專(zhuān)利名稱(chēng)：檢測(cè)555集成電路邏輯電平的裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電子儀器或裝置，特別涉及一種檢測(cè)555集成電路邏輯電平的裝 置及檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
555集成電路自1972年問(wèn)世以來(lái)，在電子電路設(shè)計(jì)中獲得了最廣泛的應(yīng)用。但是， 在一些特殊的應(yīng)用電路中，為了實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品具有較好的一致性，同時(shí)又不允許增加產(chǎn)品成本， 就要求555集成電路的邏輯電平具有較高的一致性。然而，在實(shí)際應(yīng)用中，555集成電路的 制造隨著不同的廠家、不同的批次，其邏輯電平存在著差異，這種差異是集成電路生產(chǎn)中不 可避免的，而這種差異對(duì)通常要求不高的應(yīng)用電路而言是沒(méi)有影響的，而對(duì)一些特殊要求 的電路而言，這種差異是不能忽略的。例如，在溫度控制電路的應(yīng)用中，由于555集成電路 存在的這種差異，導(dǎo)致溫度控制產(chǎn)生2 3°C的偏差，這將嚴(yán)重影響產(chǎn)品的一致性。例如要 求溫度保持在3rC，如果不作器件篩選，結(jié)果就會(huì)出現(xiàn)同一批產(chǎn)品中有的產(chǎn)品溫度是29°C; 有的是33t:。這對(duì)于批量生產(chǎn)的產(chǎn)品而言是不能接受的。特別是一些與人體皮膚接觸的加 熱產(chǎn)品，往往只差rC，人體就能感受到很大差異。換句話說(shuō)，如果我們事先不知道555集成 電路的差異，那么每一個(gè)產(chǎn)品最終的控制溫度都是隨機(jī)的，也就是說(shuō)在生產(chǎn)過(guò)程中具有一 定的盲目性。因此，在批量生產(chǎn)中，非常需要對(duì)555集成電路的邏輯電平的一致性進(jìn)行檢測(cè) 篩選。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就在于克服上述缺陷，設(shè)計(jì)、研制一種檢測(cè)555集成電路邏輯電平
的裝置及檢測(cè)方法。 本發(fā)明的技術(shù)方案是 檢測(cè)555集成電路邏輯電平的裝置，其主要技術(shù)特征在于由單片機(jī)、D/A轉(zhuǎn)換器、 電壓跟隨器組成；單片機(jī)輸出端接D/A轉(zhuǎn)換器，D/A轉(zhuǎn)換器輸出端接電壓跟隨器，電壓跟隨 器的輸出端接被測(cè)555集成電路，555集成電路輸出端輸入到單片機(jī)。
本發(fā)明另 一技術(shù)方案是 檢測(cè)555集成電路邏輯電平的方法，其主要技術(shù)步驟在于
(1)系統(tǒng)開(kāi)始初始化； (2)單片機(jī)經(jīng)D/A轉(zhuǎn)換器、電壓跟隨器控制輸出由低向高變化的模擬電壓，單片機(jī) 每輸出一個(gè)控制電壓增量時(shí)，都檢測(cè)被測(cè)555集成電路輸出電平是否轉(zhuǎn)化為低電平；
(3)當(dāng)單片機(jī)檢測(cè)到555集成電路輸出由高電平轉(zhuǎn)化為低電平時(shí)，記錄并顯示單 片機(jī)輸出的控制電壓； (4)單片機(jī)經(jīng)D/A轉(zhuǎn)換器、電壓跟隨器控制輸出由高向低變化的模擬電壓； (5)單片機(jī)檢測(cè)被測(cè)555集成電路輸出電平是否轉(zhuǎn)化為高電平； (6)當(dāng)單片機(jī)檢測(cè)到555集成電路輸出由低電平轉(zhuǎn)化為高電平時(shí)，記錄并顯示單片機(jī)輸出的控制電壓；
(7)檢測(cè)結(jié)束。 本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和效果在于測(cè)量過(guò)程由單片機(jī)自動(dòng)完成，由于沒(méi)有人為的因素參與 測(cè)量，所以，測(cè)量誤差小，工作穩(wěn)定可靠，工作效率高。 用單片機(jī)發(fā)出由程序控制的電壓信號(hào)，同時(shí)用單片機(jī)檢測(cè)555集成電路的輸出狀 態(tài)。單片機(jī)由程序控制輸出數(shù)據(jù)量，用串行口虛擬技木由單片機(jī)I/0口輸出控制數(shù)據(jù)給D/A 轉(zhuǎn)換器MAX517，它把單片機(jī)的控制數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為控制電壓，再經(jīng)過(guò)電壓跟隨器使該控制電壓 具有較強(qiáng)的帶負(fù)載能力，保證提供給555集成電路的控制電壓信號(hào)穩(wěn)定，使555集成電路輸 出可靠。 本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)和效果將在下面繼續(xù)說(shuō)明。


圖1—一本發(fā)明的方框原理示意圖。圖2—一本發(fā)明具體電子線路示意圖。圖3—一本發(fā)明的檢測(cè)程序示意圖。圖4—一555集成電路的內(nèi)部示意圖。圖5—一由555集成電路構(gòu)成的波形發(fā)生器電路圖。圖6——理想狀態(tài)下的波形。圖7—一有偏差的波形。
具體實(shí)施例方式
如圖l所示，是555集成電路的內(nèi)部部分原理圖。其中包含兩個(gè)電壓比較器IQ、 IC2和一個(gè)基本RS觸發(fā)器IC3。
由圖1可知: R,、 R2*和R3*形成一個(gè)分壓電路，當(dāng)= R2* = R3*時(shí)，由于R二 R2*、 R3*的分壓作 用恰好將Vcc等分，即每個(gè)電阻上的壓降均為1/3Vcc，而IQ和IG分別取1/3K即UJ 和2/3Vj即UH)作為電壓比較器的參考電壓(如圖1)。 Un為低電平觸發(fā)端電平電壓，UiH 為高電平觸發(fā)端電平電壓，當(dāng)Un和UiH同時(shí)低于各自的參考電壓時(shí)(即低于^和U》，RS 觸發(fā)器輸出高電平。相反，RS觸發(fā)器則輸出低電平。 在設(shè)計(jì)電路時(shí)為了減小RAR/、R/的偏差對(duì)參考電壓的影響，設(shè)計(jì)上將R二R/和 R/與IC1、 IC2、 IC3集成在同一個(gè)硅片上，用以提高電路的穩(wěn)定性，并取電阻的阻值為5K， 也因此被取名為555集成電路?？蓪?shí)際生產(chǎn)中偏差只能縮小卻永遠(yuǎn)不可能使偏差為零。不 同廠家、不同批次的集成電路，由于工藝條件隨時(shí)都在變化，所以，每一片555集成電路內(nèi) 部的參考電壓不可避免的存在差異。
如圖2、圖3所示 本發(fā)明檢測(cè)的目的就是測(cè)試555集成電路4的輸出端由低電平轉(zhuǎn)為高電平時(shí)，其 低電平觸發(fā)端電平電壓是多少，同樣當(dāng)555集成電路4的輸出端由高電平翻轉(zhuǎn)為低電平時(shí)， 其高電平觸發(fā)端電平電壓是多少。本發(fā)明包括單片機(jī)1 (CPU) 、D/A轉(zhuǎn)換器2、電壓跟隨器3 (型號(hào)LM358)、按鈕開(kāi)關(guān)5和顯示器(圖中未畫(huà)出，省略)。單片機(jī)l內(nèi)安裝有運(yùn)行程序，單片機(jī)1輸出端接D/A轉(zhuǎn)換 器2， D/A轉(zhuǎn)換器2輸出端接電壓跟隨器3，而電壓跟隨器3的輸出端接被測(cè)555集成電路 4。單片機(jī)1輸出數(shù)字控制信號(hào)通過(guò)D/A轉(zhuǎn)換器2使電壓跟隨器3輸出一個(gè)隨程序升降的 電壓；555集成電路4的輸出端輸入到單片機(jī)1中，由單片機(jī)1判斷555集成電路4輸出狀 態(tài)是否翻轉(zhuǎn)， 一旦555集成電路4輸出電平發(fā)生翻轉(zhuǎn)，單片機(jī)1立即停止改變輸出給555集 成電路4觸發(fā)電壓，同時(shí)記錄并顯示555集成電路4翻轉(zhuǎn)時(shí)輸入端的電平電壓；單片機(jī)1根 據(jù)555集成電路4的輸出狀態(tài)來(lái)改變程序的運(yùn)行。
具體而言 單片機(jī)1上的P2. 0和P2. 1端口接D/A轉(zhuǎn)換器2的3腳和4腳，而D/A轉(zhuǎn)換器2 輸出端接電壓跟隨器3的輸入端，D/A轉(zhuǎn)換器2輸出端接入被測(cè)的555集成電路4的輸入 端，555集成電路4的輸出端接單片機(jī)1的輸入端；開(kāi)關(guān)5接單片機(jī)1的P3. 7端。
當(dāng)接通電源后，單片機(jī)1內(nèi)部按圖4所示的檢測(cè)程序開(kāi)始運(yùn)行
首先完成系統(tǒng)初始化，等待接入被測(cè)物的信號(hào)；當(dāng)被測(cè)555集成電路4接入電路 時(shí)，同時(shí)會(huì)觸動(dòng)開(kāi)關(guān)5 ;單片機(jī)1獲得開(kāi)關(guān)5的信號(hào)后，開(kāi)始判別555集成電路是否安裝就 位，確認(rèn)就位后輸出一組由低向高逐漸變化的數(shù)字信號(hào)，即從1/4電源電壓開(kāi)始，此信號(hào)通 過(guò)D/A轉(zhuǎn)換器2和電壓跟隨器3輸出一個(gè)由低向高逐漸變化的電壓信號(hào)，此電壓信號(hào)接入 被測(cè)555集成電路4的輸入端；當(dāng)變化的電壓信號(hào)達(dá)到555集成電路4的翻轉(zhuǎn)電壓時(shí)，555 集成電路4的輸出端將輸出低電平；555集成電路4輸出端電平的變化使單片機(jī)1中斷，并 顯示與中斷對(duì)應(yīng)的數(shù)字量；隨后，單片機(jī)1的程序轉(zhuǎn)為輸出由高向低逐漸變化的數(shù)字信號(hào)， 同樣通過(guò)D/A轉(zhuǎn)換器2和電壓跟隨器3輸出一個(gè)由高向低逐漸變化的電壓信號(hào)，當(dāng)變化的 電壓信號(hào)達(dá)到555集成電路4的翻轉(zhuǎn)電壓時(shí)，555集成電路4的輸出端將由低電平翻轉(zhuǎn)為 高電平輸出；此變化輸入到單片機(jī)1使之中斷，并顯示與中斷對(duì)應(yīng)的數(shù)字量；至此完成被測(cè) 555集成電路4的測(cè)量。取下被測(cè)555集成電路4，同時(shí)斷開(kāi)開(kāi)關(guān)5。
再次進(jìn)行說(shuō)明過(guò)程 首先自動(dòng)識(shí)別被測(cè)芯片是否安裝就位，如發(fā)現(xiàn)被測(cè)芯片安裝不到位，則鳴笛示意， 這樣可以防止操作不當(dāng)產(chǎn)生的損壞或誤測(cè)。隨后單片機(jī)輸出能保證555集成電路輸出高電 平的電壓信號(hào)，即從1/4電源電壓開(kāi)始。以后進(jìn)入循環(huán)檢測(cè)狀態(tài)，在1/4電源電壓基礎(chǔ)上，每 增加一個(gè)微小電壓后，立即檢查555集成電路的輸出狀態(tài)是否由"高"變?yōu)?低"電平，"否" 則繼續(xù)增大控制電壓，直到555集成電路的輸出狀態(tài)由"高"變?yōu)?低"電平時(shí)為止。記錄 并顯示555集成電路由高電平變?yōu)榈碗娖綍r(shí)的控制電壓。如果控制電壓信號(hào)增大到一定極 限時(shí)，仍檢測(cè)不到555集成電路的輸出狀態(tài)由高到低的電平翻轉(zhuǎn)時(shí)，則鳴笛示意該芯片損 壞。接下來(lái)單片機(jī)改變控制電壓信號(hào)，使其由增加變?yōu)闇p小，并檢查555集成電路的輸出狀 態(tài)是否由"低"變?yōu)?高"電平，"否"則繼續(xù)減小控制電壓，直到555集成電路的輸出狀態(tài)由 "低"變?yōu)?高"電平為止。記錄并顯示555集成電路的由低電平變?yōu)楦唠娖綍r(shí)的控制電壓。
—個(gè)芯片必須經(jīng)過(guò)從高到低，再經(jīng)過(guò)由低到高的檢測(cè)才能判斷555集成電路是否 工作正常，然后將被測(cè)555集成電路標(biāo)上測(cè)量數(shù)據(jù)，并將測(cè)量數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行對(duì)比，淘汰 數(shù)據(jù)偏差較大的芯片。 由內(nèi)部電路可以看出555集成電路是模擬電路和數(shù)字電路的綜合產(chǎn)品，廣泛應(yīng)用 于家用電器及自動(dòng)控制等多種領(lǐng)域，涉及兒童玩具、商業(yè)廣告、農(nóng)業(yè)、化工、機(jī)電控制、電子測(cè)量檢測(cè)、報(bào)警等許多方面。 由于芯片內(nèi)部存在如上所述的差異，在使用555這種模擬數(shù)字混合電路時(shí)，有時(shí) 就不能像使用數(shù)字電路那樣，任意兩片相同型號(hào)的電路盡管電路內(nèi)部也會(huì)存在差異，但是 互換后，不會(huì)影響電路的邏輯功能，而模擬電路卻不同，其電路參數(shù)的差異將會(huì)使整個(gè)電路 的功能發(fā)生明顯地變化。尤其在一些精度要求較高的電路中，這種差異顯得尤為突出。
現(xiàn)以由555集成電路組成的波形信號(hào)發(fā)生器為例，詳細(xì)說(shuō)明。 如圖5所示，555集成電路構(gòu)成的波形發(fā)生器，Rn R2和C是外接元件。其工作過(guò)程
如下，接通電源V^，經(jīng)Ri和&對(duì)電容C充電，當(dāng)電容電壓u。上升至略高于UiH(圖1中闡述
過(guò)，UiH = 2/3Vcc)時(shí)，555集成電路的Q端輸出UQ為0，這時(shí)555集成電路內(nèi)部的放電管使
T端(即圖5的7腳)對(duì)電源的地端導(dǎo)通，電容C通過(guò)I^放電，電容電壓Uc下降。當(dāng)電容
電壓Uc下降至略低于U^(圖1中闡述過(guò)，U^ = 1/3Vcc)時(shí)，555集成電路的Q端輸出U。為
1，此時(shí)555集成電路內(nèi)部的放電管使T端截止，Vrc又經(jīng)&和R2對(duì)電容C充電，如此重復(fù)上
述過(guò)程，設(shè)Q端的電壓為UQ，則UQ的波形為連續(xù)的矩形波，如圖6所示。 現(xiàn)在假設(shè)由制造產(chǎn)生的偏差使^與理想值之間的偏差是電源電壓Vcc的-l/9，那
么^的實(shí)際值則為2/9Vrc，假設(shè)UH也有-1/9的偏差，那么UH的實(shí)際值為5/9Vcc。根據(jù)以上
工作過(guò)程，其實(shí)際波形圖如圖7所示。 已知電容的充放電規(guī)律為 uc (t) = uc ( °o ) + [uc (0+) —uc ( °o ) ] e-"T (1) 其中Uc(0+)為電容上的初始電壓值； uc(①)為電容最終時(shí)刻可充到或放到的電壓值； uc (t)為t時(shí)刻電容上的電壓值； t為RC電路的時(shí)間常數(shù)，t = RC ; 由此可得電容的充放電時(shí)間為 t = RC*ln [ (uc (0+) _uc ( ^ ) / (uc (t) _uc ( ^ )] 1)假設(shè)555集成電路的內(nèi)部分壓電阻為理想狀態(tài)，圖5電路的電容充電過(guò)程如 下 電容由Uc(0+) = 1/3Vcc開(kāi)始充電；最終可充到電源電壓，即Uc(①)=Vcc，代入(1) 式得 uc(t) = Vcc+[l/3Vcc_Vcc]e—t/T
= Vcc_2/3Vcc*e—t/T (2) 當(dāng)電容電壓充到2/3Vcc時(shí)，555集成電路輸出發(fā)生翻轉(zhuǎn)，電容停止充電轉(zhuǎn)換為開(kāi)始
放電，此時(shí)ujt) = 2/3V『代入(2)式可得 Vcc2/3 = Vcc_2/3Vcc*e—t/T 解得電容充電時(shí)間tP1為 tP1 = (Ri+R》Cln2 = 0.7 (RA) C 同理圖5電路的電容放電過(guò)程如下 電容由Uc(0+) 二2/3Vcc開(kāi)始放電；正常情況下，最終可放到零，即Uc(①)=0，代 入公式(1)得: uc(t) = 0+[2/3Vcc_0]e—t/T
= 2/3Vcc*e—t/T (4) 當(dāng)電容電壓放到l/3Vrc時(shí)，555集成電路輸出發(fā)生翻轉(zhuǎn)，電容停止放電又開(kāi)始新一
輪充電，此時(shí)Uc(t) = 1/3Vcc，把t = RC代入上式(4)可得 1/3VCC = 2/3Vcc*e—t/T 解得電容放電時(shí)間tP2為 tP2 = R2Cln2 = 0. 7R2C 有上述計(jì)算可知理論輸出波形的周期為 輸出波形的周期時(shí)間T就是電容的充電時(shí)間與放電時(shí)間的和，即
T = tP1+tP2 = 0. 7 (R,R》*C+0. 7R2C = 0. 7&C+1. 4R2C
其波形如圖6所示 2)假設(shè)實(shí)際電路中的參考電壓分別為^ = 2/9Vcc， UH = 5/9Vcc，電容由uc(0+)= 2/9V①開(kāi)始充電；電容充電方程變?yōu)?
uc(t) = Ucc+[2/9Vcc_Vcc]e—t/T
= Vcc_7/9Vcc*e—t/T (3) 當(dāng)電容電壓充到5/9Vrc時(shí)，555集成電路輸出發(fā)生翻轉(zhuǎn)，電容停止充電開(kāi)始轉(zhuǎn)換為 放電，把Uc(t) = 5/9Vcc代入(3)式
5/9Vcc = Vcc_7/9Vcc*e—t/T
解得實(shí)際電容充電時(shí)間tpl*為 tpl* = (I^+RjClnl. 75 = 0. 56(R一R2)C 同理電容從Uc(0+) = 5/9V①開(kāi)始放電；放電方程為 uc(t) = 0+[5/9Vcc-0]e—t/T =5/9Vcc*e—t/T (5)
當(dāng)電容電壓放到2/9Vee時(shí)，555集成電路輸出發(fā)生翻轉(zhuǎn)，電容停止放電轉(zhuǎn)換為開(kāi)始 充電，把Uc(t) = 2/9Vcc，代入(5)式得
2/9Vcc = 5/9Vcc*e—"T
解得電容放電時(shí)間tp/為 tP2* = R2Cln2. 5 = 0. 92R2C 實(shí)際輸出波形的周期
T = tP1*+tP2* = 0. 56 (R,R2) C+0. 92R2C = 0. 56&C+1. 48R2C 3)現(xiàn)將理想狀態(tài)與實(shí)際狀態(tài)的計(jì)算結(jié)果做如下對(duì)比分析
① 輸出波形的周期
理想值T = tP1+tP2 = 0. 7 (R一R2) C+0. 7R2C = 0. 7&C+1. 4R2C 實(shí)際值:T = tP1*+tP2* = 0. 56 (Ri+Rj C+0. 92R2C = 0. 56&C+1. 48R2C
② 輸出波形的頻率
理想值f = 1/T = 1/(0. 7&C+1. 4R2C) = 1. 43/(R,2R2)C 實(shí)際值:f = 1/T = 1/(0. 56&C+1. 48R2C) = 25/(141^+371^0
③ 輸出波形的占空比
理想值D = tP1/(tP1+tP2) = (Ri+ig / (R一2R2) 實(shí)際值D* = tP1*/(tP1*+tP2*) = [56(R,R2)]/(56R,148R2)

















通過(guò)比較可知，由于555集成電路中的分壓電阻偏差，引起波形信號(hào)發(fā)生器的偏
差。在此例中，U^減小33. 3%，^變化20% ;Uh減小16. 7%，^2變化31.4%。 以上分析是在假設(shè)電容C值和電阻值Rl、 R2相同的情況下，只是由于基準(zhǔn)電壓的
負(fù)偏差引起多諧振蕩器產(chǎn)生的信號(hào)在周期和占空比上的變化。當(dāng)然，實(shí)際上偏差的形式還
會(huì)有正偏差、一正一負(fù)等許多種情況，來(lái)影響基準(zhǔn)電壓，這里不再列舉。為了彌補(bǔ)這些偏差
帶來(lái)的不良影響，常常會(huì)采用外圍的補(bǔ)償電路來(lái)彌補(bǔ)或減小其不良影響。 實(shí)踐表明，經(jīng)檢測(cè)儀器篩選、分類(lèi)后，將偏差大的芯片剔出，另作他用，將偏差小、
符合一致性要求的芯片用在產(chǎn)品的批量生產(chǎn)中，使產(chǎn)品的一致性得到大幅提升。產(chǎn)品合格
率也因此從60%左右大幅提升至90%以上。
權(quán)利要求
檢測(cè)555集成電路邏輯電平的裝置，其特征在于由單片機(jī)、D/A轉(zhuǎn)換器、電壓跟隨器組成；單片機(jī)輸出端接D/A轉(zhuǎn)換器，D/A轉(zhuǎn)換器輸出端接電壓跟隨器，電壓跟隨器的輸出端接被測(cè)555集成電路，555集成電路輸出端輸入到單片機(jī)。
2. 檢測(cè)555集成電路邏輯電平的方法，其步驟在于(1) 系統(tǒng)開(kāi)始初始化；(2) 單片機(jī)經(jīng)D/A轉(zhuǎn)換器、電壓跟隨器控制輸出由低向高變化的模擬電壓，單片機(jī)每輸 出一個(gè)控制電壓增量時(shí)，都檢測(cè)被測(cè)555集成電路輸出電平是否轉(zhuǎn)化為低電平；(3) 當(dāng)單片機(jī)檢測(cè)到555集成電路輸出由高電平轉(zhuǎn)化為低電平時(shí)，記錄并顯示單片機(jī) 輸出的控制電壓；(4) 單片機(jī)經(jīng)D/A轉(zhuǎn)換器、電壓跟隨器控制輸出由高向低變化的模擬電壓；(5) 單片機(jī)檢測(cè)被測(cè)555集成電路輸出電平是否轉(zhuǎn)化為高電平；(6) 當(dāng)單片機(jī)檢測(cè)到555集成電路輸出由低電平轉(zhuǎn)化為高電平時(shí)，記錄并顯示單片機(jī) 輸出的控制電壓；(7) 檢測(cè)結(jié)束。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)555集成電路邏輯電平的方法，其特征在于在被測(cè)555 集成電路輸出電平發(fā)生翻轉(zhuǎn)時(shí)，單片機(jī)立即停止輸出給被測(cè)555集成電路的電壓。
全文摘要
本發(fā)明涉及檢測(cè)555集成電路邏輯電平的裝置及檢測(cè)方法。本發(fā)明是系統(tǒng)初始化后單片機(jī)經(jīng)D/A轉(zhuǎn)換器、電壓跟隨器控制輸出模擬電壓且每輸出一個(gè)控制電壓增量時(shí)檢測(cè)555集成電路輸出是否轉(zhuǎn)化為低電平并記錄單片機(jī)輸出的控制電壓，輸出由高向低變化的模擬電壓時(shí)是否轉(zhuǎn)化為高電平時(shí)，記錄單片機(jī)輸出的控制電壓，檢測(cè)結(jié)束。本發(fā)明解決了555集成電路輸出電平存在差異的缺陷。本發(fā)明測(cè)量過(guò)程由單片機(jī)自動(dòng)完成，由于沒(méi)有人為的因素參與測(cè)量，所以，測(cè)量誤差小，工作穩(wěn)定可靠，工作效率高，保證使用的555集成電路輸出電平?jīng)]有差異性并符合使用要求。
文檔編號(hào)G01R31/3167GK101702007SQ200910232700
公開(kāi)日2010年5月5日 申請(qǐng)日期2009年12月4日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月4日
發(fā)明者劉永理, 孟琪, 時(shí)維鐸, 汪向華 申請(qǐng)人:南京林業(yè)大學(xué)