專利名稱：?jiǎn)伟宓碾娐窚y(cè)試方法和單板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及芯片測(cè)試技術(shù)，特別涉及單板的電路測(cè)試方法和單板。
背景技術(shù)：
隨著電路技術(shù)進(jìn)入超大規(guī)模集成時(shí)代，電路的測(cè)試更加復(fù)雜，而聯(lián)合測(cè)
試行動(dòng)組(Joint Test Action Group, JTAG)技術(shù)的發(fā)展促進(jìn)了現(xiàn)代單板測(cè)試 技術(shù)的發(fā)展。JTAG是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議，主要用于芯片的內(nèi)部測(cè)試，基 本原理是在電子器件內(nèi)部定義一個(gè)測(cè)試訪問口 ，在這個(gè)測(cè)試訪問口連4^專用 的JTAG測(cè)試工具進(jìn)行內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的測(cè)試，允許多個(gè)器件通過JTAG接口串聯(lián)在一 起形成一個(gè)JTAG鏈來測(cè)試，現(xiàn)在許多集成電路(IC)器件都能通過JTAG進(jìn)行 測(cè)試，這些器件稱為JTAG器件。
在許多單板即印制電路板(PCB )設(shè)計(jì)中，將多個(gè)JTAG器件串聯(lián)成一條 鏈，這樣在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，可以將所述多個(gè)串聯(lián)的JTAG器件與JTAG測(cè)試工具串 聯(lián)成JTAG鏈進(jìn)行測(cè)試，方便生產(chǎn)調(diào)試。由于結(jié)構(gòu)或者擴(kuò)展功能等需求，通過 連接器或連接接口在較大PCB上擴(kuò)展一塊或者多塊小的PCB板，所述大的PCB 板即為底板，而所述一塊或多塊小的PCB板即為扣板(子卡)。若擴(kuò)展的扣板 上存在JTAG器件，由于生產(chǎn)、調(diào)試以及通itJTAG鏈在線升級(jí)軟件等需求存在， 在設(shè)計(jì)底板和扣板時(shí)會(huì)將底板上的JTAG器件串聯(lián)成一條IC鏈，而扣板上的 JTAG器件串聯(lián)成另 一條IC鏈，這樣可以對(duì)底板上和扣板上的JTAG器件單獨(dú)進(jìn) 行JTAG成鏈測(cè)試；或?qū)⒖郯迳系腏TAG器件和底板上的JTAG器件串聯(lián)成一條 IC鏈，這樣在進(jìn)行JTAG測(cè)試時(shí)，在所述IC鏈中串耳關(guān)入JTAG測(cè)試工具形成JTAG 鏈即可進(jìn)4于方i"更的測(cè)試。
以底板上有兩個(gè)JTAG器件ICO和ICn，且該底板能擴(kuò)展一個(gè)扣板，在扣板 上有兩個(gè)JTAG器件ICxl和ICxl為例，參閱圖la,為底板和扣板處在JTAG測(cè)試 狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖，扣板上的IC器件和底板上的IC器件通過連接器連接，且 在進(jìn)行JTAG測(cè)試時(shí)，JTAG測(cè)試設(shè)備、IC0、連接器、扣板上的ICxl、 ICx2、 連接器、ICn及JTAG接口串聯(lián)成一條JTAG鏈進(jìn)行測(cè)試；參閱圖lb,為底板處 在JTAG測(cè)試狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖，扣板上的IC器件通過連接器和底板連接，且底板在進(jìn)行JTAG測(cè)試時(shí)，JTAG接口、 IC0、 ICn及JTAG接口串聯(lián)成一條JTAG
鏈進(jìn)4于測(cè)試。
對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)中擴(kuò)展的單板進(jìn)行JTAG測(cè)試的實(shí)踐和研究過程中，本發(fā) 明的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)
對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)中底板和扣板上的JTAG器件單獨(dú)形成不同的JTAG鏈進(jìn)行 測(cè)試時(shí)，需要對(duì)底板和扣板上的器件分別測(cè)試，如果底板能擴(kuò)展三個(gè)以上甚 至更多扣板時(shí)，需要進(jìn)行多次測(cè)試，這樣測(cè)試程序比較繁瑣；且并不能測(cè)試 扣板上的JTAG器件連接到底板后的性能。
對(duì)于底板和扣板上的JTAG鏈能串聯(lián)成一條IC鏈來說，由于PCB產(chǎn)品功能 需求的不同，扣板存在需要接入底板的應(yīng)用場(chǎng)景，也存在不需要接入底板的 應(yīng)用場(chǎng)景，即扣板存在不在位或者在位的應(yīng)用情況。現(xiàn)有技術(shù)中，若扣板在 不在位的應(yīng)用情況下，扣板上所有電子器件與底板斷開連接，則扣板上的JTAG 器件不能串聯(lián)入底板的IC鏈中，這樣在進(jìn)行JTAG測(cè)試時(shí)，底板上的JTAG器件 和JTAG測(cè)試設(shè)備則不能形成JTAG鏈，使得底板上的IC器件的測(cè)試需要通過其 它方法進(jìn)行測(cè)試，增加了測(cè)試的復(fù)雜程度。
總之，現(xiàn)有技術(shù)中，單板進(jìn)行JTAG測(cè)試時(shí)，比較繁瑣，效率較低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供單板的電路測(cè)試方法和單板，使得對(duì)扣板和底板上IC器件的
測(cè)試得到簡(jiǎn)化。
本發(fā)明提供的一種單板，包括
選擇才莫塊，所述選擇模塊包括至少一個(gè)控制選擇端；
扣板擴(kuò)展模塊，所述扣板擴(kuò)展才莫塊包括至少 一個(gè)指示狀態(tài)的狀態(tài)控制端；
所述選擇模塊與所述單板上的電子器件串聯(lián)連接成第一 串聯(lián)鏈；
所述扣板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)控制端和所述選擇模塊的控制選擇端相連接；
所述選擇模塊，用于在所述控制選擇端接收到所述扣板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)
控制端輸出的信號(hào)指示所述扣板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)為不在位時(shí)，使所述第一串
聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)。一種單板的電路測(cè)試方法，包括 獲取扣板是否在位的狀態(tài)信號(hào)；
沖艮據(jù)所述狀態(tài)信號(hào)的值，使所述單板上的第 一 串聯(lián)鏈處于連通或者斷開 狀態(tài)，所述第一串聯(lián)鏈由所述單板上的電子器件串聯(lián)形成。
可見，本發(fā)明的單板進(jìn)行電路測(cè)試時(shí)，扣板擴(kuò)展才莫塊將扣板在位或不在 位的狀態(tài)信號(hào)輸出到選擇模塊的控制選擇端，來控制選擇模塊進(jìn)行電路測(cè)試 鏈的選擇，本發(fā)明中在扣板擴(kuò)展模塊中的扣板模塊不在位時(shí)，可以形成電路 測(cè)試鏈，當(dāng)在位時(shí)也可以形成電路測(cè)試鏈，簡(jiǎn)化了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)電子器件進(jìn)
行測(cè)試的過程中單板和扣板擴(kuò)展模塊需要進(jìn)行單獨(dú)成鏈測(cè)試的流程；且本發(fā) 明的方案比較簡(jiǎn)單，不需要對(duì)底板和扣板做很大的改變即可實(shí)現(xiàn)。


為了更清楚地說明本J^明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的4支術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí) 施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面 描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講， 在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。 圖la是現(xiàn)有技術(shù)中一種擴(kuò)展的PCB板的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖lb是現(xiàn)有技術(shù)中另 一種擴(kuò)展的PCB板的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2是本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種單板的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖； 圖3a是本發(fā)明實(shí)施例一的單板中的選擇模塊的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖； 圖3b是本發(fā)明實(shí)施例一的單板中的另 一中選擇才莫塊的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖； 圖4是本發(fā)明實(shí)施例一的單板中的扣板擴(kuò)展模塊的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖； 圖5是本發(fā)明實(shí)施例一在實(shí)際應(yīng)用中一種具體的單板的電路圖； 圖6是本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種單板的邏輯結(jié)構(gòu)示意圖； 圖7是本發(fā)明實(shí)施例三提供的一種測(cè)試單板電路的方法。
具體實(shí)施例方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行 清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作 出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。 實(shí)施例一
請(qǐng)參閱圖2, —種單板IO,圖2為單板10處在JTAG測(cè)試狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖， 所述單板10包括扣板擴(kuò)展模塊11 、選擇模塊12和至少一個(gè)支持JTAG協(xié)議的電 子器件(圖2以ICyl、 ICy2和ICyn為例，但不限于此)。其中
扣板擴(kuò)展模塊11包括至少一個(gè)指示狀態(tài)的狀態(tài)控制端4，可以理解，扣板 擴(kuò)展模塊11是單板10上可以擴(kuò)展扣板的模塊，用來掛載扣板，從狀態(tài)控制端4 輸出的信號(hào)用以指示扣板擴(kuò)展模塊ll是否在位的狀態(tài)，即指示掛載的扣板是 否運(yùn)作的狀態(tài)信號(hào)或指示扣板擴(kuò)展模塊ll是否掛載了扣板。
選捧模塊12包括至少一個(gè)控制選擇端0，扣板擴(kuò)展模塊11的狀態(tài)控制端4 和選擇模塊12的控制選擇端0相連接。
本實(shí)施例以兩個(gè)串聯(lián)鏈為例說明，即擴(kuò)版擴(kuò)展模塊ll可以擴(kuò)展一個(gè)扣板， 但是不限于此。所述選擇模塊12的端口 l及端口 2與所述單板10上支持JTAG協(xié) 議的電子器件ICyl、 ICy2和ICyn串聯(lián)連接成第一串聯(lián)鏈；所述選擇模塊12的 端口 i及端口3、扣板擴(kuò)展模塊11及單板10上支持JTAG協(xié)議的電子器件ICyl、 ICy2和ICyn串聯(lián)連4婁成一個(gè)子串聯(lián)鏈。
所述選擇模塊12的端口1可以是輸入端，也可以是輸出端；端口2和3可以 同時(shí)是輸入端，也可以同時(shí)是輸出端。選擇模塊12是一個(gè)選擇電路，在本實(shí) 施例中實(shí)現(xiàn)二選一的功能，即可以根據(jù)端口O所接收的信號(hào)，4吏得第一串聯(lián)鏈 處于連通狀態(tài)而子串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)，或者也可以使得子串聯(lián)鏈處于連通 狀態(tài)第 一 串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)。連接;漠塊12可以使用 一個(gè)具有二選一功能的 電子邏輯器件(Programmable Logic Device, PLD)實(shí)現(xiàn)。
在一種具體的應(yīng)用場(chǎng)景中，選擇模塊12,用于在所述控制選擇端0接收到 所述扣板擴(kuò)展模塊11的端口4輸出的信號(hào)指示所述扣板擴(kuò)展模塊11的狀態(tài)為 不在位時(shí)，^吏得第一串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)；在所述控制選擇端0接收到所述扣 板擴(kuò)展模塊11的端口4輸出的信號(hào)指示所述扣斧反擴(kuò)展才莫塊11的狀態(tài)為在位時(shí)， 使第一串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)。在另一種具體的應(yīng)用場(chǎng)景中，選擇模塊12，用于在所述控制選擇端O接收
到所述扣板擴(kuò)展模塊11的端口 4輸出的信號(hào)指示所述扣板擴(kuò)展模塊11的狀態(tài) 為不在位時(shí)，使得第一串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)子串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)；在所述 控制選擇端O接收到所述扣板擴(kuò)展模塊ll的端口 4輸出的信號(hào)指示所述扣板擴(kuò) 展模塊ll的狀態(tài)為在位時(shí)，使得子串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)，第一串聯(lián)鏈處于斷 開狀態(tài)。
當(dāng)上述單板10處在JTAG測(cè)試階段時(shí)，本發(fā)明實(shí)施例提供的單板10上的 JTAG器件與JTAG測(cè)試設(shè)備連接。
可以理解，扣板擴(kuò)展模塊11輸出到選擇模塊12的控制選擇端0狀態(tài)信號(hào)的 邏輯值，取決于選擇模塊12內(nèi)部的電路結(jié)構(gòu)，例如當(dāng)選擇模塊12從控制選 擇端0接收的信號(hào)的邏輯值為0時(shí)，端口 l和3之間的開關(guān)電路處于導(dǎo)通狀態(tài)， 則將狀態(tài)控制端4輸出的扣板擴(kuò)展^f莫塊11的在位信號(hào)狀態(tài)設(shè)定為0;同樣如果 選擇模塊12在從控制選擇端0接收的信號(hào)的邏輯值為1時(shí)，端口 l和2之間的開 關(guān)電路處于導(dǎo)通狀態(tài)，則將狀態(tài)控制端4輸出的扣板擴(kuò)展才莫塊11的不在位信號(hào) 的邏輯值為設(shè)定為l。其中選擇模塊12可以是選擇開關(guān)(模擬或數(shù)字)或電子 選擇器件，也可以是其它的可編程邏輯器件(如FPGA、 PLD)等，這并不構(gòu) 成對(duì)本發(fā)明的限制。
參閱圖3a，為選擇才莫塊12的一種實(shí)現(xiàn)方式，用以實(shí)現(xiàn)多選一的功能，即 從多個(gè)串聯(lián)的JTAG鏈路中選擇一個(gè)鏈路使其處于導(dǎo)通狀態(tài)。本實(shí)施例以實(shí)現(xiàn) 二選一的功能為例進(jìn)行詳細(xì)說明。選擇模塊12可以包括功能相同的兩個(gè)可控 開關(guān)120和121及信號(hào)取反模塊123，所述可控開關(guān)120和121分別包括兩個(gè)輸出 端和一個(gè)控制端，則可控開關(guān)120和121用于根據(jù)控制端接收的信號(hào)接通或斷 開所述輸出端之間的連接；信號(hào)取反^f莫塊123,包括一個(gè)輸入端O和一個(gè)輸出 端，用于將所述輸入端接收的信號(hào)的邏輯值取反，并通過所述輸出端輸出邏 輯值取反后的信號(hào)。
可控開關(guān)121的控制端與信號(hào)取反模塊123的輸入端0連接，兩個(gè)輸出端l 和2串聯(lián)連入所述第 一 串聯(lián)鏈中；可控開關(guān)120的控制端與信號(hào)取反模塊123的 輸出端連接，兩個(gè)輸出端1和3串聯(lián)連入所述子串聯(lián)鏈中；且信號(hào)取反模塊123的輸入端0與所述扣板擴(kuò)展模塊l 1的狀態(tài)控制端4。
這種結(jié)構(gòu)的選擇模塊12中的可控開關(guān)120和121需要根據(jù)各自控制端輸入 的信號(hào)來控制兩個(gè)輸出端的導(dǎo)通或斷開，可以為繼電器或三極管或場(chǎng)效應(yīng)晶 體管(MOS)或邏輯器件等，且信號(hào)取反模塊123可以是非門或邏輯器件等可 以輸出和輸入端邏輯值相反的信號(hào)的模塊；且可控開關(guān)120和121需要具有相 同的特性，即兩個(gè)可控開關(guān)在控制端輸入同樣信號(hào)的情況下，可控開關(guān)同時(shí) 處于導(dǎo)通或斷開狀態(tài)，這樣兩個(gè)可控開關(guān)在信號(hào)取反^f莫塊123的控制下，可以 實(shí)現(xiàn)二選一的功能當(dāng)信號(hào)取反模塊123的輸入端(即選擇模塊12的控制選擇 端0)輸入扣板控制模塊ll的狀態(tài)信號(hào)時(shí)，端口1和2連通，而端口1和3斷開， 或端口1和2斷開，而端口1和3連通，達(dá)到了選擇串聯(lián)鏈的目的。
參閱圖3b,為選擇^^塊12的一種實(shí)現(xiàn)方式，用以實(shí)現(xiàn)二選一的功能?？?以理解，選擇模塊12也可以包括功能相反的兩個(gè)可控開關(guān)130和131，可控開 關(guān)131的兩個(gè)輸出端1和2串聯(lián)連入所述第一串聯(lián)鏈中，可控開關(guān)130的兩個(gè)輸 出端1和3串聯(lián)連入所述子串聯(lián)鏈中，二者的控制端連接為選擇模塊12的控制 選擇端O。這里所述的功能相反指兩個(gè)可控開關(guān)的控制端接收到相同邏輯值的 信號(hào)后，可控開關(guān)130的輸出端斷開且可控開關(guān)131的輸出端連通或可控開關(guān) 130的輸出端連通且可控開關(guān)131的輸出端斷開，這樣在控制端(選褲"漠塊12 的控制選擇端O)輸入相同邏輯值的信號(hào)后，由于可控開關(guān)130和131的特性相 反，則端口1和2連通，而端口1和3斷開，或端口1和2斷開，而端口1和3連通， 達(dá)到了選擇串聯(lián)鏈的目的。
參閱圖4所示，為扣板擴(kuò)展模塊ll的一種實(shí)施方式，可以根據(jù)扣板擴(kuò)展模 塊的在位或不在位的狀態(tài)輸出信號(hào)?？郯鍞U(kuò)展模塊ll可以包括至少一個(gè)扣板 子模塊110即單板上擴(kuò)展的扣板和控制子模塊111,控制子模塊111可以在單板 IO上，也可以在扣板子模塊110上；扣板子模塊指扣板，即單板10可以擴(kuò)展至 少一個(gè)扣板，本實(shí)施例中以一個(gè)扣板作為扣板子模塊為例說明，則扣板擴(kuò)展 模塊11的狀態(tài)控制端4是用來指示扣板子模塊110的狀態(tài)即是否在位的情況， 扣板子模塊110上包括至少一個(gè)支持JTAG協(xié)議的器件(本圖以ICxl和ICx2為例 進(jìn)行說明)，其中扣板子模塊110與控制子模塊111相連，且扣板子模塊IIO上ICxl和ICx2聯(lián)入所述子串聯(lián)鏈中。
控制子模塊111用于指示扣板子模塊110是否在位的狀態(tài)，可以用一個(gè)邏輯 器件實(shí)現(xiàn)，與扣板子模塊110連接，根據(jù)扣板子模塊110的狀態(tài)通過狀態(tài)控制 端4輸出相應(yīng)的信號(hào)。
控制子模塊lll還可以是通過上拉電阻(或下拉電阻)，將電阻接到電源 端(或?qū)㈦娮杞尤氲?輸出的固定電平信號(hào)或邏輯器件輸出智能控制信號(hào)來 控制選擇模塊12選擇進(jìn)行JTAG測(cè)試的串聯(lián)鏈。可見控制子模塊lll有多種具體 的實(shí)現(xiàn)方式，且控制子模塊111可以包括在扣板子模塊110中，也可以包括在扣 板擴(kuò)展模塊ll中，這并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。
可以理解，上述選擇模塊12的控制選擇端0輸入的信號(hào)可以人控制，則扣 板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)控制端4和選擇模塊12的控制選擇端0通過控制開關(guān)連接， 而此控制開關(guān)可以人為控制它的通斷。
如圖5所示，為在實(shí)際應(yīng)用中的單板200進(jìn)行JTAG測(cè)試時(shí)的結(jié)構(gòu)圖，圖中， 扣板擴(kuò)展模塊220包括一個(gè)扣板子模塊222,控制子模塊用電阻R221的上下拉 來實(shí)現(xiàn)，且在扣板子模塊222上包括一個(gè)支持JTAG協(xié)議的器件ICx,利用本發(fā) 明實(shí)施例的200在進(jìn)行JTAG測(cè)試時(shí)，可以簡(jiǎn)化測(cè)試、調(diào)試的過程。
當(dāng)扣板子模塊222在位時(shí)，通過電阻R221接入到地輸出低電平或通過扣板 擴(kuò)展模塊上的邏輯器件輸出低電平到選擇器件210的控制選擇端，控制選擇器 件210選通A通道，這樣JTAG鏈的路徑是JTAG測(cè)試設(shè)備IOO - ICO -選擇器 件210的2A選擇端-選擇器件210的2A選擇端對(duì)應(yīng)的輸出端2Y - Rl - ICx -選 擇器件210的1A端口 -選擇器件210的1A端口對(duì)應(yīng)的輸出端1Y- R0- ICn-JTAG測(cè)試設(shè)備l 00 ，這樣扣板子模塊222上的JTAG器件、單板200上的JTAG器 件和JTAG測(cè)試設(shè)備100組成了 一個(gè)JTAG鏈進(jìn)行測(cè)試。
當(dāng)扣板不在位時(shí)，通過電阻R2214矣入到電源端(VCC )輸出高電平到選 擇器件ICa的控制選擇端，選擇器件210選通B通道，這樣JTAG鏈的路徑是 JTAG測(cè)試設(shè)備IOO - ICO -選擇器件210的選擇端1B -選擇器件210的選擇端 1B對(duì)應(yīng)的輸出端1Y - RO - ICn - JTAG測(cè)試設(shè)備100,這樣只有單板200上的 JTAG器件和JTAG測(cè)試設(shè)備l OO組成JTAG鏈進(jìn)行測(cè)試?？梢?，本實(shí)施例提供的單板在進(jìn)行JTAG測(cè)試時(shí)，通過扣板在位或不在位
的狀態(tài)信號(hào)，選擇一個(gè)可以導(dǎo)通的JTAG鏈，本實(shí)施例提供的單板，在扣板擴(kuò) 展模塊中的扣板模塊不在位時(shí)可以形成導(dǎo)通的JTAG鏈，當(dāng)扣板模塊在位時(shí)也 可以形成導(dǎo)通的JTAG鏈，筒化了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)電子器件進(jìn)行測(cè)試的過程中單 板和扣板擴(kuò)展模塊需要進(jìn)行單獨(dú)成鏈測(cè)試的流程。本實(shí)施例以JTAG協(xié)議為例 進(jìn)行說明，但是對(duì)于其它電路測(cè)試協(xié)議也同樣適用，并不限于JTAG協(xié)議。
實(shí)施例二
請(qǐng)參閱圖6， 一種單板20，結(jié)構(gòu)示意圖如圖6所示，包括 扣板擴(kuò)展模塊21、選擇模塊22和至少一個(gè)JTAG器件(本實(shí)施例以ICal、
ICa2和ICan為例進(jìn)行說明，但不限于此)。
圖6為單板20處于JTAG測(cè)試狀態(tài)的結(jié)構(gòu)圖，測(cè)試設(shè)備JTAG測(cè)試設(shè)備23與
本實(shí)施例所所提供的單板20串聯(lián)連接。其中
可以理解，扣板擴(kuò)展模塊21是單板20上可以擴(kuò)展扣板的模塊。 在一種應(yīng)用場(chǎng)景下，扣板擴(kuò)展模塊21可包括扣板子模塊211及扣板子模塊
211對(duì)應(yīng)的控制子模塊213，在扣板子模塊211上包括至少一個(gè)JTAG器件 (ICbl);扣板子模塊210及其對(duì)應(yīng)的控制子模塊212,在扣板子模塊210上包
括至少一個(gè)JTAG器件(ICcl )。
可以理解，本實(shí)施例中扣板子模塊211和210可以是嵌套的，如扣板子模
塊210是在扣板子模塊211上擴(kuò)展的PCB板。它們各自對(duì)應(yīng)的控制子模塊213和
212的具體實(shí)現(xiàn)電路如實(shí)施例一所述，用來根據(jù)扣板子模塊的在位狀態(tài)輸出控
制信號(hào)，可以是狀態(tài)邏輯器件，也可以是上拉電阻或下拉電阻，這并不構(gòu)成
對(duì)本發(fā)明的限制。
選擇模塊22根據(jù)扣板擴(kuò)展模塊21輸入的扣板子模塊211及扣板子模塊210 在位或不在位信號(hào)，選擇可以導(dǎo)通的JTAG鏈。以下以選擇模塊22可以從兩個(gè) JTAG鏈中選擇一條可以導(dǎo)通的JTAG鏈的應(yīng)用場(chǎng)景，作進(jìn)一步說明。選擇模塊 22可進(jìn)一步包括選擇子模塊220、 221和222,兩個(gè)控制選擇端0和1，分別接 收扣板子模塊211和扣板子模塊210在位或不在位的信號(hào)。
可以理解，選擇子模塊220、 221和222的具體實(shí)現(xiàn)如圖3a或圖3b所述，可以是選擇開關(guān)或二選一的電子邏輯器件等。
上述扣板擴(kuò)展模塊21的兩個(gè)狀態(tài)控制端為2和3,分別為控制子模塊213和 212的一端，控制子模塊213和212的另一端分別與扣板子模塊211和210連接， 通過端口2和3分別輸出指示扣板子模塊211和210在位或者不在位的狀態(tài)信
，
所述扣板擴(kuò)展才莫塊21的兩個(gè)狀態(tài)控制端2和3分別與所述選擇;f莫塊22的兩 個(gè)控制選擇端0和1連接，其中選擇模塊22的控制選擇端0為選擇子模塊220的 控制選擇端，而選擇子模塊221與222的控制選擇端連接為選擇模塊22的另一 個(gè)控制選擇端l。單板20上的JTAG器件(圖6的ICal、 ICa2和ICan)、選擇模塊 22中的選擇子模塊220、選擇子模塊221串聯(lián)連接成第一串聯(lián)鏈；單板20上的 JTAG器件、選擇子模塊220、扣板子模塊211上的JTAG器件、選擇子模塊222、 扣板子模塊210上的JTAG器件串聯(lián)連接成一個(gè)子串聯(lián)鏈；單板20上的JTAG器 件、選擇子模塊220、選擇子模塊221、扣板子模塊210上的JTAG器件串聯(lián)連接 成另一子串聯(lián)鏈；單板20上的JTAG器件、選擇子模塊220、扣板子模塊211上 的JTAG器件、選擇子模塊222串聯(lián)連接成又一子串聯(lián)鏈。
由于扣板擴(kuò)展模塊21包括兩個(gè)扣板擴(kuò)展模塊，因此扣板擴(kuò)展模塊有四種 狀態(tài)即扣板子才莫塊211和210都在位，都不在位，扣寺反子沖莫塊211在位、而扣 板子模塊210不在位，扣板子模塊211不在位、而扣板子模塊210在位。假設(shè)它 們的不在位信號(hào)用O信號(hào)來表示，在位信號(hào)用l來表示。
這樣本實(shí)施例的單板20進(jìn)行測(cè)試時(shí)，是通過如下方法實(shí)現(xiàn)當(dāng)選4Nt塊 22的控制選擇端0和1接到的信號(hào)為0和0，則扣板子模塊211和210都不在位， 則通過選擇模塊22中的選擇子模塊220、 221和222進(jìn)行選擇的JTAG測(cè)試路徑 為JTAG測(cè)試設(shè)備-ICal -選擇子模塊220 -選擇子模塊221 - ICa2 - ICan的 串聯(lián)鏈；
當(dāng)選擇模塊22的控制選擇端0和1接到的信號(hào)為1和1，則扣板子模塊211和 210都在位，則通過選擇模塊22中的選擇子模塊220、221和222進(jìn)行選擇的JTAG 測(cè)試路徑為JTAG測(cè)試設(shè)備-ICal -選擇子沖莫塊220 -扣板子模塊211中的 JTAG器件ICbl -選擇子模塊222 -扣板子模塊210中的JTAG器件ICcl - ICa2-ICan的串聯(lián)鏈。
當(dāng)選擇模塊22的控制選擇端0和1接到的信號(hào)為0和1 ，則扣板子模塊211不 在位，而扣板子模塊210在位，則通過選擇模塊22中的選擇子模塊220、 221和 222進(jìn)行選擇的JTAG測(cè)試路徑為JTAG測(cè)試設(shè)備-ICal -選擇子模塊220 -選 擇子模塊221 -扣板子模塊210中的JTAG器件ICcl - ICa2 - ICan的串聯(lián)鏈；
當(dāng)選擇模塊22的控制選擇端0和1接到的信號(hào)為1和0，則扣板子模塊211在 位，而扣板子模塊210不在位，則通過選擇模塊22中的選擇子模塊220、 221和 222進(jìn)行選^奪的JTAG測(cè)試^各徑為JTAG測(cè)試設(shè)備- ICal _選擇子才莫塊220 -扣 板子模塊211中的JTAG器件ICbl -選擇子模塊222 - ICa2 - ICan的串聯(lián)鏈。
本實(shí)施例中扣板擴(kuò)展模塊21包括兩個(gè)扣板子模塊，單板20中選擇模塊22 中的選擇子模塊根據(jù)所述兩個(gè)扣板子模塊在位或不在位的狀態(tài)信號(hào)，來選擇 適當(dāng)?shù)腏TAG測(cè)試鏈，簡(jiǎn)化了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)電子器件進(jìn)行測(cè)試的過程中單板和 扣板擴(kuò)展模塊21中的扣板子模塊需要進(jìn)行單獨(dú)成鏈測(cè)試的流程；且本發(fā)明的 方案比較簡(jiǎn)單，不需要對(duì)底板和扣板做很大的改變即可實(shí)現(xiàn)。
從上述實(shí)施例可知，在其他的實(shí)施例中，如果單板的扣板擴(kuò)展;^莫塊中包 括N個(gè)扣板子模塊(N位大于等于l的自然數(shù))，它們的狀態(tài)信號(hào)有2^則單板 的選擇模塊包括N個(gè)控制選擇端，且選擇模塊可以選擇2N條不同的JTAG鏈路 進(jìn)行測(cè)試，選擇模塊的實(shí)現(xiàn)可以通過多個(gè)二選一的選擇子模塊或通過多選一 的電子邏輯器件來實(shí)現(xiàn)。
可見，本實(shí)施例提供的單板進(jìn)行電路測(cè)試時(shí)，扣板擴(kuò)展模塊將扣板在位 或不在位的狀態(tài)信號(hào)輸出到選擇模塊的控制選擇端，來控制選擇模塊進(jìn)行 JTAG鏈的選擇，本實(shí)施例提供的單板，在單板上的扣板擴(kuò)展模塊中的扣板模 塊不在位時(shí)可以形成JTAG鏈，當(dāng)在位時(shí)也可以形成JTAG鏈，簡(jiǎn)化了現(xiàn)有技術(shù) 中對(duì)電子器件進(jìn)行測(cè)試的過程中單板和扣板擴(kuò)展才莫塊需要進(jìn)行單獨(dú)成鏈測(cè)試 的流程；且本實(shí)施例提供的方案比較簡(jiǎn)單，不需要對(duì)底板和扣板做很大的改 變即可實(shí)現(xiàn)。本實(shí)施例以JTAG協(xié)議為例進(jìn)行說明，但是對(duì)于其它電路測(cè)試協(xié) 議也同樣適用，并不限于JTAG協(xié)議。
實(shí)施例三請(qǐng)參閱圖7， 一種單板的電路測(cè)試方法，包括 步驟301,獲取扣板是否在位的狀態(tài)信號(hào)。
狀態(tài)信號(hào)用于指示單板上的扣板是否在位，例如，如果扣板在位，狀態(tài) 信號(hào)的值為O,如果扣板不在位，狀態(tài)信號(hào)的值為l。可以通過一個(gè)控制模塊 得到扣板在位與否的狀態(tài)信號(hào)，如可通過上拉電阻(或下拉電阻)，將電阻接
到電源端(或?qū)㈦娮杞尤氲?輸出的固定電平信號(hào)或邏輯器件輸出智能控制 信號(hào)作為狀態(tài)信號(hào)。
步驟302,根據(jù)所述狀態(tài)信號(hào)的值，使所述單板上的第一串聯(lián)鏈處于連通 或者斷開狀態(tài)，所述第 一 串聯(lián)鏈由所述單板上的電子器件串聯(lián)形成。
如果扣板不在位，單板上的電子器件和扣板無法形成串聯(lián)電路，為了測(cè) 試單板上的電路，需要使單板上的電子器件串聯(lián)形成第一串聯(lián)鏈；如果扣板 在位，單板上的電子器件和扣板上的電子器件可以形成串聯(lián)電路，因而可以 將扣板上的電子器件和單板上的電子器件串聯(lián)，形成子串聯(lián)鏈。
利用一個(gè)二選一的選捧電路，根據(jù)步驟301獲得的狀態(tài)信號(hào)的值，使不同 的鏈路處于連通狀態(tài)，當(dāng)狀態(tài)信號(hào)的值指示扣板在位時(shí)，使第一串聯(lián)鏈處于 連通狀態(tài)，使子串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)；或者如果狀態(tài)信號(hào)的值指示扣板不在 位，使第一串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)，使所述子串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)。選擇電路 可以采用圖3a或圖3b給出的實(shí)施例。
但是單板上可能掛載多個(gè)扣板，因而可以形成不同的子串聯(lián)鏈，這種情 況下，可以利用一個(gè)多選一的選擇電路(或者多個(gè)二選一的選擇電路)，根據(jù) 不同扣板在位與否的情況，選擇不同的子串聯(lián)鏈，使子串聯(lián)鏈處于導(dǎo)通狀態(tài)； 如果所有的扣板都不在位，則使第 一 串聯(lián)鏈處于導(dǎo)通狀態(tài)。
單板上的電子器件或者扣板上的電子器件，可以是支持JTAG協(xié)議的電子 器件，也可以支持其它測(cè)試協(xié)議的電子器件。
可見，本實(shí)施例提供的方法進(jìn)行電路測(cè)試時(shí)，可以根據(jù)扣板在位或不在 位的狀態(tài)信號(hào)選擇鏈路，筒化了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)電子器件進(jìn)行測(cè)試的過程中單 板和扣板擴(kuò)展模塊需要進(jìn)行單獨(dú)成鏈測(cè)試的流程；且本實(shí)施例提供的方案比 較簡(jiǎn)單，不需要對(duì)底板和扣板做很大的改變即可實(shí)現(xiàn)。
15以上對(duì)本發(fā)明實(shí)施例所提供的單板的電路測(cè)試方法和單板進(jìn)行了詳細(xì)介
上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時(shí)，對(duì)于
本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實(shí)施方式
及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
權(quán)利要求
1、一種單板，其特征在于，所述單板包括選擇模塊，所述選擇模塊包括至少一個(gè)控制選擇端；扣板擴(kuò)展模塊，所述扣板擴(kuò)展模塊包括至少一個(gè)指示狀態(tài)的狀態(tài)控制端；所述選擇模塊與所述單板上的電子器件串聯(lián)連接成第一串聯(lián)鏈；所述扣板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)控制端和所述選擇模塊的控制選擇端相連接；所述選擇模塊，用于在所述控制選擇端接收到所述扣板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)控制端輸出的信號(hào)指示所述扣板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)為不在位時(shí)，使所述第一串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)。
2、 如權(quán)利要求l所述的單板，其特征在于，所述選擇模塊、所述單板上 的電子器件和所述扣板擴(kuò)展模塊串聯(lián)連接成至少一個(gè)子串聯(lián)鏈；所述選擇模塊包括第 一子選擇模塊和第二子選擇模塊，所述第 一子選擇 模塊，用于在所述控制選擇端接收到所述扣板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)控制端輸出的 信號(hào)指示所述扣板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)為不在位時(shí)，使所述第一串聯(lián)鏈處于連通 狀態(tài)，同時(shí)使所述子串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)；所述第二子選擇模塊，在所述控制選擇端接收到所述扣板擴(kuò)展模塊的狀 態(tài)控制端輸出的信號(hào)指示所述扣板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)為在位時(shí)，使所述第一串 聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)，同時(shí)使至少 一個(gè)所述子串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)。
3、 如權(quán)利要求l所述的單板，其特征在于，所述單板上的電子器件是支 持聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組JTAG協(xié)議的電子器件。
4、 如權(quán)利要求2或3所述的單板，其特征在于，所述選擇模塊包括 所述第 一選擇子模塊和所述第二選擇子模塊為功能相同的可控開關(guān)，所述可控開關(guān)包括兩個(gè)輸出端和一個(gè)控制端，根據(jù)所述控制端接收的信號(hào)接通 或斷開所述輸出端之間的連接；信號(hào)取反模塊，包括一個(gè)輸入端和一個(gè)輸出端，所述信號(hào)取反模塊用于 將所述輸入端接收的信號(hào)的邏輯值取反，并通過所述輸出端輸出邏輯值取反 后的信號(hào)；所述第一選擇子模塊的控制端與所述信號(hào)取反模塊的輸入端連接，兩個(gè) 輸出端串聯(lián)連入所述第 一 串聯(lián)鏈中；第二選擇子模塊的控制端與所述信號(hào)取反模塊的輸出端連接，兩個(gè)輸出端串聯(lián)連入所述子串聯(lián)鏈中；所述信號(hào)取反模塊的輸入端與所述扣板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)控制端相連接。
5、 如權(quán)利要求1或2所述的單板，其特征在于，所述扣板擴(kuò)展模塊包括控 制子模塊；所述控制子模塊包括至少一個(gè)控制端，與所選擇模塊的控制選擇端連接， 用于通過所述控制端輸出指示所述扣板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)信號(hào)。
6、 如權(quán)利要求1或2所述的單板，其特征在于，所述扣板擴(kuò)展模塊包括N 個(gè)扣板子模塊及N個(gè)與所述扣板子模塊對(duì)應(yīng)的控制子模塊，所述扣板子模塊包 括至少一個(gè)電子器件，所述N為大于等于1的自然數(shù)；所述控制子模塊的一端為所述扣板擴(kuò)展模塊的狀態(tài)控制端，所述控制子 模塊的另 一端和對(duì)應(yīng)的扣板子模塊連接，用于指示所述對(duì)應(yīng)的扣板子模塊的 狀態(tài)；所述選擇沖莫塊包括N個(gè)控制選擇端，分別與所述扣板擴(kuò)展模塊的N個(gè)所述 狀態(tài)控制端連接；所述選擇^t塊、所述一個(gè)或多個(gè)扣板子模塊中的電子器件、所述單板上 至少一個(gè)電子器件串聯(lián)形成至少一個(gè)子串聯(lián)鏈。
7、 一種單板的電路測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括 獲取扣板是否在位的狀態(tài)信號(hào)；根據(jù)所述狀態(tài)信號(hào)的值，使所述單板上的第一串聯(lián)鏈處于連通或者斷開 狀態(tài)，所述第一串聯(lián)鏈由所述單板上的電子器件串聯(lián)形成。
8、 如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述4艮據(jù)所述狀態(tài)信號(hào)的值， 使所述單板上的第一串聯(lián)鏈處于連通或者斷開狀態(tài)，包括如果所述狀態(tài)信號(hào)的值指示扣板不在位，使所述第一串聯(lián)鏈處于連通狀 態(tài)；或者，如果所述狀態(tài)信號(hào)的值指示扣板在位，使所述第一串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)。
9、 如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述4艮據(jù)所述狀態(tài)信號(hào)的值， 使所迷單板上的第一串聯(lián)鏈處于連通或者斷開狀態(tài)，包括如果所述狀態(tài)信號(hào)的值指示扣板不在位，使所述第一串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)，使子串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)，所述子串聯(lián)鏈由所述單板上的電子器件和所述扣板上的電子器件串聯(lián)形成；或者，如果所述狀態(tài)信號(hào)指示扣板在位，使所述第一串聯(lián)鏈處于斷開狀態(tài)，使 所述子串聯(lián)鏈處于連通狀態(tài)。
10、如權(quán)利要求7至9任一所述的方法，其特征在于，所述電子器件是支 持JTAG協(xié)議的電子器件。
全文摘要
本發(fā)明提供單板的電路測(cè)試方法和單板，應(yīng)用于芯片測(cè)試技術(shù)。在本發(fā)明的單板進(jìn)行電路測(cè)試時(shí)，扣板擴(kuò)展模塊將扣板在位或不在位的狀態(tài)信號(hào)輸出到選擇模塊的控制選擇端，來控制選擇模塊進(jìn)行電路測(cè)試鏈的選擇，本發(fā)明中在扣板擴(kuò)展模塊中的扣板模塊不在位時(shí)，可以形成電路測(cè)試鏈，當(dāng)在位時(shí)也可以形成電路測(cè)試鏈，簡(jiǎn)化了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)電子器件進(jìn)行測(cè)試的過程中單板和扣板擴(kuò)展模塊需要進(jìn)行單獨(dú)成鏈測(cè)試的流程；且本發(fā)明的方案比較簡(jiǎn)單，不需要對(duì)底板和扣板做很大的改變即可實(shí)現(xiàn)。
文檔編號(hào)G01R31/3185GK101477173SQ20091000604
公開日2009年7月8日 申請(qǐng)日期2009年1月22日 優(yōu)先權(quán)日2009年1月22日
發(fā)明者劉海新, 葉小龍 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司