專利名稱：一種低頻電纜網(wǎng)絡(luò)導(dǎo)通絕緣測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種低頻電纜絕緣泄漏特性及低頻阻抗特性的測試方法。
背景技術(shù)：
低頻電纜網(wǎng)絡(luò)的測試是衛(wèi)星研制、地面測試系統(tǒng)搭建工作的重要組成部分。目前 對電纜網(wǎng)絡(luò)的測試包括電纜的絕緣泄漏特性測試及低頻阻抗特性測試。低頻阻抗特性測 試的測試方法為，忽略頻率對阻抗的影響，在被測電纜節(jié)點(diǎn)兩端加一直流電壓，根據(jù)歐姆定 律，計(jì)算被測電纜節(jié)點(diǎn)的低頻阻抗特性。絕緣泄漏特性測試的方法為，采用直流高電壓測量
電纜不同導(dǎo)線間是否有泄漏電流以及電纜的絕緣保護(hù)是否滿足要求，測量時(shí)對電纜中的每 根導(dǎo)線逐一進(jìn)行，并且要求覆蓋全部導(dǎo)線組合，當(dāng)電纜中包含的導(dǎo)線數(shù)目較多時(shí)，將十分繁 瑣復(fù)雜。 專利申請?zhí)枮?2136551，名稱為《一種電纜測試裝置及方法》的中國專利公開了一 種對電纜的矢量特性進(jìn)行測試的方法，該方法主要是通過測試矢量生成設(shè)備生成標(biāo)準(zhǔn)輸入 測試矢量，并將此標(biāo)準(zhǔn)矢量接入待測電纜的一端，在另一端利用測試矢量檢測設(shè)備得到被 測電纜的測試輸出矢量，將被測電纜的輸出測試矢量表與標(biāo)準(zhǔn)電纜的標(biāo)準(zhǔn)輸出測試矢量表 進(jìn)行對比，如果結(jié)果相同，則說明被測電纜無故障，否則說明該電纜有故障。此方法操作繁 瑣，測試矢量生成和檢測設(shè)備體積大，造價(jià)高，并不適合普通電纜網(wǎng)絡(luò)的絕緣特性和阻抗特 性測試。 專利申請?zhí)枮?00910118052，名稱為《網(wǎng)絡(luò)電纜測試方法及裝置》的專利公開了一 種對雙絞線進(jìn)行測量的方法，該方法主要是在待測電纜的一端輸入標(biāo)準(zhǔn)的方波激勵(lì)信號， 采集待測電纜另一端的響應(yīng)信號，通過比較響應(yīng)信號相對激勵(lì)信號的大小來判定電纜是否 相絞，是一種相對比較法。這種方法主要測試的是待測電纜是否相絞，并不能用于電纜絕緣 特性和阻抗特性測試。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的技術(shù)解決問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種操作簡便、使用工具 少、測試效率高的低頻電纜網(wǎng)絡(luò)導(dǎo)通絕緣測試方法。 本發(fā)明的技術(shù)解決方案是一種低頻電纜網(wǎng)絡(luò)導(dǎo)通絕緣測試方法，包括絕緣泄漏
特性測試方法和低頻阻抗特性測試方法， 絕緣泄漏特性的測試步驟為 (1)從低頻電纜網(wǎng)絡(luò)中選取待測電纜，將所述待測電纜中所有導(dǎo)線上均串接一個(gè) 開關(guān)； (2)將所有導(dǎo)線的位于開關(guān)同一側(cè)的一端通過短接頭進(jìn)行短接后接至兆歐表的負(fù) 端，兆歐表的正端接至任意一根導(dǎo)線所串接開關(guān)的未進(jìn)行短接的一端；
(3)斷開兆歐表的正端所接導(dǎo)線串接的開關(guān)，同時(shí)閉合其余導(dǎo)線上串接的開關(guān)；
(4)將兆歐表置于"500V"檔位，若兆歐表顯示"①"，則判斷兆歐表的正端所接導(dǎo)線與其余導(dǎo)線絕緣，否則判斷兆歐表的正端所接導(dǎo)線與其余導(dǎo)線未絕緣，存在泄漏電流；
(5)重復(fù)步驟(3) (4)，進(jìn)行m次測量，即可完成電纜中所有導(dǎo)線的絕緣泄漏特 性測試，其中m為電纜中包含的導(dǎo)線個(gè)數(shù)；
低頻阻抗特性的測試步驟為 (A)從低頻電纜網(wǎng)絡(luò)中選取待測電纜，將所述待測電纜中的相鄰兩根導(dǎo)線的一端 通過短接頭進(jìn)行短接，使之成為等電位點(diǎn)； (B)對于所述相鄰兩根導(dǎo)線的另一端，采用萬用表進(jìn)行測試，得到兩根導(dǎo)線的低頻 電阻值； (C)將步驟(B)得到的電阻值除以2即為單根導(dǎo)線的低頻電阻值； (D)重復(fù)步驟(A) (C)，進(jìn)行m/2次測量，即可完成電纜中所有導(dǎo)線低頻電阻值
的測量。 本發(fā)明的基本原理是 采用本發(fā)明方法進(jìn)行絕緣泄漏特性測試，測量任意一根導(dǎo)線的絕緣泄漏特性 時(shí)，需要將此根導(dǎo)線所串接的開關(guān)斷開，其余導(dǎo)線所串接的開關(guān)閉合，同時(shí)將兆歐表置于 "500V"檔位。若此根導(dǎo)線與其他導(dǎo)線絕緣，則兆歐表的正端和負(fù)端沒有形成測試回路，其表 頭指針應(yīng)指向"①";若此根導(dǎo)線與其他任意一根導(dǎo)線導(dǎo)通，則電流從兆歐表的正端流出，經(jīng) 由兩根導(dǎo)線的導(dǎo)通處，再通過閉合開關(guān)，流回兆歐表的負(fù)端，從而形成了一個(gè)電氣回路，存 在泄漏電流，此時(shí)兆歐表顯示的是某一值。這樣，通過兆歐表以及開關(guān)的組合使用，把待測 電纜某一導(dǎo)線與其他導(dǎo)線分離出來，并將其他導(dǎo)線視為一根導(dǎo)線， 一次性完成絕緣特性測 試，有效地提高了測試效率。 采用本發(fā)明方法進(jìn)行低頻阻抗特性測試，測量待測電纜任意一根導(dǎo)線的低頻阻抗 特性時(shí)，將此根導(dǎo)線與其相鄰一根導(dǎo)線在電纜的一端進(jìn)行短接，在另一端用萬用表測量這 兩根導(dǎo)線串聯(lián)的總阻抗。由于兩根導(dǎo)線的線徑、材料、長度均一致，所以兩根導(dǎo)線的低頻阻 抗一致，故將兩根導(dǎo)線串聯(lián)的總阻抗值除以2即可得到單根導(dǎo)線的低頻阻抗。此方法有效 避免了長電纜兩端進(jìn)行低頻阻抗特性測試所帶來的不便。 本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)是 (1)本發(fā)明測試方法減少了電纜網(wǎng)絡(luò)絕緣泄漏特性測試及低頻阻抗特性測試的時(shí) 間，提高了電纜測試的工作效率。例如對一根50芯的電纜進(jìn)行絕緣泄漏特性測試，傳統(tǒng)方 法需要測量次數(shù)是C^ =1225 ;欠,而且連接繁瑣，容易出錯(cuò)；而使用本發(fā)明測量方法只需 要50次的開關(guān)撥動(dòng)及數(shù)據(jù)監(jiān)測工作，極大提高了工作效率； (2)本發(fā)明測試方法實(shí)現(xiàn)了低頻阻抗特性測試的單邊測量(即在電纜的一端實(shí)現(xiàn) 電纜導(dǎo)通測量)，尤其在對已鋪設(shè)好的長電纜網(wǎng)絡(luò)優(yōu)勢體現(xiàn)更加明顯，大大減少了人力成 本。例如對一根50芯的長電纜進(jìn)行低頻阻抗特性測試，只需要在電纜的一端進(jìn)行短接，另 一端進(jìn)行測量，節(jié)約了測試時(shí)間，而且操作只需一名人員即可，避免了雙端測量帶來的人員 溝通不暢，容易出錯(cuò)等問題，特別適合現(xiàn)場測試需要； (3)現(xiàn)有的電纜測試儀器均采用的是傳統(tǒng)方法測量電纜，電纜測試儀體積笨重， 價(jià)格昂貴；本發(fā)明的電纜測試方法相對于電纜測試儀來說，測試方法簡單，測試工具價(jià)格便 宜、占用空間小，特別適合在現(xiàn)場測試電纜時(shí)使用。


圖1為采用本發(fā)明方法進(jìn)行絕緣泄漏特性測試的原理圖；
圖2為采用本發(fā)明方法進(jìn)行低頻阻抗特性測試的原理圖。
具體實(shí)施例方式
如圖1所示，為采用本發(fā)明方法進(jìn)行絕緣泄漏特性測試的原理圖。測試時(shí)，將待測
電纜中的所有導(dǎo)線均串聯(lián)上一個(gè)開關(guān)之后短接至兆歐表的負(fù)端，兆歐表的正端接至某一根
導(dǎo)線所串接開關(guān)的未進(jìn)行短接的一端，斷開此導(dǎo)線所串聯(lián)的開關(guān)，閉合其余開關(guān)，同時(shí)將兆
歐表置于"500V"檔位，觀察兆歐表表頭指針是否指向"①"，若兆歐表指針指向"①"，則判
定此根導(dǎo)線與其余導(dǎo)線絕緣，否則判斷兆歐表的正端所接導(dǎo)線與其余導(dǎo)線未絕緣，存在泄
漏電流。依次重復(fù)操作，直至完成電纜中所有導(dǎo)線的絕緣泄漏特性測試。 如圖2所示，為采用本發(fā)明方法進(jìn)行低頻阻抗特性測試的原理圖。測試時(shí)，將待測
電纜中的相鄰兩根導(dǎo)線的一端通過短接頭進(jìn)行短接，于電纜另一端采用萬用表測量，得到
兩根導(dǎo)線串聯(lián)的低頻阻抗值，將所測得的阻抗值除以2即為單根導(dǎo)線的低頻阻抗值；重復(fù)
操作，直至完成電纜中所有導(dǎo)線低頻阻抗值的測量。 實(shí)施例 下面以Y2-50型電纜為例，對本發(fā)明方法進(jìn)行進(jìn)一步說明。 Y2-50型電纜包含有50根導(dǎo)線，進(jìn)行絕緣泄漏特性測試時(shí)，可將與待測電纜50根 導(dǎo)線所串聯(lián)的50個(gè)手動(dòng)開關(guān)集成在一個(gè)轉(zhuǎn)接盒上，所有開關(guān)與待測電纜導(dǎo)線相連接的一 端留有插孔以便于連接兆歐表的正端，另一端則短接至兆歐表的負(fù)端。實(shí)際測試時(shí)，閉合所 有開關(guān)，若需要測試待測電纜第1根導(dǎo)線的絕緣泄漏特性，則將兆歐表的正端與轉(zhuǎn)接盒上 第1個(gè)開關(guān)的預(yù)留插孔相連，同時(shí)斷開此開關(guān)，若此時(shí)兆歐表表頭指針指向"①"，證明此根 導(dǎo)線與其余導(dǎo)線絕緣，否則認(rèn)為此導(dǎo)線與其余導(dǎo)線未絕緣，存在泄漏電流。同理驗(yàn)證第2根 導(dǎo)線的絕緣泄漏特性，依次操作50次，即可完成待測電纜的絕緣泄漏特性測試。
進(jìn)行低頻阻抗特性測試時(shí)，可制作一個(gè)50芯的短接頭，此短接頭通過焊接等方法
使相鄰兩點(diǎn)短接，即1點(diǎn)與2點(diǎn)短接、3點(diǎn)與4點(diǎn)短接......49點(diǎn)與50點(diǎn)短接。將此短接
頭接入待測電纜的一端，用萬用表測量待測電纜另一端的1點(diǎn)和2點(diǎn)之間的阻抗，將所測得 的阻抗值除以2即為待測電纜第1根導(dǎo)線與第2根導(dǎo)線的阻抗值，依次測量3點(diǎn)和4點(diǎn)之
間，5點(diǎn)和6點(diǎn)之間......49點(diǎn)和50點(diǎn)之間的阻抗值，即進(jìn)行25次測量之后，完成待測電
纜的低頻阻抗特性測試。 本發(fā)明說明書中未作詳細(xì)描述的內(nèi)容屬于本領(lǐng)域技術(shù)人員的公知技術(shù)。
權(quán)利要求
一種低頻電纜網(wǎng)絡(luò)導(dǎo)通絕緣測試方法，其特征在于包括低頻阻抗特性測試方法和絕緣泄漏特性測試方法，絕緣泄漏特性的測試步驟為(1)從低頻電纜網(wǎng)絡(luò)中選取待測電纜，將所述待測電纜中所有導(dǎo)線上均串接一個(gè)開關(guān)；(2)將所有導(dǎo)線的位于開關(guān)同一側(cè)的一端通過短接頭進(jìn)行短接后接至兆歐表的負(fù)端，兆歐表的正端接至任意一根導(dǎo)線所串接開關(guān)的未進(jìn)行短接的一端；(3)斷開兆歐表的正端所接導(dǎo)線串接的開關(guān)，同時(shí)閉合其余導(dǎo)線上串接的開關(guān)；(4)將兆歐表置于“500V”檔位，若兆歐表顯示“∞”，則判斷兆歐表的正端所接導(dǎo)線與其余導(dǎo)線絕緣，否則判斷兆歐表的正端所接導(dǎo)線與其余導(dǎo)線未絕緣，存在泄漏電流；(5)重復(fù)步驟(3)～(4)，進(jìn)行m次測量，即可完成電纜中所有導(dǎo)線的絕緣泄漏特性測試，其中m為電纜中包含的導(dǎo)線個(gè)數(shù)；低頻阻抗特性的測試步驟為(A)從低頻電纜網(wǎng)絡(luò)中選取待測電纜，將所述待測電纜中的相鄰兩根導(dǎo)線的一端通過短接頭進(jìn)行短接，使之成為等電位點(diǎn)；(B)對于所述相鄰兩根導(dǎo)線的另一端，采用萬用表進(jìn)行測試，得到兩根導(dǎo)線的低頻電阻值；(C)將步驟(B)得到的電阻值除以2即為單根導(dǎo)線的低頻電阻值；(D)重復(fù)步驟(A)～(C)，進(jìn)行m/2次測量，即可完成電纜中所有導(dǎo)線低頻電阻值的測量。
全文摘要
一種低頻電纜網(wǎng)絡(luò)導(dǎo)通絕緣測試方法，絕緣泄漏特性測試的方案是將待測電纜的某一根導(dǎo)線與其余導(dǎo)線分離，并將其余導(dǎo)線短接，利用兆歐表產(chǎn)生的直流高壓電，一次性完成此導(dǎo)線相對于其他導(dǎo)線的絕緣泄漏特性測試。低頻阻抗特性測試的方案是將待測電纜的相鄰兩根導(dǎo)線短接，利用萬用表一次性測量這兩根導(dǎo)線的低頻阻抗特性。本發(fā)明測試方法具有操作簡便、使用工具少、測試效率高等特點(diǎn)，尤其對已鋪設(shè)好的長電纜網(wǎng)絡(luò)優(yōu)勢體現(xiàn)更加明顯，特別適合現(xiàn)場測試的需要。
文檔編號G01R27/02GK101701994SQ200910237629
公開日2010年5月5日 申請日期2009年11月13日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月13日
發(fā)明者吳松平, 方博, 洪雷, 肖川, 蔡啟新 申請人:航天東方紅衛(wèi)星有限公司