專利名稱：數(shù)控衰減器測試系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種用于對數(shù)控衰減器的衰減性能進行測試的數(shù)控衰減器測試 系統(tǒng)。
背景技術：
設備生產廠家在使用數(shù)控衰減器(如PEREGRINE公司的PE4302/4等)生產設備 整機時，需要對數(shù)控衰減器的衰減功能進行測試。目前，對數(shù)控衰減器的衰減功能進行測試 的方法主要有下述兩種方法(1)在設備整機制造完好之后，在測試設備整機的整體功能的時候驗證數(shù)控衰減 器的衰減功能，這是大多設備生產廠家使用的方法。但這種檢測方法并不能一步到位地判 斷出是數(shù)控衰減器還是設備整機的其它模塊出現(xiàn)了故障，只能通過逐步判斷并替換的方式 查找定位，以確定數(shù)控衰減器是否正常，因此這種方法非常費時間，效率很低，而且并不能 測試出數(shù)控衰減器在整個衰減范圍內(如PEREGRINE公司的PE4302/4的衰減范圍是OdB 31. 5dB)的衰減功能。(2)由射頻信號前置輸入設備輸入射頻信號至被測數(shù)控衰減器，經(jīng)過數(shù)控衰減器 衰減后的射頻信號連接到頻譜分析儀，用一個電阻陣列配合撥位開關作為衰減測試裝置， 單獨測試數(shù)控衰減器在各個具體衰減值下的衰減功能，這種測試方法可以直接測試數(shù)控衰 減器的衰減功能。但是，每測試一個具體衰減值下的衰減功能時，都要通過調整幾個撥位開 關來調節(jié)陣列電阻的值，測試效率也很低；而且數(shù)控衰減器的衰減值只能通過計算電阻陣 列的電阻值才能算出來，而不能直觀地顯示出來；再者，這種測試方法只能單獨地測試數(shù)控 衰減器在串行或并行工作模式中的一種工作模式下的衰減功能。綜上所述，目前還沒有一種能夠高效、快速、方便地對數(shù)控衰減器的衰減功能進行 測試的設備。
發(fā)明內容本實用新型所要解決的技術問題是提供一種能夠高效快速、準確、方便地對數(shù)控 衰減器的衰減功能進行測試的數(shù)控衰減器測試系統(tǒng)。采用的技術方案如下—種數(shù)控衰減器測試系統(tǒng)，包括射頻信號前置輸入設備、衰減測試裝置和頻譜分 析儀，其特征是所述衰減測試裝置包括(1)輸入模塊，包括串行/并行工作模式選擇開關、手動/自動測試模式切換開關、 衰減值增加按鍵和衰減值減小按鍵；串行/并行工作模式選擇開關用于輸入串行/并行工 作模式選擇信號；手動/自動測試模式切換開關用于輸入手動/自動測試模式切換信號； 當手動/自動測試模式切換開關切換至手動測試模式位置時，衰減值增加按鍵和衰減值減 小按鍵用于輸入衰減值調節(jié)信號；輸入模塊將串行/并行工作模式選擇信號、手動/自動測 試模式切換信號和衰減值調節(jié)信號傳輸給微控制器；(2)微控制器，對接收到的串行/并行工作模式選擇信號、手動/自動測試模式切換信號和衰減值調節(jié)信號進行處理后，輸出串行/并行工作模式切換信號至測試夾具上的 串行/并行工作模式切換信號輸入接口，并輸出衰減值信號至測試夾具上的衰減值信號輸 入接口，同時輸出衰減值信號至顯示模塊；(3)顯示模塊，接收來自微控制器的衰減值信號并實時顯示衰減值數(shù)值；(4)測試夾具，用于放置被測試的數(shù)控衰減器，測試夾具上設有射頻信號輸入接 口、射頻信號輸出接口、串行/并行工作模式切換信號輸入接口和衰減值信號輸入接口，其 中射頻信號輸入接口與射頻信號前置輸入設備的射頻信號輸出端口連接，射頻信號輸出接 口與頻譜分析儀的射頻信號輸入端口連接，串行/并行工作模式切換信號輸入接口和衰減 值信號輸入接口分別與微控制器的相應端口連接；(5)電源模塊，為微控制器、輸入模塊和顯示模塊提供工作電源。微控制器對接收到的串行/并行工作模式選擇信號、手動/自動測試模式切換信 號和衰減值調節(jié)信號進行處理的方式為當手動/自動測試模式切換開關切換至手動測試 模式位置時，微控制器使被測試的數(shù)控衰減器工作在手動測試模式，由微控制器根據(jù)衰減 值增加按鍵或衰減值減小按鍵輸入的衰減值調節(jié)信號調節(jié)衰減值信號的大小，按衰減值增 加按鍵時使衰減值增大，按衰減值減小按鍵時使衰減值減??；當手動/自動測試模式切換 開關切換至自動測試模式位置時，微控制器使被測試的數(shù)控衰減器工作在自動測試模式， 由微控制器自動調節(jié)衰減值信號的大?。划敶?并行工作模式選擇開關切換至串行工作 模式位置時，微控制器輸出串行/并行工作模式切換信號使被測試的數(shù)控衰減器按串行工 作模式工作；當串行/并行工作模式選擇開關切換至并行工作模式位置時，微控制器輸出 串行/并行工作模式切換信號使被測試的數(shù)控衰減器按并行工作模式工作。當數(shù)控衰減器按串行工作模式工作時，微控制器串行輸出衰減值至被測試的數(shù)控 衰減器；當數(shù)控衰減器按并行工作模式工作時，微控制器并行輸出衰減值至被測試的數(shù)控 衰減器。在優(yōu)選方案中，數(shù)控衰減器測試系統(tǒng)還包括微型計算機，頻譜分析儀的數(shù)據(jù)輸出 端口通過RS232接口與微型計算機的數(shù)據(jù)輸入端口連接。這樣更便于操作人員分析被測試 的數(shù)控衰減器的衰減功能。上述顯示模塊可采用數(shù)碼管顯示裝置。通常，上述電源模塊采用直流電源。本實用新型通過手動/自動測試模式切換開關、衰減值增加按鍵和衰減值減小按 鍵的輸入，經(jīng)過微控制器的處理，可方便地輸入不同的衰減值至被測試的數(shù)控衰減器，實現(xiàn) 對數(shù)控衰減器全部范圍衰減值的測試；通過顯示模塊的顯示能夠實時、直觀地顯示出所測 試的某一具體衰減值，通過頻譜分析儀或微型計算機的應用分析軟件能夠直觀地顯示出衰 減后的射頻信號，從而使測試者可以直觀地判斷所測試的數(shù)控衰減器的衰減功能的正確 性；通過串行/并行工作模式選擇開關，能夠在同一個衰減測試裝置上測試數(shù)控衰減器在 串行或并行工作模式中的任一種工作模式下的衰減功能；通過手動/自動測試模式切換開 關能夠很方便地對數(shù)控衰減器進行自動或手動測試的切換；測試夾具的設置便于測試者放 置或取出數(shù)控衰減器?？傊緦嵱眯滦屯ㄟ^軟硬件相結合的方式，能夠高效快速、準確、方 便地對數(shù)控衰減器進行全范圍的衰減功能測試。
圖1是本實用新型優(yōu)選實施例的結構框圖；圖2是圖1中衰減測試裝置的結構框圖；圖3是圖2中微控制器的控制流程圖。
具體實施方式
如圖1所示，這種數(shù)控衰減器測試系統(tǒng)包括射頻信號前置輸入設備1、衰減測試裝 置2、頻譜分析儀3和微型計算機4。如圖2所示，衰減測試裝置2包括(1)輸入模塊21，包括串行/并行工作模式選擇開關211、手動/自動測試模式切 換開關212、衰減值增加按鍵213和衰減值減小按鍵214 ；串行/并行工作模式選擇開關211 用于輸入串行/并行工作模式選擇信號；手動/自動測試模式切換開關212用于輸入手動 /自動測試模式切換信號；當手動/自動測試模式切換開關212切換至手動測試模式位置 時，衰減值增加按鍵213和衰減值減小按鍵214用于輸入衰減值調節(jié)信號；輸入模塊21將 串行/并行工作模式選擇信號、手動/自動測試模式切換信號和衰減值調節(jié)信號傳輸給微 控制器22 ；(2)微控制器22，對接收到的串行/并行工作模式選擇信號、手動/自動測試模式 切換信號和衰減值調節(jié)信號進行處理后，輸出串行/并行工作模式切換信號至測試夾具24 上的串行/并行工作模式切換信號輸入接口 243，并輸出衰減值信號至測試夾具24上的衰 減值信號輸入接口 244，同時輸出衰減值信號至顯示模塊23 ；微控制器22對接收到的串行/并行工作模式選擇信號、手動/自動測試模式切換 信號和衰減值調節(jié)信號進行處理的方式為當手動/自動測試模式切換開關212切換至手 動測試模式位置時，微控制器22使被測試的數(shù)控衰減器工作在手動測試模式，由微控制器 22根據(jù)衰減值增加按鍵213或衰減值減小按鍵214輸入的衰減值調節(jié)信號調節(jié)衰減值信號 的大小，按衰減值增加按鍵213時使衰減值增大，按衰減值減小按鍵214時使衰減值減??； 當手動/自動測試模式切換開關212切換至自動測試模式位置時，微控制器22使被測試的 數(shù)控衰減器工作在自動測試模式，由微控制器22自動調節(jié)衰減值信號的大??；當串行/并 行工作模式選擇開關211切換至串行工作模式位置時，微控制器22輸出串行/并行工作模 式切換信號使被測試的數(shù)控衰減器按串行工作模式工作，微控制器22串行輸出衰減值至 被測試的數(shù)控衰減器；當串行/并行工作模式選擇開關211切換至并行工作模式位置時，微 控制器22輸出串行/并行工作模式切換信號使被測試的數(shù)控衰減器按并行工作模式工作， 微控制器22并行輸出衰減值至被測試的數(shù)控衰減器；(3)顯示模塊23，接收來自微控制器22的衰減值信號并實時顯示衰減值數(shù)值；本 實施例中，顯示模塊23采用數(shù)碼管顯示裝置；(4)測試夾具24，用于放置被測試的數(shù)控衰減器，測試夾具24上設有射頻信號輸 入接口 241、射頻信號輸出接口 242、串行/并行工作模式切換信號輸入接口 243和衰減值 信號輸入接口 244，其中射頻信號輸入接口 241與射頻信號前置輸入設備1的射頻信號輸出 端口連接，射頻信號輸出接口 242與頻譜分析儀3的射頻信號輸入端口連接，串行/并行工 作模式切換信號輸入接口 243和衰減值信號輸入接口 244分別與微控制器22的相應端口連接；(5)電源模塊25，為微控制器22、輸入模塊21和顯示模塊23提供工作電源；電源 模塊25采用直流電源；頻譜分析儀3的數(shù)據(jù)輸出端口通過RS232接口與微型計算機4的數(shù)據(jù)輸入端口連接。下面簡述一下本數(shù)控衰減器測試系統(tǒng)的工作原理測試時，首先將待測試的數(shù)控衰減器(以PEREGRINE公司的PE4302/4型數(shù)控衰減 器為例)放入衰減測試裝置的測試夾具24中，并使數(shù)控衰減器的射頻信號輸入端、射頻信 號輸出端、串行/并行工作模式切換信號輸入端和衰減值信號輸入端分別與測試夾具24的 射頻信號輸入接口 241、射頻信號輸出接口 242、串行/并行工作模式切換信號輸入接口 243 和衰減值信號輸入接口 244連接，從而使數(shù)控衰減器上相應的端口分別與射頻信號前置輸 入設備1、頻譜分析儀3和衰減測試裝置2連接。然后開啟電源模塊25，使微控制器22、輸入模塊21和顯示模塊23上電。參考圖3，接著，通過串行/并行工作模式選擇開關211輸入串行/并行工作模式 選擇信號，通過手動/自動測試模式切換開關212輸入手動/自動測試模式切換信號；當 手動/自動測試模式切換開關212切換至手動測試模式位置時，通過衰減值增加按鍵213 和衰減值減小按鍵214輸入衰減值調節(jié)信號。當手動/自動測試模式切換開關212切換至 自動測試模式位置時，微控制器22使被測試的數(shù)控衰減器工作在自動測試模式，由微控制 器22自動調節(jié)衰減值信號的大小，此時數(shù)控衰減器循環(huán)從OdB以步進方式衰減到31. 5dB， 步進值可以通過軟件隨意調節(jié)(例如將步進間隔設置為0.5dB)；當手動/自動測試模式切 換開關212切換至手動測試模式位置時，微控制器22使被測試的數(shù)控衰減器工作在手動測 試模式，此時通過按衰減值增加按鍵213或衰減值減小按鍵214調節(jié)衰減值信號的大小，按 衰減值增加按鍵213時使衰減值增加一個步進值，按衰減值減小按鍵214時使衰減值減小 一個步進值，步進值可以通過軟件隨意調節(jié)(例如將步進間隔設置為0. 5dB)。當串行/并 行工作模式選擇開關211切換至串行工作模式位置時，微控制器22輸出串行/并行工作模 式切換信號使被測試的數(shù)控衰減器按串行工作模式工作；當串行/并行工作模式選擇開關 211切換至并行工作模式位置時，微控制器22輸出串行/并行工作模式切換信號使被測試 的數(shù)控衰減器按并行工作模式工作。射頻信號前置輸入設備1輸出射頻信號至被測試的數(shù)控衰減器，經(jīng)過被測試的數(shù) 控衰減器衰減后的射頻信號被輸送到頻譜分析儀3進行顯示，并可由頻譜分析儀3進一步 輸送到微型計算機4進行分析。無論被測試的數(shù)控衰減器工作在手動測試模式還是工作在 自動測試模式，當被測試的數(shù)控衰減器以某一衰減值工作時，顯示模塊23都會實時地顯示 出被測試的數(shù)控衰減器當前的衰減值，同時，頻譜分析儀3顯示出被測試的數(shù)控衰減器工 作在當前衰減值時衰減后的射頻信號。測試者通過觀察顯示模塊23和頻譜分析儀3的顯 示屏(或微型計算機4的顯示器)，可以直觀地判斷所測試的數(shù)控衰減器的衰減功能的正確 件。
權利要求一種數(shù)控衰減器測試系統(tǒng)，包括射頻信號前置輸入設備、衰減測試裝置和頻譜分析儀，其特征是所述衰減測試裝置包括(1)輸入模塊，包括串行/并行工作模式選擇開關、手動/自動測試模式切換開關、衰減值增加按鍵和衰減值減小按鍵；串行/并行工作模式選擇開關用于輸入串行/并行工作模式選擇信號；手動/自動測試模式切換開關用于輸入手動/自動測試模式切換信號；當手動/自動測試模式切換開關切換至手動測試模式位置時，衰減值增加按鍵和衰減值減小按鍵用于輸入衰減值調節(jié)信號；輸入模塊將串行/并行工作模式選擇信號、手動/自動測試模式切換信號和衰減值調節(jié)信號傳輸給微控制器；(2)微控制器，對接收到的串行/并行工作模式選擇信號、手動/自動測試模式切換信號和衰減值調節(jié)信號進行處理后，輸出串行/并行工作模式切換信號至測試夾具上的串行/并行工作模式切換信號輸入接口，并輸出衰減值信號至測試夾具上的衰減值信號輸入接口，同時輸出衰減值信號至顯示模塊；(3)顯示模塊，接收來自微控制器的衰減值信號并實時顯示衰減值數(shù)值；(4)測試夾具，用于放置被測試的數(shù)控衰減器，測試夾具上設有射頻信號輸入接口、射頻信號輸出接口、串行/并行工作模式切換信號輸入接口和衰減值信號輸入接口，其中射頻信號輸入接口與射頻信號前置輸入設備的射頻信號輸出端口連接，射頻信號輸出接口與頻譜分析儀的射頻信號輸入端口連接，串行/并行工作模式切換信號輸入接口和衰減值信號輸入接口分別與微控制器的相應端口連接；(5)電源模塊，為微控制器、輸入模塊和顯示模塊提供工作電源。
2.根據(jù)權利要求1所述的數(shù)控衰減器測試系統(tǒng)，其特征是所述數(shù)控衰減器測試系統(tǒng) 還包括微型計算機，頻譜分析儀的數(shù)據(jù)輸出端口通過RS232接口與微型計算機的數(shù)據(jù)輸入 端口連接。
專利摘要一種數(shù)控衰減器測試系統(tǒng)，包括射頻信號前置輸入設備、衰減測試裝置和頻譜分析儀；衰減測試裝置包括(1)輸入模塊；(2)微控制器，對來自輸入模塊的信號進行處理后，輸出串行/并行工作模式切換信號和衰減值信號至測試夾具上相應的接口，輸出衰減值信號至顯示模塊；(3)顯示模塊；(4)測試夾具，用于放置被測試的數(shù)控衰減器，其射頻信號輸入接口與射頻信號前置輸入設備的射頻信號輸出端口連接，射頻信號輸出接口與頻譜分析儀的射頻信號輸入端口連接，串行/并行工作模式切換信號輸入接口和衰減值信號輸入接口分別與微控制器的相應端口連接；(5)電源模塊。本實用新型能夠高效快速、準確、方便地對數(shù)控衰減器進行全范圍的衰減功能測試。
文檔編號G01R31/00GK201666924SQ20092027042
公開日2010年12月8日 申請日期2009年11月23日 優(yōu)先權日2009年11月23日
發(fā)明者廖國平, 湯小秋, 鄭楠 申請人:汕頭高新區(qū)亞威科技有限公司