專利名稱：用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及激光拉曼光譜的檢測，尤其是涉及一種用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼 光譜的方法。
背景技術(shù)：
表面增強(qiáng)拉曼光譜(SERS)是一種重要的譜學(xué)技術(shù)，可以從分子水平上鑒別吸附 在納米結(jié)構(gòu)表面的物種，其增強(qiáng)能力可以達(dá)到106 1012。然而，SERS技術(shù)并沒有發(fā)展成為 表面科學(xué)以及實(shí)際生產(chǎn)實(shí)踐中的一個重要工具，其中的一個主要原因是只在幣族金屬金、 銀、銅等少數(shù)金屬(及鋰，鈉，鉀等)表面上可以產(chǎn)生很強(qiáng)的SERS效應(yīng)，并且要求基底表面 是粗糙的，這大大限制了 SERS技術(shù)的應(yīng)用前景。所以基底材料的普適性以及基底形貌的普 適性問題一直成為制約SERS技術(shù)發(fā)展的關(guān)鍵問題。為了將SERS拓展到具有極高催化價值的過渡金屬表面，人們最早在20世紀(jì)80年 代就開始嘗試采用“借力”的辦法。由于電磁場的場強(qiáng)與拉曼信號的強(qiáng)度成4次方的關(guān)系， 因此將極薄的過渡金屬層覆蓋在具有高SERS活性的粗糙金或銀表面，憑借金或銀的強(qiáng)的 電磁場來增強(qiáng)吸附在上層過渡金屬層表面物種的拉曼信號。但是必須控制過渡金屬層非常 薄，在幾個納米左右，否則電磁場增強(qiáng)的長程效應(yīng)就會失效。所以沉積的過渡金屬層極薄， 且沒有針孔，成為當(dāng)時的一大難題。到了 20世紀(jì)90年代后期，Weaver小組采用欠電位沉 積，然后氧化_還原取代的辦法在具有SERS活性的金表面制備出了沒有“針孔”的過渡金 屬層，對鉬系金屬上的分子的吸附和反應(yīng)開展系統(tǒng)的研究。(S. Park, P. Yang, P. Corredor, P. and M. J. Weaver, Transitionmetal-coated nanoparticle films vibrational characterization with surface-enhanced Ramanscattering. J. Am. Chem. Soc. 2002,124, 2428.)但是基底金屬對薄層金屬的理化性質(zhì)的影響、薄層的穩(wěn)定性和可逆性仍困擾著此方 法。至IJ了 21 世鄉(xiāng)己初，本申請人(Z. Q. Tian, B. Ren, J. F. Li, and Z. L. Yang, Expanding generalityof surface-enhanced Raman spectroscopy with borrowing SERS activity strategy. Chem. Comm. 2007,3514.)設(shè)計合成了金核過渡金屬殼的雙金屬核殼結(jié)構(gòu)納米粒 子，即在金納米粒子上化學(xué)沉積一層極薄且無針孔的過渡金屬層，借用內(nèi)核金納米粒子的 極強(qiáng)的電磁場來增強(qiáng)吸附在過渡金屬層上分子的拉曼振動信號。在一系列過渡金屬(鉬， 鈀，銠，釕，鈷，鎳等)上得到了非常好的SERS光譜，進(jìn)一步將SERS的應(yīng)用拓寬至具有極高 催化價值的過渡金屬上。但是需要檢測的材料是多種多樣的，不可能合成每一種材料的核 殼結(jié)構(gòu)納米粒子，所以必須尋找一種通用的方法來檢測各種基底上的拉曼信號。到了 2000年，隨著針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)的發(fā)明，突破了這一局限性。它采 用了一種針尖與探測基底分離的新工作模式，即TERS針尖在合適的激發(fā)光源條件下能產(chǎn) 生極強(qiáng)的電磁場，如果能非常逼近待測基底就能增強(qiáng)各種形貌和材料基底上的拉曼信號， 并且具有極高的空間分辨率。(B. Pettinger, B. Ren, G. Picardi, R. Schuster and G. Ertl, Nanoscale probingof adsorbed species by tip-enhanced Raman spectroscopy. Phys.
3Rev. Lett. 2004，92，096101.)但是TERS技術(shù)只使用了一個針尖，這就導(dǎo)致它增強(qiáng)的拉曼信 號比較弱，所以目前為止TERS的使用范圍僅僅局限于一些拉曼散射截面比較大的探針分 子。TERS的另一大局限性在于TERS針尖是裸露的，所以在氣相或者溶液環(huán)境中，一些探針 分子會很容易吸附在TERS在針尖上，產(chǎn)生的拉曼信號會遠(yuǎn)遠(yuǎn)強(qiáng)于來自待探測基底上的信 號，這就勢必會干擾實(shí)驗(yàn)，給出錯誤的信息。因此，需要從源頭創(chuàng)新，發(fā)明新方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種操作簡單、快速、成本低、拉曼信號強(qiáng)、重現(xiàn)性好、結(jié)果準(zhǔn) 確的、通用的用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法。本發(fā)明采用的技術(shù)方案是首先在金屬納米粒子表面包覆上一層極薄化學(xué)惰性且沒有針孔的致密殼層，然后 很簡單地將這些納米粒子“撒”在任何待測樣品表面，利用內(nèi)核金屬納米粒子極強(qiáng)的電磁場 來增強(qiáng)待測樣品表面吸附分子拉曼信號。本發(fā)明包括以下步驟1)制備金屬納米粒子為內(nèi)核，極薄殼惰性材料為外殼的殼層隔絕的核殼結(jié)構(gòu)納米 粒子；2)將納米粒子均勻鋪撒在待測樣品表面；3)直接進(jìn)行表面增強(qiáng)拉曼光譜檢測。所述金屬納米粒子最好為金納米粒子、銀納米粒子或銅納米粒子等具有顯著表面 等離子體共振性質(zhì)的金屬納米粒子。所述金屬納米粒子最好為球形、立方體或棒狀等各種形狀的金屬納米粒子結(jié)構(gòu)， 所述金屬納米粒子的粒徑最好為10 300nm。所述外殼最好為二氧化硅外殼、氧化鋁外殼、氮化硅外殼或二氧化鈦外殼等化學(xué) 惰性材料外殼。所述外殼的厚度最好為1 20nm。所述殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法檢測的激發(fā)光源波長是400 llOOnm。本發(fā)明的原理是通過借用內(nèi)核金屬納米粒子的高SERS活性來增強(qiáng)待測樣品上的表面增強(qiáng)拉曼散 射信號，即在具有極強(qiáng)電磁場的金屬(金、銀、銅)納米粒子上包覆一層極薄化學(xué)惰性的且 沒有針孔的致密殼層(二氧化硅、氧化鋁、氮化硅、二氧化鈦等材料)，構(gòu)成殼層隔絕納米粒 子，殼層厚度控制在幾個納米以內(nèi)，然后將該納米粒子置于待測樣品表面，干燥后進(jìn)行拉曼 測試，利用內(nèi)層金屬納米粒子的強(qiáng)的電磁場增強(qiáng)的長程效應(yīng)，來增強(qiáng)底層待測樣品表面的 拉曼信號。本發(fā)明采用包覆上極薄且無針孔的惰性致密殼層是為了保證所測得分子的拉曼 信號是真正來自待測基底的，而不是來自于納米粒子上的，起到一個隔絕的作用。但是殼層 厚度又不能太厚，否則內(nèi)核金或銀納米粒子的電磁場增強(qiáng)就無法起到很好的增強(qiáng)效果。所 以必須控制殼層是惰性的，極薄且致密。與現(xiàn)有的技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下突出的優(yōu)點(diǎn)和技術(shù)效果
1)本發(fā)明的殼層隔絕納米粒子的制備方法及原材料簡單，其中內(nèi)核金 屬納米粒子 的大小以及惰性殼層的厚度都是可控的。2)本發(fā)明與針尖增強(qiáng)拉曼光譜技術(shù)相比較，一個殼層隔絕納米粒子相當(dāng)于一個 TERS針尖，在實(shí)驗(yàn)中會有上千個納米粒子被激發(fā)，這就極大地提高了本發(fā)明的檢測靈敏度。3)本發(fā)明的殼層隔絕納米粒子，包覆上的化學(xué)惰性殼層能很好的把內(nèi)核金屬納米 粒子與外界隔絕開，以保證金屬納米粒子不會與探針分子接觸，不會與基底發(fā)生作用，進(jìn)而 干擾實(shí)驗(yàn)，如金屬納米粒子的光催化作用，與基底的電子結(jié)構(gòu)效應(yīng)。所以本發(fā)明非常適用于 氣相和溶液體系。4)本發(fā)明克服了以往SERS的兩大局限性，基底材料的普適性和基底形貌的普適 性。利用包覆在極薄惰性殼層之內(nèi)金屬納米粒子的強(qiáng)電磁場增強(qiáng)長程效應(yīng)，不但能在非傳 統(tǒng)的SERS基底材料上獲得SERS信號，還能在光亮基底甚至單晶表面輕松的獲得分子的拉 曼振動信息。5)本發(fā)明只需將殼層隔絕納米粒子置于任何待測樣品上就能得到待測樣品的 SERS信號，并且具有極高的檢測靈敏度，使得我們能夠獲得更多探針分子與基底相互作用 以及基底本身的信息，并為研究各種結(jié)構(gòu)的表面增強(qiáng)機(jī)理提供實(shí)驗(yàn)依據(jù)。6)本發(fā)明使得SERS技術(shù)應(yīng)用范圍拓寬，為真正使SERS這種高靈敏度的檢測技術(shù) 普遍應(yīng)用于生產(chǎn)科研中奠定基礎(chǔ)。


圖1為制備殼層隔絕納米粒子的實(shí)驗(yàn)流程示意圖。圖2為殼層隔絕納米粒子的掃描電子顯微鏡圖(SEM)和透射電子顯微鏡圖(TEM)。圖3為有針孔和無針孔殼層隔絕納米粒子在硅片上的拉曼光譜圖。圖4為組裝和沒組裝殼層隔絕納米粒子的鉬單晶面上氫吸附的拉曼光譜圖。圖5為使用殼層隔絕納米粒子與純金屬納米粒子在拉曼光譜上的比較的示意圖。圖6為比較殼層隔絕納米粒子與純金屬納米粒子在鉬單晶面上一氧化碳吸附的 拉曼光譜圖。圖7為檢測硅清洗工藝流程各個關(guān)鍵步驟中硅片表明面化學(xué)成鍵變化的拉曼光 譜圖。圖8為檢測酵母細(xì)胞壁主要成分的拉曼光譜圖。圖9為檢測水果橙子表皮農(nóng)藥殘留的拉曼光譜圖。
具體實(shí)施例方式以下實(shí)施例將結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。實(shí)施例1一種殼層隔絕納米粒子的制備圖1給出殼層隔絕納米粒子的實(shí)驗(yàn)流程示意圖。以薄殼二氧化硅包金核殼結(jié)構(gòu)納米粒子為例，其具體制備方法是取200ml質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0. 01 %的氯金酸水溶液，攪拌條件下加熱至沸騰，然后加入 1. 4ml質(zhì)量分?jǐn)?shù)為1 %的檸檬酸鈉水溶液，并保持微沸40min，溶液由淡黃色逐漸變?yōu)樽丶t色，使其完全反應(yīng)后自然冷卻至室溫，即得直徑約為55 士 lOnm的金納米粒子溶膠。取30ml 金納米粒子溶膠作為種子，加入0. 4ml濃度為ImM的氨基硅烷水溶液，室溫下攪拌15min，然 后加入3. 2ml質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0. 54%的硅酸納水溶液，攪拌2分鐘后轉(zhuǎn)移至溫度約為98°C的水 浴中，反應(yīng)lh后水浴冷卻至室溫，即得薄殼二氧化硅包金核殼結(jié)構(gòu)納米粒子溶膠，其中二 氧化硅殼層厚度約為4 5nm。圖2A是二氧化硅包金核殼結(jié)構(gòu)納米粒子的掃描電子顯微鏡圖(SEM)，圖2B是高分 辯透射電子顯微鏡圖(TEM)。在圖2A中，標(biāo)尺為0.5 iim，在圖2B中，從左到右標(biāo)尺分別為 20nm, 20nm, 20nm, 40nm, 5nm。從高分辯透射電鏡中能非常清楚的看到金核表面包覆上了一 層致密的二氧化硅薄殼層。實(shí)施例2檢測殼層隔絕的核殼結(jié)構(gòu)納米粒子的殼層是否致密無針孔的SERS表征合成了有針孔的殼層隔絕納米粒子(以薄殼二氧化硅包金核殼結(jié)構(gòu)納米粒子為 例)和無針孔的納米粒子進(jìn)行對比，離心洗滌2次，分別取底部濃縮液分散光亮的硅片上， 干燥后至于0. 1M吡啶溶液中進(jìn)行拉曼測試。圖3是實(shí)施例2的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。在圖3中，橫坐標(biāo)為拉曼位移。圖3中曲線a代表 有針孔二氧化硅包金納米粒子的SERS譜圖，出現(xiàn)了明顯的1009CHT1和1034CHT1的吡啶在金 上的特征拉曼譜峰。曲線b代表無針孔二氧化硅包金納米粒子的SERS譜圖，卻沒有出現(xiàn)任 何吡啶吸附在金上的拉曼峰。這一實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明合成的薄殼二氧化硅包金核殼結(jié)構(gòu)納米粒 子是沒有金“針孔”的，二氧化硅層包覆的是致密的。實(shí)施例3利用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜技術(shù)研究單晶鉬(111)表面鉬_氫鍵的SERS 行為把組裝了殼層隔絕納米粒子(以薄殼二氧化硅包金核殼結(jié)構(gòu)納米粒子為例)與沒 有組裝粒子的鉬單晶(111)面，分別在0. 1M附(104溶液中不同電位下進(jìn)行SERS實(shí)驗(yàn)。圖4是實(shí)施例3的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。在圖4中，曲線a代表沒有組裝薄殼二氧化硅包金 納米粒子的鉬單晶(111)面上的SERS譜圖，并沒有觀察到這一頻率區(qū)間的任何譜峰。曲線 b代表組裝了薄殼二氧化硅包金納米粒子的鉬單晶(111)面上的SERS譜圖，出現(xiàn)了明顯的 2023cm-1左右的鉬-氫的特征伸縮振動峰，并且該峰經(jīng)過了重水的驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)。這一結(jié)果表 明只有使用了殼層隔絕納米粒子，才能增強(qiáng)鉬單晶面上鉬_氫鍵拉曼振動信號。實(shí)施例4比較使用殼層隔絕納米粒子與使用純金屬納米粒子在表面增強(qiáng)拉曼光譜上的區(qū) 別使用純金屬納米粒子與殼層隔絕納米粒子相比較存在以下缺陷1、在氣相或溶液相環(huán)境中，裸露的金屬納米粒子會吸附上一些探針分子，其產(chǎn)生 的拉曼信號會遠(yuǎn)遠(yuǎn)強(qiáng)于來自待探測基底上的信號，這就勢必會干擾實(shí)驗(yàn)，給出錯誤的信息。 (圖 5A)2、裸露的金屬納米粒子與探針分子直接接觸，可能會導(dǎo)致探針分子吸附模式的變 化以及其電子密度分布，在拉曼光譜上就會給出一些誤導(dǎo)的信息。同時裸露的金屬納米粒 子與探針分子的直接接觸也很可能會發(fā)生一些光催化反應(yīng)。(圖5B)
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3、裸露的金屬納米粒子與探測基底直接接觸，由于兩者的費(fèi)米能級不一樣，所以 金屬納米粒子與探測基底之間就會產(chǎn)生電子轉(zhuǎn)移，進(jìn)而影響吸附分子的電子結(jié)構(gòu)性質(zhì)。(圖 5C)而如果使用殼層隔絕納米粒子，包覆上的極薄且無針孔的惰性致密殼層能很好的 起到隔絕的作用，是為了保證所測得分子的拉曼信號是真正來自待測基底的，而不是來自 于金屬納米粒子上的。同時也避免了金屬納米粒子與探針分子、探測基底的直接接觸，不會 發(fā)生光催化反應(yīng)以及電子轉(zhuǎn)移。(圖5D)下面以一氧化碳在鉬單晶(111)上吸附為例說明以上問題。在鉬單晶(111)面上分別組裝殼層隔絕納米粒子(以薄殼二氧化硅包金核殼結(jié)構(gòu) 納米粒子為例)與純金納米粒子，在飽和了一氧化碳的0. IMHClO4溶液中進(jìn)行電化學(xué)SERS 實(shí)驗(yàn)。圖6是實(shí)施例4的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。在圖6中，曲線a代表使用純金納米粒子的SERS譜 圖，圖中不但出現(xiàn)了 2060cm—1左右典型的一氧化碳在鉬上的伸縮振動峰，還出現(xiàn)了 2125CHT1 左右典型的一氧化碳吸附在金上的譜峰。而曲線b代表使用薄殼二氧化硅包金納米粒子的 SERS譜圖，圖中只有出現(xiàn)2072CHT1左右典型的一氧化碳吸附在鉬上的譜峰。同時仔細(xì)比較 兩個實(shí)驗(yàn)一氧化碳吸附在鉬上的譜峰頻率，發(fā)現(xiàn)使用純金納米粒子的拉曼譜峰位置明顯紅 移了 12cm—1，這是由于金納米粒子直接與鉬單晶基底接觸，兩者之間產(chǎn)生一定的電子轉(zhuǎn)移導(dǎo) 致的。這些結(jié)果表明使用純金納米粒子來探測基底拉曼信號，得到的是收到了金干擾的拉 曼信息，而只有只用了殼層隔絕納米粒子才能得到待測基底真實(shí)的信息。實(shí)施例5利用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜方法，現(xiàn)場探測硅表面處理工藝流程中，硅 表面化學(xué)成鍵的變化模擬了硅表面處理工藝流程的關(guān)鍵步驟，將經(jīng)過一定處理后的硅片表面進(jìn)行濃硫 酸清洗，然后再進(jìn)行短暫的氫氟酸處理，最后再對硅片進(jìn)行氧等離子清洗。將殼層隔絕納米 粒子(以薄殼二氧化硅包金核殼結(jié)構(gòu)納米粒子為例)分別撒在各個關(guān)鍵步驟的硅片上，現(xiàn) 場探測硅片表面化學(xué)成鍵的變化。圖7是實(shí)施例5的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。在圖7中，曲線a代表將經(jīng)過一定處理后的硅片表 面進(jìn)行濃硫酸清洗后的SERS譜圖，并沒有發(fā)現(xiàn)有硅一氫鍵的存在。曲線b代表進(jìn)而再經(jīng)過 短暫的氫氟酸處理后的SERS譜圖，發(fā)現(xiàn)表面出現(xiàn)了明顯的2050CHT1左右的硅-氫鍵的拉曼 伸縮振動峰，曲線c代表再對硅片進(jìn)行氧等離子體清洗后SERS譜圖，發(fā)現(xiàn)硅-氫鍵的拉曼 峰消失了。這一流程的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明只有在氫氟酸處理后，硅表面才會存在硅-氫鍵。實(shí)施例6利用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜方法，研究活體細(xì)胞(酵母)表面結(jié)構(gòu)將殼層隔絕納米粒子(以薄殼二氧化硅包金核殼結(jié)構(gòu)納米粒子為例)與酵母細(xì)胞 共同培養(yǎng)幾個小時后，分散在石英窗片上進(jìn)行拉曼檢測。由于酵母細(xì)胞不會將納米粒子吞 入細(xì)胞內(nèi)，所以這些納米粒子大部分會吸附在酵母細(xì)胞壁表面，所以得到的拉曼譜峰也就 主要是來自于細(xì)胞壁上的信息。圖8是實(shí)施例6的使用結(jié)果。在圖8中，曲線a代表沒有與薄殼二氧化硅包金納 米粒子共同培養(yǎng)的酵母細(xì)胞的拉曼譜圖。曲線b，c, d分別代表在不同酵母細(xì)胞上測得的SERS譜圖，兩種譜圖呈現(xiàn)非常大的區(qū)別。其中1166CHT1，14 lW, 1488cm"1,1587CHT1這些峰 與文獻(xiàn)中甘露糖蛋白的SERS譜峰是一致的，而甘露糖蛋白被認(rèn)為是酵母細(xì)胞壁的主要組 成部分。這一實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜方法很好的探測了酵母細(xì)胞 壁的主要成分，是現(xiàn)場檢測活體細(xì)胞表面結(jié)構(gòu)一種安全方便的方法。實(shí)施例7利用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜方法檢測水果表皮農(nóng)藥殘留將殼層隔絕納米粒子(以薄殼二氧化硅包金核殼結(jié)構(gòu)納米粒子為例)撒在噴灑過 農(nóng)藥(甲基對硫磷，2ppm)并且干燥后的橙子表皮，噴灑過農(nóng)藥但是沒有撒納米粒子的橙子 皮，以及沒有噴灑過農(nóng)藥的橙子皮，分別使用便攜式拉曼譜儀進(jìn)行拉曼檢測。只需要幾十秒 秒時間就可以完成現(xiàn)場檢測。圖9是實(shí)施例7實(shí)驗(yàn)結(jié)果。在圖9中，曲線a代表沒有沒有噴灑過農(nóng)藥的橙子皮 的拉曼譜圖，其中1165cm—1和1526cm—1峰是橙子皮中類胡蘿卜素的特征譜峰。曲線b代表 有噴灑過農(nóng)藥但是沒有撒薄殼二氧化硅包金納米粒子的拉曼譜圖，它的特征與曲線a完全 一樣。曲線c代表噴灑過農(nóng)藥并且撒上了薄殼二氧化硅包金納米粒子的SERS譜圖，出現(xiàn)了 明顯1109cm—1和1340cm—1的峰，這2個峰是農(nóng)藥分子甲基對硫磷的特征譜峰。所以只有使 用了殼層隔絕納米粒子才能增強(qiáng)橙子表面殘留農(nóng)藥的拉曼信號。這一結(jié)果表明用殼層隔絕 納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜方法可以發(fā)展成為人們?nèi)粘Ｉ顚?shí)踐中一種非常方便快捷的檢測 手段。上述實(shí)施例只為說明本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，其目的在于讓熟悉此項技術(shù)的人 士能夠了解本發(fā)明的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，并不能以次限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡根據(jù)本發(fā)明 精神實(shí)質(zhì)所作的等效變化或修飾，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法，其特征在于包括以下步驟1)制備金屬納米粒子為內(nèi)核，極薄殼惰性材料為外殼的殼層隔絕的核殼結(jié)構(gòu)納米粒子；2)將納米粒子均勻鋪撒在待測樣品表面；3)直接進(jìn)行表面增強(qiáng)拉曼光譜檢測。
2.如權(quán)利要求1所述的用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法，其特征在于所述金 屬納米粒子為金納米粒子、銀納米粒子或銅納米粒子。
3.如權(quán)利要求1所述的用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法，其特征在于所述金 屬納米粒子為球形金屬納米粒子、立方體金屬納米粒子或棒狀金屬納米粒子。
4.如權(quán)利要求1或3所述的用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法，其特征在于所 述金屬納米粒子的粒徑為10 300nm。
5.如權(quán)利要求1所述的用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法，其特征在于所述外 殼為二氧化硅外殼、氧化鋁外殼、氮化硅外殼或二氧化鈦外殼。
6.如權(quán)利要求1或5所述的用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法，其特征在于所 述外殼的厚度為1 20nm。
7.如權(quán)利要求1所述的用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法，其特征在于所述殼 層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法檢測的激發(fā)光源波長是400 llOOnm。
全文摘要
用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法，涉及激光拉曼光譜的檢測。提供一種操作簡單、快速、成本低、拉曼信號強(qiáng)、重現(xiàn)性好、結(jié)果準(zhǔn)確的、通用的用殼層隔絕納米粒子增強(qiáng)拉曼光譜的方法。制備金屬納米粒子為內(nèi)核，極薄殼惰性材料為外殼的殼層隔絕的核殼結(jié)構(gòu)納米粒子；將納米粒子均勻鋪撒在待測樣品表面；直接進(jìn)行表面增強(qiáng)拉曼光譜檢測。
文檔編號G01N21/65GK101832933SQ20101004486
公開日2010年9月15日 申請日期2010年1月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月21日
發(fā)明者李劍鋒, 王中林, 田中群 申請人:廈門大學(xué)