專利名稱：芯線檢測(cè)設(shè)備和芯線檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及作為光傳輸系統(tǒng)中光導(dǎo)通試驗(yàn)的試驗(yàn)裝置的芯線檢測(cè)設(shè)備及芯線檢 測(cè)方法，具體而言，涉及使用了長(zhǎng)周期光柵的芯線檢測(cè)設(shè)備及芯線檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
隨著FTTH (Fiber To The Home 光纖到戶)服務(wù)的普及，光纖路的施工和維護(hù)工 作增加?，F(xiàn)有光纖的允許彎曲半徑較大而可操作性較差。因此，近年來(lái)，人們開發(fā)了各種彎 曲損耗特性得到改善、允許彎曲半徑變小的光纖。特別是，專利文獻(xiàn)1中記載的多孔單模光 纖具有優(yōu)良的彎曲損耗特性，而且與現(xiàn)有的單模光纖的連接性也優(yōu)良，因此對(duì)其的研究在 積極地推進(jìn)。為了在光纖路的施工、使用時(shí)對(duì)任意的光纖芯線進(jìn)行確認(rèn)，需要能夠在作業(yè)現(xiàn)場(chǎng) 找到任意的光纖芯線。芯線檢測(cè)設(shè)備(例如，參照專利文獻(xiàn)2)由于能夠?qū)⒐饫w中傳播的光 的一部分取出從而確認(rèn)該光纖是否為所需要的光纖，因此被廣泛利用。芯線檢測(cè)設(shè)備通過(guò) 使光纖中形成彎曲部并對(duì)由彎曲部漏出的光進(jìn)行檢測(cè)來(lái)判斷光是否在該光纖中傳播。專利文獻(xiàn)1 日本國(guó)專利公報(bào)“特許第3邪4627號(hào)”專利文獻(xiàn)2 日本國(guó)專利公報(bào)“特許第3407812號(hào)”

發(fā)明內(nèi)容
但是，較之于現(xiàn)有的單模光纖，專利文獻(xiàn)1所示的多孔單模光纖的彎曲損耗非常 小，因此，無(wú)法通過(guò)現(xiàn)有的芯線檢測(cè)方法進(jìn)行芯線檢測(cè)。因此，本發(fā)明為解決上述問(wèn)題而完成，其目的在于提供能夠?qū)Χ嗫讍文９饫w進(jìn)行 芯線檢測(cè)的芯線檢測(cè)設(shè)備及芯線檢測(cè)方法。解決上述問(wèn)題的本發(fā)明第1方面的芯線檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，包括光柵形成裝 置，通過(guò)多個(gè)突起部對(duì)光纖施加載荷來(lái)形成光柵；以及受光裝置，檢測(cè)由所述光柵發(fā)生的漏光。解決上述問(wèn)題的本發(fā)明第2方面的芯線檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，在第1方面的芯線 檢測(cè)設(shè)備中，所述多個(gè)突起部的周期沿所述光纖的設(shè)置方向變化。解決上述問(wèn)題的本發(fā)明第3方面的芯線檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，在第1或第2方面 的芯線檢測(cè)設(shè)備中，所述載荷為8N以上。解決上述問(wèn)題的本發(fā)明第4方面的芯線檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，在第1 3方面的 任一項(xiàng)所述的芯線檢測(cè)設(shè)備中，還包括對(duì)所述光纖賦予彎曲的光纖彎曲賦予裝置，所述彎 曲的曲率半徑處于8mm 12mm范圍內(nèi)。解決上述問(wèn)題的本發(fā)明第5方面的芯線檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，在第1 4方面的 任一項(xiàng)所述的芯線檢測(cè)設(shè)備中，所述多個(gè)突起部以0. 24mm 0. 75mm范圍內(nèi)的周期進(jìn)行配置。解決上述問(wèn)題的本發(fā)明第6方面的芯線檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，在第4方面的芯線檢測(cè)設(shè)備中，所述多個(gè)突起部配置于所述光纖彎曲賦予裝置。解決上述問(wèn)題的本發(fā)明第7方面的芯線檢測(cè)方法，其特征在于，通過(guò)多個(gè)突起部 對(duì)光纖施加載荷來(lái)形成長(zhǎng)周期光柵，其中，所述多個(gè)突起部以0. 24mm 0. 75mm范圍內(nèi)的周 期進(jìn)行配置；通過(guò)檢測(cè)由所述光纖發(fā)生的漏光來(lái)對(duì)光波在所述光纖中的導(dǎo)通進(jìn)行確認(rèn)。解決上述問(wèn)題的本發(fā)明第8方面的芯線檢測(cè)方法，其特征在于，在第7方面的芯線 檢測(cè)方法中，通過(guò)改變所述多個(gè)突起部與所述光纖間的角度來(lái)形成所述長(zhǎng)周期光柵。解決上述問(wèn)題的本發(fā)明第9方面的芯線檢測(cè)方法，其特征在于，在第7或第8方面 的芯線檢測(cè)方法中，對(duì)所述光纖賦予彎曲，并檢測(cè)由所述光纖發(fā)生的漏光。根據(jù)本發(fā)明的芯線檢測(cè)設(shè)備及芯線檢測(cè)方法，能夠?qū)Χ嗫讍文９饫w進(jìn)行芯線檢 測(cè)。


圖IA是用于說(shuō)明本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備的概略圖。圖IB是表示通過(guò)本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備所具備的光柵形成器具來(lái) 賦予應(yīng)力的部位與折射率變化量的關(guān)系的圖。圖IC是使用本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行芯線檢測(cè)的流程圖。圖2A是示意地表示具有6個(gè)空孔的多孔單模光纖的圖。圖2B是示意地表示具有10個(gè)空孔的多孔單模光纖的圖。圖3A是表示本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備中波長(zhǎng)與損耗譜的關(guān)系的曲線 圖。圖;3B是表示本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備中突起部周期與中心波長(zhǎng)(損 耗譜達(dá)到最大值的波長(zhǎng))的關(guān)系的曲線圖。圖4是表示本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備中HAF的光柵周期對(duì)空孔結(jié)構(gòu)的 依賴性的一例的曲線圖。圖5A是表示本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備中HAF的芯直徑加(μ m)與光 柵周期(μπι)的關(guān)系的曲線圖。圖5Β是表示本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備中HAF的相對(duì)折射率差Δ ) 與光柵周期(μπι)的關(guān)系的曲線圖。圖6Α是表示本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備中HAF的標(biāo)準(zhǔn)化空孔直徑d/加 與光柵周期(μπι)的關(guān)系的曲線圖。圖6Β是表示本發(fā)明的第一實(shí)施方式中的芯線檢測(cè)設(shè)備中標(biāo)準(zhǔn)化空孔直徑d/加與 光柵周期(μπι)的關(guān)系的曲線圖。圖6C是表示本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備中標(biāo)準(zhǔn)化空孔直徑d/加與光柵 周期(μπι)的關(guān)系的曲線圖。圖6D是表示本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備中標(biāo)準(zhǔn)化空孔直徑d/加與光柵 周期(μπι)的關(guān)系的曲線圖。圖7是表示通過(guò)本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備所具備的光柵形成器具來(lái) 賦予應(yīng)力的部位與折射率變化量的關(guān)系的圖。圖8是表示本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備的、HAF的標(biāo)準(zhǔn)化空孔位置c/加與光柵周期的關(guān)系的曲線圖。圖9A是用于說(shuō)明本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備所具備的光柵形成器具的 其他示例的俯視圖。圖9B是用于說(shuō)明本發(fā)明的第一實(shí)施方式中的芯線檢測(cè)設(shè)備所具備的光柵形成器 具的其他示例的側(cè)視圖。圖9C是表示在本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備所具備的光柵形成器具的其 他示例中，光纖的設(shè)置角度為0度時(shí)的光纖位置與折射率變化量的關(guān)系的圖。圖9D是表示在本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備所具備的光柵形成器具的其 他示例中，光纖的設(shè)置角度為θ時(shí)的光纖位置與折射率變化量的關(guān)系的圖。圖9Ε是表示利用本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備所具備的光柵形成器具的 其他示例進(jìn)行芯線檢測(cè)的流程圖。圖10是表示在本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備所具備的光柵形成器具的其 他示例的情況下波長(zhǎng)與損耗譜的關(guān)系的曲線圖。圖11是表示本發(fā)明第一實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行光柵形成時(shí)的載荷F與漏 光功率的關(guān)系的曲線圖。圖12Α是表示在本發(fā)明第二實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備中，具備一個(gè)光纖彎曲賦予 機(jī)構(gòu)時(shí)的圖。圖12Β是表示在本發(fā)明第二實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備中，具備二個(gè)光纖彎曲賦予 機(jī)構(gòu)時(shí)的圖。圖12C是表示利用本發(fā)明第二實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行芯線檢測(cè)的流程圖。圖13Α是表示在本發(fā)明第二實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備所具備的光纖彎曲賦予機(jī) 構(gòu)的情況下彎曲半徑(mm)與彎曲損耗(dB)的關(guān)系的圖。圖1 是表示在本發(fā)明第二實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備所具備的光纖彎曲賦予機(jī) 構(gòu)的情況下彎曲半徑(mm)與漏光功率(dBm)的關(guān)系的圖。圖14是示意地表示本發(fā)明第三實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備的圖。圖15是表示在本發(fā)明第三實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備中，光柵形成時(shí)的漏光功率 及插入損耗的曲線圖。
具體實(shí)施例方式以下，通過(guò)各實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明的芯線檢測(cè)設(shè)備的最優(yōu)方式進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。[第一實(shí)施方式]參照?qǐng)DIA至圖1C、圖2A及圖2B對(duì)本發(fā)明芯線檢測(cè)設(shè)備及方法的第一實(shí)施方式進(jìn) 行說(shuō)明。在本實(shí)施方式中，對(duì)適用于彎曲損耗特性得到改善的光纖的情況進(jìn)行說(shuō)明。圖IA及圖IB是用于說(shuō)明本發(fā)明第1實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備的圖。圖IA示出 其概略，圖IB是表示通過(guò)芯線檢測(cè)設(shè)備所具備的光柵形成器具來(lái)賦予應(yīng)力的部位與折射 率變化量的關(guān)系的圖。另外，在圖IA中，λ 1表示光纖中傳播的傳播模式，λ '表示從光 纖泄漏的漏光。本實(shí)施方式的芯線檢測(cè)設(shè)備100，如圖1所示，具備光柵形成器具20 (光柵形成裝 置)、受光器30 (受光裝置)等。
受光器30是檢測(cè)光纖1中發(fā)生的漏光的裝置。光柵形成器具20是通過(guò)多個(gè)突起部23(凹凸部)對(duì)光纖1施加載荷F由此形成 光柵的裝置。具體而言，光柵形成器具20具有光纖固定器具21、應(yīng)力賦予器具22、突起部
23等。光纖固定器具21是能夠?qū)⒃摴饫w1固定以使其不能在光纖1的軸向移動(dòng)且不能 在光纖的周向移動(dòng)的器具。作為光纖固定器具21，可以列舉例如上表面形成有V槽的固 定臺(tái)、將配置于該槽的光纖按壓并固定在固定臺(tái)上的按壓板等。應(yīng)力賦予器具22是棒狀或板狀的裝置。在應(yīng)力賦予器具22的下表面2 形成有 多個(gè)突起部23。多個(gè)突起部23的配置方式為相鄰的兩個(gè)突起部23的頂端部23a之間的 距離為預(yù)定的周期Λ。在光纖1為多孔單模光纖(HAF)等具有優(yōu)良的彎曲損耗特性的光纖的情況下，即 使在不施加圖IA所示的載荷F的狀態(tài)下對(duì)光纖賦予彎曲也不會(huì)產(chǎn)生損耗，因此，受光器30 無(wú)法檢出漏光。這里，當(dāng)在光柵形成器具20中施加載荷F時(shí)，如圖IB所示，在光纖1與突起 部23的頂端部23a接觸的預(yù)定部位Ia處將發(fā)生折射率變化。由于多個(gè)突起部23的頂端 部23a以預(yù)定的周期Λ進(jìn)行配置，因此形成折射率以周期Λ發(fā)生變化的長(zhǎng)周期光柵。在 該長(zhǎng)周期光柵中，周期Λ和光波的波長(zhǎng)λ滿足下式(1)所表示的相位匹配條件時(shí)，傳播模 式變換為高次模式。在下式(1)中，％表示傳播模式的有效折射率，nm表示高次模式的有 效折射率。[式1]
權(quán)利要求
1.芯線檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，包括光柵形成裝置，通過(guò)多個(gè)突起部對(duì)光纖施加載荷來(lái)形成光柵；以及 受光裝置，檢測(cè)由所述光柵發(fā)生的漏光。
2.如權(quán)利要求1所述的芯線檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述多個(gè)突起部的周期沿所述光 纖的設(shè)置方向發(fā)生變化。
3.如權(quán)利要求1或2所述的芯線檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述載荷為8N以上。
4.如權(quán)利要求1 3中任一項(xiàng)所述的芯線檢測(cè)設(shè)備，其特征在于， 還包括對(duì)所述光纖賦予彎曲的光纖彎曲賦予裝置，所述彎曲的曲率半徑處于8mm 12mm的范圍內(nèi)。
5.如權(quán)利要求1 4中任一項(xiàng)所述的芯線檢測(cè)設(shè)備，其特征在于， 所述多個(gè)突起部以0. 24mm 0. 75mm范圍內(nèi)的周期進(jìn)行配置。
6.如權(quán)利要求4所述的芯線檢測(cè)設(shè)備，其特征在于， 所述多個(gè)突起部配置于所述光纖彎曲賦予裝置。
7.芯線檢測(cè)方法，其特征在于，通過(guò)多個(gè)突起部對(duì)光纖施加載荷來(lái)形成長(zhǎng)周期光柵，其中，所述多個(gè)突起部以 0. 24mm 0. 75mm范圍內(nèi)的周期進(jìn)行配置；通過(guò)對(duì)由所述光纖發(fā)生的漏光進(jìn)行檢測(cè)來(lái)判斷光波在所述光纖中的導(dǎo)通。
8.如權(quán)利要求7所述的芯線檢測(cè)方法，其特征在于，通過(guò)改變所述多個(gè)突起部與所述 光纖間的角度來(lái)形成所述長(zhǎng)周期光柵。
9.如權(quán)利要求7或8所述的芯線檢測(cè)方法，其特征在于，對(duì)所述光纖賦予彎曲，檢測(cè)由 所述光纖發(fā)生的漏光。
全文摘要
本發(fā)明提供能夠?qū)Χ嗫讍文９饫w進(jìn)行芯線檢測(cè)的芯線檢測(cè)設(shè)備，其包括通過(guò)多個(gè)突起部(23)對(duì)光纖(1)施加載荷(F)來(lái)形成光柵的光柵形成器具(20)、和檢測(cè)光纖(1)所發(fā)生的漏光(λ1′)的受光器(30)，多個(gè)突起部(23)以0.24mm～0.75mm范圍內(nèi)的周期Λ進(jìn)行配置。
文檔編號(hào)G01M11/00GK102119325SQ20098013109
公開日2011年7月6日 申請(qǐng)日期2009年6月30日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月18日
發(fā)明者倉(cāng)島利雄, 富田茂, 戶毛邦弘, 松井隆 申請(qǐng)人:日本電信電話株式會(huì)社