，關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī) 構(gòu)的補(bǔ)充就簡(jiǎn)單完成了。此外，也可以采用以下結(jié)構(gòu)上述的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)通過求出多個(gè)同時(shí)事件數(shù) 的平均值，并將該平均值充當(dāng)在欠缺部分進(jìn)行計(jì)數(shù)的同時(shí)事件數(shù)，來補(bǔ)充假定第1放射線檢測(cè)元件處在欠缺部分時(shí)的同時(shí)事件數(shù)。[作用 效果]上述結(jié)構(gòu)也是具體的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)的補(bǔ)充方法。通過求多個(gè)同時(shí)事件 數(shù)的平均值，并將該平均值充當(dāng)在欠缺部分進(jìn)行計(jì)數(shù)的同時(shí)事件數(shù)，來進(jìn)行關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充 機(jī)構(gòu)的補(bǔ)充。上述結(jié)構(gòu)的補(bǔ)充不是基于單一關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)對(duì)欠缺部分關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)的補(bǔ)充，而是基 于多個(gè)關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)對(duì)欠缺部分關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)的補(bǔ)充，所以，實(shí)現(xiàn)了更加可靠的補(bǔ)充。此外，也可以采用以下結(jié)構(gòu)上述的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)對(duì)欠缺部分的同時(shí)事件數(shù) 的補(bǔ)充通過以下方式進(jìn)行，即，在保持第1放射線檢測(cè)元件和第2放射線檢測(cè)元件的相對(duì)位 置的狀態(tài)下，虛擬地旋轉(zhuǎn)二者，收集旋轉(zhuǎn)對(duì)稱放射線檢測(cè)元件對(duì)，該旋轉(zhuǎn)對(duì)稱放射線檢測(cè)元 件對(duì)是與第1放射線檢測(cè)元件以及第2放射線檢測(cè)元件的位置關(guān)系是旋轉(zhuǎn)對(duì)稱的一對(duì)放射 線檢測(cè)元件，對(duì)與旋轉(zhuǎn)對(duì)稱放射線檢測(cè)元件對(duì)對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件數(shù)進(jìn)行平均計(jì)算，同時(shí)，將平 均值充當(dāng)假定第1放射線檢測(cè)元件處在欠缺部分時(shí)的同時(shí)事件數(shù)。[作用 效果]上述表示的是在使用多個(gè)關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充欠缺部分的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)時(shí)的 具體結(jié)構(gòu)。也就是說，是在保持第1放射線檢測(cè)元件和第2放射線檢測(cè)元件的相對(duì)位置的 狀態(tài)下，虛擬地旋轉(zhuǎn)二者，收集旋轉(zhuǎn)對(duì)稱放射線檢測(cè)元件對(duì)?？梢哉J(rèn)為，該旋轉(zhuǎn)對(duì)稱放射線 檢測(cè)元件對(duì)的同時(shí)事件數(shù)與第1放射線檢測(cè)元件和第2放射線檢測(cè)元件這一對(duì)的同時(shí)事件 數(shù)相同。因?yàn)榉派渚€檢測(cè)元件對(duì)的位置關(guān)系是相同的。如果對(duì)這樣的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱放射線檢測(cè) 元件對(duì)的同時(shí)事件數(shù)進(jìn)行平均計(jì)算，就可以切實(shí)求出適合對(duì)欠缺部分進(jìn)行關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充的 同時(shí)事件數(shù)。[作用 效果]根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，可以較為真實(shí)地求出排列在排列部分的放射線檢測(cè) 元件的檢測(cè)效率。也就是說，檢測(cè)效率取得機(jī)構(gòu)根據(jù)一度求出的放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效 率，對(duì)放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率再次進(jìn)行更新，所以，得到的檢測(cè)效率的取值更加接近實(shí)際。此外，進(jìn)一步優(yōu)選上述的放射線檢測(cè)元件至少沿圓形或多邊形排列成弧狀，構(gòu)成 放射線檢測(cè)元件排成一列的單位檢測(cè)環(huán)，多個(gè)單位檢測(cè)環(huán)疊層，形成檢測(cè)環(huán)。[作用 效果]根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，就可以提供一種靈敏度被強(qiáng)化的放射線斷層攝影裝 置。也就是說，上述結(jié)構(gòu)具有多個(gè)單位檢測(cè)環(huán)。由此，在進(jìn)行被檢體的放射線斷層攝影時(shí)， 就觀測(cè)到更多的消滅放射線對(duì)。因此，根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，就可以提供一種靈敏度被強(qiáng)化的放射 線斷層攝影裝置。此外，也可以構(gòu)成為，上述的檢測(cè)環(huán)通過疊層檢測(cè)元件弧狀排列的單位檢測(cè)環(huán)來 形成。關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)對(duì)欠缺部分的同時(shí)事件數(shù)的補(bǔ)充通過以下方式進(jìn)行，即對(duì)從構(gòu)成 單位檢測(cè)環(huán)的放射線檢測(cè)元件得到的同時(shí)事件數(shù)進(jìn)行修正，對(duì)它們進(jìn)行平均值計(jì)算，求出 同時(shí)事件數(shù)平均值，將其充當(dāng)在欠缺部分計(jì)數(shù)的同時(shí)事件數(shù)。檢測(cè)效率取得機(jī)構(gòu)將排列部 分排列的放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率暫時(shí)設(shè)為規(guī)定數(shù)值，同時(shí)將假定處在欠缺部分的放射 線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率設(shè)為規(guī)定數(shù)值，根據(jù)修正后的同時(shí)事件數(shù)和同時(shí)事件數(shù)平均值，求 出放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率。根據(jù)求出的放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率和假定處在欠缺部 分上的放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率，再次求出排列在排列部分的放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效 率，這時(shí)，假定在欠缺部分上計(jì)數(shù)的同時(shí)事件數(shù)是最初求出的同時(shí)事件數(shù)平均值與之前計(jì) 算求出的放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率的乘積。此外，假定處在欠缺部分上計(jì)數(shù)的放射線檢 測(cè)元件的檢測(cè)效率維持規(guī)定的數(shù)值不變。
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此外，上述的檢測(cè)環(huán)也可以構(gòu)成為具有彼此間隔的多個(gè)欠缺部分。[作用 效果]根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，可以提供多種多樣的放射線斷層攝影裝置。具有 彼此間隔的多個(gè)欠缺部分的意思也可以說是，具有被欠缺部分分開的多個(gè)排列部分。這樣 的結(jié)構(gòu)常常被用于放射線斷層攝影裝置。放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率即便是在上述的結(jié)構(gòu) 下，也會(huì)被較為真實(shí)地算出。本發(fā)明的結(jié)構(gòu)中的檢測(cè)環(huán)具備沒有排列放射線檢測(cè)元件的欠缺部分。另外，本發(fā) 明具備關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)。關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)形成假定檢測(cè)環(huán)實(shí)際具備的第1放射線檢測(cè) 元件處在欠缺部分時(shí)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，將其追加到關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)并進(jìn)行保存，由此，補(bǔ)充欠 缺部分的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。這樣，關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)就會(huì)取得假定放射線檢測(cè)元件排列在欠缺部 分時(shí)得到的位置信息和與之對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件數(shù)。在這樣結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，使用Fan Sum法進(jìn)行檢測(cè)效率計(jì)算，放射線檢測(cè)元件就會(huì) 使Fan Sum法的扇區(qū)形狀固定。這是因?yàn)榕c欠缺部分有關(guān)的無法實(shí)測(cè)的位置信息和與之 對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件數(shù)(關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù))得到補(bǔ)充。使用這樣的檢測(cè)效率對(duì)放射線斷層圖像進(jìn)行加 權(quán)處理的話，疊加在放射線斷層圖像上的各個(gè)放射線檢測(cè)元件的放射線檢測(cè)效率的不均勻 就會(huì)被切實(shí)除去。這樣，根據(jù)本發(fā)明，就可以提供一種放射線斷層攝影裝置，可生成適于診 斷的放射線斷層圖像。此外，本發(fā)明也可以構(gòu)成為通過復(fù)制關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)保存的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，將該復(fù) 制數(shù)據(jù)充當(dāng)在欠缺部分進(jìn)行計(jì)數(shù)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，來進(jìn)行如上的補(bǔ)充。根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，因?yàn)槭褂?已經(jīng)在關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部保存的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，所以欠缺部分的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)會(huì)可靠地得到補(bǔ)充。


圖1是實(shí)施例1的放射線檢測(cè)器的立體圖。圖2是對(duì)實(shí)施例1的放射線斷層攝影裝置的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明的局部剖面圖。圖3是說明實(shí)施例1的放射線檢測(cè)器群的結(jié)構(gòu)的分解立體圖。圖4是說明實(shí)施例1的檢測(cè)環(huán)的結(jié)構(gòu)的平面圖。圖5是說明實(shí)施例1的放射線斷層攝影裝置的結(jié)構(gòu)的功能模塊圖。圖6是說明實(shí)施例1的檢測(cè)效率映射圖的取得方法的流程圖。圖7是說明實(shí)施例1的單位檢測(cè)環(huán)的結(jié)構(gòu)的示意圖。圖8是說明實(shí)施例1的檢測(cè)效率取得部的動(dòng)作的概念圖。圖9是說明實(shí)施例2的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充步驟的示意圖。圖10是說明實(shí)施例1、實(shí)施例2結(jié)構(gòu)下的補(bǔ)充效果的模擬結(jié)果。圖11是說明實(shí)施例1、實(shí)施例2結(jié)構(gòu)下的補(bǔ)充效果的模擬結(jié)果。圖12是說明實(shí)施例1、實(shí)施例2結(jié)構(gòu)下的補(bǔ)充效果的模擬結(jié)果。圖13是說明實(shí)施例1、實(shí)施例2結(jié)構(gòu)下的補(bǔ)充效果的模擬結(jié)果。圖14是說明實(shí)施例3的放射線斷層攝影裝置的結(jié)構(gòu)的功能模塊圖。圖15是說明實(shí)施例3結(jié)構(gòu)下的補(bǔ)充效果的模擬結(jié)果。圖16是對(duì)實(shí)施例3的檢測(cè)效率進(jìn)行比較的模擬結(jié)果。圖17是對(duì)實(shí)施例3的檢測(cè)效率進(jìn)行比較的模擬結(jié)果。圖18是對(duì)實(shí)施例3的檢測(cè)效率進(jìn)行比較的模擬結(jié)果。
圖19是對(duì)實(shí)施例3的檢測(cè)效率進(jìn)行比較的模擬結(jié)果。
圖20是說明本發(fā)明的一個(gè)變形例的檢測(cè)環(huán)結(jié)構(gòu)的平面圖
圖21是說明現(xiàn)有放射線斷層攝影裝置結(jié)構(gòu)的局部剖面圖
圖22是說明現(xiàn)有放射線斷層攝影裝置結(jié)構(gòu)的立體圖。
圖23是說明現(xiàn)有Fan Sum法的概念圖。
圖中
C 閃爍晶體(放射線檢測(cè)元件)
S 排列部分
T 欠缺部分
12 檢測(cè)環(huán)
12a單位檢測(cè)環(huán)
24 同時(shí)計(jì)數(shù)部(同時(shí)計(jì)數(shù)機(jī)構(gòu))
26 L0R確定部(位置確定機(jī)構(gòu))
30 關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部(關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu))
31 關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部(關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)構(gòu))
32 檢測(cè)效率取得部(檢測(cè)效率取得機(jī)構(gòu))
具體實(shí)施例方式下面，參照附圖，對(duì)本發(fā)明的放射線斷層攝影裝置的各實(shí)施例進(jìn)行說明。[實(shí)施例1]在說明實(shí)施例1的放射線斷層攝影裝置之前，首先對(duì)實(shí)施例1的放射線檢測(cè)器1 的構(gòu)成進(jìn)行說明。圖1是實(shí)施例1的放射線檢測(cè)器的立體圖。如圖1所示，實(shí)施例1的放 射線檢測(cè)器1包括閃爍體2，按照閃爍晶體層2D、閃爍晶體層2C、閃爍晶體層2B、和閃爍晶 體層2A的順序，在z方向上形成各閃爍晶體層的疊層；光電倍增管(下稱光檢測(cè)器)3，具 備對(duì)閃爍體2發(fā)出的熒光進(jìn)行檢測(cè)的位置辨別功能；和光導(dǎo)管(light guide)4，在閃爍體 2與光檢測(cè)器3之間交接熒光。因此，各閃爍晶體層在朝著光檢測(cè)器3的方向疊層而構(gòu)成。 此外，閃爍晶體層2A成為閃爍體2的放射線入射面。另外，各閃爍晶體層2A、2B、2C、2D被光 學(xué)性結(jié)合，各層之間設(shè)有透過材料t。作為該透過材料t，可以使用由硅樹脂組成的熱固型 樹脂。閃爍晶體層2A是輻射源發(fā)出的Y射線的受光部，其構(gòu)成為塊狀的閃爍晶體被配置 成二維矩陣狀，以閃爍晶體a(l，1)為基準(zhǔn)，在x方向上配置32個(gè)，在y方向上配置32個(gè)。 也就是說，閃爍晶體a(l，1) 閃爍晶體a(l，32)被排列在y方向上，形成閃爍晶體陣列，該 閃爍晶體陣列在x方向上排列32條，形成閃爍晶體層2A。另外，對(duì)于閃爍晶體層2B、2C和 2D，也構(gòu)成為閃爍晶體被配置成二維矩陣狀，各自以閃爍晶體b(l，l)、c(l，l)和d(l，l)為 基準(zhǔn)，在x方向上配置32個(gè)，在y方向上配置32個(gè)。另外，對(duì)于各個(gè)閃爍晶體層2A、2B、2C、 2D，透過材料t被設(shè)置在相鄰的閃爍晶體之間。因此，各閃爍晶體被透過材料t包圍。該透 過材料t的厚度約為25 ym。另外，y射線相當(dāng)于本發(fā)明的放射線。此外，閃爍晶體相當(dāng)于 本發(fā)明的放射線檢測(cè)元件。此外，閃爍體2具備的閃爍晶體層2A、2B、2C、2D上設(shè)有向x方向延伸的第1反射 板r、向y方向延伸的第2反射板s。這兩個(gè)反射板r、s被插入在排列的閃爍晶體的縫隙之間。閃爍體2構(gòu)成為以三維方式排列適合檢測(cè)、射線的閃爍晶體。也就是說，閃爍 晶體由Ce擴(kuò)散之后的Lu2a_x)Y2xSi05(以下稱為L(zhǎng)YS0)構(gòu)成。不論是哪個(gè)閃爍晶體層，各閃 爍晶體都例如是x方向的長(zhǎng)度為1. 45mm、y方向的寬度為1. 45mm,z方向的高度為4. 5mm的 長(zhǎng)方體。此外，閃爍體2的4個(gè)側(cè)面被未圖示的反射膜覆蓋。此外，光檢測(cè)器3是多陽(yáng)極型， 可以辨別射入的熒光的x和y的位置。下面，對(duì)實(shí)施例1的放射線斷層攝影裝置10的構(gòu)成進(jìn)行說明。圖2是對(duì)實(shí)施例1 的放射線斷層攝影裝置的構(gòu)成進(jìn)行說明的局部剖面圖。如圖2所示，實(shí)施例1的放射線斷 層攝影裝置10具有架臺(tái)11，具有導(dǎo)入被檢體的開口 ；和檢測(cè)環(huán)12，設(shè)在架臺(tái)11內(nèi)部，被設(shè) 置成包含架臺(tái)11的開口，放射線檢測(cè)器呈C狀排列。該檢測(cè)環(huán)12構(gòu)成為，塊狀的放射線檢 測(cè)器lp、lq被排列成弧狀。從被檢體照射出來的、射線射入該檢測(cè)環(huán)12。另外，放射線斷 層攝影裝置10構(gòu)成為，射入的Y射線的強(qiáng)度、射入時(shí)間、和射入位置由檢測(cè)環(huán)12確定。另 外，檢測(cè)環(huán)相當(dāng)于本發(fā)明的放射線檢測(cè)器群。另外，實(shí)施例1的架臺(tái)11呈沿著檢測(cè)環(huán)12的 形狀的弧狀。另外，實(shí)施例1的放射線斷層攝影裝置10具有C狀的屏蔽體13，防止來自架臺(tái)11 外部的放射線進(jìn)入檢測(cè)環(huán)12。該屏蔽體13被配置成覆蓋檢測(cè)環(huán)12的成為平面的一個(gè)側(cè) 端。具體而言，屏蔽體13被設(shè)在檢測(cè)環(huán)12的成為平面的一對(duì)側(cè)端中的一個(gè)側(cè)端，該側(cè)端與 放射線斷層攝影裝置10中的導(dǎo)入被檢體M關(guān)心部位的開口相鄰。換言之，屏蔽體13被設(shè) 置成檢測(cè)環(huán)12在軸方向上的延長(zhǎng)。也就是說，位于架臺(tái)11外部的被檢體M的關(guān)心部位B 以外的部位與檢測(cè)環(huán)12被該環(huán)狀的屏蔽體13隔開。另外，屏蔽體13例如由鎢等構(gòu)成。對(duì)檢測(cè)環(huán)12的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。圖3是說明實(shí)施例1的放射線檢測(cè)器群的結(jié)構(gòu)的 分解立體圖。如圖3所示，檢測(cè)環(huán)12構(gòu)成為多個(gè)檢測(cè)器單元15沿C狀的底板14的形狀， 排列成弧狀。檢測(cè)器單元15具有2個(gè)放射線檢測(cè)器1和L型的保持部件16。保持部件16 由于具有主板16a，所以保持放射線檢測(cè)器1。另外，圖3中，7個(gè)檢測(cè)器單元15沿正八邊 形的各邊，被排列成弧狀。這里是為了簡(jiǎn)化圖示。實(shí)施例1的實(shí)際形狀是12個(gè)檢測(cè)器單元 15沿正十四邊形的各邊被排列成弧狀。沿x方向觀察檢測(cè)環(huán)12時(shí)，檢測(cè)器單元15所具備的閃爍體2是朝著底板14的內(nèi) 部方向排列。因此，檢測(cè)環(huán)12的內(nèi)部被閃爍體2掩蔽。另外，檢測(cè)器單元15經(jīng)由后述的副 板16b被螺栓和螺母連結(jié)在底板14上。此外，在副板16b上，設(shè)有用來插入螺栓的孔16c。 另外，在底板14上，針對(duì)每個(gè)檢測(cè)器單元15配備了貫穿上述螺栓的長(zhǎng)孔14a。另外，在實(shí) 施例1的結(jié)構(gòu)中，12個(gè)檢測(cè)器單元15沿弧排列。具體而言就是，12個(gè)檢測(cè)器單元15沿正 十四邊形的各邊排列。圖4是說明實(shí)施例1的檢測(cè)環(huán)的結(jié)構(gòu)的平面圖。也就是說，從軸方向觀察檢測(cè)環(huán) 12時(shí)，如圖4所示的那樣，12個(gè)放射線檢測(cè)器1擁有兩部分沿正十四邊形各邊呈弧形排列 的排列部分S ；和沒有放射線檢測(cè)器1的欠缺部分T。設(shè)該弧的曲率中心是曲率中心D。進(jìn)一步對(duì)放射線斷層攝影裝置10的具體結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。圖5是說明實(shí)施例1的 放射線斷層攝影裝置的結(jié)構(gòu)的功能模塊圖。如圖5所示，實(shí)施例1的放射線斷層攝影裝置 10包括架臺(tái)11、設(shè)在架臺(tái)11內(nèi)部的C狀檢測(cè)環(huán)12、防止來自架臺(tái)11外部的射線進(jìn)入檢 測(cè)環(huán)12的C狀的屏蔽體13、設(shè)在檢測(cè)環(huán)12內(nèi)面?zhèn)鹊恼丈鋂射線扇束的外部輻射源17、和
10對(duì)其進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的外部輻射源驅(qū)動(dòng)部18。另外，外部輻射源驅(qū)動(dòng)部18被外部輻射源驅(qū)動(dòng)控制 部19控制。此外，放射線斷層攝影裝置10，還設(shè)有用來取得被檢體M的關(guān)心部位B的斷層 圖像的各部。具體而言就是，放射線斷層攝影裝置10包括同時(shí)計(jì)數(shù)(符合計(jì)數(shù))部24， 接收來自檢測(cè)環(huán)12的表示Y射線的檢測(cè)位置、檢測(cè)強(qiáng)度、檢測(cè)時(shí)間的Y射線檢測(cè)信號(hào)，對(duì) 消滅、射線對(duì)進(jìn)行同時(shí)計(jì)數(shù)；L0R確定部25，根據(jù)被同時(shí)計(jì)數(shù)部24判定為消滅、射線對(duì) 的兩個(gè)Y射線檢測(cè)數(shù)據(jù)，對(duì)L0R進(jìn)行確定；加權(quán)部26，對(duì)取得的發(fā)射數(shù)據(jù)和傳送數(shù)據(jù)的放 射線檢測(cè)強(qiáng)度加權(quán)；吸收修正部27，參照后述的傳送數(shù)據(jù)，進(jìn)行、射線的吸收修正；和圖像 形成部28，形成關(guān)心部位B的放射線斷層圖像。另外，L0R確定部相當(dāng)于本發(fā)明的位置確定 機(jī)構(gòu)。對(duì)取得放射線斷層攝影裝置10擁有的檢測(cè)效率映射圖所需要的各個(gè)構(gòu)成進(jìn)行說 明。如圖5所示，實(shí)施例1的放射線斷層攝影裝置10具有關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31，保存后述 的關(guān)聯(lián)信息；關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部30，在假定欠缺部分T上有閃爍晶體時(shí)，求出同時(shí)事件(符合 事件)數(shù)，補(bǔ)充欠缺部分T的同時(shí)事件數(shù)；和檢測(cè)效率取得部32，使用同時(shí)事件數(shù)和補(bǔ)充后 的同時(shí)事件數(shù)，取得配置在檢測(cè)環(huán)上的各放射線檢測(cè)元件的放射線檢測(cè)效率。另外，關(guān)聯(lián)數(shù) 據(jù)補(bǔ)充部、關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部、和檢測(cè)效率取得部分別相當(dāng)于本發(fā)明的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)、關(guān) 聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)、和檢測(cè)效率取得機(jī)構(gòu)。另外，實(shí)施例1的放射線斷層攝影裝置10還包括總體控制外部輻射源驅(qū)動(dòng)控制 部19等的主控制部40 ；和顯示放射線斷層圖像的顯示部41。該主控制部40由CPU構(gòu)成， 通過執(zhí)行各種程序，實(shí)現(xiàn)外部輻射源驅(qū)動(dòng)控制部19、同時(shí)計(jì)數(shù)部24、L0R確定部25、吸收修 正部27、圖像形成部28、關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部30和檢測(cè)效率取得部32。放射線斷層攝影裝置10根據(jù)Fan -Sum法可以檢測(cè)出各閃爍晶體上的放射線檢測(cè) 效率的不均勻情況。也就是說，形成一個(gè)檢測(cè)效率映射圖，反映檢測(cè)環(huán)12整個(gè)的放射線檢 測(cè)效率的分布，根據(jù)該檢測(cè)效率映射圖，加權(quán)部26進(jìn)行發(fā)射數(shù)據(jù)和傳送數(shù)據(jù)的放射線檢測(cè) 強(qiáng)度的加權(quán)。對(duì)檢測(cè)效率進(jìn)行說明。對(duì)于閃爍晶體C，即便以相同條件射入放射線，檢測(cè)放射線 的能力實(shí)際上有時(shí)比理想情況低，閃爍晶體C之間也會(huì)有偏差。其原因例如是閃爍晶體c 的角部欠缺等閃爍晶體C的形狀所引起的，或者是透過材料t混入異物等。此外，檢測(cè)放射 線的能力也會(huì)因閃爍體2的閃爍晶體C的位置而出現(xiàn)偏差。也就是說，越靠近閃爍體2的 周邊部，檢測(cè)放射線的能力越低。因此，作為表示該閃爍晶體C檢測(cè)放射線的能力的指標(biāo)， 使用檢測(cè)效率。檢測(cè)效率被用于對(duì)閃爍晶體C放射線檢測(cè)能力的差異進(jìn)行修正，使其平均 化。下面對(duì)這種放射線斷層攝影裝置10的動(dòng)作進(jìn)行說明。要在實(shí)施例1的放射線斷 層攝影裝置10上取得被檢體的放射線斷層圖像，首先需要的是檢測(cè)效率映射圖。所以，首 先要對(duì)取得該檢測(cè)效率映射圖之前的各個(gè)步驟進(jìn)行說明。對(duì)于實(shí)施例1的檢測(cè)效率映射圖的取得方法，如圖6所示，具有以下步驟輻射源 放置步驟S1，在架臺(tái)11內(nèi)部放置人體模型(phantom) 45 ；檢測(cè)步驟S2，使檢測(cè)環(huán)12檢測(cè)人 體模型45射出的消滅放射線對(duì)；關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充步驟S3，根據(jù)前面步驟得到的同時(shí)事件數(shù)和 與之對(duì)應(yīng)的L0R，形成假定在欠缺部分T上有閃爍晶體時(shí)的同時(shí)事件數(shù)，補(bǔ)充欠缺部分T的 同時(shí)事件數(shù)；檢測(cè)效率取得步驟S4，使用同時(shí)事件數(shù)和通過補(bǔ)充形成的同時(shí)事件數(shù)，獲得
11配置在檢測(cè)環(huán)12的各閃爍晶體C的放射線檢測(cè)效率；和檢測(cè)效率映射圖形成步驟S5，按照 檢測(cè)環(huán)12上的各閃爍晶體C的排列，對(duì)各檢測(cè)效率進(jìn)行映射，形成檢測(cè)效率映射圖。下面， 依次說明以上這些步驟。<輻射源放置步驟Sl>首先，將人體模型45插入架臺(tái)11的開口部。該人體模型45含有正電子發(fā)射核素， 所以，從人體模型45向架臺(tái)11放射彼此在相反方向行進(jìn)的一對(duì)消滅放射線。另外，這時(shí)， 阻礙取得檢測(cè)效率的外部輻射源17被容納在未圖示的屏蔽庫(kù)中。<檢測(cè)步驟S2>在對(duì)檢測(cè)步驟S2進(jìn)行說明之前，對(duì)L0R(line of response)進(jìn)行說明。設(shè)檢測(cè)環(huán) 12具有第1閃爍晶體C和第2閃爍晶體C。人體模型45發(fā)射的消滅放射線對(duì)中的一個(gè)與 第1閃爍晶體C相遇，被轉(zhuǎn)換成熒光；另一個(gè)與第2閃爍晶體C相遇，被轉(zhuǎn)換成熒光。也就 是說，可知消滅放射線對(duì)是從上述第1閃爍體、第2閃爍晶體C連線上的任意點(diǎn)發(fā)射的。 連接上述閃爍晶體之間的連線稱為L(zhǎng)0R。另外，L0R相當(dāng)于本發(fā)明的位置信息。該L0R的確 定由L0R確定部25進(jìn)行。y射線檢測(cè)數(shù)據(jù)被送到同時(shí)計(jì)數(shù)部24。同時(shí)計(jì)數(shù)部24在具有規(guī)定時(shí)間寬度的時(shí) 間窗中，由第1閃爍晶體Ca和第2閃爍晶體Cb檢測(cè)放射線，在這種情況下，設(shè)放射線同時(shí) 由兩個(gè)閃爍晶體Ca、Cb檢測(cè)到。然后，對(duì)這一對(duì)放射線是行進(jìn)方向相反的消滅放射線對(duì)進(jìn) 行認(rèn)定。所以，稱第1閃爍晶體Ca和第2閃爍晶體Cb同時(shí)檢測(cè)放射線的情況為同時(shí)事件。 然后，同時(shí)計(jì)數(shù)部24認(rèn)為第1閃爍晶體Ca和第2閃爍晶體Cb檢出過一次消滅放射線對(duì)， 將其計(jì)數(shù)數(shù)值送出到關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31。這樣，成對(duì)的第1閃爍晶體Ca和第2閃爍晶體 Cb中的同時(shí)事件的發(fā)生次數(shù)，即同時(shí)事件數(shù)就被保存到關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中。與此同時(shí)， 與上述送出的同時(shí)事件數(shù)相對(duì)應(yīng)的L0R從L0R確定部25被送至關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31。也就 是說，關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中將第1閃爍晶體Ca以及第2閃爍晶體Cb這一對(duì)的L0R與同時(shí) 事件數(shù)關(guān)聯(lián)起來保存。關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31對(duì)能想到的所有閃爍晶體對(duì)都保存同時(shí)事件數(shù) 和與之對(duì)應(yīng)的L0R，不限于第1閃爍晶體Ca和第2閃爍晶體Cb這一對(duì)。將該同時(shí)事件數(shù)和 與之對(duì)應(yīng)的L0R關(guān)聯(lián)起來形成的信息稱為關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。在檢測(cè)步驟S2中，對(duì)從人體模型45射出的一對(duì)消滅放射線進(jìn)行測(cè)量。消滅放射 線對(duì)的發(fā)生點(diǎn)遍布人體模型45的橫截面。因此，如果在人體模型45的橫截面上描繪檢測(cè) 步驟S2中得到的L0R，則其整個(gè)區(qū)域?qū)⒈籐0R填充滿。但是，由于檢測(cè)環(huán)12上設(shè)有欠缺部 分T，所以在人體模型45中的靠近欠缺部分T的區(qū)域(以下稱為人體模型45附近區(qū)域)， 所描繪的L0R的密度就會(huì)比較稀疏。<關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充步驟S3〉下面，對(duì)通過上述人體模型45附近區(qū)域的L0R進(jìn)行補(bǔ)充，修正因存在欠缺部分T 而造成的L0R密度的偏差。具體而言，假定閃爍晶體C被排列在欠缺部分T時(shí)，使用關(guān)聯(lián)數(shù) 據(jù)存儲(chǔ)部31中保存的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，對(duì)與排列在欠缺部分T的閃爍晶體C有關(guān)的同時(shí)事件數(shù)和 與之對(duì)應(yīng)的L0R所組成的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)測(cè)。關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充步驟S3中，針對(duì)檢測(cè)環(huán)12在軸方向上的位置相同的閃爍晶體C進(jìn) 行預(yù)測(cè)。也就是說，使用一列閃爍晶體C被排列成弧狀的排列，對(duì)同時(shí)事件數(shù)進(jìn)行補(bǔ)充。為 了方便，將這一列閃爍晶體C稱為單位檢測(cè)環(huán)12a。對(duì)于檢測(cè)環(huán)12，如果2個(gè)放射線檢測(cè)器lp、lq被排列在檢測(cè)環(huán)12的軸方向，每1個(gè)放射線檢測(cè)器1有32個(gè)閃爍晶體C被排列在檢 測(cè)環(huán)12的軸方向的話，那么檢測(cè)環(huán)12就可以被分割成64個(gè)在該軸方向上排列的單位檢測(cè) 環(huán)12a。換言之，閃爍晶體C至少被排成弧狀，從而構(gòu)成閃爍晶體C排成一列的單位檢測(cè)環(huán) 12a。多個(gè)單位檢測(cè)環(huán)12a在軸方向疊層，形成檢測(cè)環(huán)12。此外，放射線檢測(cè)器1中所具備的閃爍體2具有4個(gè)閃爍晶體層2A 2D。以下， 為了方便說明，將閃爍體2簡(jiǎn)化為1個(gè)閃爍晶體層進(jìn)行說明。對(duì)實(shí)施例1的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充步驟S3的具體動(dòng)作進(jìn)行說明。在此之前，先對(duì)設(shè)在檢 測(cè)環(huán)12上的12個(gè)放射線檢測(cè)器1給出連續(xù)編號(hào)。將位于放射線檢測(cè)器1的排列的一端的 放射線檢測(cè)器1設(shè)為0號(hào)，然后依次對(duì)放射線檢測(cè)器1進(jìn)行編號(hào)，將位于排列的另一端的放 射線檢測(cè)器1設(shè)為11號(hào)。此外，對(duì)單位檢測(cè)環(huán)12a上排列的閃爍晶體C也給出連續(xù)編號(hào)。圖7是說明實(shí)施 例1的單位檢測(cè)環(huán)的結(jié)構(gòu)的示意圖。也就是說，將排在第0號(hào)放射線檢測(cè)器1的閃爍晶體c 中面對(duì)欠缺部分T的閃爍晶體C設(shè)為第1號(hào)，然后跨越各放射線檢測(cè)器1，對(duì)閃爍晶體C進(jìn) 行編號(hào)，將排列在第11號(hào)放射線檢測(cè)器1的閃爍晶體C中面對(duì)欠缺部分T的閃爍晶體C設(shè) 為第384號(hào)。也就是說，所給編號(hào)是32的倍數(shù)的閃爍晶體C會(huì)處在放射線檢測(cè)器1具有的 閃爍體2的端部。對(duì)補(bǔ)充同時(shí)事件數(shù)的情況進(jìn)行說明。單位檢測(cè)環(huán)12a中只有384個(gè)閃爍晶體C。 但這里假定，欠缺部分T也排列了與排列部分S同樣間距的閃爍晶體C。具體而言就是，假 定第385號(hào)閃爍晶體C385與第384號(hào)閃爍晶體C相鄰排列，往后的63個(gè)閃爍晶體C386 閃爍晶體C448排列在閃爍晶體C1與閃爍晶體C385之間。另外，閃爍晶體C385 閃爍晶 體C416排成一列，形成正十四邊形的檢測(cè)環(huán)12的一邊；余下的閃爍晶體C417 閃爍晶體 C448也排成一列，形成正十四邊形的檢測(cè)環(huán)12的一邊。也就是說，閃爍晶體1 閃爍晶體 448沿正十四邊形的各邊排列，閃爍晶體C的排列以曲率中心D為中心，形成14次旋轉(zhuǎn)對(duì) 稱。這里，試求與閃爍晶體C193和閃爍晶體C385所擁有的LOR0相對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件 數(shù)。由于閃爍晶體C385實(shí)際不存在，所以無法測(cè)定與該LOR0對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件數(shù)。因?yàn)殚W 爍晶體1 閃爍晶體448是沿正十四邊形各邊排列的，所以與該LOR0旋轉(zhuǎn)對(duì)稱的L0R是 存在的。例如，它會(huì)是圖7的LORa，是實(shí)際存在的閃爍晶體C129與閃爍晶體C321的連線。 在這種情況下，L0R上的閃爍晶體C193與LORa上的閃爍晶體C129對(duì)應(yīng)，LOR0上的閃爍 晶體C385與LORa上的閃爍晶體C321對(duì)應(yīng)?？梢哉J(rèn)為，與上述旋轉(zhuǎn)對(duì)稱的L0R對(duì)應(yīng)的同 時(shí)事件數(shù)是相同的。因?yàn)殛P(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中保存了針對(duì)所有能想到的實(shí)際存在的閃爍晶體C對(duì)的 同時(shí)事件數(shù)和與之對(duì)應(yīng)的L0R，所以與LORa對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件數(shù)是可靠存在的。實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)中，關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部30從關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31讀出與LORa對(duì)應(yīng) 的同時(shí)事件數(shù)，將其與LOR0關(guān)聯(lián)，形成關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。然后，將它們追加到關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31 中。也就是說，根據(jù)實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)，復(fù)制與LORa對(duì)應(yīng)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，對(duì)該復(fù)制數(shù)據(jù)的L0R 進(jìn)行改寫，充當(dāng)閃爍晶體C193和閃爍晶體C385這一對(duì)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，就可以想象 出假定閃爍晶體C321在欠缺部分T時(shí)的同時(shí)事件數(shù)和與之對(duì)應(yīng)的位置信息。關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ) 充部30是將與上述實(shí)際不存在的閃爍晶體C385所擁有的LOR0相關(guān)的同時(shí)事件數(shù)當(dāng)作與LOR a相關(guān)的同時(shí)事件數(shù)，來補(bǔ)充人體模型45附近區(qū)域的L0R和與之對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件數(shù)的 數(shù)據(jù)。也就是說，關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部30根據(jù)關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中保存的實(shí)際測(cè)量的同時(shí)事 件數(shù)和與之對(duì)應(yīng)的L0R，形成假定閃爍晶體C321在欠缺部分T時(shí)的同時(shí)事件數(shù)和與之對(duì)應(yīng) 的LOR0。另外，關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部30通過將形成的同時(shí)事件數(shù)和與之對(duì)應(yīng)的LOR0追加到 關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31并進(jìn)行保存，來補(bǔ)充欠缺部分T的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。此外，關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部30也可以表現(xiàn)為在保持C129和C321的相對(duì)位置的狀態(tài) 下，虛擬地旋轉(zhuǎn)二者，假定閃爍晶體C321處于檢測(cè)環(huán)12的欠缺部分T，從而導(dǎo)出與L0R3有 關(guān)的同時(shí)事件數(shù)。另外，關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部30對(duì)上述LOR a以外的無法實(shí)測(cè)同時(shí)事件數(shù)的L0R也進(jìn)行 同樣處理。要進(jìn)行這樣的處理，可以利用下式1。另外，設(shè)使實(shí)際不存在的閃爍晶體Ci和 閃爍晶體Cj的連線LORy旋轉(zhuǎn)移動(dòng)。m(i, j) = m(i+Ncx, j+Ncx). . . (1)這里，i，j是包含虛擬閃爍晶體C的閃爍晶體C的編號(hào)。在實(shí)施例1中，i，j是1 到448的整數(shù)。m(i，j)表示閃爍晶體Ci、閃爍晶體Cj的同時(shí)事件數(shù)。另外，N。表示一個(gè) 放射線檢測(cè)器1有幾個(gè)閃爍晶體C被排列在單位檢測(cè)環(huán)12a上。在實(shí)施例1中，因?yàn)橛?2 個(gè)閃爍晶體C被排列在正十四邊形的一邊，所以N。= 32。另外，x是整數(shù)，表示LORY的旋 轉(zhuǎn)強(qiáng)度。具體而言就是，LORy通過上式1所示的旋轉(zhuǎn)移動(dòng)，會(huì)旋轉(zhuǎn)x/14。由此，設(shè)閃爍晶 體為1個(gè)時(shí)，具有LORy的各閃爍晶體C就會(huì)移動(dòng)xX32個(gè)。在圖7的例子中，x = 2。也 就是說，對(duì)于閃爍晶體C，如果虛擬地將閃爍晶體Ci旋轉(zhuǎn)過N。個(gè)，其位置就會(huì)與具有LORa 的閃爍晶體C的位置一致，該LOR a與L0R 0旋轉(zhuǎn)對(duì)稱。另外，在式1中，i+N。x和j+N。x是1至448的整數(shù)。在式1中，如果單純計(jì)算i+N。x， 有時(shí)就會(huì)超過448。在這種情況下，i+Ncx所表示的閃爍晶體C的編號(hào)是i+N。x除以448的 余數(shù)。例如，當(dāng)i+N。x為449時(shí)，由圖7可知，它是表示閃爍晶體C448的下一個(gè)閃爍晶體C， 實(shí)際上就是閃爍晶體C1。另外，j+N。x也是同樣。在實(shí)施例1中，在x選擇某值之后，就對(duì)L0R和與之對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件數(shù)進(jìn)行補(bǔ)充。 檢測(cè)環(huán)12具有64個(gè)虛擬的閃爍晶體C和384個(gè)實(shí)際存在的閃爍晶體C。因此，在關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù) 補(bǔ)充步驟3結(jié)束的時(shí)間點(diǎn)，與關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31保存的L0R和同時(shí)事件數(shù)相關(guān)聯(lián)的關(guān)聯(lián)數(shù) 據(jù)會(huì)因補(bǔ)充而增加，多于檢測(cè)步驟S2結(jié)束的時(shí)間點(diǎn)。<檢測(cè)效率取得步驟S4>檢測(cè)效率取得部32使用關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中保存的L0R和同時(shí)事件數(shù)相關(guān)聯(lián)的 關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，取得各閃爍晶體C中的檢測(cè)效率。這可以使用作為現(xiàn)有技術(shù)的Fan Sum法。圖 8是說明實(shí)施例1的檢測(cè)效率取得部的動(dòng)作的概念圖。如圖8(a)所示，如果希望了解閃爍 晶體Cp的檢測(cè)效率，就從關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中提取關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，該關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)與以閃爍晶體Cp 為中心、呈扇形展開的多個(gè)L0R46對(duì)應(yīng)。然后，計(jì)算所有與提取的L0R46相關(guān)聯(lián)的同時(shí)事件 數(shù)的總和，將該總和除以提取的L0R46的個(gè)數(shù)，就可以算出閃爍晶體Cp的檢測(cè)效率。另外， 檢測(cè)效率取得部32對(duì)所有的閃爍晶體Cp都進(jìn)行這樣的檢測(cè)效率計(jì)算。也就是說，上述相 同的處理會(huì)重復(fù)例如383次。但是，為了簡(jiǎn)化計(jì)算，實(shí)際會(huì)將長(zhǎng)度較短的L0R46忽略，所以， 實(shí)際重復(fù)的次數(shù)將少于383次。此外，如圖8(b)所示，如果希望了解閃爍晶體Cq的檢測(cè)效率，就從關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中提取關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，該關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)與以閃爍晶體Cq為中心、呈扇形展開的多個(gè)L0R47、48 對(duì)應(yīng)。由于圖8(b)的虛線所表示的L0R48與欠缺部分T有關(guān)，所以實(shí)際上無法測(cè)量與它們 對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件數(shù)。然而，根據(jù)實(shí)施例1的發(fā)明，通過關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充步驟S3，就會(huì)取得假定 欠缺部分T上有閃爍體時(shí)的同時(shí)事件數(shù)，完成補(bǔ)充。所以，檢測(cè)效率取得部32可以從關(guān)聯(lián) 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中取得圖8(b)中用虛線表示的L0R48的同時(shí)事件數(shù)。另外，為了使說明簡(jiǎn) 潔，圖8中省略了呈扇形展開的L0R條數(shù)。比較圖8(a)和圖8(b)可知，在取得閃爍晶體C的檢測(cè)效率時(shí)，可以將多個(gè)L0R構(gòu) 成的扇形固定。因此，屬于單位檢測(cè)環(huán)的閃爍晶體C的檢測(cè)效率的取得運(yùn)算可以在同一條 件下進(jìn)行。其原因是，不論閃爍晶體C如何，通過補(bǔ)充無法實(shí)測(cè)的同時(shí)事件數(shù)，扇形會(huì)變成 同一形狀。這樣，就會(huì)取得所有屬于單位檢測(cè)環(huán)12a的閃爍晶體C的檢測(cè)效率。另外，由于檢 測(cè)環(huán)12具有64個(gè)單位檢測(cè)環(huán)12a，所以上述操作會(huì)對(duì)64個(gè)單位檢測(cè)環(huán)分別進(jìn)行。〈檢測(cè)效率映射圖形成步驟S5>然后，按照閃爍晶體C的順序，排列檢測(cè)效率取得步驟S4中得到的各閃爍晶體C 的檢測(cè)效率，由此來形成檢測(cè)效率映射圖。這樣，就會(huì)取得實(shí)施例1的檢測(cè)效率映射圖。該 檢測(cè)效率映射圖被送到關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31，在那里進(jìn)行保存。參照?qǐng)D5，對(duì)實(shí)施例1的放射線斷層攝影裝置10的檢查方法進(jìn)行說明。要用實(shí)施 例1的放射線斷層攝影裝置10進(jìn)行檢查，首先要將預(yù)先進(jìn)行過放射性藥劑注射投給的被檢 體M的關(guān)心部位B(乳房)插入架臺(tái)11的開口。然后，取得表示關(guān)心部位B的Y射線吸收 分布的傳送數(shù)據(jù)。也就是說，從外部輻射源17向關(guān)心部位B照射扇形Y射線的扇形光束。 該、射線光束就會(huì)透過關(guān)心部位B，被檢測(cè)環(huán)12檢出。然后，一邊沿檢測(cè)環(huán)12的內(nèi)周面， 使外部輻射源17沿圓弧狀軌道移動(dòng)，一邊環(huán)繞整個(gè)關(guān)心部位B進(jìn)行這種檢測(cè)，得到整個(gè)關(guān) 心部位B的、射線吸收系數(shù)圖。取得上述的傳送數(shù)據(jù)之后，接著就是取得發(fā)射數(shù)據(jù)，它是對(duì)從關(guān)心部位B局部存 在的放射線藥劑放出的消滅Y射線對(duì)進(jìn)行檢測(cè)。在此之前，先將阻礙取得該發(fā)射數(shù)據(jù)的外 部輻射源17在檢測(cè)環(huán)12的軸方向上移動(dòng)，放入未圖示的屏蔽庫(kù)。然后，取得發(fā)射數(shù)據(jù)。也就是說，由檢測(cè)環(huán)12來檢測(cè)從關(guān)心部位B內(nèi)部放出的行 進(jìn)方向?yàn)?60°反向的消滅、射線對(duì)。被檢測(cè)環(huán)12檢測(cè)出的、射線檢測(cè)信號(hào)被送至同時(shí) 計(jì)數(shù)部24。僅在同一時(shí)刻、在檢測(cè)環(huán)12的相互不同的位置上檢出2個(gè)Y射線光子的情況 下，計(jì)1次數(shù)，然后進(jìn)行后段的數(shù)據(jù)處理。然后，繼續(xù)取得這種發(fā)射數(shù)據(jù)，得到計(jì)數(shù)值足夠使 關(guān)心部位B的放射性藥劑的內(nèi)部局部存在圖像化的發(fā)射數(shù)據(jù)。最后，使被檢體M的關(guān)心部 位B從架臺(tái)11的開口中退出，結(jié)束檢查。下面，參照?qǐng)D10，對(duì)實(shí)施例1的斷層攝影裝置的數(shù)據(jù)處理進(jìn)行說明。由檢測(cè)環(huán)12 輸出的傳送檢測(cè)數(shù)據(jù)Tr被送至同時(shí)計(jì)數(shù)部24。然后，傳送檢測(cè)數(shù)據(jù)Tr和發(fā)射檢測(cè)數(shù)據(jù)Em 被送至LOR確定部25，進(jìn)行LOR的確定。這樣，形成包含、射線的同時(shí)事件數(shù)和L0R信息 的傳送檢測(cè)數(shù)據(jù)Tr、以及包含Y射線的檢測(cè)數(shù)量和檢測(cè)位置信息的發(fā)射檢測(cè)數(shù)據(jù)Em，并送 至后段的加權(quán)部26。加權(quán)部26從關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31讀出檢測(cè)效率映射圖。然后，用它來消除疊加在 發(fā)射檢測(cè)數(shù)據(jù)Em和傳送檢測(cè)數(shù)據(jù)Tr上的閃爍晶體C的檢測(cè)效率的偏差。形成的發(fā)射檢測(cè)
15數(shù)據(jù)Em和傳送檢測(cè)數(shù)據(jù)Tr被送到吸收修正部27。吸收修正部27對(duì)于發(fā)射檢測(cè)數(shù)據(jù)Em，一邊參照上述的傳送檢測(cè)數(shù)據(jù)Tr，一邊進(jìn)行 吸收修正，該吸收修正中消除疊加在發(fā)射檢測(cè)數(shù)據(jù)Em上的關(guān)心部位B的、射線吸收分布 的影響。這樣，更正確地表示關(guān)心部位B內(nèi)的放射性藥劑分布的檢測(cè)數(shù)據(jù)被送至圖像形成 部28，在那里再次構(gòu)成放射線斷層圖像。最后，顯示部41將其顯示出來。這樣，實(shí)施例1的 放射線斷層裝置10的檢查就結(jié)束了。如上所述，實(shí)施例1結(jié)構(gòu)中的檢測(cè)環(huán)12包括沒有排列閃爍晶體C的欠缺部分T。 也就是說，構(gòu)成檢測(cè)環(huán)12的閃爍晶體C的排列的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱性被打亂。如果按照以往對(duì)這種 結(jié)構(gòu)套用Fan Sum法，閃爍晶體C會(huì)使Fan Sum法的扇區(qū)形狀互不相同，所以檢測(cè)效率在 不同條件下計(jì)算。因此，計(jì)算出的檢測(cè)效率不能真實(shí)再現(xiàn)實(shí)際的閃爍晶體C的檢測(cè)效率。但是，實(shí)施例1具備關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部30。關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部30形成假定檢測(cè)環(huán)12 實(shí)際具備的第1閃爍晶體C處在欠缺部分T時(shí)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，將其追加并保存在關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存 儲(chǔ)部31，以此來補(bǔ)充欠缺部分T的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。這樣，關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部30就會(huì)取得假定閃爍 晶體C排列在欠缺部分T時(shí)得到的位置信息和與之對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件數(shù)。在這種結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ) 上，使用Fan -Sum法進(jìn)行檢測(cè)效率的計(jì)算，閃爍晶體C就會(huì)使Fan -Sum法的扇區(qū)形狀固定。 這是因?yàn)榕c欠缺部分T有關(guān)的無法實(shí)測(cè)的位置信息和與之對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件數(shù)(關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)) 得到補(bǔ)充。因此，實(shí)施例1中算出的閃爍晶體C的檢測(cè)效率高度真實(shí)地再現(xiàn)了現(xiàn)實(shí)的檢測(cè) 效率。使用這樣的檢測(cè)效率對(duì)放射線斷層圖像進(jìn)行加權(quán)處理的話，疊加在放射線斷層圖像 上的各個(gè)閃爍晶體C的放射線檢測(cè)效率的不均勻就會(huì)被切實(shí)除去。這樣，根據(jù)實(shí)施例1，就 可以提供一種放射線斷層攝影裝置，生成適于診斷的放射線斷層圖像。此外，根據(jù)實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)，復(fù)制關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中保存的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，將該復(fù)制 數(shù)據(jù)充當(dāng)欠缺部分T的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，就會(huì)進(jìn)行上述的補(bǔ)充。根據(jù)實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)，因 為使用已經(jīng)保存在關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部上的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，所以欠缺部分的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)會(huì)可靠地得到 補(bǔ)充。更為具體而言就是，實(shí)施例1構(gòu)成為在保持屬于檢測(cè)環(huán)12的第1閃爍晶體C和第 2閃爍晶體C的相對(duì)位置的狀態(tài)下，虛擬地旋轉(zhuǎn)二者，假定第1閃爍晶體C處于欠缺部分T 上。也就是說，將屬于檢測(cè)環(huán)12的第1閃爍晶體C和第2閃爍晶體C實(shí)測(cè)的同時(shí)事件數(shù)充 當(dāng)欠缺部分T的同時(shí)事件數(shù)，關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部30的補(bǔ)充就簡(jiǎn)單完成了。[實(shí)施例2]下面，對(duì)實(shí)施例2的放射線斷層攝影裝置10的結(jié)構(gòu)進(jìn)行說明。對(duì)于實(shí)施例2的放 射線斷層攝影裝置10結(jié)構(gòu)中與實(shí)施例1共通的部分省略說明。也就是說，實(shí)施例2的裝置 結(jié)構(gòu)與實(shí)施例1相同。實(shí)施例2的放射線斷層攝影裝置10的同時(shí)事件數(shù)的補(bǔ)充方法與實(shí)施例1的構(gòu)成 不同。因此，取代實(shí)施例1說明的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充步驟3，執(zhí)行關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充步驟T3，下面對(duì) 本實(shí)施例2的這種獨(dú)特構(gòu)成進(jìn)行說明?！搓P(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充步驟T3>實(shí)施例2的結(jié)構(gòu)中，對(duì)多個(gè)同時(shí)事件數(shù)進(jìn)行平均計(jì)算，將平均值當(dāng)作欠缺部分T的 同時(shí)事件數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，由此來補(bǔ)充假定閃爍晶體C處在欠缺部分T時(shí)的同時(shí)事件數(shù)。也就 是說，正十四邊形的相鄰2邊是欠缺部分T的情況下，如圖9所示，對(duì)求得假定第1閃爍晶 體Ci在欠缺部分T、第2閃爍晶體Cj在排列部分S時(shí)的L0R 6的同時(shí)事件數(shù)的構(gòu)成進(jìn)行
16說明。對(duì)于檢測(cè)環(huán)12，如果欠缺部分T上排列有閃爍晶體C，那么閃爍晶體C就會(huì)沿正十四 邊形的各邊排列，因此與L0RS旋轉(zhuǎn)對(duì)稱，同時(shí)事件數(shù)可視為與L0RS同樣的L0R有13個(gè)。 但是，實(shí)際上，由于檢測(cè)環(huán)12具有欠缺部分T，所以可計(jì)數(shù)的L0R少于13個(gè)。也就是說，在 欠缺部分T的正十四邊形的相鄰的2邊中，設(shè)假定有第1閃爍晶體Ci的一邊為第1邊，另 一邊為第2邊，因沒有排列閃爍晶體C而無法計(jì)數(shù)的L0R有三種通過旋轉(zhuǎn)LOR S，第1閃爍 晶體Ci移到屬于第2邊的位置時(shí)的L0R ；第2閃爍晶體Cj移到屬于第1邊時(shí)的L0R ；第2 閃爍晶體Cj移到屬于第1邊的位置時(shí)的L0R。也就是說，在與L0R 6旋轉(zhuǎn)對(duì)稱的13個(gè)L0R 中，有3個(gè)實(shí)際上無法進(jìn)行同時(shí)事件數(shù)的計(jì)數(shù)。因此，實(shí)施例2的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部30從關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部31中讀出可以計(jì)數(shù)的10 個(gè)L0R的同時(shí)事件數(shù)，對(duì)其進(jìn)行平均計(jì)算，將平均值設(shè)為L(zhǎng)0R 6的同時(shí)事件數(shù)，這時(shí)，假定第 1閃爍晶體Ci在欠缺部分T，第2閃爍晶體Cj在排列部分S。這時(shí)，可以利用下式2，求得 連接實(shí)際不存在的閃爍晶體Ci與閃爍晶體Cj的L0R 6的同時(shí)事件數(shù)。
權(quán)利要求
1.一種放射線斷層攝影裝置，包括檢測(cè)環(huán)，檢測(cè)放射線的放射線元件被配置為弧狀；同時(shí)計(jì)數(shù)機(jī)構(gòu)，對(duì)同時(shí)事件數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，該同時(shí)事件數(shù)是第1放射線檢測(cè)元件和第2放 射線檢測(cè)元件同時(shí)檢測(cè)到放射線的次數(shù)；位置確定機(jī)構(gòu)，輸出位置信息，該位置信息是連接所述第1放射線檢測(cè)元件與所述第2 放射線檢測(cè)元件的線段；和關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)，保存將同時(shí)事件數(shù)和與之對(duì)應(yīng)的位置信息關(guān)聯(lián)起來的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，所述放射線斷層攝影裝置特征在于，所述檢測(cè)環(huán)具有排列了檢測(cè)所述放射線的放射線檢測(cè)元件的排列部分、和沒有排列放 射線檢測(cè)元件的欠缺部分，包括關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)，根據(jù)所述已關(guān)聯(lián)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，求出假定所述第1放射線檢測(cè) 元件處在欠缺部分時(shí)的同時(shí)事件數(shù)和與之對(duì)應(yīng)的位置信息，將其追加到關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)構(gòu) 并進(jìn)行保存，從而對(duì)欠缺部分的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)進(jìn)行補(bǔ)充；檢測(cè)效率取得機(jī)構(gòu)，使用所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)和通過補(bǔ)充所形成的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，得到配置在檢 測(cè)環(huán)上的各放射線檢測(cè)元件的放射線檢測(cè)效率；和修正機(jī)構(gòu)，根據(jù)所述放射線檢測(cè)效率，對(duì)所述放射線斷層圖像進(jìn)行修正。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放射線斷層攝影裝置，其特征在于，所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)通過復(fù)制所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)機(jī)構(gòu)保存的所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，并將該 復(fù)制數(shù)據(jù)作為在欠缺部分計(jì)數(shù)的結(jié)果，求出假定所述第1放射線檢測(cè)元件處在欠缺部分時(shí) 的同時(shí)事件數(shù)和與之對(duì)應(yīng)的位置信息，進(jìn)行補(bǔ)充。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的放射線斷層攝影裝置，其特征在于，所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)對(duì)欠缺部分的所述同時(shí)事件數(shù)和與之對(duì)應(yīng)的位置信息的補(bǔ)充 通過以下方式進(jìn)行，即在保持所述第1放射線檢測(cè)元件和所述第2放射線檢測(cè)元件的相對(duì) 位置的狀態(tài)下，虛擬地旋轉(zhuǎn)二者，假定所述第1放射線檢測(cè)元件已處在所述欠缺部分。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放射線斷層攝影裝置，其特征在于，所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)通過求出多個(gè)所述同時(shí)事件數(shù)的平均值，并將該平均值作為 在欠缺部分計(jì)數(shù)的結(jié)果，來補(bǔ)充假定所述第1放射線檢測(cè)元件處在欠缺部分時(shí)的同時(shí)事件 數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的放射線斷層攝影裝置，其特征在于，所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)對(duì)欠缺部分的所述同時(shí)事件數(shù)的補(bǔ)充通過以下方式進(jìn)行，即 在保持所述第1放射線檢測(cè)元件和所述第2放射線檢測(cè)元件的相對(duì)位置的狀態(tài)下，虛擬地 旋轉(zhuǎn)二者，收集旋轉(zhuǎn)對(duì)稱放射線檢測(cè)元件對(duì)，該旋轉(zhuǎn)對(duì)稱放射線檢測(cè)元件對(duì)是與所述第1 放射線檢測(cè)元件及所述第2放射線檢測(cè)元件之間的位置關(guān)系旋轉(zhuǎn)對(duì)稱的一對(duì)放射線檢測(cè) 元件，求出與所述旋轉(zhuǎn)對(duì)稱放射線檢測(cè)元件對(duì)對(duì)應(yīng)的所述同時(shí)事件數(shù)的平均值，并且將所 述平均值作為假定所述第1放射線檢測(cè)元件處在欠缺部分時(shí)的同時(shí)事件數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1 3的任意一項(xiàng)所述的放射線斷層攝影裝置，其特征在于，所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)包含以下功能根據(jù)從構(gòu)成所述檢測(cè)環(huán)的所述放射線檢測(cè)元件 得到的同時(shí)事件數(shù)，求出假定在欠缺部分上計(jì)數(shù)的同時(shí)事件數(shù)，由此對(duì)所述欠缺部分的所 述同時(shí)事件數(shù)進(jìn)行補(bǔ)充，所述檢測(cè)效率取得機(jī)構(gòu)將在所述排列部分排列的所述放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率暫 時(shí)設(shè)為規(guī)定數(shù)值，并且將假定處在所述欠缺部分的所述放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率設(shè)為規(guī) 定數(shù)值，根據(jù)同時(shí)事件數(shù)和假定在欠缺部分上計(jì)數(shù)時(shí)的同時(shí)事件數(shù)，求出所述放射線檢測(cè) 元件的檢測(cè)效率，根據(jù)求出的所述放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率和假定處在所述欠缺部分上的所述放射 線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率，將假定在所述欠缺部分上計(jì)數(shù)的同時(shí)事件數(shù)與被更新的放射線檢 測(cè)元件的檢測(cè)效率之積，作為在欠缺部分計(jì)數(shù)的結(jié)果，進(jìn)行再次補(bǔ)充，再次求出并更新排列 在所述排列部分的所述放射線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率，這時(shí)，假定處在欠缺部分的所述放射 線檢測(cè)元件的檢測(cè)效率維持規(guī)定的數(shù)值不變。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的放射線斷層攝影裝置，其特征在于，所述關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充機(jī)構(gòu)對(duì)從構(gòu)成所述檢測(cè)環(huán)的所述放射線檢測(cè)元件取得的同時(shí)事件 數(shù)進(jìn)行平均計(jì)算，將求得的同時(shí)事件數(shù)平均值當(dāng)作假定在所述欠缺部分上計(jì)數(shù)的同時(shí)事件 數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1 5的任意一項(xiàng)所述的放射線斷層攝影裝置，其特征在于，所述放射線檢測(cè)元件至少沿圓形或多邊形排列成弧狀，來構(gòu)成所述放射線檢測(cè)元件排 成一列的單位檢測(cè)環(huán)，多個(gè)所述單位檢測(cè)環(huán)疊層，形成所述檢測(cè)環(huán)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1 6的任意一項(xiàng)所述的放射線斷層攝影裝置，其特征在于，所述檢測(cè)環(huán)具有彼此間隔的多個(gè)欠缺部分。
全文摘要
本發(fā)明提供一種放射線斷層攝影裝置(1)，包括檢測(cè)環(huán)(12)。該檢測(cè)環(huán)(12)具備沒有排列閃爍晶體的欠缺部分。另外，本發(fā)明的放射線斷層攝影裝置(1)還具備關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部(30)。關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部(30)形成檢測(cè)環(huán)(12)實(shí)際具備的第1閃爍晶體假定處在欠缺部分時(shí)的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)，將其追加到關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部(31)并進(jìn)行保存，從而補(bǔ)充欠缺部分的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。這樣，關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)補(bǔ)充部(30)可取得假定閃爍晶體排列在欠缺部分時(shí)得到的位置信息和與之對(duì)應(yīng)的同時(shí)事件數(shù)。由此，根據(jù)本發(fā)明，能夠得到高度真實(shí)的閃爍晶體的檢測(cè)效率。因此，根據(jù)本發(fā)明，能夠提供一種可生成適于診斷的放射線斷層圖像的放射線斷層攝影裝置(1)。
文檔編號(hào)G01T1/161GK102007430SQ200880128700
公開日2011年4月6日 申請(qǐng)日期2008年9月5日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月31日
發(fā)明者北村圭司, 橋爪宣彌 申請(qǐng)人:株式會(huì)社島津制作所