專利名稱：一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架，具體地說是一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架，可以將恒溫晶體振蕩器加以老化鍛煉、質(zhì)量檢測(cè)、去劣存優(yōu)的測(cè)試設(shè)備或測(cè)試儀器，用來放置、支撐它們的架子。
背景技術(shù)：
通常，晶體振蕩器的老化測(cè)試架，尤其是實(shí)驗(yàn)室中使用的晶體振蕩器的老化測(cè)試架，由于設(shè)計(jì)不合理、結(jié)構(gòu)不到位等原因，使得晶體振蕩器的老化測(cè)試架不能適應(yīng)大批量、產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)的要求；實(shí)驗(yàn)室中，由于晶體振蕩器的數(shù)量少，對(duì)老化測(cè)試架要求不高，其架子的層次數(shù)量少、造價(jià)高，每層擱板的角度不對(duì)，由于原有的每層擱板都是水平面放置、又是面積小，操作、使用不方便，尤其是觀察晶體振蕩器的測(cè)試指示燈或安插晶體振蕩器時(shí)，觀察、操作、使用不方便，其設(shè)計(jì)不合理、結(jié)構(gòu)不到位；如要將實(shí)驗(yàn)室成果轉(zhuǎn)化為現(xiàn)實(shí)生產(chǎn)力時(shí)，對(duì)老化測(cè)試架的要求高，需要設(shè)計(jì)合理、結(jié)構(gòu)到位，層次數(shù)量多、造價(jià)低廉，觀察、操作、使用方便，必須適應(yīng)大批量、產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)的需求。

發(fā)明內(nèi)容為了克服已有技術(shù)中晶體振蕩器的老化測(cè)試架設(shè)計(jì)不合理、結(jié)構(gòu)不到位，層次數(shù)量少、造價(jià)高，觀察、操作、使用不方便等不足與缺陷，本實(shí)用新型提供了一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架，設(shè)計(jì)合理、結(jié)構(gòu)到位，層次數(shù)量多、造價(jià)低廉，觀察、操作、使用方便，適應(yīng)大批量、產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)的要求。 技術(shù)方案一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架，包括支柱、擱板與梁，其特征在于支柱有四根支柱左前支柱、右前支柱、左后支柱、右后支柱，四根支柱豎立著；為了加固老化測(cè)試架，在四根支柱的上端處相應(yīng)安裝上梁，有前梁、左梁、右梁、后梁；左前支柱與右前支柱之間連接前梁，左前支柱與左后支柱之間連接左梁，右前支柱與右后支柱之間連接右梁，左后支柱與右后支柱之間連接后梁，四根上梁組成的頂部矩形面可以是斜面；在四根支柱的著地柱腳處相應(yīng)安裝下梁，有左下梁與右下梁；在左前支柱與左后支柱的著地柱腳之間連接左下梁，在右前支柱與右后支柱的著地柱腳之間連接右下梁；在上梁與下梁之間安裝六層擱板，每層擱板的四只角相應(yīng)與四根支柱連接，每層擱板的上面、下面都是斜面，這些斜面的前邊低、后邊高，斜面與水平面形成一定的角度，其角度可為30度至75度，最好為50±10度；每層擱板的前面連接擋板，擋板的左、右兩端相應(yīng)與左前支柱、右前支柱連接；擋板擋著擱板；在前梁的中部安裝號(hào)碼牌，以便給老化測(cè)試架編號(hào)；一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架可由不銹鋼或鋁合金制作，其上、下高度為180士10cm，前、后寬度為38士10cm，左、右長(zhǎng)度為80士10cm，其最下層的擱板之底面距離四根支柱的著地面為33士5cm，而上、下層擱板之間的間隔距離都相同，最上層的擱板與上梁之間的距離和上、下層擱板之間的間隔距離也相同；一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架之左側(cè)面結(jié)構(gòu)與右側(cè)面結(jié)構(gòu)對(duì)稱。[0005] 本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是提供了一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架，設(shè)計(jì)合理、結(jié)構(gòu)到位，層次數(shù)量多、造價(jià)低廉，觀察、操作、使用方便，適應(yīng)大批量、產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)的要求。克服了已有技術(shù)中晶體振蕩器的老化測(cè)試架之設(shè)計(jì)不合理、結(jié)構(gòu)不到位，層次數(shù)量少、造價(jià)高，觀察、操作、使用不方便等不足與缺陷。

圖1 :一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架之結(jié)構(gòu)示意圖[0007] 圖2 :—種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架之左側(cè)面結(jié)構(gòu)示意圖[0008] 具體實(shí)施辦式[0009]
以下結(jié)合附圖詳述本實(shí)用新型 —種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架，包括支柱、擱板與梁，其特征在于支柱有四根支柱左前支柱1、右前支柱2、左后支柱3、右后支柱4，四根支柱豎立著；為了加固老化測(cè)試架，在四根支柱的上端處相應(yīng)安裝上梁，有前梁5、左梁11、右梁13、后梁12 ;左前支柱1與右前支柱2之間連接前梁5，左前支柱1與左后支柱3之間連接左梁11，右前支柱2與右后支柱4之間連接右梁13，左后支柱3與右后支柱4之間連接后梁12，四根上梁組成的頂部矩形面是斜面；在四根支柱的著地柱腳處相應(yīng)安裝下梁，有左下梁9與右下梁10 ;在左前支柱1與左后支柱3的著地柱腳之間連接左下梁9，在右前支柱2與右后支柱4的著地柱腳之間連接右下梁10 ;在上梁與下梁之間安裝六層擱板8，每層擱板8的四只角相應(yīng)與四根支柱連接，每層擱板8的上面、下面都是斜面，這些斜面的前邊低、后邊高，斜面與水平面形成的角度為50度；每層擱板8的前面連接擋板7，擋板7的左、右兩端相應(yīng)與左前支柱1、右前
支柱2連接；擋板7擋著擱板8 ;在前梁5的中部安裝號(hào)碼牌6，以便給老化測(cè)試架編號(hào)；一
種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架由鋁合金制作，其上、下高度為180cm，前、后寬度為38cm，左、右長(zhǎng)度為80cm，其最下層的擱板8之底面距離四根支柱的著地面為33cm，而上、下層擱板8之間的間隔距離都相同，最上層的擱板8與上梁之間的距離和上、下層擱板8之間的間隔距離也相同；一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架之左側(cè)面結(jié)構(gòu)與右側(cè)面結(jié)構(gòu)對(duì)稱。
權(quán)利要求一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架，包括支柱、擱板與梁，其特征在于支柱有四根支柱左前支柱(1)、右前支柱(2)、左后支柱(3)、右后支柱(4)，四根支柱豎立著；在四根支柱的上端處相應(yīng)安裝上梁，有前梁(5)、左梁(11)、右梁(13)、后梁(12)；左前支柱(1)與右前支柱(2)之間連接前梁(5)，左前支柱(1)與左后支柱(3)之間連接左梁(11)，右前支柱(2)與右后支柱(4)之間連接右梁(13)，左后支柱(3)與右后支柱(4)之間連接后梁(12)，四根上梁組成的頂部矩形面是斜面；在四根支柱的著地柱腳處相應(yīng)安裝下梁，有左下梁(9)與右下梁(10)；在左前支柱(1)與左后支柱(3)的著地柱腳之間連接左下梁(9)，在右前支柱(2)與右后支柱(4)的著地柱腳之間連接右下梁(10)；在上梁與下梁之間安裝六層擱板(8)，每層擱板(8)的四只角相應(yīng)與四根支柱連接，每層擱板(8)的上面、下面都是斜面，這些斜面的前邊低、后邊高，斜面與水平面形成的角度為30度至75度；每層擱板(8)的前面連接擋板(7)，擋板(7)的左、右兩端相應(yīng)與左前支柱(1)、右前支柱(2)連接；擋板(7)擋著擱板(8)；在前梁(5)的中部安裝號(hào)碼牌(6)；一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架，其上、下高度為180±10cm，前、后寬度為38±10cm，左、右長(zhǎng)度為80±10cm，其最下層的擱板(8)之底面距離四根支柱的著地面為33±5cm，上、下層擱板(8)之間的間隔距離都相同，最上層的擱板(8)與上梁之間的距離和上、下層擱板(8)之間的間隔距離也相同；一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架之左側(cè)面結(jié)構(gòu)與右側(cè)面結(jié)構(gòu)對(duì)稱。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種恒溫晶體振蕩器的老化測(cè)試架，有四根支柱豎立著；四根支柱的上端處相應(yīng)裝上梁；四根上梁的頂部矩形面是斜面；四根支柱的著地柱腳處相應(yīng)安裝下梁；上梁與下梁之間安裝六層擱板(8)，每層擱板(8)的四只角相應(yīng)與四根支柱連接，每層擱板(8)的上面、下面都是斜面，這些斜面的前邊低、后邊高，斜面與水平面形成的角度為30度至75度；每層擱板(8)的前面連接擋板(7)，擋板(7)的左、右兩端相應(yīng)與左前支柱(1)、右前支柱(2)連接；前梁(5)的中部安裝號(hào)碼牌(6)；上、下層擱板(8)之間的間隔距離都相同，最上層的擱板(8)與上梁之間的距離和上、下層擱板(8)之間的間隔距離相同；該架左側(cè)面結(jié)構(gòu)與右側(cè)面結(jié)構(gòu)對(duì)稱。
文檔編號(hào)G01R1/04GK201548569SQ200920198278
公開日2010年8月11日 申請(qǐng)日期2009年10月12日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月12日
發(fā)明者林麗君, 林正其 申請(qǐng)人:平湖市電子有限公司