專利名稱：牙科金屬修復體評價用像質(zhì)計的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種牙科金屬修復體評價用像質(zhì)計。尤其適用于具有精確的金屬板厚 度，可以直接在X射線照相底片上比較被測對象厚度的、用于評價牙科金屬修復體厚度和 內(nèi)部質(zhì)量的像質(zhì)計。
背景技術：
像質(zhì)計一般是用來評估X射線照相底片檢測靈敏度的工具，同時也常用來選取或 衡量射線檢驗的透照參數(shù)。也可用像質(zhì)計的投影影像表示底片的影像質(zhì)量。像質(zhì)計有多種形式，常用的有線型像質(zhì)計、孔型像質(zhì)計、槽型像質(zhì)計等，其中線型 像質(zhì)計應用最廣，中國、日本、德國、英國、美國，以及國際標準均采用此種像質(zhì)計。此外，美 國還采用平板孔型像質(zhì)計，英國、法國還采用階梯孔型像質(zhì)計，都是用于判別射線檢測中對 孔型缺陷的靈敏度的。除了上述像質(zhì)計外，還有一種雙絲型像質(zhì)計，這種像質(zhì)計不是用來檢 測射線照相靈敏度的，而是用來測量射線照相的不清晰度的。目前尚未見有關用于評價金屬材料或部件厚度的像質(zhì)計。在對牙科金屬修復體進行內(nèi)部質(zhì)量X射線探傷檢測時，通常按照標準JB/T 9217-1999《射線照相探傷方法》，采用線型像質(zhì)計判斷底片影像的質(zhì)量，由于線型像質(zhì)計是 由不同直徑的金屬絲構成的，所以在X射線照相底片上的成像為黑色的底片上呈現(xiàn)出不 同灰度的直絲，而牙科金屬修復體在底片上的成像是整個修復體為白色，在白色背景上呈 現(xiàn)出不同灰度的缺陷。因此，盡管采用線型像質(zhì)計可以評判斷底片影像的質(zhì)量(靈敏度)， 但在黑、白兩種不同顏色的背景下進行肉眼觀察比較，很難評價金屬缺陷的水平，更無法判 斷牙科金屬修復體薄層中的厚度差別。牙科金屬修復體評價用像質(zhì)計(以下簡稱牙科像 質(zhì)計)正是為了解決上述問題而設計的。
發(fā)明內(nèi)容
牙科像質(zhì)計由上部、下部兩部分組成，下部帶有精確厚度的金屬板，能夠與帶孔的 上部結構上的階梯部位結合成為一個整體。整體的效果是相鄰階梯上的孔底金屬薄板厚 度相差0.1mm。牙科像質(zhì)計在底片上的成像為白色的背景上呈現(xiàn)不同階梯灰度的圓孔。由 于牙科金屬修復體在底片上的成像也是整個修復體為白色背景，缺陷表現(xiàn)為不同灰度的區(qū) 域，因此可以避免由于背景顏色不同，造成的觀測誤差。采用牙科像質(zhì)計不僅可以通過不同 階梯灰度的圓孔反應出X射線照相底片的靈敏度，而且，由于牙科像質(zhì)計遮蓋各圓孔的薄 板厚度是已知的，因此，通過目測或利用密度計、數(shù)字化圖像處理的方法觀測底片，都可以 直觀、方便地判斷缺陷的存在和水平，評價牙科金屬修復體的厚度。
和
具體實施例方式下面結合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明作進一步詳細的說明。附圖是牙科像質(zhì)計的結構圖。牙科像質(zhì)計由上下兩部分組成上部1的上表面2為平面，下表面3為階梯形，每個階梯的高度相差0. 1mm。每個階梯上可以打不同直徑的通孔5，孔的數(shù)量、直徑、位置不限。下部4是不同厚度的薄板，每片薄板的厚度相差0. Imm0各薄板的長度與上部1的 寬度相同，所有薄板寬度之和與牙科像質(zhì)計的總體長度相同。將構成牙科像質(zhì)計下部4的各不同厚度的薄板，與上部1下表面3的相應階梯相 配合，使上部1與下部4組合后形成一個上、下表面平行的整體。由于構成下部表面的各薄 板是無孔的，所以牙科像質(zhì)計整體的效果是相鄰階梯上的孔底金屬薄板厚度相差0. 1mm。借 助牙科像質(zhì)計得到的X射線照相底片中，像質(zhì)計的成像結果為白色的背景上，呈現(xiàn)出若干 不同灰度的圓孔圖像。牙科金屬修復體在底片上的成像也是整個修復體為白色背景，缺陷 表現(xiàn)為不同灰度的區(qū)域。由此可見，牙科像質(zhì)計與牙科金屬修復體的成像背景一致，因此可 以避免由于背景顏色不同，造成的觀測誤差。通過將像質(zhì)計不同階梯灰度的圓孔處的光密度與牙科金屬修復體上缺陷處的光 密度進行比較，再根據(jù)像質(zhì)計上光密度與像質(zhì)計底板厚度的對應關系，可以得出缺陷處的厚度。本發(fā)明的外形尺寸、材質(zhì)、階梯的數(shù)量、孔徑的大小不受限制，可以根據(jù)牙科金屬 修復體的大小和材質(zhì)的不同而設計不同規(guī)格的像質(zhì)計，這樣的變換均包含在本發(fā)明的保護 范圍之內(nèi)。
權利要求
1.牙科金屬修復體評價用像質(zhì)計由上下兩部分組成上部(1)的上表面(2)為平面， 下表面(3)為階梯形，每個階梯的高度相差0. 1mm。每個階梯上可以打不同尺寸的通孔(5)， 孔的數(shù)量、直徑、位置不限。下部(4)可以是不同厚度、不同成分的金屬薄板。所述每片金 屬薄板的厚度相差0. 1mm。各薄板的長度與像質(zhì)計上部的寬度相同，所有薄板寬度之和與像 質(zhì)計的總體長度相同。
2.根據(jù)權利要求1所述的牙科金屬修復體評價用像質(zhì)計，其特征在于將構成像質(zhì)計 下部(4)的各不同厚度的薄板，與上部(1)下表面(3)的相應階梯組合，可以形成一個上、 下表面平行的整體。由于構成下部(3)表面的各薄板是無孔的，所以牙科金屬修復體評價 用像質(zhì)計的整體效果是所有的孔均為盲孔，相鄰的孔底金屬厚度相差0. 1mm。
3.根據(jù)權利要求1所述的牙科金屬修復體評價用像質(zhì)計，其特征在于像質(zhì)計的上下 兩部分可以用任何方法連接成為整體。
4.根據(jù)權利要求1所述的牙科金屬修復體評價用像質(zhì)計，其特征在于像質(zhì)計的上下 兩部分連接成為整體后，下部(4)的金屬薄板厚度可以用量具精確測量。
5.根據(jù)權利要求1所述的牙科金屬修復體評價用像質(zhì)計，其特征在于將像質(zhì)計放在 X射線感光膠片上，使像質(zhì)計的下部(4)與膠片接觸，X射線從像質(zhì)計上部(1)投射，膠片上 可以得到在整體為白色的背景下，以不同灰度反映下部(4)各金屬薄板厚度的區(qū)域。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種牙科金屬修復體評價用像質(zhì)計。尤其適用于具有精確的金屬板厚度，可以直接在X射線照相底片上反映被測對象厚度的、用于評價牙科金屬修復體厚度和內(nèi)部質(zhì)量的像質(zhì)計。借助牙科像質(zhì)計不僅可以通過不同階梯灰度的圓孔反應出X射線照相底片的靈敏度，同時，可以通過像質(zhì)計不同階梯灰度的圓孔處的光密度與牙科金屬修復體上缺陷處的光密度進行比較，根據(jù)像質(zhì)計上光密度與像質(zhì)計底板厚度的對應關系，得出缺陷處的厚度。牙科像質(zhì)計的最重要特點是，在X射線照相底片上，像質(zhì)計和牙科金屬修復體在相同顏色的基底背景下進行比較，可以避免由于背景顏色不同，造成的觀測誤差。
文檔編號G01B15/02GK102081050SQ20091024981
公開日2011年6月1日 申請日期2009年11月27日 優(yōu)先權日2009年11月27日
發(fā)明者李媛, 鄭剛 申請人:李媛, 鄭剛