專利名稱：一種lcm測試裝置的制作方法
技術領域：
一種LCM測試裝置
技術領域：
本實用新型涉及一種LCM的測試裝置。背景技術：
LCM(LCD Module,液晶顯示模塊)的結構通常由LED背光、Panel、 FPC、 TP等部分 構成。對于一件LCM產品的生產，其LCM的測試是一個必不可少的過程。目前，在對不同型 號的LCM進行測試時，一般會受到接口、IC、背光連接方式、TP功能、OTP校正等因素的影響， 因此需要分別設計專用的LCM測試裝置進行測試。當LCM產品型號較多時，則需要大量的 測試裝置與之相對應，從而造成成本的增加，且在測試裝置的維護上也增加了麻煩。

實用新型內容
本實用新型針對現(xiàn)有的LCM測試裝置只能對單個型號的LCM產品進行測試的缺
點，提供了一種能夠實現(xiàn)對不同型號的LCM產品進行測試的LCM測試裝置。 本實用新型的技術方案是這樣實現(xiàn)的一種LCM測試裝置，包括功能測試模塊、存
儲模塊、控制器以及可更換的轉接模塊，所述功能測試模塊以及存儲模塊分別與所述控制
器電性連接，且待測LCM通過所述轉接模塊與所述控制器電性連接。 本實用新型提供的LCM測試裝置，由于采用了可更換的轉接模塊對待測LCM進行 測試，因此在待測LCM具有多種不同型號的時候，僅需要通過更換轉接模塊的類型即可實 現(xiàn)對該LCM的測試，而不需要如現(xiàn)有技術中更換所有LCM測試裝置以實現(xiàn)對待測LCM進行 測試，因此在一定程度上降低了 LCM的測試成本，且使得測試裝置的維護變得相對簡單，在 測試的過程中還能夠一定程度上提高測試的效率。 本實用新型的特征及優(yōu)點將通過實施例結合說明書附圖進行詳細說明。

圖1為本實用新型提供的LCM測試裝置一種實施例的結構示意圖； 圖2為本實用新型提供的LCM測試裝置另一種實施例的結構示意圖； 圖3為本實用新型提供的LCM測試裝置一種實施例的轉接模塊電路示意圖。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，
以下結合附圖及實施
例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本 實用新型，并不用于限定本實用新型。 參照圖l，一種LCM測試裝置，其特征在于，包括功能測試模塊1、存儲模塊5、控制 器2以及可更換的轉接模塊3，所述功能測試模塊1以及存儲模塊5分別與所述控制器2電 性連接，且待測LCM4通過所述轉接模塊3與所述控制器2電性連接。根據該實用新型的一 個優(yōu)選實施例，所述控制器2包括的芯片為C8051F126芯片。所述存儲模塊5為Nand Flash存儲芯片，且所述Nand Flash存儲芯片的存儲容量大小優(yōu)選為16M。該技術領域的技術人 員不難想到，對于上述的控制器2的芯片的選用，不僅僅限于C8051F126芯片，很多型號的 芯片都可以實現(xiàn)其相同的功能，例如ARM微處理器，對于采用不同的處理芯片，其對應于不 同的硬件電路以及軟件設計。同樣，對于所述存儲模塊5的選用也可采用其他的存儲芯片 進行替代，這里不做一一贅述。 在具體的測試過程中，為了實現(xiàn)對各種型號待測LCM 4的測試，確保該LCM測試裝 置的通用性，按照本實用新型的一種實施方式，參照圖2，所述功能測試模塊包括電壓生 成電路11、背光驅動電路12、 OTP校正電路13、按鍵電路14以及串口通信電路15，且分別 連接至所述控制器2。 下面，就上述的電壓生成電路11、背光驅動電路12、0TP校正電路13、按鍵電路14 以及串口通信電路15分別作一簡單的介紹，如下 電壓生成電路ll，該電路用于為具有不同IO接口電壓的待測LCM4提供不同大小 的IO接口電壓IOVCC。按照本實用新型的一種實施方式，可以通過4顆LD0(low dropout regulator,低壓差線性穩(wěn)壓器)產生4種不同大小的電壓值，然后通過模擬開關選擇相 應電壓值，從而通過雙向總線信號收發(fā)器(dual-su卯ly bus transceiver)，例如型號為 an74avcl6t245，進而將控制器2的10接口輸出電壓轉換成該電壓值標準。 背光驅動電路，該電路用于實現(xiàn)對待測LCM的背光源，例如背光LED燈的驅動。 OTP校正電路，該電路用于對一部分待測LCM，例如CSTN(ColorSTN，彩色顯示屏) 模組的0TP(one time programe， 一次性可編程)功能提供電壓。在本實用新型提供的一 種實施例中，由于OTP校正電路用于CSTN的顯示效果校正，通過DAC(Digital to Analog Converter,數模轉換器)輸出可控的連續(xù)變化的電壓值，然后通過放大電路將該電壓放大 供OTP功能使用。 按鍵電路14，該路電路用于實現(xiàn)對該LCM測試裝置的操作，在該裝置工作期間向
該裝置提供不同指令。其主要操作方式為，通過按下按鍵電路14的每一個按鍵從而產生一
個中斷，控制器2在中斷服務程序中檢測按鍵的按下狀態(tài)，并執(zhí)行相應的命令。 串口通信電路15，該電路用于通過外部PC更新維護該LCM測試裝置，例如編輯更
新存儲于Nand Flash中的待測LCM4信息。在實際的應用中，例如，根據本實用新型提供的
一種實施例，該串口通信電路通過標準EIA/TIA232接口將該LCM測試裝置與外部PC相連，
實現(xiàn)數據通信，進而實現(xiàn)外部PC對該裝置的更新維護。 在該實用新型的一個實施例中，所述LCM測試裝置還包括EIA/TIA232接口 ，所述 串口通信電路的一端通過所述EIA/TIA232接口與外部PC連接，且所述串口通信電路的另 一端與所述控制器2連接，例如，所述串口通信電路15的另一端與所述控制器2的UART (全 雙工異步通信)接口連接。對于以上所述的EIA/TIA232接口，該技術領域的技術人員不難 想到還有相應的替代產品可以達到與其相同的功能和目的，例如USB接口等等，這里不對 之作一一贅述。在測試的過程中，所述存儲模塊5，例如所述Nand Flash存儲芯片里存儲了 不同型號待測LCM4的相關信息，所述串口通信電路通過所述控制器2上的EIA/TIA232接 口與外部PC連接，從而可以對存儲于存儲模塊5中的待測LCM4信息進行更新維護，從而實 現(xiàn)對不同型號待測LCM4的測試工作。 參照圖3，在本實用新型提供的LCM測試裝置中所述的轉接模塊3上包括有與所述控制器2的特定管腳一一對應相連的上拉電阻31以及下拉電阻32。利用該上拉電阻31以 及下拉電阻32，由于其與所述控制器2 (例如所述C8051F126芯片)不同的管腳進行連接， 例如將一個IO接口用一個100K歐姆的電阻上拉成高電平(邏輯l)，或下拉成低電平(邏 輯0)，因此在邏輯上可以將所述轉接模塊3設置成不同邏輯狀態(tài)，例如0101010101010101 邏輯，或者也可以認為該轉接模塊3利用上述上拉電阻以及下拉電阻與所述控制器2管腳 不同的連接關系，形成了一特定的硬件編碼，該硬件編碼對應于相應型號的待測LCM4。由于 在測試的過程中，其待測LCM4的型號不是唯一的，因此可以通過更換所述轉接模塊3的方 式，使得LCM測試裝置與所述待測LCM4匹配，并進行相應的功能測試。 該LCM測試裝置提供了測試待測LCM4各種指標的功能，并且其設計都是軟件可控 制的。在實際應用中，通過所述轉接模塊3與所述控制器2自帶的接口的正確連接，并配合 正確的軟件操作，從而實現(xiàn)面向各種不同類型待測LCM4的測試。并且，可以實現(xiàn)轉接模塊3 與控制器2的即插即用，從而相對于現(xiàn)有技術來說，能夠有效減少LCM測試裝置的數量，進 而降低成本，方便管理維護。 本實用新型提供的LCM測試裝置，由于采用了可更換的轉接模塊3對待測LCM4進 行測試，因此在待測LCM4具有多種不同型號的時候，僅需要通過更換轉接模塊3的類型即 可實現(xiàn)對該待測LCM4的測試，而不需要如現(xiàn)有技術中更換所有LCM測試裝置以實現(xiàn)對待測 LCM4進行測試，因此在一定程度上降低了 LCM的測試成本，且使得測試裝置的維護變得相 對簡單，在測試的過程中還能夠一定程度上提高測試的效率。 以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本 實用新型的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本實用新型 的保護范圍之內。
權利要求一種LCM測試裝置，其特征在于，包括功能測試模塊、存儲模塊、控制器以及可更換的轉接模塊，所述功能測試模塊以及存儲模塊分別與所述控制器電性連接，且待測LCM通過所述轉接模塊與所述控制器電性連接。
2. 根據權利要求1所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述功能測試模塊包括電壓生 成電路、背光驅動電路、OTP校正電路、按鍵電路以及串口通信電路，且分別連接至所述控制 器。
3. 根據權利要求2所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述LCM測試裝置還包括EIA/ TIA232接口 ，所述串口通信電路的一端通過所述EIA/TIA232接口與所述外部PC連接，且所 述串口通信電路的另一端與控制器連接。
4. 根據權利要求3所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述串口通信電路的另一端與所 述控制器的UART接口相連。
5. 根據權利要求1所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述控制器包括C8051F126芯片。
6. 根據權利要求l所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述存儲模塊為Nand Flash存 儲芯片。
7. 根據權利要求6所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述Nand Flash存儲芯片的存 儲容量大小為16M。
8. 根據權利要求1所述的LCM測試裝置，其特征在于，所述轉接模塊上包括有與所述控 制器的特定管腳一一對應相連的上拉電阻以及下拉電阻。
專利摘要本實用新型公開了一種LCM測試裝置，包括功能測試模塊、存儲模塊、控制器以及可更換的轉接模塊，所述功能測試模塊以及存儲模塊分別與所述控制器電性連接，且待測LCM通過所述轉接模塊與所述控制器電性連接。本實用新型提供的LCM測試裝置，由于采用了可更換的轉接模塊對待測LCM進行測試，因此在待測LCM具有多種不同型號的時候，僅需要通過更換轉接模塊的類型即可實現(xiàn)對該LCM的測試，而不需要如現(xiàn)有技術中更換所有LCM測試裝置以實現(xiàn)對待測LCM進行測試，因此在一定程度上降低了LCM的測試成本，且使得測試裝置的維護變得相對簡單，在測試的過程中還能夠一定程度上提高測試的效率。
文檔編號G01R31/00GK201489794SQ200920134319
公開日2010年5月26日 申請日期2009年7月29日 優(yōu)先權日2009年7月29日
發(fā)明者曾小榮, 高策 申請人:比亞迪股份有限公司