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自動分析裝置的制作方法

文檔序號:5864124閱讀:202來源:國知局
專利名稱:自動分析裝置的制作方法
技術領域
本發(fā)明涉及分析來源于生物體的試樣的成分的自動分析裝置,尤其是涉及關于試 劑信息的保持具有特征的自動分析裝置。
背景技術
在分析來源于生物體的試樣的自動分析裝置中,將用于識別為分析而使用的試劑 的ID粘貼在試劑容器上,通過讀取該ID來進行對各種試劑在哪種測定項目中使用的信息 的識別。至今,作為識別ID標牌,公知的是使用條型碼(例如,參照專利文獻1-日本特開 2005-10115 號公報)。
在此,條型碼雖具有標牌的制作容易且便宜等優(yōu)點,但存在由于標牌的污染及表 面附著水分等主要原因而不能讀取或誤讀等問題。
另外,由于一旦已制成、粘貼的條型碼不能重寫,因而作為ID信息只能寫入試劑 制造時所決定的信息。
另一方面,校準結果的信息及精度管理試樣的測定結果的信息一般存儲在自動分 析裝置主體的存儲裝置中。作為存儲裝置,雖可使用硬盤驅動器(HDD)等,但對于自動分析 裝置的情況,例如機器周期為1. 8秒的場合,每1. 8秒對HDD存取而進行數(shù)據(jù)的讀寫,向HDD 的存取頻度高,使HDD的壽命縮短。例如,由于HDD的損壞而丟失存儲在內部的校準結果的 信息及精度管理試樣的測定結果的信息的情況下,需要再次實行校準,或者進行精度管理 試樣的測定。在近年來的自動分析裝置中,分析項目增多的結果,所使用的試劑的數(shù)量也達 到例如70種。對這樣大量的試劑實施校準的場合,需要數(shù)小時,自動分析裝置直到能重新 使用需要很長時間。發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于提供一種在存儲裝置損壞時也能在短時間內重新使用的自動 分析裝置。
(1)為實現(xiàn)上述發(fā)明目的,本發(fā)明的自動分析裝置,具備存儲精度管理信息以及校 準信息的至少一種的分析裝置處理部,上述精度管理信息包含利用試劑進行的精度管理試 樣的測定結果和測定日期時間及進行測定的裝置信息,上述校準信息包含利用試劑進行的 校準結果和該校準的測定日期時間及進行測定的裝置信息的校準信息,該自動分析裝置具 備從設置于收放在容納試劑的試劑收放部的試劑容器上的試劑容器ID標簽讀出信息,并 將信息寫入該試劑容器ID標簽的試劑管理部,上述分析裝置處理部通過上述試劑管理部 對上述試劑容器ID標簽寫入上述精度管理信息或上述校準信息。
采用這種結構,在存儲裝置損壞時也能在短時間內重新使用。
(2)在上述(1)中,優(yōu)選利用上述試劑管理部讀取已寫入上述試劑容器ID標簽的 精度管理信息,并且具有顯示已讀取的精度管理信息的顯示裝置。
(3)在上述(1)中,優(yōu)選利用上述試劑管理部讀取已寫入上述試劑容器ID標簽的精度管理信息,并且上述分析裝置處理部基于已讀取的精度管理信息判斷是否需要實施校 準。
(4)在上述(3)中,優(yōu)選具有顯示由上述分析裝置處理部判斷的是否需要實施校 準的顯示裝置。
(5)在上述(1)中,優(yōu)選利用上述試劑管理部讀取已寫入上述試劑容器ID標簽的 校準信息,并且具有顯示已讀取的校準信息的顯示裝置。
(6)在上述(1)中,優(yōu)選利用上述試劑管理部讀取已寫入上述試劑容器ID標簽的 校準信息,并且在已讀取的校準信息是由該自動分析裝置測定得到的校準結果的情況下, 上述分析裝置處理部在檢測物測定的濃度運算中使用該校準結果。
(7)在上述(5)中,優(yōu)選具有顯示由上述分析裝置處理部判斷的是否需要實施校 準的顯示裝置。
(8)在上述(5)中,優(yōu)選利用上述試劑管理部讀取已寫入上述試劑容器ID標簽的 校準信息,并且上述分析裝置處理部具有校準裝置,該校準裝置用于在已讀取的校準信息 是在規(guī)定期間以前測定的結果的情況下,自動地進行校準測定。
本發(fā)明的效果是,根據(jù)本發(fā)明,在存儲裝置損壞時也能在短時間內重新使用。


圖1是表示本發(fā)明的一個實施方式的自動分析裝置的總體結構的系統(tǒng)結構圖。
圖2是表示本發(fā)明的一個實施方式的自動分析裝置所使用的試劑容器的結構的 主視圖。
圖3是表示本發(fā)明的一個實施方式的自動分析裝置的向試劑容器標簽讀寫信息 的結構的方框圖。
圖4是表示本發(fā)明的一個實施方式的自動分析裝置的使用了試劑容器信息的分 析方法的流程圖。
圖中
1-分析裝置操作部,2-試樣容器,3-運送架,4-試樣分注機構,5-反應盤,6_反應 容器,7-試劑收放部,8-試劑容器,9-試劑分注機構,10-攪拌機構,11-光度計,12-清洗 機構,13-低溫箱開口部,18-試劑容器的標牌,19-試劑容器的標簽,20-試劑的制造廠名, 21-試劑的項目名,22-試劑的有效期限,31-分析裝置,32-試劑管理部,33-分析裝置處理 部,34-分析裝置的顯示裝置。
具體實施方式
下面,使用圖1 圖4對本發(fā)明的一個實施方式的自動分析裝置的結構及動作進 行說明。
首先,使用圖1對本實施方式的自動分析裝置的總體結構進行說明。
圖1是表示本發(fā)明的一個實施方式的自動分析裝置的總體結構的系統(tǒng)結構圖。
在運送架3上架設有加入了試樣的試樣容器2。運送架3被運送到試樣分注機構 4A、4B附近的運送架3A的位置。在反應盤5上架設有多個反應容器6。試樣分注機構4A、 4B根據(jù)來自操作部1的指示,從運送架3A的試樣容器2抽吸測定用的試樣,并分別分注到多個反應容器6中。反應盤5可在圓周方向轉動。之所以設置兩個試樣分注機構4A、4B是 為了提高每單位時間的處理能力。
在本實施方式中,具有兩個試劑收放部7A、7B。試劑收放部7A、7B的內部為低溫 箱,在低溫狀態(tài)下保存多個試劑容器8。在試劑容器8中分別保存有不同的試劑。在試劑收 放部7A、7B的上部設有蓋,在蓋的一部分上設有用于抽吸試劑的開口部13A、13B、13C、13D。 在試劑收放部7A的附近設有兩個試劑分注機構9A、9B。另外,在試劑收放部7B的附近設有 兩個試劑分注機構9C、9D。在試劑收放部7A的上部設有試劑信息管理部32A。另外,在試 劑收放部7B的上部設有試劑信息管理部32B。如使用圖2后文所述,試劑容器8粘貼有能 用電波或電磁波讀出寫入信息的試劑容器標簽。試劑容器標簽例如是RFID。試劑信息管理 部32A、32B從試劑容器標簽讀出有關試劑的信息,并在試劑容器標簽上寫入信息。
用試樣分注機構4A、4B分注了測定試樣的反應容器6能夠通過反應盤5的轉動而 移動到由試劑分注機構9A、9B、9C、9D進行試劑分注的位置。另外,試劑收放部7A、7B能轉 動,但試劑收放部7A、7B的蓋卻不轉動。試劑收放部7A、7B通過轉動而能夠將規(guī)定的試劑 定位在開口部13A、13B、13C、13D下方的位置。試劑分注機構9A通過開口部13A抽吸規(guī)定 的試劑,并將試劑分注到已分注了測定試樣的反應容器6中。另外,試劑分注機構9B通過 開口部1 抽吸規(guī)定的試劑,并將試劑分注到已分注了測定試樣的反應容器6中。同樣地, 試劑分注機構9C通過開口部13C抽吸規(guī)定的試劑,并將試劑分注到已分注了測定試樣的反 應容器6中。并且,試劑分注機構9D通過開口部13D抽吸規(guī)定的試劑,并將試劑分注到已 分注了測定試樣的反應容器6中。
已分注了試樣和試劑的反應容器6被移動到攪拌機構10AU0B的位置進行攪拌。 根據(jù)測定的項目,由于分析所使用的試劑使用一種、兩種或三種以上,因而所需要的試劑依 次使用試劑分注機構9A、一、9D進行抽吸,并分注到反應容器6中進行攪拌。
在試樣和試劑的攪拌結束后,若經(jīng)過規(guī)定的反應時間,則將反應容器6移動到光 度計11的位置。光度計11由光源燈、分光用衍射光柵及光檢測器構成。使用光度計11對 試樣的化學反應的發(fā)色進行測光和分析。
分析后,為了對下一個試樣進行分析,利用清洗機構12對反應容器6進行清洗。在 抽吸用于進行分析的試樣后,將架設了試樣容器的運送架3從分析部搬出。
另外,根據(jù)從操作部1發(fā)出的指示,試劑容器8移動到試劑信息管理部32A、32B的 位置,從試劑容器標簽讀出每個試劑容器的各個信息,或將各個信息寫入試劑容器標簽。
下面,使用圖2對實施方式的自動分析裝置所使用的試劑容器的結構進行說明。
圖2是表示本發(fā)明的一個實施方式的自動分析裝置所使用的試劑容器的結構的 主視圖。
在設置于試劑收放部7的試劑容器8上,粘貼有在以視覺辨認裝入試劑容器內的 試劑信息的標牌中,埋入利用電波或電磁波進行讀出或寫入的試劑容器標簽的標牌18。在 試劑容器的標牌18上可以視覺辨認從試劑制造時就不會變化的試劑的制造廠名20、項目 名21、有效期限22等信息,相同的信息寫入試劑容器標簽19。在試劑容器標簽19還寫入 以下說明的校準的結果及精度管理試樣的測定結果。
分析裝置使用試劑測定一個或多個已知濃度的試樣(校準試樣),根據(jù)表示濃度 和吸光度的關系的數(shù)據(jù)作成校準線,取得用于進行測定值的校正的數(shù)據(jù)。將此過程稱為校準。使用通過校準取得的濃度和吸光度的關系輸出一般試樣的分析結果。校準是為了修正 分析裝置對一般檢測物的測定數(shù)據(jù)的設備誤差及試劑批次間的差等而進行的。在試劑容器 標簽19上寫入有校準的結果、實施校準的時間以及進行了校準的分析裝置的ID等。另外, 將相同的信息存儲在圖1所示的分析裝置處理部33中的HDD等的存儲部中。
另外,為了確認測定值的校正(校準)是否正常,通過定期測定以穩(wěn)定的基準范圍 的濃度制造的精度管理試樣(控制試樣)來確認測定值的穩(wěn)定性。在試劑容器標簽19上 寫入有精度管理試樣的測定結果、實施精度管理試樣的時間以及進行了精度管理試樣的分 析裝置的ID等。另外,將相同的信息存儲在分析裝置處理部33中的HDD等的存儲部中。
一般地,在分析開始前實施校準,在校準后測定精度管理試樣并確認裝置和試劑 處于能正常分析的狀態(tài)后,開始一般試樣的分析。如果在此刻超過了精度管理值的范圍的 場合,則在進行了更換試劑、調整裝置等的處理后再次實施校準與精度管理試樣的測定。然 后,定期測定精度管理試樣,一邊確認試劑和裝置的狀態(tài),一邊繼續(xù)進行一般試樣的分析。 如果定期測定的精度管理試樣的測定結果超過了精度管理值的范圍的場合,則再次實施校 準,然后測定精度管理試樣并確認其狀態(tài)。
下面,使用圖3對本實施方式的自動分析裝置的向試劑容器標簽讀寫信息進行說 明。
圖3是表示本發(fā)明的一個實施方式的自動分析裝置的向試劑容器標簽讀寫信息 的結構的方框圖。
在用分析裝置31對精度管理試樣進行分析前、分析中或分析后,將試劑容器8移 動到寫入試劑容器標簽的信息的試劑信息管理部32的位置。然后,通過設置于試劑收放部 7的試劑信息管理部32將精度管理試樣的分析結果以及裝置的序列號等的ID及測定日期 時間寫入到精度管理用試劑的試劑容器8的試劑容器標簽上。另外,將相同的信息存儲在 分析裝置處理部33中的HDD等的存儲部中。
另外,利用試劑信息管理部32讀出的精度管理信息通過顯示在分析裝置的顯示 裝置34上,使用者便能看到所需要的試劑的精度管理信息,還可以進行印刷或數(shù)據(jù)的保存寸。
另外,在用分析裝置31對校準試樣進行分析前、分析中或分析后,將試劑容器8移 動到寫入試劑容器標簽的信息的試劑信息管理部32的位置。然后,通過設置于試劑收放部 7的試劑信息管理部32將校準試樣的分析結果以及裝置的序列號等的ID及測定日期時間 寫入到校準用試劑的試劑容器8的試劑容器標簽上。另外,將相同的信息存儲在分析裝置 處理部33中的HDD等的存儲部中。
另外,利用試劑信息管理部32讀出的校準信息通過顯示在分析裝置的顯示裝置 ;34上,使用者便能看到所需要的試劑的校準信息,還可以進行印刷或數(shù)據(jù)的保存等。
至今,精度管理信息及校準信息雖然只存儲在分析裝置處理部中的HDD等的存儲 部中,但在本實施方式中,還將這些信息寫入到校試劑容器的試劑容器標簽上。其結果,例 如,即使在由于HDD的損壞而丟失存儲在內部的校準結果的信息及精度管理試樣的測定結 果的信息的情況下,也不必重新實行校準,或者進行精度管理試樣的測定,由于可以使用在 試劑容器標簽上寫入的信息,因而不需要再次進行校準就能在短時間內重新使用自動分析直ο
下面,使用圖4對本實施方式的自動分析裝置的使用了試劑容器信息的分析方法 進行說明。
圖4是表示本發(fā)明的一個實施方式的自動分析裝置的使用了試劑容器信息的分 析方法的流程圖。
在步驟SlO中,分析裝置處理部33使用試劑信息管理部32從試劑容器的試劑容 器標簽讀出校準信息。
接著,在步驟S20中,分析裝置處理部33由已讀出的校準信息中判定裝置ID是否 不同。在為不同時,在步驟S90中,分析裝置處理部33通過自動地顯示在顯示部34上以便 使用試劑實施校準,有助于使用者進行判定,使用方法被簡化。另外,在校準試樣設置在分 析裝置中的情況下,通過在沒有使用者的指示而自動地對校準試樣進行分析,從而能簡化 操作方法。
另外,在步驟S20中,若判定為裝置ID是相同的,則接著,在步驟S30中,分析裝置 處理部33判定測定日期時間是否超過了規(guī)定的期間。當超過了規(guī)定的期間時,則在步驟 S90中,分析裝置處理部33自動地顯示在顯示部34上以便使用試劑實施校準。
另外,在步驟S30中,若判定為未超過規(guī)定的期間,則接著,在步驟S40中,分析裝 置處理部33判定校準線是否異常。若判定為異常,則在步驟S90中,分析裝置處理部33自 動地顯示在顯示部34上以便使用試劑實施校準。
另外,在步驟S50中,利用已讀出的精度管理信息,分析裝置處理部33判定裝置ID 是否相同。在相同的情況下,在步驟S60中,分析裝置處理部33判定精度管理試樣的測定 日期時間是否在規(guī)定的時間內。在規(guī)定的時間內的情況下,在步驟S70中,分析裝置處理部 33判定測定結果是否在精度管理值的范圍內。在范圍外的情況下,在步驟S90中,分析裝置 處理部33自動地顯示在顯示部34上以便使用試劑實施校準。
另外,在步驟S50中,在判定為沒有相同裝置的精度管理信息的情況下,在步驟 S60中,在判定為比規(guī)定時間久的情況下,在步驟S70中,在判定為精度管理值為范圍內的 情況下,在步驟S80中,分析裝置處理部33通過使用上述校準線并用于一般的檢測物測定 的濃度運算,由于不用再次實施校準就能進行一般的檢測物測定,因而能夠縮短測定時間 并降低校準試樣的使用量。
此外,在以上的說明中,雖然采用了對校準信息和精度管理信息兩者進行檢查,但 也可以只對校準信息進行檢查。
另外,對于每個測定了精度管理試樣的測定結果的經(jīng)歷的裝置,通過紀錄在試劑 容器標簽上,并用分析裝置將從試劑容器標簽讀取的精度管理試樣的測定結果的經(jīng)歷信息 顯示在顯示裝置34上或進行印刷,使用者便可以得到有關該試劑的狀態(tài)的信息。
另外,對于使用多種試劑進行分析的測定項目,在多種試劑被分別容納在多個試 劑容器中,將多個試劑容器成對使用的情況下,通過將使用多個試劑容器的一個試劑容器 的試劑進行了分析的精度管理信息和校準信息的任何一個或兩者寫入與多個試劑容器成 對的試劑容器的試劑容器標簽上,通過讀出一個試劑容器或成對的試劑容器的至少一個的 試劑容器標簽的信息,就能認識成對的試劑容器,用該成對的試劑進行分析。
如以上的說明那樣,根據(jù)本實施方式,在存儲裝置損壞時也能在短時間內重新使 用。
另外,通過使用包含能夠寫入試劑制造后所產生的試劑信息的ID標簽的試劑容 器,可以簡化分析操作。
另外,通過在試劑制造廠制造試劑時,將與該試劑相對應的校準試樣的批次、基準 曲線等信息預先寫入試劑容器的試劑標簽,通過用分析裝置將已進行的校準結果及預先寫 入標簽上基準曲線顯示在顯示裝置34上或者進行印刷,使用者便能得到有關此時的校準 結果及試劑狀態(tài)的信息。
另外,通過在試劑制造廠制造試劑時,將用該試劑測定的控制試樣的種類、批次、 目標值等精度管理信息預先寫入試劑容器的試劑標簽,通過用分析裝置將已進行的精度管 理測定結果及預先寫入的精度管理信息顯示在顯示裝置34上或者進行印刷,使用者便能 得到有關該試劑狀態(tài)的信息。
另外,通過將用該試劑的校準結果及精度管理信息的全部經(jīng)歷預先寫入試劑標 簽,在測定結果有什么異常的情況下,有利于根據(jù)與經(jīng)歷信息的比較而迅速地查明異常的 原因。
另外,讀出已寫入試劑容器的試劑標簽的信息的讀取裝置及顯示裝置可以是分析 裝置以外的計算機設備。由此,與分析裝置的用戶使用狀況無關,通過用裝置以外的計算機 設備來讀取試劑標簽信息,在異常時可以加快查明異常的原因。
權利要求
1.一種自動分析裝置,具備存儲精度管理信息以及校準信息的至少一種的分析裝置處 理部,上述精度管理信息包含利用試劑進行的精度管理試樣的測定結果和測定日期時間及 進行測定的裝置信息,上述校準信息包含利用試劑進行的校準結果和該校準的測定日期時 間及進行測定的裝置信息的校準信息,該自動分析裝置的特征在于,具備從設置于收放在容納試劑的試劑收放部的試劑容器上的試劑容器ID標簽讀出信 息,并將信息寫入該試劑容器ID標簽的試劑管理部,上述分析裝置處理部通過上述試劑管理部對上述試劑容器ID標簽寫入上述精度管理 信息或上述校準信息。
2.根據(jù)權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,利用上述試劑管理部讀取已寫入上述試劑容器ID標簽的精度管理信息,并且具有顯 示已讀取的精度管理信息的顯示裝置。
3.根據(jù)權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,利用上述試劑管理部讀取已寫入上述試劑容器ID標簽的精度管理信息,并且上述分 析裝置處理部基于已讀取的精度管理信息判斷是否需要實施校準。
4.根據(jù)權利要求3所述的自動分析裝置,其特征在于,具有顯示由上述分析裝置處理部判斷的是否需要實施校準的顯示裝置。
5.根據(jù)權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,利用上述試劑管理部讀取已寫入上述試劑容器ID標簽的校準信息,并且具有顯示已 讀取的校準信息的顯示裝置。
6.根據(jù)權利要求1所述的自動分析裝置,其特征在于,利用上述試劑管理部讀取已寫入上述試劑容器ID標簽的校準信息,并且在已讀取的 校準信息是由該自動分析測定得到的校準結果的情況下,上述分析裝置處理部在檢測物測 定的濃度運算中使用該校準結果。
7.根據(jù)權利要求5所述的自動分析裝置,其特征在于,具有顯示由上述分析裝置處理部判斷的是否需要實施校準的顯示裝置。
8.根據(jù)權利要求5所述的自動分析裝置,其特征在于,利用上述試劑管理部讀取已寫入上述試劑容器ID標簽的校準信息,并且上述分析裝 置處理部具有校準裝置,該校準裝置用于在已讀取的校準信息是在規(guī)定期間以前測定的結 果的情況下,自動地進行校準測定。
全文摘要
本發(fā)明涉及自動分析裝置。本發(fā)明的目的在于提供一種在存儲裝置損壞時也能在短時間內重新使用的自動分析裝置。在分析裝置處理部(33)存儲有包含利用試劑的精度管理試樣的測定結果和測定日期時間及測定的裝置信息的精度管理信息,以及包含用試劑的校準結果和該校準的測定日期時間及測定的裝置信息的校準信息的至少一種。試劑管理部(32)從設置于收放在容納試劑的試劑收放部(7)的試劑容器(8)上的試劑容器ID標簽讀出信息,并將信息寫入該試劑容器ID標簽上。分析裝置處理部(33)通過試劑管理部(32)對試劑容器ID標簽寫入精度管理信息或校準信息。
文檔編號G01N35/02GK102037363SQ20098011824
公開日2011年4月27日 申請日期2009年4月21日 優(yōu)先權日2008年5月22日
發(fā)明者山口卓也, 松原茂樹 申請人:株式會社日立高新技術
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