專利名稱：一種陣列光纖長度差距的測量方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種陣列光纖長度的測試方法，尤其涉及一種陣列光纖長度差距的測
量方法。
背景技術(shù)：
隨著光通訊技術(shù)的發(fā)展，光網(wǎng)絡(luò)將升級到40G系統(tǒng)甚至100G系統(tǒng)以滿足城域網(wǎng)絡(luò) 和骨干網(wǎng)的需求和發(fā)展。為滿足高速率傳輸?shù)囊螅鞣N相位調(diào)制技術(shù)得到大量應(yīng)用，如雙 極性正交相位鍵控調(diào)制解調(diào)器(DP-QPSK)，差分正交相移鍵控調(diào)制解調(diào)器(DQPSK)等光器 件，這些器件有基于自由空間結(jié)構(gòu)或平面光波導(dǎo)(PLC)結(jié)構(gòu)的，自由空間結(jié)構(gòu)光器件一般 采用邁克爾遜干涉結(jié)構(gòu)，而平面光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)的光器件，一般采用馬赫澤德干涉(MZI)結(jié)構(gòu)。 經(jīng)過相位調(diào)制解調(diào)器的光信號通過多通道陣列光纖，如2個(gè)、4個(gè)或者8個(gè)通道輸出后進(jìn)行 差分比較，如果陣列輸出通道的各光纖長度不一致，則會造成光脈沖信號疊加，影響光通信 信號脈沖質(zhì)量，尤其是光纖長度差距大于0. 2mm(時(shí)延為1皮秒)，光脈沖信號重疊嚴(yán)重，相 位鍵控調(diào)制解調(diào)器的光信號將無法輸出。目前，為保證陣列光纖長度差距小于0. 2mm,采用 光時(shí)域反射儀(Optical Time Domain Itef lector，簡稱0TDR)測量陣列光纖的長度差距，但 是該設(shè)備價(jià)格昂貴，重復(fù)性差。

發(fā)明內(nèi)容
為克服以上缺點(diǎn)，本發(fā)明提供一種低成本、精度高的陣列光纖長度差距的測量方法。為達(dá)到以上發(fā)明目的，本發(fā)明提供一種陣列光纖長度差距的測量方法，包括以下 步驟第一步，準(zhǔn)備測試裝置，包括一寬帶光源、一具有一輸入端口和第一和第二輸出端 口的光環(huán)形器、一 1X2光耦合器、一多通道陣列光纖和一光譜分析儀；第二步，將光環(huán)形器 的輸入端口與所述寬帶光源光耦合，并使光環(huán)形器的第一輸出端與1X2光耦合器的輸入 端光耦合，所述第二輸出端口與光譜分析儀光耦合，1X2光耦合器的兩輸出端與多通道陣 列光纖待測試的任意兩路光纖各自光耦合，寬帶光源的光進(jìn)入光環(huán)形器的輸入端，并由其 第二輸出端通過1X2光耦合器分光后分別進(jìn)入待測試兩路光纖，通過其光纖端面反射后 產(chǎn)生的干涉信號從光環(huán)形器的第二輸出端進(jìn)入光譜分析儀，并測得以波長表示的自由空間 范圍(FSR)數(shù)據(jù)值，再換算成以頻率表示的自由空間范圍(FSRv)數(shù)據(jù)值；第三步，通過下列 公式計(jì)算出多通道陣列光纖的待測試兩路光纖差距d值
CFSRv =-
n*d其中C表示真空中光速，η表示光纖纖芯折射率。FSRv表示以頻率表示的自由空 間范圍數(shù)據(jù)值；第四步，當(dāng)兩路光纖差距d大于0. 2mm時(shí)，通過研磨任意一路光纖的端面后， 再重復(fù)第二和第三步驟，計(jì)算出待測試兩路光纖差距d值，若d值變小，說明研磨的是長光 纖，繼續(xù)研磨，直到d值符合規(guī)定要求，若d值變大，則說明研磨的是短光纖，更換研磨長光纖，使d值符合規(guī)定要求。所述1X2光耦合器為50 50光功率分路器。由于上述測試方法中，測試設(shè)備采用的價(jià)格較低的寬帶光源、一具有一輸入端口 和第一和第二輸出端口的光環(huán)形器、一 ι χ 2光耦合器和一光譜分析儀，沒有使用價(jià)格昂貴 的0TDR，整個(gè)測試系統(tǒng)的成本低，且精度高，光纖長度差距d值可以精確到0. OOlmm,完全滿 足各種相位調(diào)制技術(shù)的輸出通道的需要，不會造成光脈沖信號疊加。


圖1表示本發(fā)明測試裝置連接示意圖。
具體實(shí)施例方式一種陣列光纖長度差距的測量方法，包括以下步驟第一步，如圖1所示，準(zhǔn)備測 試裝置，包括一寬帶光源1、一具有一輸入端口和第一和第二輸出端口的光環(huán)形器2、一 1X2光耦合器3、一多通道陣列光纖4和一光譜分析儀5，其中，1X2光耦合器3可以是 50 50光功率分路器。第二步，將光環(huán)形器2的輸入端口與寬帶光源1光耦合，并使光環(huán) 形器2的第一輸出端與1 X 2光耦合器3的輸入端光耦合，第二輸出端口與所述光譜分析儀 5光耦合，1X2光耦合器3的兩輸出端與多通道陣列光纖4待測試的任意兩路光纖各自光 耦合，寬帶光源1的光進(jìn)入光環(huán)形器2的輸入端，并由其第二輸出端通過1X2光耦合器3 分光后分別進(jìn)入待測試兩路光纖，通過其光纖端面反射后產(chǎn)生的干涉信號從光環(huán)形器2的 第二輸出端進(jìn)入光譜分析儀5，并測得以波長表示的自由空間范圍(Free SpaceRange，簡稱 FSR)數(shù)據(jù)值，再換算成以頻率表示的自由空間范圍(FSRv)數(shù)據(jù)值。第三步，通過下列公式 計(jì)算出多通道陣列光纖4的待測試兩路光纖差距d值FMv = ^7其中C表示真空中光速，η表示光纖纖芯折射率。FSRv表示以頻率表
η* α
示的自由空間范圍數(shù)據(jù)值。第四步，當(dāng)兩路光纖差距d大于0. 2mm時(shí)，通過研磨任意一路光 纖的端面后，再重復(fù)第二和第三步驟，計(jì)算出待測試兩路光纖差距d值，若d值變小，說明研 磨的是長光纖，繼續(xù)研磨，直到d值符合規(guī)定要求，若d值變大，則說明研磨的是短光纖，更 換研磨長光纖，使d值符合規(guī)定要求。以同樣的方法，測量多通道陣列光纖4的其余光纖差 距值并進(jìn)行修正，使其符合要求。
權(quán)利要求
1.一種陣列光纖長度差距的測量方法，其特征在于，包括以下步驟第一步，準(zhǔn)備測試裝置，包括一寬帶光源(1)、一具有一輸入端口和第一和第二輸出 端口的光環(huán)形器O)、一 1X2光耦合器(3)、一多通道陣列光纖(4)和一光譜分析儀(5)；第二步，將所述光環(huán)形器O)的輸入端口與所述寬帶光源1光耦合，并使所述光環(huán)形 器O)的第一輸出端與所述1X2光耦合器(3)的輸入端光耦合，所述第二輸出端口與所 述光譜分析儀( 光耦合，所述1X2光耦合器(3)的兩輸出端與所述多通道陣列光纖(4) 待測試的任意兩路光纖各自光耦合，所述寬帶光源(1)的光進(jìn)入光環(huán)形器( 的輸入端，并 由其第二輸出端通過所述1X2光耦合器C3)分光后分別進(jìn)入所述待測試兩路光纖，通過其 光纖端面反射后產(chǎn)生的干涉信號從所述光環(huán)形器O)的第二輸出端進(jìn)入所述光譜分析儀 (5)，并測得以波長表示的自由空間范圍(FSR)數(shù)據(jù)值，再換算成以頻率表示的自由空間范 圍(FSRv)數(shù)據(jù)值；第三步，通過下列公式計(jì)算出多通道陣列光纖的待測試兩路光纖差距d值FSRv 二n*d其中C表示真空中光速，η表示光纖纖芯折射率。FSRv表示以頻率表示的自由空間范 圍數(shù)據(jù)值；第四步，當(dāng)兩路光纖差距d大于0. 2mm時(shí)，通過研磨任意一路光纖的端面后，再重復(fù)第 二和第三步驟，計(jì)算出待測試兩路光纖差距d值，若d值變小，說明研磨的是長光纖，繼續(xù)研磨，直到d值符合規(guī)定要求，若d值變大，則說明研磨的是短光纖，更換研磨長光纖，使d值符合規(guī)定要求。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列光纖長度差距的測量方法，其特征在于，所述1X2光耦 合器(3)為50:50光功率分路器。
全文摘要
本發(fā)明提供一種陣列光纖長度差距的測量方法，包括第一步，準(zhǔn)備測試裝置，包括一寬帶光源、一具有一輸入端口和第一和第二輸出端口的光環(huán)形器、一1×2光耦合器、一多通道陣列光纖和一光譜分析儀；第二步，將光環(huán)形器的輸入端口與所述寬帶光源光耦合，并使光環(huán)形器的第一輸出端與1×2光耦合器的輸入端光耦合，所述第二輸出端口與光譜分析儀光耦合，1×2光耦合器的兩輸出端與多通道陣列光纖待測試的任意兩路光纖各自光耦合，并自由空間范圍(FSR)數(shù)據(jù)值，再換算成以頻率表示的自由空間范圍(FSRv)數(shù)據(jù)值；第三步，通過公式計(jì)算出多通道陣列光纖的待測試兩路光纖差距d值，當(dāng)大于0.2mm時(shí)，研磨長端光纖，使其達(dá)到要求。
文檔編號G01J9/02GK102121851SQ20101004269
公開日2011年7月13日 申請日期2010年1月8日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月8日
發(fā)明者王忠健, 陳思鄉(xiāng) 申請人:深圳新飛通光電子技術(shù)有限公司