專利名稱：測試電路板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型為 一 種測試電路板，尤指 一 種用來測試待測試 元件的測試電蹈一反。
背景技術(shù)：
為了確保集成電路(integrated circuit, IC)出貨時的品質(zhì)，在 完成制造過程之后， 一般都會對每一顆IC執(zhí)行測試，制造商會 依據(jù)對IC執(zhí)行測試的結(jié)果，來決定此顆IC是否合格，并據(jù)以判 斷是否可將此顆IC供應(yīng)給下游的廠商。
請參閱圖1,圖l所示為現(xiàn)有技術(shù)用來執(zhí)行IC量產(chǎn)測試的測 試架構(gòu)示意圖。在該測試架構(gòu)中，利用測試才幾(tester ) IO來作 為測試待測試元件(Device Under Test, DUT ) 22的工具。其中， 待測試元件22可為一待測的集成電路(IC),而為了測試方便， 待測試元件22通常設(shè)置于一待測試元件電鴻4反(DUT board) 20上。
請參閱圖2，圖2所示為現(xiàn)有技術(shù)的測試電路板的示意圖。 如圖1以及圖2所示，通常，測試機(jī)(10)在進(jìn)行測試時，通常 都搭配專屬的待測試元件電路才反(20)來進(jìn)4于測試，而且根據(jù) 不同的待測試元件(22),其相對應(yīng)的待測試元件電路板(20) 上的電路也有所不同，待測試元件電路板(20)上通常包含有 一些基本的測試連接端點(diǎn)(24)用以對待測試元件(22)進(jìn)行 測試，例如電源端(DPS)、繼電器控制端(RELAY CONTROL)、 通道端(CHANNEL)、 CBIT端、萬用孔等等。
此外，亦有人為了解決利用人工接線所帶來的問題，而采 用了另一種方式，該種方式利用將所需使用的測試電路另外安裝在一印刷電路板上，并在印刷電路板上與待測試元件電路板
(DUT board)上分別設(shè)置多個排線接槽，再利用排線連接印 刷電贈^反與待測試元件電^各板(DUTboard),用以將測試信號 傳送至印刷電聘4反，以對待測試元件進(jìn)4亍測試。

實(shí)用新型內(nèi)容
過去在進(jìn)行IC測試時往往都需要利用人工接線的方式制作 待測試元件電鴻4反，但該方式相當(dāng)麻煩且容易4妄錯，此種情況 下會導(dǎo)致測試者必需浪費(fèi)額外的時間進(jìn)行除錯，不僅耗費(fèi)時間 又耗費(fèi)人力；如果利用連接一印刷電路的方式進(jìn)行測試，雖可 避免人工接線所生的問題，但如所需測試的待測試元件是需要 高穩(wěn)定電壓及20M HZ以上的高頻率的待測元件時，則容易因排 線在進(jìn)行信號傳輸時產(chǎn)生信號干擾，使得測試產(chǎn)生誤差；因此， 本實(shí)用新型主要目的為提供一種測試電路板，以解決上述的問 題。
本實(shí)用新型為 一種測試電鴻一反，安裝于一測試4凡上，用來 測試至少 一 待測試元件(device under test, DUT ), 包括至少 一測試電^各，利用印刷電^各的方式直4妻將該至少 一 測試電^各安 裝在該測試電路板上，且該至少 一 測試電路上設(shè)有至少 一待測 試元件插槽，用以放置該至少一待測試元件以進(jìn)行測試；及多 個信號接送點(diǎn)，用來接收該測試機(jī)所傳送來的多個測試信號， 并通過該至少 一 測試電路將該多個測試信號傳送至該至少 一 待 測試元件插槽來對該至少 一待測試元件進(jìn)行測試，且傳送該至 少一待測試元件根據(jù)該多個測試信號所對應(yīng)產(chǎn)生的多個輸出信 號至該測試才幾。
本實(shí)用新型所述的測試電路板，該至少 一 測試電路指四組 測試電^各，佳_ ;彈該測試電鴻*才反 一 次測i式四顆纟寺測試元件。本實(shí)用新型所述的測試電路4反，該測試電鴻一反上還包括 多個栓鎖柱或4全鎖孔，使該測試電^各^反穩(wěn)固地架設(shè)于該測試機(jī)上。
本實(shí)用新型所述的測試電鴻4反，該測試4幾為一VTT V8000 的測試才幾。
本實(shí)用新型所述的測試電贈4反，該至少一^f寺測試元件為集 成電路或晶圓。
本實(shí)用新型所述的測試電蹈^反，該至少一^f寺測試元件指在 進(jìn)行測試時需要2 0兆赫茲以上頻率的待測元件。
本實(shí)用新型所述的測試電路板，該至少 一 待測試元件指在 進(jìn)行測試時需要高穩(wěn)定電壓的待測元件，該高穩(wěn)定電壓的大小 介于2.5伏至60伏特之間。
通過本實(shí)用新型的測試電路板，不僅可解決利用人工接線
產(chǎn)生的費(fèi)時易出錯的問題外，同時亦因只需用利用單 一 測試電 路板即可進(jìn)行測，所以不會有因排線在進(jìn)行信號傳輸時產(chǎn)生信 號干擾的問題；如此可使測試的工作復(fù)雜度大幅簡化且使效率 提升，同時所測得的數(shù)據(jù)信息亦相對較為準(zhǔn)確。


圖l為現(xiàn)有技術(shù)用來執(zhí)行IC量產(chǎn)測試的測試架構(gòu)示意圖。
圖2所示為現(xiàn)有技術(shù)的測試電路板的示意圖。
圖3所示為本實(shí)用新型的測試電路板的示意圖(正面)。
圖4所示為本實(shí)用新型的測試電踏4反的示意圖(反面)。
圖5所示為測試^L的示意圖。
圖6所示為測試機(jī)的鎖固盤的示意圖。
圖7所示為本實(shí)用新型的測試電蹈4反結(jié)合于測試才幾上的示意圖。
具體實(shí)施方式
為使更了解本實(shí)用新型的目的、技術(shù)特征和效果，列舉一 較佳實(shí)施例，并配合所附圖式作詳細(xì)i兌明。
請參閱圖3至圖7，本實(shí)用新型是一種測試電路板(3 )，安 裝于一測試機(jī)(4 )上(本實(shí)施方式以VLSI TEST TECHNOLOGY Inc.所生產(chǎn)的VTT V8000的測試機(jī)做說明)，可一次測試四顆待 觀'Ji式元4牛(device under test, DUT ); i亥觀'j ^式電^各一反包4舌
四組測試電路(31 ),利用印刷電路的方式直接將所需的測 試電路安裝在該測試電^各板(3 )上，且該測試電^各(31 )上設(shè) 有四組待測試元件插槽(32 ),用以放置該待測試元件以進(jìn)行測 試；
多個信號接送點(diǎn)(33 ),用來接收該測試機(jī)(4)的排針(41 ) 所傳送來的多個測試信號，并通過該測試電路(31)將該測試 信號傳送至該待測試元件插槽(32)來對該待測試元件進(jìn)行測 試；同時亦傳送該測試元件才艮據(jù)該測試信號所對應(yīng)產(chǎn)生的多個 輸出信號至該測試機(jī)(4);及
多個栓鎖孔(34 )(亦可為栓鎖柱，依據(jù)不同測試機(jī)的不同 測試方式而改變)，用以結(jié)合至該測試才幾(4)上乂t應(yīng)的一全鎖柱 (42)上，再利用該測試機(jī)(4)上的鎖固盤(43)將該測試電 路板(3)穩(wěn)固地架設(shè)于該測試機(jī)(4)上。
本實(shí)用新型的測試電路板(3 )尤指利用于測試集成電路 (Integrated Circuit, IC)或晶圓，且測試的環(huán)境需要高穩(wěn)定電壓 及20MHZ以上的高頻率時，與其他方式或測試電^各板比較，所 得到的效果更為顯著，其中該高穩(wěn)定電壓范圍為2.5V至60V， 其可在提供穩(wěn)定電源的同時達(dá)到測試值的精準(zhǔn)。
由上述各實(shí)施例可知，通過本實(shí)用新型的測試 路板，不 僅可解決利用人工接線產(chǎn)生的費(fèi)時易出錯的問題，同時亦因只
6需利用單一測試電路板即可進(jìn)行測，所以不會有因排線在進(jìn)行
信號傳輸時產(chǎn)生信號干擾的問題；如此可使測試的工作復(fù)雜度 大幅簡化且使效率提升，同時所測得的數(shù)據(jù)信息亦相對較為準(zhǔn)確。
以上所述僅為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例，然其并非用以限定 本實(shí)用新型的范圍，任何熟悉本項(xiàng)技術(shù)的人員，在不脫離本實(shí) 用新型的精神和范圍內(nèi)，可在此基礎(chǔ)上做進(jìn)一步的改進(jìn)和變化， 因此本實(shí)用新型的保護(hù)范圍當(dāng)以本申請的權(quán)利要求書所界定的 范圍為準(zhǔn)。
附圖中符號的簡單說明如下
10測試機(jī)
20待測試元件電贈4反
22待測試元件
24:連接端點(diǎn)
28連接線
3:測i式電3各氺反
31測試電鴻^
32^f寺測試元件插槽
33信號接送點(diǎn)
34.栓鎖孔
4:測試枳j
41排針
42:栓鎖柱
43:鎖固盤。
權(quán)利要求1.一種測試電路板，其特征在于，安裝于一測試機(jī)上，用來測試至少一待測試元件，該測試電路板包括至少一測試電路，利用印刷電路的方式直接將該至少一測試電路安裝在該測試電路板上，且該至少一測試電路上設(shè)有至少一待測試元件插槽，該至少一待測試元件插槽用以放置該至少一待測試元件以進(jìn)行測試；及多個信號接送點(diǎn)，用來接收該測試機(jī)所傳送來的多個測試信號，并通過該至少一測試電路將該多個測試信號傳送至該至少一待測試元件插槽來對該至少一待測試元件進(jìn)行測試，且傳送該至少一待測試元件根據(jù)該多個測試信號所對應(yīng)產(chǎn)生的多個輸出信號至該測試機(jī)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試電路板，其特征在于，該至少 一測試電3各指四組測試電3各，使得該測試電鴻4反一次測試四 顆^f寺測試元件。
3. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試電路板，其特征在于，該觀1
試電路板上還包括多個栓鎖柱或栓鎖孔，〗吏該測試電路板穩(wěn) 固地架設(shè)于該測試才幾上。
4. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試電路板，其特征在于，該測 試4幾為一VTT V8000的測試才幾。
5. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試電路板，其特征在于，該至 少一待測試元件為集成電路或晶圓。
6. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的測試電路板，其特征在于，該至 少 一 待測試元件指在進(jìn)行測試時需要2 0兆赫茲以上頻率的待測 元件。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試電路板，其特征在于，該至 少 一待測試元件指在進(jìn)行測試時需要高穩(wěn)定電壓的待測元件， 該高穩(wěn)定電壓的大小介于2.5伏至60伏特之間。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種測試電路板，安裝于一測試機(jī)上，用來測試至少一待測試元件，該測試電路板包括至少一測試電路，利用印刷電路的方式直接將該至少一測試電路安裝在該測試電路板上，且該至少一測試電路上設(shè)有至少一待測試元件插槽，用以放置該至少一待測試元件以進(jìn)行測試；及多個信號接送點(diǎn)，用來接收該測試機(jī)所傳送來的多個測試信號，并通過該至少一測試電路將該多個測試信號傳送至該至少一待測試元件插槽來對該至少一待測試元件進(jìn)行測試，且傳送該至少一待測試元件根據(jù)該多個測試信號所對應(yīng)產(chǎn)生的多個輸出信號至該測試機(jī)。本實(shí)用新型可使測試的工作復(fù)雜度大幅簡化且使效率提升，同時所測得的數(shù)據(jù)信息亦相對較為準(zhǔn)確。
文檔編號G01R31/26GK201417298SQ20092015060
公開日2010年3月3日 申請日期2009年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月28日
發(fā)明者蔣維棻, 賈永旺 申請人:普誠科技股份有限公司