專利名稱：試樣分析裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及用于分析試樣中所包含的成分含量的分析裝置，例如涉及用于分析血 液或尿中所包含的成分含量的自動分析裝置。
背景技術：
作為用于分析試樣所包含的成分含量的分析裝置，廣泛使用了如下的自動分析裝 置對試樣或由試樣和試劑混合而成的反應溶液照射來自光源的光，利用受光元件來測定 通過了試樣或反應溶液的單個或多個測定波長的透過光量并算出吸光度，根據(jù)吸光度與濃 度的關系計算出成分含量(例如專利文獻1)。為了在自動分析裝置中與多個檢查項目相對 應，需要多個測定波長，而且，為了高精度地進行測定，需要能夠在所有波長中穩(wěn)定地測定 出一定值以上的光量。至今，作為光源，使用了可獲得比較大的光量且發(fā)光光譜較寬的鹵素 燈等。近年來，作為該光源，正在研究作為半導體發(fā)光元件的發(fā)光電二極管(LightEmitting Diode =LED)的應用。LED具有低價壽命長且可實現(xiàn)小型化的優(yōu)點。但是，為了在現(xiàn)有的方 法中確保一定的光量而提出了如下的方案在用于將反應溶液保持至一定溫度的恒溫槽的 外部配置有LED，從LED處使用透鏡等光學部件，利用光學系統(tǒng)對光進行匯聚，并對恒溫槽 內的容器或受光元件照射光(例如專利文獻2、。因此，使包括光源和受光元件的測光單元 變大，未必能夠小型化。另外，作為LED發(fā)光部的LED元件存在隨著自身發(fā)熱或周圍的溫度 變化而其光量及發(fā)光光譜發(fā)生變化的缺點。至今，作為散熱單元，提出了由鋁塊來散熱的結 構等(例如專利文獻3)，但在使用了固體塊的散熱中，在光源附近需要一定體積，因而在小 型化上存在一定的極限。專利文獻1 美國專利第4451433號說明書專利文獻2 日本特開2007-218633號公報專利文獻3 日本特許第396似91號公報在現(xiàn)有的自動分析裝置中，當應用LED作為光源時，為確保光量而需要用于匯聚 光的光學系統(tǒng)及調溫機構，因而這實際上無法有益于包括從光源至受光元件的測光單元的 小型化特別在自動分析裝置中，為了確保檢查的精度，要求具有0.01%的光量穩(wěn)定性和 0. Inm以下的發(fā)光光譜穩(wěn)定性。由于在現(xiàn)有的方法中因LED自身發(fā)熱而使元件的溫度發(fā)生 變化，并使光量和發(fā)光光譜發(fā)生變動，因此不能夠穩(wěn)定地進行測定。作為典型的例子，LED元 件的溫度變化1°C時，則光量變化0. 1%。因此，為了穩(wěn)定確保光量變動在0.01%以下，需要 將元件的溫度變化抑制在0. 1°C以下。并且，已知當LED元件的元件溫度變化1°C時，則發(fā) 光中心波長大約變化0. Inm,因而發(fā)光光譜發(fā)生變化。上述光量的變化雖然能夠通過定期地 將水作為反應溶液而檢測出有怎樣程度的變化，但發(fā)光光譜的變化因未進行分光而無法在 受光元件中檢測出。因此，需要可靠地確保LED元件的溫度變化在0.1°C以下。但是，并沒 有公開實現(xiàn)上述課題的具體方法。另外，光量的變動不僅取決于LED元件的溫度而且取決于光學系統(tǒng)的光路。當整個光學系統(tǒng)的溫度發(fā)生變化時，則用于支承LED元件和受光器的支架發(fā)生膨脹或縮小，而 作為LED元件與受光器之間的距離的光路長度發(fā)生變化。由此使光量發(fā)生變化。由于上述LED元件的溫度變化以及上述光路的變化，而使光量發(fā)生變化。如果這 樣的光量變化較大，則無法進行準確的測定。因此，為了進行更準確的測定，需要將元件的 溫度保持為恒定以及將整個光學系統(tǒng)的溫度保持為恒定。

發(fā)明內容
將LED元件和受光元件保持在支架上，再將該整個支架設置在用于保持恒溫流體 的恒溫槽內。支架典型地形成為具有如下臂部的一體結構，即具有內設有發(fā)光部的第一垂 直臂、內設有受光元件的第二垂直臂、以及將第一垂直臂與第二垂直臂的下部連接起來的 連接臂。第一垂直臂與第二垂直臂相互對置的面優(yōu)選為平面，其側面的面優(yōu)選為曲面。發(fā) 光部具有發(fā)光二極管和用于將自發(fā)光二極管產(chǎn)生的熱量散熱到恒溫槽內的恒溫流體中的 散熱板。另外，支架能夠做成可卸下。在自動分析裝置中，恒溫槽內部的恒溫流體始終被高 精度地控制在37°C 士0. 1°C以內，以將反應溶液的溫度保持為恒定，通過將支架浸漬于該 恒溫槽內的恒溫流體中而能夠將發(fā)光部與受光部之間的距離保持為一定值。本發(fā)明的效果如下，依照本發(fā)明，通過將用于使光源與受光元件成一體化的支架 設置在保持有恒溫流體的恒溫槽內，能夠使測光單元小型化。另外，使所述支架的內側具有 彼此相對的平面，能夠使光源和受光元件接近用于保持反應溶液的容器而緊湊地配置。通 過緊湊化使從光源到受光元件的距離變得更近，則容易確保一定值以上的光量。另外，由于 能利用恒溫流體對支架進行調溫，因此能夠抑制因LED元件與受光元件的溫度變化造成光 路的變化，使光量和發(fā)光光譜長時間保持穩(wěn)定，在將光量穩(wěn)定性維持為0. 01%的同時，使發(fā) 光光譜保持穩(wěn)定，從而能夠進行高精度的測定。


圖1是表示分析裝置的整體結構例子的概略圖。
圖2是表示測定單元的結構例子的剖視示意圖。
圖3是表示支架的結構例子的立體圖。
圖4是表示從上部觀察到的出射面和入射面的剖視示意圖。
圖5是表示散熱板的結構例子的圖。
圖6是表示恒溫流體為空氣時的測定單元的結構例子的圖。
圖7是表示測定單元的結構例子的圖。
圖8是表示測定單元的結構例子的圖。
圖9是表示測定單元的結構例子的圖。
具體實施例方式
以下，參照附圖對本發(fā)明的實施方式進行說明。實施例1圖1是表示本發(fā)明的分析裝置的整體結構例子的概略圖。在試樣盤3上配置有多 個收納有試樣1的試樣杯2。在試劑盤6上配置有多個收納有試劑4的試劑瓶5。在容器盤9上配置有多個容器(cell) 8，在該容器8的內部使試樣1與試劑4混合而形成反應溶 液7。試樣分注機構10從試樣杯2中將試樣1以一定量轉移到容器8中。試劑分注機構 11從試劑瓶5中將試劑4以一定量轉移到容器8中。攪拌單元12在容器8內對試樣1和 試劑4進行攪拌，并使兩者混合起來。測定單元13具有用于對反應溶液7照射光的光源 的發(fā)光部15、和用于對透過了反應溶液7的光進行接收的受光元件21。分析結束的容器8 由清洗單元14進行清洗，由試樣分注機構10分注下個試樣，由試劑分注機構11分注新的 試劑。容器8被浸漬在保持于恒溫槽18內的恒溫流體17中，使容器8和該容器中的反應 溶液7在被保持為一定溫度的狀態(tài)下進行移動。分析裝置還具有向發(fā)光部供給一定電流的電流控制電路；對裝置各部分進行控 制的控制部；依照來自控制部的命令，分別驅動試樣盤、試劑盤和容器盤獨立地旋轉的驅 動部；對恒溫流體的溫度和流量進行控制的恒溫流體控制部；存儲有各種數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)存儲 部；從外部將所需的數(shù)據(jù)輸入至數(shù)據(jù)存儲部中的輸入部；根據(jù)受光元件21所接收的光量算 出吸光度的測定部；根據(jù)吸光度數(shù)據(jù)計算出成分含量的分析部；以及能夠顯示數(shù)據(jù)，并將 數(shù)據(jù)輸出至外部的輸出部。試樣1中的某一成分含量的分析按如下的步驟進行。首先，由試樣分注機構10將 試樣杯2內的試樣1以一定量分注于容器8內。接著，由試劑分注機構11將試劑瓶5內的 試劑4以一定量分注于容器8內。在進行上述分注時，試樣盤3、試劑盤6和容器盤9在控 制部的控制下由各驅動部分別驅動旋轉，并將試樣杯2、試劑瓶5和容器8分別移動到分注 機構能夠到達的預定位置。其次，由攪拌單元12對容器8內的試樣1和試劑4進行攪拌而 形成反應溶液7。在使容器盤9旋轉中，每當容器8通過測定單元13時，便測定反應溶液7 的吸光度，并依次將吸光度數(shù)據(jù)存儲在數(shù)據(jù)存儲部中。通常，在經(jīng)過10分鐘左右的測光后， 由清洗機構14對容器8內進行清洗，再進行下一次分析。在此期間，如果需要，在經(jīng)過一定 時間后，將別的試劑4由試劑分注機構11添加分注于容器8內，并由攪拌單元12進行攪拌， 進而進行一定時間的測定。由此，將具有一定時間間隔的反應溶液7的吸光度數(shù)據(jù)存儲在 數(shù)據(jù)存儲部中。對所存儲的吸光度數(shù)據(jù)，在分析部中根據(jù)每個檢查項目的校正曲線數(shù)據(jù)分 別分析成分含量。各部分的控制和分析所需的數(shù)據(jù)從輸入部輸入至數(shù)據(jù)存儲部中。各種數(shù) 據(jù)和分析結果由輸出部進行顯示和輸出。圖2是表示測定單元13的結構例子的剖視示意圖。將溫度和流量受控制部控制 的恒溫流體17輸送入恒溫槽18內并加以循環(huán)，并將配置于容器盤9上用于保持反應溶液7 的容器8浸漬于恒溫流體17中。恒溫流體17使用了水，將其溫度調節(jié)至作為反應溫度的 37士0. 1°C。發(fā)光部15和受光元件21由能夠與上述構件一體地從裝置中卸下的支架30保 持。發(fā)光部15使用了 LED元件。圖3是表示支架30的結構例子的立體圖。支架30具有內設有發(fā)光部15的第一 垂直臂51、內設有受光元件21的第二垂直臂52、以及將第一垂直臂51下部與第二垂直臂 52下部相連接而形成一體的連接臂53。第一垂直臂51和第二垂直臂52在內側具有彼此 相對的出射面44和入射面45。在出射面44和入射面45上分別設置有光出射窗46和光入 射窗47。發(fā)光部15從電流控制電路通過配線41a來供給電力而射出光16。光16從光出 射窗46向恒溫流體17內射出。如圖2所示，通過位于出射面44與入射面45之間的容器8 內的反應溶液7后得到結果的光，從光入射窗47入射到支架30內部，由受光元件21接收光。將被接收的光作為電信號通過配線41b輸送至測定部，以作為吸光度數(shù)據(jù)來進行測定。 在發(fā)光部15的背面保持有散熱板31。圖4是從上部觀察出射面44和入射面45時的剖視示意圖。如果因為在恒溫流體 17中設置有支架而擾亂恒溫流體17的流動，這成為造成氣泡、發(fā)霉或弄污的原因而難以進 行分析。因此，關健是支架形狀要盡量不擾亂恒溫流體17的流動。當支架的出射面44和 入射面45如圖4(a)所示那樣為曲面時，因能不擾亂進行循環(huán)的恒溫流體的流動地配置支 架而較為有利，但這樣使發(fā)光部15與受光元件21之間的距離a變長，在小型化方面不利。 如圖4(b)所示，出射面44和入射面45為平面，則能夠使發(fā)光部15與受光元件21之間的 距離b變小而更使測光單元小型化。進而，如圖4(c)所示，通過使出射面44和入射面45 為平面，同時使出射面44和入射面45的側面的面、即所循環(huán)的恒溫流體的流入側的面和流 出側的面形成為曲面，由此能夠不擾亂恒溫流體的流動而使測光單元小型化。圖5表示發(fā)光部背面的散熱板的結構例子。市售的LED大多存在平面安裝型和炮 彈型二種類型。為了將LED元件的溫度保持為恒定，關健是對與LED元件直接連接的引線 框進行調溫。在平面安裝型的情形下，引線框在平面上進行布線，通過對LED元件背面的平 板進行調溫，能很容易地散熱。作為這樣的LED元件，例如有LUMILEDS LIGHTING公司制的 產(chǎn)品、LUXEON STAR等。圖5 (a)是使平面安裝型的LED散熱的結構，配置為與作為發(fā)光部 15的LED元件直接連接的引線框62所接觸的平板61與散熱板31相接觸?？紤]了平板61 與散熱板31之間以調溫用硅酮潤滑脂來順暢進行溫度傳遞。引線框62與配線41a相連接 以供給電力。另外，圖5(b)表示使炮彈型的LED散熱的結構。以絕緣熱傳導板63包圍引 線框62的周圍，在使引線框62與散熱板31'接觸后，通過散熱板31而通過外部的恒溫流 體17來進行調溫。絕緣熱傳導板使用了株式會社夕^力公司制的aGEL板。利用以上結 構能夠將LED元件的發(fā)光量保持恒定。支架30的材質采用了具有用于使恒溫流體17無法進入內部的防水性，并且具有 用于使光無法進入內部的受光元件21的遮光性的材料，在本實施例中使用了整體模塑料 (BMC-Bulk Molding Compound)。光出射窗46和光入射窗47的材質采用了玻璃、環(huán)狀烯烴 聚合物以及聚苯乙烯等透明材質，其內部密封成恒溫流體17無法進入。支架30通過具有不 使這樣的流體通過而讓光透過的出射面和入射面，能夠容易地在恒溫流體中進行計測。在 本實施例中恒溫流體17使用了水，但也可以使用空氣、硅酮油或氟油。在恒溫流體17為硅 油或氟油的情況下，支架30的材質需要采用聚苯乙烯或金屬等使油無法侵蝕的樹脂或材 料。另外，支架30相對于所移動的容器8的位置精度在決定測定精度上非常重要，若 位置精度差，則不能夠測定容器內部的反應溶液。在本實施例中，如圖3所示，支架30具有 作為固定部的水平固定面42a、42b和垂直固定面43，且能夠位置精度良好地安裝在恒溫槽 18中。另外，支架30與裝置之間需要用于電力供給以及取出信號的配線，但若將配線從支 架內部以原有狀態(tài)引出而連接到裝置上，則安裝較為復雜。本實施例的支架30具有與配線 41a、41b相連接的電極插口 48，由此能夠從外部供給電力并能很容易地對內部的信號等進 行輸出輸入。另外，在本實施例中恒溫流體使用了水，但使用空氣或油都能獲得同樣的效果。圖6表示恒溫流體為空氣時的測光單元的結構例子。通過減小恒溫槽18與容器8之間的間隙地對它們進行配置，以減少在恒溫流體為空氣的情況下恒溫流體與恒溫槽外部 的空氣的混合，從而能夠良好地保持調溫性能。另外，也可以在支架30內配置有由玻璃、環(huán)狀烯烴聚合物或環(huán)氧樹脂等透明材料 制成的透鏡、或由不透光的遮蔽材料等形成的縫隙等，組裝有用于匯聚自發(fā)光部射出的光 的光學系統(tǒng)根據(jù)本實施例，通過使用于保持發(fā)光部15和受光元件21且能夠與上述構件一體 地從裝置卸下的支架30的至少一部分位于恒溫槽18內，以使測定光路位于恒溫流體中，能 夠在保持一定光量的同時實現(xiàn)小型化。另外，通過將支架30配置于恒溫槽內，能夠抑制因 光源與受光元件的溫度變化造成位置變動，從而可進行光量變化小的高精度測定。實施例2在自動分析裝置中需要同時測定多個檢查項目。但是，對每個檢查項目、每個試劑 用于測定的波長不同。例如對UN(尿素酶)測定波長為340nm和405nm(和光純藥工業(yè)株式 會社制的L型7 二 -UN)，對ALP (堿性磷酸酶)測定波長為405nm和505nm(和光純藥工業(yè) 株式會社制的L型7 二 -ALP -J)，對CRP (C反應性蛋白)測定波長為600nm和800nm(和光 純藥工業(yè)株式會社制的LT才-卜-7 二 -CRP)等。在本實施例中，由于能夠在多個檢查項 目中同時進行測定，因此示出了在一個支架上設置并聚集了多個發(fā)光部15時的結構例子。 除了下文中所記述的條件之外，整個分析裝置的構成以及其他均與實施例1同樣。圖7表示本實施例中的測定單元13的結構例子。在支架30上與測定波長種類相 對應地設置有12種發(fā)光部15A 15L和受光元件21A 21L。支架30形成為圓弧狀的形 狀，以使多個發(fā)光部和受光元件位于隔著配置于容器盤9上沿著圓軌移動的容器8的兩側 位置。發(fā)光部15A 15L使用了發(fā)出測定波長分別為340nm、405nm、450nm、480nm、505nm、 546nm、570nm、600nm、660nm、700nm、750nm和800nm的光的LED元件。通過這樣配置具有多 個各不相同的發(fā)光波長的LED元件，能夠對多個檢查項目選擇測定波長而同時進行分析。發(fā)光部15A 15L與散熱板31A 31L相接觸，發(fā)光部15A 15L自身的發(fā)熱能 夠通過散熱板31A 31L散發(fā)到恒溫流體17中。另外，在相鄰的發(fā)光部15A 15L之間以 及相鄰的受光元件21A 21L之間，設置有分隔板以使來自除了與各受光元件對置的發(fā)光 部以外的發(fā)光部的光無法進入。根據(jù)本實施例，設置有多個發(fā)光部15和受光元件21，通過 改變發(fā)光部15所發(fā)出的光的波長，能夠制成緊湊的結構，而且還能夠測定多個波長的吸光 度數(shù)據(jù)。實施例3在本實施例中，示出了多個支架配置于同一圓周上時的結構例子。除了下文中所 記述的條件之外，整個分析裝置的構成以及其他均與實施例1同樣。圖8表示本實施例的測定單元13的結構例子。在同一圓周上配置有多個支架，以 使發(fā)光部和受光元件位于隔著配置于容器盤9上并沿著圓軌移動的容器8的兩側位置。通 過這樣將測光單元做成設置于恒溫槽內用于保持發(fā)光部和受光元件的支架的結構，能夠簡 單地配置有多個測光單元。在圖8例子中，4個支架30a 30d配置于相對容器盤9的中心 成0°、90°、180°、270°角度的位置上。各支架30a 30d的發(fā)光部1 15d發(fā)射出相 同波長的光。配置于沿反時針旋轉的容器盤9上的容器8每次通過任一個支架30a 30d時，便進行測定。通過將具有發(fā)射出相同波長的光的發(fā)光部15a 15d的4個支架30a 30d 并列在同一圓周上，能夠在同一時間內獲得相當于設有一個支架時4倍的數(shù)據(jù)。由此，通過 提高反應溶液7的吸光度數(shù)據(jù)的時間分辨率，能夠高精度地進行測定。實施例4在本實施例中，示出了為使分析裝置具有高處理能力而將多列容器配置于容器盤 9上時的結構例子。雖然整個分析裝置的結構大部分與實施例1相同，但將容器8呈多個同 心圓狀地配置于容器盤9上這一點不相同。圖9表示本實施例的測定單元13的結構例子。圖9 (a)是測定單元的剖視示意圖， 圖9(b)是測定單元的俯視示意圖。在圖9的例子中，針對在容器盤的不同半徑位置上呈同 心圓狀保持3列的各容器8a 8c內的試樣7a 7c，配置有用于保持發(fā)光部1 15c和 受光元件21a 21c的支架30。成對的發(fā)光部和受光元件分別內設在一對垂直臂中，各垂 直臂的下端以連接臂連接成一體。支架30內的配線全部能夠利用電極插口 48匯集在一起 而與外部連接。發(fā)光部1 15c所使用的LED元件的自身發(fā)熱能夠通過散熱板31a 31c散熱 到恒溫流體中。根據(jù)本實施例，通過將容器配置于半徑不同的多個圓周上，相對于多個圓周 上的各容器通過配置至少一個能夠從裝置作為一體卸下的支架30，則能夠以更高處理能力 進行測定。標號的說明1-試樣，2-試樣杯，3-試樣盤，4-試劑，5-試劑瓶，6_試劑盤，7_反應溶液，7a 7c-反應溶液，8-容器，8a 8c-容器，9-容器盤，10-試樣分注機構，11-試劑分注機構， 12-攪拌單元，13-測定單元，14-清洗單元，15-發(fā)光部，15A 15L-發(fā)光部，15a 15d_發(fā) 光部，16-光，17-恒溫流體，18-恒溫槽，21-受光元件，2IA 2IL-受光元件，21a 2Id-受 光元件，30-支架，30a 30d-支架，31-散熱板，31'-散熱板，31A 31L-散熱板，31a 31c-散熱板，41a 41b-配線，42-水平固定面，4 42b_水平固定面，43-垂直固定面， 44-出射面，45-入射面，46-光出射窗，47-光入射窗，48-電極插口，51-第一垂直臂，52-第 二垂直臂，53-連接臂，61-平板，62-引線框，63-絕緣熱傳導板。
權利要求
1.一種試樣分析裝置，其特征在于，具有保持恒溫流體的恒溫槽；放入反應溶液的多個容器；將所述多個容器以浸漬于所述恒溫槽內的恒溫流體中的狀態(tài)進行保持的容器盤；驅動所述容器盤旋轉的驅動部；以及保持用于產(chǎn)生對所述容器進行照射的光的發(fā)光部和用于檢測透過了所述容器的光的 受光元件的支架；所述支架以浸漬于所述恒溫流體中的方式配置在所述恒溫槽內。
2.根據(jù)權利要求1所述的試樣分析裝置，其特征在于，所述支架具有內設有所述發(fā)光 部的第一垂直臂；內設有所述受光元件的第二垂直臂；以及用于將所述第一垂直臂與第二 垂直臂的下部連接起來的連接臂。
3.根據(jù)權利要求1所述的試樣分析裝置，其特征在于，所述發(fā)光部具有發(fā)光二極管； 和用于使自所述發(fā)光二極管產(chǎn)生的熱量散熱到所述恒溫流體中的散熱板。
4.根據(jù)權利要求1所述的試樣分析裝置，其特征在于，所述支架能夠卸下。
5.根據(jù)權利要求2所述的試樣分析裝置，其特征在于，所述第一垂直臂和第二垂直臂 的相互對置的面為平面。
6.根據(jù)權利要求5所述的試樣分析裝置，所述第一臂具有光出射窗，所述第二臂具有 光入射窗。
7.根據(jù)權利要求5所述的試樣分析裝置，其特征在于，所述第一垂直臂和第二垂直臂 的所述相互對置的面的側面的面為曲面。
8.根據(jù)權利要求1所述的試樣分析裝置，其特征在于，所述支架的壁面阻止流體通過， 并且具有遮光性。
9.根據(jù)權利要求1所述的試樣分析裝置，其特征在于，所述支架具有用于與外部進行 電力和信息的輸出輸入的電極。
10.根據(jù)權利要求1所述的試樣分析裝置，其特征在于，所述支架具有用于以高的位置 精度安裝于所述恒溫槽中的固定部。
11.根據(jù)權利要求1所述的試樣分析裝置，其特征在于，所述支架具有多個發(fā)光部和多 個受光元件。
12.根據(jù)權利要求1所述的試樣分析裝置，其特征在于，多個所述支架分別設置在所述 恒溫槽的不同位置上。
13.根據(jù)權利要求2所述的試樣分析裝置，其特征在于，所述容器盤將容器保持在多個 互不相同的半徑位置，所述支架以與所述多個半徑位置相對應的方式具有多組由所述第一 垂直臂和第二垂直臂構成的組。
14.根據(jù)權利要求11所述的試樣分析裝置，其特征在于，所述多個發(fā)光部具有發(fā)光波 長為 340nm、405nm、450nm、480nm、505nm、546nm、570nm、600nm、660nm、700nm、750nm 和 800nm 的至少一個發(fā)光部。
全文摘要
本發(fā)明提供一種使用LED元件作為光源，使包括從光源至受光元件的測光單元小型化的試樣分析裝置。使由LED構成的發(fā)光部(15)和受光元件(21)保持在能夠以一體的方式從裝置中卸下的支架(30)上，將支架設置在保持有恒溫流體(17)的恒溫槽(18)內，從而使測光單元小型化。
文檔編號G01N21/27GK102089644SQ20098012630
公開日2011年6月8日 申請日期2009年7月30日 優(yōu)先權日2008年7月30日
發(fā)明者原田邦男, 山崎功夫, 木山政晴, 藤田毅, 足立作一郎 申請人:株式會社日立高新技術