專利名稱：一種基于圖像熵遞減收斂的探地雷達(dá)雜波抑制方法
一種基于圖像熵遞減收斂的探地雷達(dá)雜波抑制方法技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于探地雷達(dá)成像技術(shù)領(lǐng)域，探地雷達(dá)主要應(yīng)用在市政建設(shè)、資源勘 查、水利建設(shè)以及考古等相關(guān)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
探地雷達(dá)利用一個發(fā)射天線發(fā)射高頻寬頻帶電磁波，并通過另一個天線接收來 自介質(zhì)界面的反射波。當(dāng)電磁波在介質(zhì)中傳播時，其路徑、電磁場強(qiáng)度及波形、相位等 隨所穿越介質(zhì)的電磁特性及幾何形態(tài)而變化。因此，通過檢測回波時間、幅度、相位等 參量，解譯出目標(biāo)深度、介質(zhì)特性及結(jié)構(gòu)等信息。在數(shù)據(jù)可視化上，可運(yùn)用數(shù)字圖像的 恢復(fù)與重建技術(shù)，對地下目標(biāo)進(jìn)行成像處理，以期達(dá)到對地下目標(biāo)真實(shí)和直觀的顯示效^ ο
探地雷達(dá)成像結(jié)果的性能指標(biāo)受雜波的影響很大，所以雜波抑制處理非常重 要。雜波的有效抑制是成像、檢測、目標(biāo)識別等成功應(yīng)用的根本保證。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種基于圖像熵遞減收斂的探地雷達(dá)雜波抑制方法。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的基于圖像熵遞減收斂的探地雷達(dá)雜波抑制方 法，其主要步驟為
1)對探地雷達(dá)B-scan圖水平方向的每一道接收信號作短時傅立葉變換，求取幅 度值和相位值；對所有道信號傅氏變換后的幅度值作取均值操作，并用每道信號傅氏變 換后的幅度值減去該均值幅度；
2)將第1步獲得的對應(yīng)于每道信號的幅度值作為幅值，結(jié)合第1步傅氏變換求得 的相位值，進(jìn)行逆短時傅立葉變換；
3)經(jīng)過步驟1和步驟2處理后得到初次處理結(jié)果；
4)重復(fù)步驟1和步驟2所得到的結(jié)果與初次處理結(jié)果進(jìn)行自適應(yīng)加權(quán)，直到加權(quán) 結(jié)果使得圖像熵收斂迭代結(jié)束。N M χ^
其中，步驟4中圖像熵的定義是
權(quán)利要求
1.一種基于圖像熵遞減收斂的探地雷達(dá)雜波抑制方法，其主要步驟為1)對探地雷達(dá)B-Scan圖水平方向的每一道接收信號作短時傅立葉變換，求取幅度值 和相位值；對所有道信號傅氏變換后的幅度值作取均值操作，并用每道信號傅氏變換后 的幅度值減去該均值幅度；2)將第1步獲得的對應(yīng)于每道信號的幅度值作為幅值，結(jié)合第1步傅氏變換求得的相 位值，進(jìn)行逆短時傅立葉變換；3)經(jīng)過步驟1和步驟2處理后得到初次處理結(jié)果；4)重復(fù)步驟1和步驟2，每次迭代所得到的結(jié)果與初次處理結(jié)果進(jìn)行自適應(yīng)加權(quán)，直 到加權(quán)結(jié)果使得圖像熵收斂迭代結(jié)束。
2.如權(quán)利要求1所述基于圖像熵遞減收斂的探地雷達(dá)雜波抑制方法，其中，步驟4中圖像熵的定義是h-HH、設(shè)X1^NXM圖像中的像素點(diǎn)，
3.如權(quán)利要求1所述基于圖像熵遞減收斂的探地雷達(dá)雜波抑制方法，其中，步驟4中 加權(quán)的迭代權(quán)重，初次處理的權(quán)重是以后每次處理的權(quán)重是
全文摘要
一種基于圖像熵遞減收斂的探地雷達(dá)雜波抑制方法，其主要步驟為1)對探地雷達(dá)B-scan圖水平方向的每一道接收信號作短時傅立葉變換，求取幅度值和相位值；對所有道信號傅氏變換后的幅度值作取均值操作，并用每道信號傅氏變換后的幅度值減去該均值幅度；2)將第1步獲得的對應(yīng)于每道信號的幅度值作為幅值，結(jié)合第1步傅氏變換求得的相位值，進(jìn)行逆短時傅立葉變換；3)經(jīng)過步驟1和步驟2處理后得到初次處理結(jié)果；4)重復(fù)步驟1和步驟2，每次迭代所得到的結(jié)果與初次處理結(jié)果進(jìn)行自適應(yīng)加權(quán)，直到加權(quán)結(jié)果使得圖像熵收斂迭代結(jié)束。本發(fā)明可以得到高質(zhì)量的雜波抑制效果。
文檔編號G01S7/02GK102023316SQ20091009388
公開日2011年4月20日 申請日期2009年9月23日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月23日
發(fā)明者劉小軍, 盧策吾, 吳世有, 方廣有 申請人:中國科學(xué)院電子學(xué)研究所