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一種匝數(shù)測試裝置及其測試方法

文檔序號:6154225閱讀:238來源:國知局
專利名稱:一種匝數(shù)測試裝置及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種匝數(shù)測試裝置及測試方法,特別是涉及一種用于測試集中繞組電 機(jī)定子的線圈匝數(shù)的匝數(shù)測試裝置及其測試方法。
背景技術(shù)
目前電機(jī)包括分布繞組和集中繞組,在集中繞組電機(jī)中,定子成環(huán)形,在定子上具 有徑向向內(nèi)突出的齒,各個(gè)齒上繞有線圈。在集中繞組電機(jī)的制作過程中,尤其在樣機(jī)制作 階段通常采用人工對線圈進(jìn)行繞制,但是人工繞線對于繞制的匝數(shù)不容易控制,在繞制完 成的時(shí)候可能產(chǎn)生比預(yù)定的線圈數(shù)多繞或少繞的現(xiàn)象。因此,在集中繞組電機(jī)的生產(chǎn)過程 中,迫切需要對集中繞組電機(jī)定子上的繞組線圈匝數(shù)進(jìn)行測試。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種能夠直接對集中繞組電機(jī)定子上的繞組線 圈匝數(shù)進(jìn)行測試的匝數(shù)測試裝置和利用該裝置的測試方法。具體方案如下,本發(fā)明提供的一種匝數(shù)測試裝置,用于測試集中繞組電機(jī)定子上 的線圈匝數(shù),包括底座;桿形的轉(zhuǎn)子支架,所述轉(zhuǎn)子支架的一邊繞制有激磁線圈、另一邊 繞制有標(biāo)準(zhǔn)線圈;連接部件,用于連接所述底座和所述轉(zhuǎn)子支架,使所述底座和所述轉(zhuǎn)子支 架之間可相對旋轉(zhuǎn),其中所述底座平面和所述轉(zhuǎn)子支架平行;固定部件,用于將被測集中繞 組電機(jī)定子固定在所述底座上,使被測集中繞組電機(jī)定子與所述轉(zhuǎn)子支架同心且處于同一 平面;電流計(jì),其與所述標(biāo)準(zhǔn)線圈連接,測試時(shí)與所述被測集中繞組電機(jī)定子上的被測線圈 反向串聯(lián)構(gòu)成一回路。本發(fā)明還提供一種匝數(shù)測試方法,利用上述匝數(shù)測試裝置進(jìn)行測試,包括固定所 述匝數(shù)測試裝置的底座或轉(zhuǎn)軸的步驟;固定集中繞組電機(jī)定子的步驟,使所述集中繞組電 機(jī)定子相對所述匝數(shù)測試裝置的底坐固定;定位被測線圈的步驟,通過對所述集中繞組電 機(jī)定子上的一個(gè)被測線圈通電,使其定位在與所述匝數(shù)測試裝置的轉(zhuǎn)子支架處于一直線上 的位置,且使所述被測線圈靠近所述轉(zhuǎn)子支架的標(biāo)準(zhǔn)線圈的一端;電路連接的步驟,將所述 標(biāo)準(zhǔn)線圈與所述被測線圈反向串聯(lián),并且在組成的回路中串入一電流計(jì);測試步驟,在所述 轉(zhuǎn)子支架的激磁線圈上接入交流電,觀察電流計(jì)的示數(shù)是否為零,如果是,則被測線圈的匝 數(shù)與所述標(biāo)準(zhǔn)線圈的匝數(shù)相等。反之,當(dāng)電流計(jì)的指針為正時(shí),則證明被測線圈匝數(shù)比標(biāo)準(zhǔn) 線圈的匝數(shù)少,應(yīng)增加被測線圈的匝數(shù);當(dāng)電流計(jì)的指針為負(fù)時(shí),則證明被測線圈匝數(shù)比標(biāo) 準(zhǔn)線圈的匝數(shù)多,應(yīng)減少被測線圈的匝數(shù)。本發(fā)明的匝數(shù)測試裝置結(jié)構(gòu)簡單、實(shí)用性強(qiáng),可以直接對集中繞組電機(jī)定子上的 繞組線圈匝數(shù)進(jìn)行測試。本發(fā)明的匝數(shù)測試裝置對集中繞組電機(jī)定子的繞組線圈匝數(shù)進(jìn)行 測試的方法,可以直接對集中繞組電機(jī)定子上的繞組線圈匝數(shù)進(jìn)行測試,而且操作簡便。


圖1示出了本發(fā)明實(shí)施方式的匝數(shù)測試裝置的俯視圖。圖2示出了本發(fā)明實(shí)施方式的匝數(shù)測試裝置的使用狀態(tài)的俯視圖。圖3為沿圖2中的A-A線的分解剖視示意圖。圖4示出了測試時(shí)電機(jī)定子和轉(zhuǎn)子支架上各線圈的通電方向圖。圖5示出了本發(fā)明實(shí)施方式的定位銷釘?shù)慕Y(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面參照附圖對本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)的說明。實(shí)施方式1圖1示出了本發(fā)明實(shí)施方式的匝數(shù)測試裝置的正視圖,圖2示出了本發(fā)明實(shí)施方式 的匝數(shù)測試裝置(包括被測集中繞組電機(jī)定子)的正視圖,圖3為沿圖2中的A-A線的分解 剖視示意圖,圖中所示的匝數(shù)測試裝置僅是示例,根據(jù)本發(fā)明的匝數(shù)測試裝置不局限于此。本發(fā)明實(shí)施方式的匝數(shù)測試裝置包括底座6、轉(zhuǎn)軸7、轉(zhuǎn)子支架4、激磁線圈1、標(biāo)準(zhǔn) 線圈2、固定部件和電流計(jì)17。本實(shí)施方式中的固定部件采用定子定位銷釘10。底座6為 圓盤形,在中心處設(shè)有可以容納滾珠軸承8和止退軸承9的軸承室13和截面積小于軸承室 13的中心通孔15,在底座6的周邊上設(shè)有三個(gè)凸起座16,測試時(shí)凸起座16用于支撐被測 集中繞組電機(jī)定子,以及保證被測集中繞組電機(jī)定子和底座6之間等高。在凸起座16上分 別打有螺紋孔14,該三個(gè)螺紋孔14相對底座6圓心相隔120°。定子定位銷釘10的一端 分別與螺紋孔14接合,另一端用于與被測的集中繞組電機(jī)定子5接合。在生產(chǎn)中,凸起座 16可以是任意個(gè),定子定位銷釘10也可以是任意個(gè),相對底座6圓心的間隔也可以是任意 角度,這些都可以根據(jù)實(shí)際情況來調(diào)整。在底座6上還設(shè)有固定孔12,可以通過固定孔12 將底座6固定在一平臺(tái)上。另一種固定方式是在三個(gè)凸起座16上增加與電機(jī)定子外徑相 同的止口來定位被測集中繞組電機(jī)定子,從而保證被測集中繞組電機(jī)定子和轉(zhuǎn)子支架的同 心。轉(zhuǎn)子支架4為桿形,轉(zhuǎn)子支架4的中心設(shè)有一中心孔,在轉(zhuǎn)子支架4上激磁線圈1 繞制在中心孔的一邊上且使轉(zhuǎn)子支架4的端頭露出來,標(biāo)準(zhǔn)線圈2繞制在中心孔的另一邊 上且使轉(zhuǎn)子支架4的端頭露出來。測試時(shí)激磁線圈1外接一交流電源(圖中未示出),當(dāng) 在其中接入交流電時(shí),繞制線圈的匝數(shù)可以根據(jù)實(shí)際電流的大小來調(diào)整,目的是保證磁路 不能夠飽和,以減少漏磁造成的測量誤差。理論上標(biāo)準(zhǔn)線圈2繞制的匝數(shù)必須和被測線圈 3的目標(biāo)匝數(shù)相同,但由于氣隙的存在導(dǎo)致磁路中將產(chǎn)生漏磁場,故需要根據(jù)實(shí)際測試的結(jié) 果來確定標(biāo)準(zhǔn)線圈2繞制的實(shí)際匝數(shù),在測試時(shí)標(biāo)準(zhǔn)線圈2的匝數(shù)已事先確定。轉(zhuǎn)軸7的一端固定在滾珠軸承8和止退軸承9上。止退軸承9用于防止轉(zhuǎn)軸7軸 向竄動(dòng),滾珠軸承8用于保證轉(zhuǎn)軸7和底座6的垂直度以及轉(zhuǎn)軸7和電機(jī)定子5的同心度, 轉(zhuǎn)軸7的另一端通過轉(zhuǎn)子支架4的中心孔,并用固定螺母11將轉(zhuǎn)子支架4固定住,安裝的 時(shí)候,使轉(zhuǎn)子支架4與轉(zhuǎn)軸7垂直,這樣轉(zhuǎn)子支架4就與底座6的平面平行。測試時(shí),轉(zhuǎn)子 支架4與轉(zhuǎn)軸7固定成一體可相對底座6轉(zhuǎn)動(dòng)。測試過程中,標(biāo)準(zhǔn)線圈2與被測線圈3反向串聯(lián),即,使標(biāo)準(zhǔn)線圈2與被測線圈3 的中感應(yīng)的電勢方向相反,在標(biāo)準(zhǔn)線圈2與被測線圈3構(gòu)成的回路中串聯(lián)電流計(jì)17,通過觀察電流計(jì)17的示數(shù)來測試被測線圈3的匝數(shù)。若電流計(jì)的示數(shù)為零,則可以判定被測線圈 3的匝數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)線圈2的匝數(shù)相等。反之,當(dāng)電流計(jì)的指針為正時(shí),則可以證明被測線圈3 的匝數(shù)比標(biāo)準(zhǔn)線圈2的匝數(shù)少,應(yīng)增加被測線圈3的匝數(shù);當(dāng)電流計(jì)的指針為負(fù)時(shí),則可以 證明被測線圈3的匝數(shù)比標(biāo)準(zhǔn)線圈2的匝數(shù)多,應(yīng)減少被測線圈3的匝數(shù)。本實(shí)施方式中的定子定位銷釘10的結(jié)構(gòu)示意圖如圖5所示,定子定位銷釘10的 下端A可以采用螺紋結(jié)構(gòu),下端A可以與底座6上的螺紋孔14接合,中部B的截面積比下端 A的截面積大,可以對定子定位銷釘10起到定位作用,在定子定位銷釘10擰進(jìn)底座6上的 螺紋孔14時(shí),最大只能擰到中部B與下端A的結(jié)合處,這樣,只要保證各個(gè)定子定位銷釘?shù)?從中部B與下端A的結(jié)合處到上端C的距離相等,并且在定子定位銷釘10擰進(jìn)底座6上的 螺紋孔14時(shí)擰到最大程度,就可以保證被測的集中繞組電機(jī)定子5安裝的同位度。上端C 可以采用多邊形結(jié)構(gòu),如方形、三角形等結(jié)構(gòu),該上端C插入到所述被測集中繞組電機(jī)定子 上的相應(yīng)形狀的定位孔中,以方便與被測的集中繞組電機(jī)定子5的固定,定子定位銷釘10 的這種結(jié)構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)在于方便安裝和更換。定子定位銷釘10的長度能夠確保安裝上被測集 中繞組電機(jī)定子時(shí)使被測集中繞組電機(jī)定子與轉(zhuǎn)子支架4處于同一平面。實(shí)施方式2本實(shí)施方式的匝數(shù)測試裝置中的滾珠軸承8是安裝在轉(zhuǎn)子支架4上,即可以相應(yīng) 地在轉(zhuǎn)子支架4設(shè)有軸承室,將滾珠軸承8設(shè)置在該軸承室中。轉(zhuǎn)軸7的一端固定在滾珠 軸承8中,另一端固定在底座6上,這樣轉(zhuǎn)軸7與底座6固定成一體,可以相對轉(zhuǎn)子支架4 旋轉(zhuǎn)。其它結(jié)構(gòu)與實(shí)施方式1類似,這里就不再重復(fù)敘述。下面將詳細(xì)說明利用本實(shí)施方式的匝數(shù)測試裝置對集中繞組電機(jī)定子的繞組線 圈匝數(shù)進(jìn)行測試的方法。被測的集中繞組電機(jī)定子5為環(huán)形,具有多個(gè)齒,例如具有24個(gè)齒,當(dāng)然電機(jī)定子 5的齒數(shù)可以根據(jù)實(shí)際需要而設(shè)置,被測線圈3繞制在電機(jī)定子5的各個(gè)不同齒上。測試 時(shí),可以通過定子定位銷釘10將集中繞組電機(jī)定子5固定在底座6上,安裝時(shí)保證集中繞 組電機(jī)定子5與轉(zhuǎn)子支架4同心且處于同一平面上。在集中繞組電機(jī)定子5的外周上設(shè)有 可與定子定位銷釘10接合的接合孔,安裝時(shí)使定子定位銷釘10分別與該接合孔接合,以固 定住被測的集中繞組電機(jī)定子5,這樣測試時(shí)集中繞組電機(jī)定子5與底座6固定成一體可相 對轉(zhuǎn)子支架4和轉(zhuǎn)軸7旋轉(zhuǎn)。安裝時(shí),使轉(zhuǎn)子支架4和集中繞組電機(jī)定子5處于同一平面, 并且保證轉(zhuǎn)子支架4的兩個(gè)端面與集中繞組電機(jī)定子5之間的氣隙為0. 2mm或者更小,這 樣可以減小漏磁。當(dāng)然,間隙也可以大于0. 2mm,當(dāng)氣隙大于0. 2mm時(shí),可以根據(jù)計(jì)算來調(diào)整 標(biāo)準(zhǔn)線圈2的匝數(shù),進(jìn)而彌補(bǔ)由于氣隙引起的漏磁影響。由于被測線圈3是繞制在電機(jī)定子5的各個(gè)不同的齒上,可以采用兩種方案對被 測線圈3的匝數(shù)進(jìn)行測試。第一種測試方案,通過旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)子支架4來實(shí)現(xiàn)對電機(jī)定子5的不同齒上的被測線 圈3進(jìn)行測試。該方案中,可以采用螺釘?shù)韧ㄟ^固定孔12將底座6固定在一平臺(tái)上。將被測的集中繞組電機(jī)定子5固定在底座6上,如上文所述可以利用定子定位銷 釘10將被測的集中繞組電機(jī)定子5固定在底座6上,也可以利用在三個(gè)凸起座16上增加 與集中繞組電機(jī)定子5的外徑相同的止口來定位集中繞組電機(jī)定子。這樣就可以保持底座6和固定在其上的集中繞組電機(jī)定子5固定不動(dòng),當(dāng)對被測線圈3通電時(shí)可以使轉(zhuǎn)子支架4 旋轉(zhuǎn)。當(dāng)要測試集中繞組電機(jī)定子5的某個(gè)齒上的被測線圈3時(shí),首先對該齒上的被測 線圈3進(jìn)行定位,即對與標(biāo)準(zhǔn)線圈2接近的齒上的被測線圈3通電,使轉(zhuǎn)子支架4的標(biāo)準(zhǔn)線 圈2旋轉(zhuǎn)到與被測線圈3相對的位置,即轉(zhuǎn)子支架4與被測線圈3在一條直線上。對于轉(zhuǎn) 子支架4與被測線圈3的定位也可以使用機(jī)械固定的方式保證其在一條直線上。然后,將標(biāo)準(zhǔn)線圈2和被測線圈3反向串聯(lián),即,使標(biāo)準(zhǔn)線圈2和被測線圈3的感 應(yīng)電磁方向相反,并且在標(biāo)準(zhǔn)線圈2和被測線圈3之間串接入一電流計(jì)17。然后,將激磁線 圈1連通交流電源。測試過程中,將一定頻率的交流電接入激磁線圈1,在激磁線圈1中通入交流電 時(shí),勵(lì)磁磁場會(huì)在標(biāo)準(zhǔn)線圈2和被測線圈3中產(chǎn)生感應(yīng)電動(dòng)勢,激磁線圈1、標(biāo)準(zhǔn)線圈2、被 測線圈3的通電方向如圖4所示。由于線圈中的感應(yīng)電流與匝數(shù)成正比,匝數(shù)相同的線圈 感應(yīng)產(chǎn)生的電流應(yīng)當(dāng)相等,本測試方案中將標(biāo)準(zhǔn)線圈2和被測線圈3反接,所以標(biāo)準(zhǔn)線圈2 和被測線圈3中感應(yīng)的電流方向相反,由標(biāo)準(zhǔn)線圈2和被測線圈3構(gòu)成的回路中的電流相 抵銷。若標(biāo)準(zhǔn)線圈2和被測線圈3的匝數(shù)相同,則感應(yīng)產(chǎn)生的電流也就相等,因此由標(biāo)準(zhǔn)線 圈2和被測線圈3構(gòu)成的回路中的電流將為零。基于上述原理,在本測試方案中可以通過觀察電流計(jì)17指針的方向和大小來判 斷被測線圈3的匝數(shù)的多少。若標(biāo)準(zhǔn)線圈2和被測線圈3的匝數(shù)相同,則電流計(jì)17的示數(shù) 為零,反之,則電流計(jì)17的示數(shù)不為零。當(dāng)電流計(jì)17的指針指示為正時(shí),則證明被測線圈3 的匝數(shù)比標(biāo)準(zhǔn)線圈2的匝數(shù)少,應(yīng)增加被測線圈3的匝數(shù),則繼續(xù)繞制被測線圈3直到電流 計(jì)17的指示為零;當(dāng)電流計(jì)17的指針指示為負(fù)時(shí),則證明被測線圈3的匝數(shù)比標(biāo)準(zhǔn)線圈2 的匝數(shù)多,應(yīng)減少被測線圈3的匝數(shù),則減少被測線圈3上繞制的匝數(shù)直到電流計(jì)17的指 示為零。第二種測試方案,通過旋轉(zhuǎn)電機(jī)定子5來實(shí)現(xiàn)對電機(jī)定子5的不同齒上的被測線 圈3進(jìn)行測試。該方案與第一測試方案的不同之處在于,使轉(zhuǎn)軸7和固定在其上的轉(zhuǎn)子支 架4固定不動(dòng),使底座6和固定在其上的電機(jī)定子5可相對轉(zhuǎn)子支架4進(jìn)行旋轉(zhuǎn)。在本方案中,可以使轉(zhuǎn)軸7固定在滾珠軸承8和止退軸承9上的一端進(jìn)一步延伸 地從底座6的中心通孔15伸出,并且固定在一平臺(tái)上,這樣轉(zhuǎn)軸7與固定在其上的轉(zhuǎn)子支 架4就固定在平臺(tái)不動(dòng)。當(dāng)對被測線圈3通電時(shí)底座6和固定在其上的電機(jī)定子5可以相 對轉(zhuǎn)子支架4旋轉(zhuǎn)。當(dāng)要測試電機(jī)定子5的某個(gè)齒上的被測線圈3時(shí),首先對被測線圈3進(jìn)行定位,即 對與標(biāo)準(zhǔn)線圈2接近的該齒上的被測線圈3通電,使電機(jī)定子5旋轉(zhuǎn)到被測線圈3與轉(zhuǎn)子 支架4相對的位置,即,使轉(zhuǎn)子支架4與被測線圈3在一條直線上。本方案中的其它測試步驟與測試原理均與第一測試方案類似,這里就不再重復(fù)敘 述。本實(shí)施方式的匝數(shù)測試裝置結(jié)構(gòu)簡單、實(shí)用性強(qiáng),可以直接對集中繞組電機(jī)定子 上的繞組線圈匝數(shù)進(jìn)行測試。本實(shí)施方式提供的對集中繞組電機(jī)定子的繞組線圈匝數(shù)進(jìn)行 測試的方法,可以直接對集中繞組電機(jī)定子上的繞組線圈匝數(shù)進(jìn)行測試,而且操作簡便。集中繞組電機(jī)定子與底座的固定采用的是定子定位銷釘進(jìn)行固定,當(dāng)然也可以采用其它的固定部件進(jìn)行固定,例如螺釘?shù)?,集中繞組電機(jī)定子與底座的固定也可以采用卡 扣固定方式。此外,在上面的實(shí)施方式中,采用三個(gè)定子定位銷釘10來固定集中繞組電機(jī)定子 5,當(dāng)然也可以用四個(gè)、五個(gè)等多個(gè)定子定位銷釘10來固定集中繞組電機(jī)定子5,這可以根 據(jù)實(shí)際需要而定。還有,在上面的實(shí)施方式中,在底座6的周邊上設(shè)有三個(gè)凸起座16,但是,該突起 座16的數(shù)量不限于三個(gè),只要能保證被測集中繞組電機(jī)定子5和底座6之間等高即可。此 外,也可以將被測集中繞組電機(jī)定子5的定子定位銷釘10的一端直接設(shè)在底座上而省略凸 起座16的設(shè)置。而且,在上面的實(shí)施方式中,采用滾珠軸承8和止退軸承9來固定轉(zhuǎn)軸7,但是在能 夠保證轉(zhuǎn)軸7不軸向竄動(dòng)的情況下,可以省略止退軸承9的設(shè)置,例如用一個(gè)寬滾珠軸承來 定位轉(zhuǎn)子支架4。當(dāng)然本發(fā)明的實(shí)施方式僅是示例,不應(yīng)理解為對本發(fā)明的限制,本發(fā)明還可有其 他實(shí)施方式,在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下,所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù) 本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形,但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明的權(quán)利要求 的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
一種匝數(shù)測試裝置,用于測試集中繞組電機(jī)定子上的繞組線圈匝數(shù),其特征在于,包括底座;桿形的轉(zhuǎn)子支架,所述轉(zhuǎn)子支架的一邊繞制有激磁線圈、另一邊繞制有標(biāo)準(zhǔn)線圈;連接部件,用于連接所述底座和所述轉(zhuǎn)子支架,使所述底座和所述轉(zhuǎn)子支架之間可相對旋轉(zhuǎn),其中所述底座平面和所述轉(zhuǎn)子支架平行;固定部件,用于將被測集中繞組電機(jī)定子固定在所述底座上,使被測集中繞組電機(jī)定子與所述轉(zhuǎn)子支架同心且處于同一平面;電流計(jì),其與所述標(biāo)準(zhǔn)線圈連接,測試時(shí)與所述被測集中繞組電機(jī)定子上的被測線圈反向串聯(lián)構(gòu)成一回路。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的匝數(shù)測試裝置,其特征在于, 所述連接部件包括滾珠軸承和轉(zhuǎn)軸,其中,所述轉(zhuǎn)軸的一端固定在所述滾珠軸承中,所述轉(zhuǎn)軸的另一端固定在所述轉(zhuǎn)子支架上, 所述滾珠軸承安裝在所述底座中。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的匝數(shù)測試裝置,其特征在于,所述轉(zhuǎn)軸的另一端通過所述轉(zhuǎn)子支架的中心孔,并用螺母固定。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的匝數(shù)測試裝置,其特征在于, 所述連接部件包括滾珠軸承和轉(zhuǎn)軸,其中,所述轉(zhuǎn)軸的一端固定在所述滾珠軸承中,所述轉(zhuǎn)軸的另一端固定在所述底座上, 所述滾珠軸承安裝在所述轉(zhuǎn)子支架中。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的匝數(shù)測試裝置,其特征在于,所述轉(zhuǎn)子支架的兩個(gè)端面與被測集中繞組電機(jī)定子之間的間隙都不大于0. 2mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的匝數(shù)測試裝置,其特征在于,所述固定部件的一端為螺紋結(jié)構(gòu),所述螺紋結(jié)構(gòu)與所述底座上的螺孔接合,另一端的 橫截面為多邊形結(jié)構(gòu),所述多邊形結(jié)構(gòu)插入到所述被測集中繞組電機(jī)定子上的相應(yīng)形狀的 接合孔中。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的匝數(shù)測試裝置,其特征在于, 所述固定部件有三個(gè),彼此相互間隔120度。
8.—種匝數(shù)測試方法,其特征在于,利用權(quán)利要求1所述的匝數(shù)測試裝置對集中繞組 電機(jī)定子的繞組線圈進(jìn)行測試,包括固定所述匝數(shù)測試裝置的底座的步驟;固定集中繞組電機(jī)定子的步驟,使所述集中繞組電機(jī)定子相對所述匝數(shù)測試裝置的底 座固定;定位被測線圈的步驟,通過對所述集中繞組電機(jī)定子上的一個(gè)被測線圈通電,使其定 位在與所述匝數(shù)測試裝置的轉(zhuǎn)子支架處于一直線上的位置,且使所述被測線圈靠近所述轉(zhuǎn) 子支架的標(biāo)準(zhǔn)線圈的一端;電路連接的步驟,將所述標(biāo)準(zhǔn)線圈與所述被測線圈反向連接,并且在組成的回路中串 聯(lián)一電流計(jì);測試步驟,在所述轉(zhuǎn)子支架的激磁線圈上接入交流電,觀察電流計(jì)的示數(shù)是否為零。
9. 一種匝數(shù)測試方法,其特征在于,利用權(quán)利要求2所述的匝數(shù)測試裝置對集中繞組 電機(jī)定子的繞組線圈進(jìn)行測試,包括固定所述匝數(shù)測試裝置的轉(zhuǎn)軸的步驟,將所述匝數(shù)測試裝置的轉(zhuǎn)軸固定在滾珠軸承上 的一端通過底座上的通孔固定在一平臺(tái)上;固定集中繞組電機(jī)定子的步驟,使所述集中繞組電機(jī)定子相對所述匝數(shù)測試裝置的底 座固定;定位被測線圈的步驟,通過對所述集中繞組電機(jī)定子上的一個(gè)被測線圈通電,使其定 位在與所述匝數(shù)測試裝置的轉(zhuǎn)子支架處于一直線上的位置,且使所述被測線圈靠近所述轉(zhuǎn) 子支架的標(biāo)準(zhǔn)線圈的一端;電路連接的步驟,將所述標(biāo)準(zhǔn)線圈與所述被測線圈反向連接,并且在組成的回路中串 聯(lián)一電流計(jì);測試步驟,在所述轉(zhuǎn)子支架的激磁線圈上接入交流電,觀察電流計(jì)的示數(shù)是否為零。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的匝數(shù)測試方法,其特征在于,在上述測試步驟中,若所述電流計(jì)的示數(shù)不為零,則增減所述被測線圈直到所述電流 計(jì)的示數(shù)為零。
全文摘要
本發(fā)明提供一種匝數(shù)測試裝置及其測試方法,該匝數(shù)測試裝置用于測試集中繞組電機(jī)定子上的繞組線圈匝數(shù),包括底座;桿形的轉(zhuǎn)子支架,其一邊繞制有激磁線圈另一邊繞制有標(biāo)準(zhǔn)線圈;連接部件,用于連接底座和轉(zhuǎn)子支架,使底座和轉(zhuǎn)子支架之間可相對旋轉(zhuǎn),其中底座平面和轉(zhuǎn)子支架平行;固定部件,用于將被測集中繞組電機(jī)定子固定在底座上,使被測集中繞組電機(jī)定子與轉(zhuǎn)子支架同心且處于同一平面;電流計(jì),其與標(biāo)準(zhǔn)線圈連接,測試時(shí)與被測集中繞組電機(jī)定子上的被測線圈反向串聯(lián)構(gòu)成一回路。本發(fā)明還提供一種匝數(shù)測試方法,利用上述匝數(shù)測試裝置進(jìn)行測試。本發(fā)明的匝數(shù)測試裝置結(jié)構(gòu)簡單、實(shí)用性強(qiáng),可以直接對集中繞組電機(jī)定子上的繞組線圈匝數(shù)進(jìn)行測試。
文檔編號G01R29/20GK101887083SQ200910136688
公開日2010年11月17日 申請日期2009年5月13日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月13日
發(fā)明者張為民, 王江濤, 蔡蔚 申請人:精進(jìn)電動(dòng)科技(北京)有限公司
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