專利名稱：自動生成飛針測試程序測試覆蓋率的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種評估測試方法，尤其是涉及一種基于Javelin飛針測試機(jī)臺控制 軟件下開發(fā)的自動生成飛針測試程序測試覆蓋率的方法。
背景技術(shù)：
當(dāng)某一個機(jī)種的飛針測試程序調(diào)試完畢后，針對其測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，以獲得客 戶所需要的該所測機(jī)種的測試覆蓋率報(bào)告。在對某一機(jī)種進(jìn)行測試覆蓋率評估時，原有機(jī) 臺自帶的測試覆蓋率產(chǎn)生程序是將經(jīng)調(diào)試后的結(jié)果文件直接格式化后成為文本文件輸出， 供用戶查閱。然以文本文件輸出的測試程序測試覆蓋率評估報(bào)告可讀性很低，文本文件描述的 格式及標(biāo)識比較零亂，且對每個被測試元件的測試方法不能夠做出詳細(xì)說明，若對此種測 試程序測試覆蓋率評估報(bào)告進(jìn)行重新整理，以便于測試人員能一目了然其測試覆蓋狀況， 則需要耗費(fèi)大量的人力及時間，尤其是當(dāng)被測機(jī)種的測試板比較大，被測試元件較多時，需 要耗費(fèi)更長的時間。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問題，本發(fā)明提供了一種基于Javelin飛針測試機(jī)臺控制軟件下開發(fā)的 自動生成飛針測試程序測試覆蓋率的方法。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用了如下的技術(shù)方案一種自動生成飛針測試程序 測試覆蓋率的方法，其基于Javelin飛針測試機(jī)臺控制軟件下開發(fā)，該方法主要包括以下 步驟a.指定飛針程序目錄；b.讀取飛針程序調(diào)試完畢后的測試數(shù)據(jù)；其特征在于，該方法還包括以下步驟c.判斷測試數(shù)據(jù)是否為經(jīng)調(diào)試后對元件進(jìn)行有效測試的測試數(shù)據(jù)，若是，則該測 試數(shù)據(jù)為有效測試數(shù)據(jù)，若否，則該測試數(shù)據(jù)為無效測試數(shù)據(jù)；d.對有效測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，將有效測試數(shù)據(jù)按元件類型進(jìn)行分類存儲，存儲元 件名稱及對應(yīng)的有效測試數(shù)據(jù)；e.對無效測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，將無效測試數(shù)據(jù)按元件類型進(jìn)行分類存儲，存儲元 件名稱及對應(yīng)的無效測試數(shù)據(jù)； f.判斷步驟d及步驟e存儲的測試數(shù)據(jù)是否有重復(fù)，若有重復(fù)，則將重復(fù)的測試數(shù) 據(jù)去除，并計(jì)算測試覆蓋率，若無重復(fù)，則計(jì)算測試覆蓋率；g.輸出測試覆蓋率及存儲結(jié)果。較佳的，本發(fā)明提供了一種自動生成飛針測試程序測試覆蓋率的方法，其中，所述 測試數(shù)據(jù)主要包括測試機(jī)種名、元件總數(shù)、可測元件數(shù)量及元件名稱、不可測元件數(shù)量及元 件名稱、測試方法和不可測原因等，此外，步驟g中的測試覆蓋率及存儲結(jié)果以表格形式輸
出ο
相較于先前技術(shù)，本發(fā)明提供了一種自動生成飛針測試程序測試覆蓋率的方法， 對測試結(jié)果進(jìn)行自動分析后匯成表格形式進(jìn)行分類存儲，測試人員能夠直觀地獲取測試覆 蓋率或其他信息。


圖1是本發(fā)明的方法流程圖。
具體實(shí)施例方式請參照圖1所示，為本發(fā)明的方法流程圖。本發(fā)明提供了一種自動生成飛針測試 程序測試覆蓋率的方法，其基于Javelin飛針測試機(jī)臺控制軟件下開發(fā)，所述飛針測試是 對印刷電路板進(jìn)行電氣測試的一種測試方法，通過飛針與印刷電路板接觸，以測試印刷電 路板上的電阻阻值、電容容值等電氣性能。其中，本發(fā)明提供了一種自動生成飛針測試程序測試覆蓋率的方法，該方法主要 包括以下步驟步驟101.指定飛針程序目錄；步驟102.讀取飛針程序調(diào)試完畢后的測試數(shù)據(jù)；步驟103.判斷當(dāng)前的測試數(shù)據(jù)是否為經(jīng)調(diào)試后對元件進(jìn)行有效測試測得的測 試數(shù)據(jù)，若是，則當(dāng)前的測試數(shù)據(jù)為有效測試數(shù)據(jù)，若否，則當(dāng)前的測試數(shù)據(jù)為無效測試數(shù) 據(jù)；步驟104.對有效測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，將有效測試數(shù)據(jù)按元件類型進(jìn)行分類存儲， 將其元件名稱及與該元件名稱對應(yīng)的有效測試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲，元件類型包括電阻、二極管、 三極管、連接器及電容等；步驟105.對無效測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，將元件經(jīng)調(diào)試后未對元件進(jìn)行有效測試的 元件的元件名稱及其對應(yīng)的無效測試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲；步驟106.判斷步驟104及步驟105存儲的測試數(shù)據(jù)是否有重復(fù)；步驟107.若有重復(fù)，則將重復(fù)的測試數(shù)據(jù)去除，并計(jì)算測試覆蓋率，所述測試覆 蓋率應(yīng)為經(jīng)有效測試步驟測試的元件數(shù)量占印刷電路板上的元件數(shù)量的百分比；步驟108.若無重復(fù)，則計(jì)算測試覆蓋率；步驟109.將測試覆蓋率及存儲結(jié)果以表格形式輸出。其中，所述測試數(shù)據(jù)主要包括測試機(jī)種名、元件總數(shù)、可測元件數(shù)量及元件名稱、 不可測元件數(shù)量及元件名稱、測試方法和不可測原因等。本發(fā)明所述的自動生成飛針測試程序測試覆蓋率的方法基于Javelin飛針測試 機(jī)臺控制軟件下開發(fā)，能夠?qū)︼w針測試調(diào)試后的測試結(jié)果自動分析，按元件類型進(jìn)行分類 存儲，并將測試結(jié)果匯成表格形式輸出，以令測試人員能夠直觀地獲取測試覆蓋率等信息， 有效地節(jié)省了人力及時間。
權(quán)利要求
一種自動生成飛針測試程序測試覆蓋率的方法，其特征在于，該方法主要包括以下步驟a.指定飛針程序目錄；b.讀取飛針程序調(diào)試完畢后的測試數(shù)據(jù)；其特征在于，該方法還包括以下步驟c.判斷測試數(shù)據(jù)是否為經(jīng)調(diào)試后對元件進(jìn)行有效測試的測試數(shù)據(jù)，若是，則該測試數(shù)據(jù)為有效測試數(shù)據(jù)，若否，則該測試數(shù)據(jù)為無效測試數(shù)據(jù)；d.對有效測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，將有效測試數(shù)據(jù)按元件類型進(jìn)行分類存儲，存儲元件名稱及對應(yīng)的有效測試數(shù)據(jù)；e.對無效測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，將無效測試數(shù)據(jù)按元件類型進(jìn)行分類存儲，存儲元件名稱及對應(yīng)的無效測試數(shù)據(jù)；f.判斷步驟d及步驟e存儲的測試數(shù)據(jù)是否有重復(fù)，若有重復(fù)，則將重復(fù)的測試數(shù)據(jù)去除，并計(jì)算測試覆蓋率，若無重復(fù)，則計(jì)算測試覆蓋率；g.輸出測試覆蓋率及存儲結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動生成飛針測試程序測試覆蓋率的方法，其特征在于，所 述測試數(shù)據(jù)主要包括測試機(jī)種名、元件總數(shù)、可測元件數(shù)量及元件名稱、不可測元件數(shù)量及 元件名稱、測試方法和不可測原因。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動生成飛針測試程序測試覆蓋率的方法，其特征在于，步 驟g中的測試覆蓋率及存儲結(jié)果以表格形式輸出。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種自動生成飛針測試程序測試覆蓋率的方法，其包括以下步驟指定飛針程序目錄；讀取飛針測試調(diào)試后的測試數(shù)據(jù)；判斷測試數(shù)據(jù)是否為經(jīng)調(diào)試后對元件進(jìn)行有效測試的測試數(shù)據(jù)，若是，則為有效測試數(shù)據(jù)，若否，則為無效測試數(shù)據(jù)；對有效測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，將其按元件類型進(jìn)行存儲，存儲元件名稱及對應(yīng)的有效測試數(shù)據(jù)；對無效測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，將無效測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分類存儲；判斷存儲的測試數(shù)據(jù)是否有重復(fù)，若有重復(fù)，則去除重復(fù)的測試數(shù)據(jù)，若無重復(fù)，則計(jì)算測試覆蓋率；輸出測試覆蓋率及存儲結(jié)果。本發(fā)明對測試結(jié)果進(jìn)行自動分析后存儲并匯成表格形式，可直觀地獲取測試覆蓋率或其他信息。
文檔編號G01R31/26GK101989201SQ20091030533
公開日2011年3月23日 申請日期2009年8月7日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月7日
發(fā)明者李軍 申請人:佛山市順德區(qū)順達(dá)電腦廠有限公司