專利名稱：光學(xué)式快速檢測試劑分析儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種光學(xué)式快速檢測試劑分析儀，尤其是指一種利用光學(xué)反射原 理將呈色芯片予以成像，藉以縮小整體裝置體積的分析儀。
背景技術(shù)：
隨著經(jīng)濟發(fā)展以及國民所得提升，在人們?nèi)諠u富足的生活水平下，隨之而來 的是許多文明疾病好發(fā)率的增長，在這些文明疾病日漸普遍的情況下，人們對于 各類疾病的檢測需求便隨之增加；另一方面，社會價值觀也在工商業(yè)社會的功利 主義中逐漸遭到扭曲，違禁藥品的使用者可能因為各種因素而產(chǎn)生不當(dāng)用藥的行 為，如壓力過大而吸食毒品或者運動選手為求表現(xiàn)而服用禁藥等等，所以對于違 禁藥品使用者的生理生化檢測亦時有需求。
然而，不管是針對疾病或不當(dāng)用藥的檢測，在各醫(yī)療院所的使用量均呈現(xiàn)上 升的趨勢，所以如果不是需要精密儀器與耗費時間的檢測項目，對于檢驗結(jié)果的 要求大多著眼于快速反應(yīng)即可。
現(xiàn)階段常用的檢驗裝置是采用一種檢測如血液或尿液等檢體的呈色芯片，該 呈色芯片多采用抗體抗原反應(yīng)的生物技術(shù)原理制造而成，通常是在該呈色芯片上 設(shè)有對應(yīng)于欲檢測標(biāo)的之蛋白質(zhì)作為探針，透過標(biāo)的蛋白質(zhì)與探針蛋白質(zhì)的抗體 抗原反應(yīng)進行檢測，所以當(dāng)檢體落于該呈色芯片上，該呈色芯片的顏色便會因為 檢體所含的蛋白質(zhì)成分而產(chǎn)生改變，并藉由對顏色變化的解讀而進行檢驗結(jié)果的 判斷。
過去，此類檢測結(jié)果的判斷系以肉眼作視覺觀察來進行，但是單以肉眼觀察 很容易產(chǎn)生人為因素的解讀誤差，而影響了檢驗結(jié)果的準(zhǔn)確性，因此后來便發(fā)展 出以光偵測器搭配生物信息軟件的檢驗技術(shù)與裝置；此類檢驗方式系透過該光偵 測器針對落有檢體的呈色芯片進行影像拍攝，再將所拍攝下來的影像傳輸至計算 機中，由該生物信息軟件將呈色芯片的影像與標(biāo)準(zhǔn)值進行比對與運算處理后獲得 檢驗結(jié)果，相較于人為判斷具有更高的準(zhǔn)確性。
然而，上述以光偵測器將呈色芯片予以成像的檢驗裝置，基于該光偵測器與 呈色芯片之間必須存在著若干距離，以符合鏡頭與待攝物體的對焦距離，因此將該光偵測器設(shè)置于檢驗裝置中，不論該光偵測器與呈色芯片系以垂直影像攝取或 水平影像攝取的方式進行成像動作，均會造成該檢驗裝置整體體積的龐大，因此 不論是在垂直方向的高度或水平方向的寬度，該習(xí)用的檢驗裝置在結(jié)構(gòu)上仍有改 善的空間。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明人鑒于上述習(xí)用檢驗裝置因為光偵測器與呈色芯片之間的距離無法 縮短而造成體積龐大的缺失，乃積極著手從事研究，以期可以解決上述問題，經(jīng) 過不斷的試驗及努力，終于開發(fā)出本發(fā)明。
本發(fā)明之主要目的在于提供一種利用光學(xué)反射原理將呈色芯片予以成像，藉 以縮小整體裝置體積之光學(xué)式快速檢測試劑分析儀。
為了達到上述發(fā)明目的，本發(fā)明釆取以下的技術(shù)手段予以達成，其中本發(fā)明 的光學(xué)式快速檢測試劑分析儀，是搭配一載放呈色芯片的載具，其包括-
主體，具有一底座以及一組合于該底座而形成內(nèi)部容置空間的上蓋；
成像單元，設(shè)置于該主體之內(nèi)部容置空間中；
光學(xué)反射單元，以一可反射呈色芯片影像至該成像單元的角度設(shè)置于該主體
的內(nèi)部容置空間中，并以一符合成像焦距的距離相鄰于該成像單元；
移動模塊，可往復(fù)移動地設(shè)置于該主體的內(nèi)部容置空間中并位于該光學(xué)反射 單元下方的位置，其具有一放置該載具的移載座體。
故藉由上述之結(jié)構(gòu)，使用者可將一落有檢體的呈色芯片載放于該載具上，再 將該載具放置于本發(fā)明之光學(xué)式快速檢測試劑分析儀的移載座體上，然后將該移 動座體推移進入該主體的內(nèi)部容置空間中，此時，該呈色芯片即位于該光學(xué)反射 單元的下方，其影像亦呈現(xiàn)于該光學(xué)反射單元上，因此，該成像單元便可自該光 學(xué)反射單元上攝取該呈色芯片的影像，以便后續(xù)分析檢驗。
故本發(fā)明的光學(xué)式快速檢測試劑分析儀改變了習(xí)用檢驗裝置因光偵測器與 待攝物體成一直線的直接攝像方式，取而代之的是，利用其光學(xué)反射單元中介于 該成像單元與呈色芯片之間，該呈色芯片的影像先呈現(xiàn)于該光學(xué)反射單元上，再 反射予該成像單元攝取；藉此二維的取像方式取代習(xí)用的直接取像方式，因而可 將整體裝置的體積予以縮小，改善習(xí)用檢驗裝置體積龐大的缺失，進而有效地提 升空間利用效率。


圖1是本發(fā)明光學(xué)式快速檢測試劑分析儀的立體圖。 圖2是本發(fā)明光學(xué)式快速檢測試劑分析儀的上蓋分解圖。 圖3是本發(fā)明光學(xué)式快速檢測試劑分析儀的立體分解圖。 圖4是本發(fā)明之光學(xué)式快速檢測試劑分析儀的剖面示意圖。 圖5是本發(fā)明之光學(xué)式快速檢測試劑分析儀的作動示意圖。
143移動齒輪 144齒條
15成像單元固定柱體
16成像單元設(shè)置架
17光學(xué)反射單元固定柱體
18光學(xué)反射單元設(shè)置架
2呈色芯片
主要組件符號說明
1光學(xué)式快速檢測試劑分析儀
11主體
111底座
112上蓋
12成像單元
13光學(xué)反射單元
14移動模塊
141移載座體
142滑軌
具體實施例方式
圖1至圖3所示，本發(fā)明的光學(xué)式快速檢測試劑分析儀l，是搭配一載放呈 色芯片2的載具3，其包括
主體11，具有一底座111以及一組合于該底座111而形成內(nèi)部容置空間的
上蓋112;
成像單元12，設(shè)置于該主體ll之內(nèi)部容置空間中；
光學(xué)反射單元13，以一可反射呈色芯片影像至該成像單元12的角度設(shè)置于 該主體11的內(nèi)部容置空間中，并以一符合成像焦距的距離相鄰于該成像單元12， 在本實施例中，該光學(xué)反射單元13與該光訊號分析單元12是處于相同的高度；移動模塊14，可往復(fù)移動地設(shè)置于該主體11的內(nèi)部容置空間中并位于該光 學(xué)反射單元13下方的位置，其具有一放置該載具3的移載座體141。
另外，在本實施例中，該光學(xué)式快速檢測試劑分析儀1更包括兩分別設(shè)于該 主體11的內(nèi)部容置空間兩側(cè)的成像單元固定柱體15以及一設(shè)置于該成像單元固 定柱體15上的成像單元設(shè)置架16，該成像單元12是設(shè)置于該成像單元設(shè)置架 16之上。
再者，該光學(xué)式快速檢測試劑分析儀1另包括兩分別設(shè)于該主體11的內(nèi)部 容置空間兩側(cè)并與該成像單元固定柱體15等高的光學(xué)反射單元固定柱體17以及 一設(shè)置于該光學(xué)反射單元固定柱體17上的光學(xué)反射單元設(shè)置架18，該光學(xué)反射 單元13是設(shè)置于該光學(xué)反射單元設(shè)置架18之上。
另外，該移動模塊14更包括一設(shè)置于該兩光學(xué)反射單元固定柱體17之間并 連結(jié)于該移載座體141的滑軌142、一連結(jié)于該移載座體141并移動于該滑軌142 的移動齒輪143以及一設(shè)置于該移載座體141下方并嚙合于該移動齒輪143的齒 條144。
圖3至圖5所示，當(dāng)使用者欲針對一落有檢體的呈色芯片2進行檢測時，是 將該呈色芯片2放置于該載具3上，再將該載具3放置于該移載座體141之后， 便可將該移載座體141推移進入該主體11的內(nèi)部容置空間中，此時，該移載座 體141透過該移動齒輪143的帶動，便可移動于該滑軌142而進入該主體11直 到位于該光學(xué)反射單元13下方的位置。
此時，該呈色芯片2的影像即呈現(xiàn)于該光學(xué)反射單元13上，在本實施例中， 該光學(xué)反射單元13為一平面鏡，同時，該呈色芯片2的影像即經(jīng)由該光學(xué)反射 單元13反射而呈現(xiàn)給該成像單元12進行影像攝取之動作，以便后續(xù)搭配計算機 軟件的分析檢驗，其中，該成像單元12為二極管(photo diode)、金氧互補式 半導(dǎo)體(CMOS)或電荷耦合組件(CCD)，在本實施例中，是采用電荷耦合組 件(CCD)。
故本發(fā)明的光學(xué)式快速檢測試劑分析儀是將該成像單元及光學(xué)反射單元設(shè) 置于相對該呈色芯片較高的位置，而該呈色芯片經(jīng)由該移載座體傳送入該主體后 系位于該光學(xué)反射單元的下方，可由該光學(xué)反射單元將呈色芯片的影像反射予該 成像單元拍攝，藉由上述二維轉(zhuǎn)折的取像模式取代習(xí)用檢驗裝置之光偵測器與待
攝物體成一直線的直接取像模式，如此便可將整體裝置的體積透過二維轉(zhuǎn)折取像
7模式予以縮小，改善習(xí)用檢驗裝置體積龐大的缺失；以上所述，僅為本發(fā)明的較 佳實施例，當(dāng)不能以此限定本發(fā)明實施的范圍；故，凡依本發(fā)明申請專利范圍及 發(fā)明說明書內(nèi)容所作之簡單的等效變化與修飾，皆應(yīng)仍屬本發(fā)明專利涵蓋之范圍 內(nèi)。
8
權(quán)利要求
1、一種光學(xué)式快速檢測試劑分析儀，是搭配一載放呈色芯片的載具，其特征在于包括主體，具有一底座以及一組合于該底座而形成內(nèi)部容置空間的上蓋；成像單元，設(shè)置于該主體的內(nèi)部容置空間中；光學(xué)反射單元，以一可反射呈色芯片影像至該成像單元的角度設(shè)置于該主體的內(nèi)部容置空間中，并以一符合成像焦距的距離相鄰于該成像單元；移動模塊，可往復(fù)移動地設(shè)置于該主體的內(nèi)部容置空間中并位于該光學(xué)反射單元下方的位置，其具有一放置該載具的移載座體。
2、 如權(quán)利要求1所述之光學(xué)式快速檢測試劑分析儀，其特征在于更包括 兩分別設(shè)于該主體的內(nèi)部容置空間兩側(cè)的成像單元固定柱體以及一設(shè)置于該成 像單元固定柱體上的成像單元設(shè)置架，該成像單元設(shè)置于該成像單元設(shè)置架之 上。
3、 如權(quán)利要求2所述之光學(xué)式快速檢測試劑分析儀，其特征在于更包括兩分別設(shè)于該主體的內(nèi)部容置空間兩側(cè)并與該成像單元固定柱體等高的光學(xué)反 射單元固定柱體以及一設(shè)置于該光學(xué)反射單元固定柱體上的光學(xué)反射單元設(shè)置架，該光學(xué)反射單元系設(shè)置于該光學(xué)反射單元設(shè)置架之上。
4、 如權(quán)利要求3所述之光學(xué)式快速檢測試劑分析儀，其特征在于其中該 移動模塊更包括一設(shè)置于該兩光學(xué)反射單元固定柱體之間并連結(jié)于該移載座體 的滑軌、一連結(jié)于該移載座體并移動于該滑軌的移動齒輪以及一設(shè)置于該移載座 體下方并嚙合于該移動齒輪的齒條。
5、 如權(quán)利要求1或4所述之光學(xué)式快速檢測試劑分析儀，其特征在于其 中該光學(xué)反射單元為一平面鏡。
6、 如權(quán)利要求1或4所述之光學(xué)式快速檢測試劑分析儀，其特征在于其中該成像單元為二極管(photo diode)、金氧互補式半導(dǎo)體(CMOS)或電荷耦合組件(CCD)。
7、如權(quán)利要求5所述之光學(xué)式快速檢測試劑分析儀，其特征在于其中該成像單元為二極管(photo diode)、金氧互補式半導(dǎo)體(CMOS)或電荷耦合組 件(CCD)。
全文摘要
本發(fā)明關(guān)于一種光學(xué)式快速檢測試劑分析儀，是搭配一載放呈色芯片的載具，其包括主體；成像單元，是設(shè)置于該主體中；光學(xué)反射單元，是以一可反射呈色芯片影像至該成像單元的角度設(shè)置于該主體中，并以一符合成像焦距的距離相鄰于該成像單元；移動模塊，是可往復(fù)移動地設(shè)置于該主體中并位于該光學(xué)反射單元下方的位置，其具有一放置該載具的移載座體；藉由上述結(jié)構(gòu)，本發(fā)明利用該光學(xué)反射單元將呈色芯片的影像反射予該成像單元攝取，透過轉(zhuǎn)折取像的方式取代習(xí)用直接取像的方式，進而有效縮小整體裝置體積，提升空間利用效率。
文檔編號G01N21/78GK101650313SQ200910176980
公開日2010年2月17日 申請日期2009年9月25日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月25日
發(fā)明者莊建和, 莊琮凱, 王建華 申請人:開物科技股份有限公司