專利名稱：有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置，用于校準(zhǔn)目前存在的有載開關(guān)特
性測試儀。
背景技術(shù)：
目前，市場上存在各種型號、樣式的有載開關(guān)特性測試儀，有載開關(guān)特性測試儀主要為了測量有載開關(guān)性能。目前市場上針對有載開關(guān)特性測試儀計(jì)量溯源校準(zhǔn)存在如下的問題 1.有載調(diào)壓變壓器在電網(wǎng)中可用于調(diào)壓、電網(wǎng)聯(lián)絡(luò)、無功分配以及調(diào)整負(fù)荷潮流，所以，隨著電力系統(tǒng)的發(fā)展，有載調(diào)壓變壓器已成為現(xiàn)代化電網(wǎng)不可缺少的關(guān)鍵設(shè)備之一。[0004] 2.隨著我國經(jīng)濟(jì)社會發(fā)展，用電量日益增長，變壓器也在不斷提高電壓等級，500kV變壓器在逐漸推廣，1000kV變壓器也開始在電網(wǎng)中應(yīng)用。有載開關(guān)作為調(diào)節(jié)分節(jié)比的重要儀器，大量應(yīng)用于變壓器中。且100kV以上變壓器有載開關(guān)總是在帶電狀態(tài)下運(yùn)作，因此其能否正常工作直接關(guān)系到用電安全，甚至人員安全。因此有載開關(guān)測試儀已大量應(yīng)用于變壓器生產(chǎn)和使用單位。而目前計(jì)量部門并沒有開展有載開關(guān)測試儀相關(guān)校準(zhǔn)工作。[0005] 3.隨著變壓器電壓等級逐步提升，有載開關(guān)能否正常已逐漸成為影響變壓器能否安全穩(wěn)定運(yùn)行的重要因素。而目前因有載開關(guān)發(fā)生故障造成的用電事故也由升高的趨勢，造成了很大的經(jīng)濟(jì)損失，甚至危及人身安全。因此及早對有載開關(guān)的安全狀態(tài)進(jìn)行判斷，對變壓器生產(chǎn)和使用單位意義重大。 4.有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置主要用來模擬有載開關(guān)動作，包括過渡時(shí)間和過渡電阻。目前國內(nèi)的過渡過程大多用繼電器模擬，因繼電器本身不穩(wěn)定，容易產(chǎn)生閉合彈跳，且有幾毫秒的動作延時(shí)，造成目前有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置的研制一直難以突破準(zhǔn)確測量的瓶頸，難以在全社會推廣。

發(fā)明內(nèi)容針對上述的問題，本實(shí)用新型提供了一種由綜合測試系統(tǒng)和獨(dú)立測試系統(tǒng)兩部分組成的有載開關(guān)特性測試儀校準(zhǔn)裝置。綜合測試系統(tǒng)集合時(shí)間和電阻兩項(xiàng)分量，可以同時(shí)提供高精度電阻和信號變化時(shí)間；獨(dú)立測試系統(tǒng)可分別提供電阻和時(shí)間分量，其中時(shí)間分量由單片機(jī)和高速電子開關(guān)控制，時(shí)間性能良好。 —種有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置，包括一有載開關(guān)開關(guān)測試儀，與有載開關(guān)測試儀連接有一提供電阻量和時(shí)間量的綜合測試系統(tǒng)，綜合測試系統(tǒng)連接到一中央處理器，在綜合測試系統(tǒng)和中央處理器之間還設(shè)置一繼電器控制綜合測試系統(tǒng)；在有載開關(guān)測試儀和中央處理器之間還設(shè)置一時(shí)間提供系統(tǒng)和一電阻提供系統(tǒng)，其中時(shí)間提供系統(tǒng)和中央處理器之間設(shè)置有一電子開關(guān)控制時(shí)間提供系統(tǒng)。 所述中央處理器包括一單片機(jī)，單片機(jī)連接到一計(jì)算機(jī)。 綜合測試系統(tǒng)集合電阻和時(shí)間兩項(xiàng)分量，可以同時(shí)提供高精度電阻和信號變化時(shí)間，可以模擬有載開關(guān)帶點(diǎn)工作過程，而由繼電器作為開關(guān)切換元件，電阻在切換前后，電阻值產(chǎn)生響應(yīng)變化，整個(gè)過程由單片機(jī)監(jiān)控，變化過程可以顯示出來，達(dá)到校準(zhǔn)有載開關(guān)測試儀的目的。 而時(shí)間提供系統(tǒng)和電阻提供系統(tǒng)則分別提供時(shí)間分量和電阻分量，時(shí)間提供系統(tǒng)由電子開關(guān)特別是高速電子開關(guān)控制，高速電子開關(guān)精度高，在納秒級別，時(shí)間性能良好。電阻參量由電阻提供系統(tǒng)單獨(dú)提供，而不考慮時(shí)間。這樣，極大的完善了有載開關(guān)測試儀的溯源校準(zhǔn)方法，是對綜合測試系統(tǒng)的有益補(bǔ)充。 上述各種裝置受單片機(jī)控制，而測得的數(shù)據(jù)則有單片機(jī)傳輸給計(jì)算機(jī)，還設(shè)置有顯示裝置和打印接口 ，便于顯示、打印等。 這樣，本實(shí)用新型提供的有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置，在對有載開關(guān)動作過程完全模擬的情況下，又提供了動過過程高精度獨(dú)立測量的途徑，確保有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)的準(zhǔn)確可靠。通過對硬件設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì)的不斷修正和調(diào)試，確保該校準(zhǔn)裝置的穩(wěn)定性、準(zhǔn)確性和安全性。

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例的電氣原理圖。
具體實(shí)施方式
下面以非限定性的實(shí)施例來進(jìn)一步解釋、說明本技術(shù)方案。 —種有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置，包括一有載開關(guān)開關(guān)測試儀l，與有載開關(guān)測試儀1連接有一提供電阻量和時(shí)間量的綜合測試系統(tǒng)2，綜合測試系統(tǒng)2連接到一中央處理器，在綜合測試系統(tǒng)和中央處理器之間還設(shè)置一繼電器6控制綜合測試系統(tǒng)2 ;在有載開關(guān)測試儀1和中央處理器之間還設(shè)置一時(shí)間提供系統(tǒng)3和一電阻提供系統(tǒng)4，其中時(shí)間提供系統(tǒng)3和中央處理器之間設(shè)置有一電子開關(guān)5控制時(shí)間提供系統(tǒng)。所述中央處理器包括一單片機(jī)7，單片機(jī)連接到一計(jì)算機(jī)8。 應(yīng)用時(shí)，當(dāng)使用綜合測試系統(tǒng)2時(shí)，有載開關(guān)測試儀1接入綜合測試系統(tǒng)回路，綜合測試系統(tǒng)2模擬有載開關(guān)帶電變化過程。由繼電器6作為開關(guān)切換元件，電阻在切換前后，電阻值產(chǎn)生響應(yīng)變化。整個(gè)過程由單片機(jī)7監(jiān)控，變化過程可以打印成曲線圖。具體時(shí)間和電阻量值可以在有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置的顯示界面上顯示。 當(dāng)使用獨(dú)立測試系統(tǒng)(即時(shí)間提供系統(tǒng)3和電阻提供系統(tǒng)4)時(shí)，有載開關(guān)測試儀1當(dāng)測量時(shí)間參量時(shí)，有載開關(guān)測試儀1接入時(shí)間提供系統(tǒng)3回路，由高速電子開關(guān)5作為開關(guān)切換元件，電阻在切換前后，電阻值產(chǎn)生響應(yīng)變化。整個(gè)過程由單片機(jī)7監(jiān)控，變化過程可以打印成曲線圖。具體時(shí)間和電阻量值可以在有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置的顯示界面上顯示。 當(dāng)測量電阻參量時(shí)，有載開關(guān)測試儀1接入電阻提供系統(tǒng)4回路，回路提供標(biāo)準(zhǔn)電阻，有載開關(guān)測試儀將直接對此電阻值進(jìn)行測量。
權(quán)利要求一種有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置，包括一有載開關(guān)開關(guān)測試儀，其特征在于與有載開關(guān)測試儀連接有一提供電阻量和時(shí)間量的綜合測試系統(tǒng)，綜合測試系統(tǒng)連接到一中央處理器，在綜合測試系統(tǒng)和中央處理器之間還設(shè)置一繼電器控制綜合測試系統(tǒng)；在有載開關(guān)測試儀和中央處理器之間還設(shè)置一時(shí)間提供系統(tǒng)和一電阻提供系統(tǒng)，其中時(shí)間提供系統(tǒng)和中央處理器之間設(shè)置有一電子開關(guān)控制時(shí)間提供系統(tǒng)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置，其特征在于所述中央處理器包括一單片機(jī)，單片機(jī)連接到一計(jì)算機(jī)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置，其特征在于與計(jì)算機(jī)連接設(shè)置有顯示裝置、打印接口。
專利摘要一種有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)裝置，包括一有載開關(guān)開關(guān)測試儀，與有載開關(guān)測試儀連接有一提供電阻量和時(shí)間量的綜合測試系統(tǒng)，綜合測試系統(tǒng)連接到一中央處理器，在綜合測試系統(tǒng)和中央處理器之間還設(shè)置一繼電器控制綜合測試系統(tǒng)；在有載開關(guān)測試儀和中央處理器之間還設(shè)置一時(shí)間提供系統(tǒng)和一電阻提供系統(tǒng)，其中時(shí)間提供系統(tǒng)和中央處理器之間設(shè)置有一電子開關(guān)控制時(shí)間提供系統(tǒng)。在對有載開關(guān)動作過程完全模擬的情況下，又提供了動過過程高精度獨(dú)立測量的途徑，確保有載開關(guān)測試儀校準(zhǔn)的準(zhǔn)確可靠。通過對硬件設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì)的不斷修正和調(diào)試，確保該校準(zhǔn)裝置的穩(wěn)定性、準(zhǔn)確性和安全性。
文檔編號G01R35/00GK201522551SQ200920240280
公開日2010年7月7日 申請日期2009年10月30日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月30日
發(fā)明者于曉琳, 孫書玉, 宋韜, 岳建疆, 崔建高 申請人:山東省計(jì)量科學(xué)研究院