專利名稱：一種用于測試固體粉末材料電導(dǎo)率的測試裝置及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子設(shè)備測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于測試固體粉末材料，特別
是難于壓制成型的固體粉末材料的電導(dǎo)率的測試裝置及測試方法。
背景技術(shù)：
目前，對固體粉末材料電導(dǎo)率的測試往往采用四探針法和交流阻抗法兩種方法，這兩種方法要求固體粉末材料必須壓制成型后才能進(jìn)行測定。對于很多難于壓制成型的固體粉末，現(xiàn)行這兩種方法具有一定的局限性。為此，在實(shí)際應(yīng)用中，通常向粉末材料中加入一定的粘結(jié)劑，然后再壓制成型進(jìn)行測試。然而，這種方法操作復(fù)雜，而且粘結(jié)劑的加入使得測試結(jié)果存在一定的偏差。因此，迫切需要研究和開發(fā)一種用于測試難于壓制成型的固體粉末材料的電導(dǎo)率的測試裝置及測試方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種固體粉末電導(dǎo)率的測試裝置及測試方法，它能對難以
壓制成型的固體粉末材料進(jìn)行電導(dǎo)率測試。
本發(fā)明的電導(dǎo)率測試裝置，其特征包括 成型殼內(nèi)殼(1)，成型殼外殼(2)，接觸片(3)，絕緣密封圈(4)，電阻測試裝置(5)。其中 兩個接觸片(3)分別與成型殼內(nèi)殼(1)、成型殼外殼(2)連接，絕緣密封圈(4)套在成型殼內(nèi)殼(1)的外部，電阻測試裝置(5)的兩個指針分別與兩個接觸片(3)相連。
所述的成型殼外殼(2)為圓柱形外殼，圓柱形外殼一個底面開口，另一底面中心為直徑2mm的小孔，圓柱形外殼側(cè)面內(nèi)面為螺紋面； 所述的成型殼內(nèi)殼(1)為圓柱形外殼，圓柱形外殼一個底面開口，另一底面中心為直徑2mm的小孔； 所述的接觸片(3)為電導(dǎo)率很高的金屬片或聚合物薄片，分別粘附在成型殼內(nèi)殼(1)和成型殼外殼(2)底面的內(nèi)面上； 所述的絕緣密封圈(4)粘附在成型殼內(nèi)殼(1)側(cè)面外表面上，表面為螺紋面，與成型殼外殼(2)側(cè)面內(nèi)面螺紋面相匹配； 所述的電阻測試裝置(5)為電子萬用表或電化學(xué)工作站等可以測試電阻值的儀器，該裝置包含兩個指針，測試時分別與兩個接觸片(3)相連。 固體粉末電導(dǎo)率的測試裝置，絕緣密封圈避免了成型殼外殼與成型殼內(nèi)殼的接觸，從而避免了成型殼對固體粉末電阻值測試結(jié)果的影響；接觸片為電導(dǎo)率很高的金屬片或聚合物薄片，與向固體粉末中添加粘結(jié)劑相比，對固體粉末電阻值的影響要小得多，從而減小了測量誤差，提高了電導(dǎo)率測試的準(zhǔn)確性。
本發(fā)明的測試方法包括下述步驟 1)固體粉末的填充將所測固體粉末樣品填入成型殼內(nèi)殼(1)內(nèi)，壓實(shí)，粉末高度略大于成型殼內(nèi)殼(1)高度； 2)裝置的密封將成型殼外殼(2)放于成型殼內(nèi)殼(1)上，對準(zhǔn)螺紋擰緊，直至絕緣密封圈(4)邊緣接觸到成型殼外殼(2)底面； 3)電阻的測量將電阻測試裝置(5)的兩個指針分別插入成型殼外殼(2)和成型殼內(nèi)殼(1)底面中心孔內(nèi)并與接觸片(3)很好的接觸，調(diào)節(jié)電阻測試裝置(5)，記錄并分析
其領(lǐng)lj量結(jié)果；
4)計(jì)算電導(dǎo)率
電導(dǎo)率的計(jì)算公式為
o = d/RA (1) 其中，R為電子萬用表的測量值，單位為Q ;A為成型殼內(nèi)殼底面面積，單位為cm2 ;d為成型殼內(nèi)殼內(nèi)筒高度，單位為cm。 本發(fā)明的方法適于固體粉末材料，尤其適于難于壓制成型的固體粉末材料電導(dǎo)率的測試。 本發(fā)明的測試裝置結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，具有較高的可靠性和穩(wěn)定性。


圖l是本發(fā)明的電導(dǎo)率測試裝置示意圖。l為成型殼內(nèi)殼，2為成型殼外殼，3為接觸片，4為絕緣密封圈，5為電阻測試裝置。
圖2為石墨碳材料的伏安曲線關(guān)系圖。
具體實(shí)施例方式
下面通過實(shí)驗(yàn)實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行具體描述，有必要指出的是本實(shí)施例只用于對本發(fā)明做進(jìn)一步說明，不能理解為對本發(fā)明保護(hù)范圍的限制，該領(lǐng)域的技術(shù)熟練人員可以根據(jù)上述本發(fā)明的內(nèi)容做出一些非本質(zhì)的改進(jìn)和調(diào)整。 本發(fā)明利用上述的測試裝置和方法，對石墨碳材料的電導(dǎo)率進(jìn)行測試。將石墨碳粉末材料填充成型殼內(nèi)殼并壓實(shí)，密封裝置后用電子萬用表或電化學(xué)工作站測試石墨碳粉末的電阻值R ;成型殼內(nèi)科底面面積A = 8. 70ci^，成型殼內(nèi)殼內(nèi)筒高度d = 1. OOcm ;將數(shù)據(jù)代入公式(1)中計(jì)算即得到相應(yīng)的電導(dǎo)率。圖2為利用電化學(xué)工作站得到的始末碳的伏安曲線關(guān)系圖，由此圖可以計(jì)算得出石墨碳的電阻值R = 143Q 。
權(quán)利要求
一種用于測試固體粉末材料電導(dǎo)率的測試裝置，包括成型殼內(nèi)殼(1)，成型殼外殼(2)，接觸片(3)，絕緣密封圈(4)，電阻測試裝置(5)，其特征在于兩個接觸片(3)分別與成型殼內(nèi)殼(1)和成型殼外殼(2)粘接，絕緣密封圈(4)套在成型殼內(nèi)殼的外部，電阻測試裝置(5)的兩個指針分別與兩個接觸片(3)相連。
2. 按權(quán)利要求1所述的一種用于測試固體粉末材料電導(dǎo)率的測試裝置，其特征在于 所述的成型殼外殼(2)為圓柱形外殼，圓柱形外殼一個底面開口，另一底面中心為直徑2mm的小孔，圓柱形外殼側(cè)面內(nèi)面為螺紋面；所述的成型殼內(nèi)殼(1)為圓柱形外殼，圓柱形外殼一個底面開口，另一底面中心為直 徑2mm的小孔；所述的接觸片(3)為電導(dǎo)率很高的金屬片或聚合物薄片，分別粘附在成型殼內(nèi)殼(1) 和成型殼外殼(2)底面的內(nèi)面上；所述的絕緣密封圈(4)粘附在成型殼內(nèi)殼(1)側(cè)面外表面上，表面為螺紋面，與成型殼 外殼(2)側(cè)面內(nèi)面螺紋面相匹配；所述的電阻測試裝置(5)為電子萬用表或電化學(xué)工作站等可以測試電阻值的儀器，該 裝置包含兩個指針，測試時分別與兩個接觸片(3)相連。
3. —種用于測試固體粉末材料電導(dǎo)率的測試方法，其特征在于包括下述步驟1) 固體粉末的填充將所測固體粉末樣品填入成型殼內(nèi)殼(1)內(nèi)，壓實(shí)，粉末高度略大 于成型殼內(nèi)殼(1)高度；2) 裝置的密封將成型殼外殼(2)放于成型殼內(nèi)殼(1)上，對準(zhǔn)螺紋擰緊，直至絕緣密 封圈(4)邊緣接觸到成型殼外殼(2)底面；3) 電阻的測量將電阻測試裝置(5)的兩個指針分別插入成型殼外殼(2)和成型殼內(nèi) 殼(1)底面中心孔內(nèi)并與接觸片(3)很好的接觸，調(diào)節(jié)電阻測試裝置(5)，記錄并分析其測 量結(jié)果；4) 計(jì)算電導(dǎo)率。
全文摘要
本發(fā)明涉及電子設(shè)備測試技術(shù)領(lǐng)域，它公開了一種用于測試固體粉末材料，特別是難于壓制成型的固體粉末材料的電導(dǎo)率的測試裝置及測試方法。本發(fā)明的測試裝置包括成型殼內(nèi)殼(1)，成型殼外殼(2)，接觸片(3)，絕緣密封圈(4)，電阻測試裝置(5)，其中兩個接觸片(3)分別與成型殼內(nèi)殼(1)、成型殼外殼(2)連接，絕緣密封圈(4)套在成型殼內(nèi)殼(1)的外部，電阻測試裝置(5)的兩個指針分別與兩個接觸片(3)相連。本發(fā)明的測試方法包括固體粉末的填充；裝置的密封；電阻的測量和計(jì)算電導(dǎo)率等步驟。本發(fā)明的測試裝置和測試方法能夠?qū)腆w粉末材料，包括難于壓制成型的固體粉末材料進(jìn)行電導(dǎo)率測試，該裝置結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，具有較高的可靠性和穩(wěn)定性。
文檔編號G01R27/02GK101706529SQ200910057989
公開日2010年5月12日 申請日期2009年10月9日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月9日
發(fā)明者張書誠, 徐云龍, 陶麗麗 申請人:上海微納科技有限公司