專利名稱：檢測裝置及檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種偏光片的檢測裝置及檢測方法，特別是一種用以區(qū)分光學(xué)補償型 偏光片和非光學(xué)補償型偏光片的檢測裝置及檢測方法。
背景技術(shù)：
液晶顯示器(Liquid Crystal Display, LCD)以其輕薄、節(jié)能等特點，已被越來越 多的消費者所接受。然而LCD目前存在的缺點是它狹窄的視線角度和嚴重的色偏現(xiàn)象。一 種可行的用以克服該些問題的方法是設(shè)計一種具有光學(xué)補償特性的偏光片。圖1是現(xiàn)有的一種具有光學(xué)補償特性的偏光片。該種偏光片100與普通偏光片相 比，除了具備偏光層101，膠層103和離型膜104之外，還具備光學(xué)補償膜102。其中該光學(xué) 補償膜102為一種高透明度且光學(xué)特征各向異性的材質(zhì)組成，比如以聚碳酸酯為代表的高 分子相位差膜聚合物，或者盤狀液晶及向列型液晶為代表的高分子液晶材料。該些材料由 于在各個方向上的傳輸特性不同，通過具體的設(shè)計可以使原本傾斜于畫面法線方向的光線 得到補償，因而可以擴大LCD的視角和矯正色偏的功能。但是對于偏光片的生產(chǎn)廠家而言，由于光學(xué)補償型偏光片在目測狀況下很難同普 通的偏光片進行區(qū)別，往往在來料和加工的過程中，被工人將該兩種偏光片混淆，從而產(chǎn)生 許多誤操作，給廠商帶來了極大的困擾。目前鑒別該兩種偏光片的方法是采用破壞性的檢測方式，具體來說，就是通過將 待測偏光片貼附到液晶顯示器上，根據(jù)顯示結(jié)果判斷該偏光片的種類。這種方法雖然能檢 測出偏光片的種類，但是已經(jīng)貼附到液晶顯示器的偏光片無法再利用，只能作報廢處理，而 且其操作繁瑣并需要一塊專門用于測試的液晶顯示器，極大的增加了檢測成本。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明將提供一種在不破壞偏光片的情況下，就可以區(qū)分光學(xué)補償型 偏光片和非光學(xué)補償型偏光片的檢測裝置和檢測方法。根據(jù)本發(fā)明的目的提供的檢測裝置，包括透明基板，具有第一表面和相背的第二 表面，該第一表面設(shè)有起偏層；該第二表面具有檢測區(qū)和參考區(qū)，其中該檢測區(qū)用以放置待 測偏光片；該參考區(qū)設(shè)有第一標準片和第二標準片，且該第一標準片和該第二標準片的透 光軸相差180°。根據(jù)本發(fā)明的目的提供的檢測裝置，該第一標準片和該第二標準片為光學(xué)補償型 偏光片。根據(jù)本發(fā)明的目的提供的檢測裝置，該第一標準片和該第二標準片具有離型膜。根據(jù)本發(fā)明的目的提供的檢測裝置，該第一標準片的透光軸為45°。根據(jù)本發(fā)明的目的提供的檢測裝置，該起偏層的透光軸與該第一標準片的透光軸 相差一角度，其中該角度的范圍在，90° )區(qū)間。根據(jù)本發(fā)明的目的提供的檢測方法，包括提供一種如上所述的檢測裝置；選擇角度觀察該第一標準片和第二標準片，使該第一標準片和該第二標準片的表面具有不同的 圖案；將待測偏光片放置于該檢測區(qū)，以上述角度觀察該偏光片；旋轉(zhuǎn)該偏光片，使該偏光 片呈現(xiàn)與第一標準片或者第二標準片相同的圖案；將該偏光片旋轉(zhuǎn)180°，以此時該偏光 片的圖案與第一標準片和第二標準片對比，并根據(jù)該對比結(jié)果判斷該偏光片的類型。根據(jù)本發(fā)明的目的提供的檢測方法，其中該對比結(jié)果包括該待測偏光片兩次都與 同一塊參考標準片的圖案相同；或者該待測偏光片兩側(cè)分別與兩塊參考標準片的圖案相 同。根據(jù)本發(fā)明的目的提供的檢測方法，其中該判斷包括與同一塊參考標準片具有相 同的圖案時，該待測偏光片為非光學(xué)補償型偏光片；或者分別與兩塊參考標準片具有相同 的圖案時，該待測偏光片為光學(xué)補償型偏光片。根據(jù)本發(fā)明的目的提供的檢測方法，還包括使用外部光源，設(shè)置在該起偏層的一 側(cè)，該外部光源產(chǎn)生強光照射該檢測裝置，使該第一標準片、第二標準片和該待測偏光片產(chǎn) 生的干涉圖案更加明顯。上述的檢測裝置和檢測方法，其結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，能夠快速的鑒別出所測偏光 片的種類，且不會破壞該偏光片，大大提高了生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。下面結(jié)合附圖以具體實施方式
對本發(fā)明做詳細說明。


圖1是現(xiàn)有的光學(xué)補償型偏光片的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2A是本發(fā)明的一種較佳實施方式的檢測裝置的示意圖；圖2B是圖2A中檢測裝置的背面示意圖；圖3是本發(fā)明的檢測方法的流程示意圖；圖4A-4D是使用本發(fā)明的檢測裝置進行檢測的具體實施方式
的示意圖；圖5是本發(fā)明的第二具體實施方式
的檢測裝置的側(cè)視示意圖。
具體實施例方式請參照圖2A，圖2A是本發(fā)明的一種較佳實施方式的檢測裝置的示意圖。如圖所 示，檢測裝置200包括透明基板201，該透明基板201可以是玻璃、有機玻璃、樹脂片等。在 該透明基板201的第一表面設(shè)有起偏層202，與該第一表面相背的第二表面設(shè)有檢測區(qū)205 和參考區(qū)206，其中該檢測區(qū)205用以放置待測偏光片，該參考區(qū)206用以放置第一標準片 203和第二標準片204，該第一標準片203和第二標準片204是一對透光軸相差180°的光 學(xué)補充型偏光片。具體而言，該第一標準片203和該第二標準片204可以選取一種已知透 光軸角度的光學(xué)補充型偏光片，以富士膠膜株式會社制造的45° WV膜為例，該偏光片的透 光軸為45°，且具有如圖1所示的偏光片100的結(jié)構(gòu)。選取兩片該種偏光片，一片以正常的 角度放置，以形成第一標準片203，另外一片則相對該第一標準片203旋轉(zhuǎn)180°放置，以形 成第二標準片204。對于光學(xué)補償型偏光片而言，其內(nèi)部的光學(xué)性質(zhì)表現(xiàn)為各向異性，因此 觀察該第一標準片203和第二標準片204的表面時，可以看到不同的顏色或圖案。較佳地， 為了使該第一標準片203和第二標準片204表面產(chǎn)生的圖案能與待測偏光片放到檢區(qū)205 后產(chǎn)生的圖案具有可比性，其離型膜將被保留在該第一標準片203和第二標準片204的上面。檢測時，由于第一標準片203、第二標準片204以及待測的偏光片均不是緊密貼合在透 明基板201上，其間留有一定的空氣間隙，因而在第一標準片203、第二標準片204以及待 測的偏光片的表面會形成炫彩的干涉圖案。于實際操作中，該第一標準片203、第二標準片 204可以通過額外的膠帶(圖中未示出)將其固定在透明基板201的參考區(qū)206內(nèi)。請再參考圖2B，圖2B是圖2A中檢測裝置的背面示意圖。如圖所示，該起偏層202 用以將透過的外部光線變成偏振光，只需普通的偏光片即可。同時為了保證光線透過該起 偏層202后仍能有部分從第一標準片203和第二標準片204中透出，其透光軸不能與該第 一標準片203或第二標準片204的透光軸垂直，即兩者之間相差，90° )區(qū)間中的任意 一個角度。在本實施例中，為了配合上述的第一標準片203和第二標準片204，選取該起偏 層202的透光軸為0°。下面將詳細說明如何使用上述檢測裝置200檢測偏光片。請一并參考圖3、圖 4A-4D，圖3是本發(fā)明的檢測方法的流程示意圖，圖4A-4D是使用本發(fā)明的檢測裝置進行檢 測的具體實施方式
的示意圖。如圖所示，第一步選取一個合適的視角觀察第一標準片203 和第二標準片204，使該第一標準片203和第二標準片204呈現(xiàn)出干涉圖案。此處因為第一 標準片203和第二標準片204并非精密貼合在透明基本201的表面，其間會有空氣薄膜，再 加上本身的離型層等薄膜，使得光線在透過該第一標準片203和第二標準片204時會產(chǎn)生 明暗相間或者炫彩的干涉條紋。如圖4A所示，在一合適的觀察角度下，第一標準片203和 第二標準片204分別出現(xiàn)有差異的干涉圖案。接著，將待測的偏光片300放置到檢測裝置200的檢測區(qū)205上，在上述的視角下 觀察該待測偏光片300的圖案，并與第一標準片203和第二標準片204的干涉圖案比較，如 果此時該待測偏光片300出現(xiàn)的干涉圖案與第一標準片203或者第二標準片203的干涉圖 案不相同，則需要將該待測偏光片300旋轉(zhuǎn)一定角度，直到該偏光片300的干涉圖案與第一 標準片203或者第二標準片204中的一個相同。將與待測偏光片300具有相同干涉圖案的參考標準片記為第一比較結(jié)果。然后將 該待測偏光片300水平旋轉(zhuǎn)180°，如圖4B所示。觀察此時該待測偏光片300的干涉圖案， 并再一次與第一標準片203和第二標準 片204的干涉圖案比較，將此次與待測偏光片300 具有相同干涉圖案的參考標準片記為第二比較結(jié)果。最后根據(jù)第一比較結(jié)果和第二比較結(jié)果進行判斷如果該第一比較結(jié)果和該第二 比較結(jié)果相同，即該待測偏光片300兩次出現(xiàn)的干涉圖案都與同一塊參考標準片的干涉圖 案相同，則說明該待測偏光片300在同一軸上的兩個不同方向的光傳輸特性相同，該待測 偏光片300為非光學(xué)補償型偏光片；如果該第一比較結(jié)果和該第二比較結(jié)果不同，即該待 測偏光片300兩次出現(xiàn)的干涉圖案分別與兩塊參考標準片相同，則說明該待測偏光片300 在同一軸上的兩個不同方向的光傳輸特性不同，該待測偏光片300為光學(xué)補償型偏光片。 如圖4C-4D所示的情況，就是待測偏光片300為光學(xué)補償型偏光片時，出現(xiàn)兩次不同的干涉 圖案的示意圖。請再參考圖5，圖5是本發(fā)明的第二具體實施方式
的示意圖。與第一實施方式相 比，該第二實施方式使用外部光源400，設(shè)置在該起偏層202的一側(cè)。由該外部光源400產(chǎn) 生的較強光線照射該檢測裝置200，使該第一標準片203、第二標準片204和該待測偏光片 300產(chǎn)生的干涉圖案更加明顯，易于判斷。
由上述描述的本發(fā)明的檢測裝置和檢測方法，利用光學(xué)補償型偏光片具有各項異 性的光學(xué)傳輸性質(zhì)，而非光學(xué)補償型偏光片則沒有這一性質(zhì)的特征，通過比對兩塊標準片 所產(chǎn)生的干涉圖案，在不破壞待測偏光片的情況下就能判斷其所屬類型。與現(xiàn)有的檢測手 段相比，本發(fā)明的檢測裝置和檢測方法具有結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，且成本低廉的特征。由以上較佳具體實施方式
的詳述，希望能更加清楚描述本發(fā)明的特征與精神，而并非以上述所揭露的較佳具體實施方式
來對本發(fā)明的權(quán)利要求范圍加以限制。相反地，其 目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排于本發(fā)明所欲申請的權(quán)利要求的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
一種檢測裝置，用以區(qū)分光學(xué)補償型偏光片和非光學(xué)補償型偏光片，其特征在于包括透明基板，具有第一表面和相背的第二表面，該第一表面設(shè)有起偏層；該第二表面具有檢測區(qū)和參考區(qū)，其中該檢測區(qū)用以放置待測偏光片；該參考區(qū)設(shè)有第一標準片和第二標準片，且該第一標準片和該第二標準片的透光軸相差180°。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于該第一標準片和該第二標準片為光學(xué) 補償型偏光片。
3.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于該第一標準片和該第二標準片具有離型膜。
4.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于該第一標準片的透光軸為45°。
5.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于該起偏層的透光軸與該第一標準片的 透光軸相差一角度，其中該角度的范圍在，90° )區(qū)間。
6.一種檢測方法，用以區(qū)分光學(xué)補償型偏光片和非光學(xué)補償型偏光片，其特征在于包 括下列步驟提供一種如權(quán)利要求1至5任意一項所述的檢測裝置；選擇角度觀察該第一標準片和第二標準片，使該第一標準片和該第二標準片的表面具 有不同的圖案；將待測偏光片放置于該檢測區(qū)，以上述角度觀察該待測偏光片；旋轉(zhuǎn)該待測偏光片，使該待測偏光片呈現(xiàn)與第一標準片或者第二標準片相同的圖案；將該待測偏光片旋轉(zhuǎn)180°，以此時該待測偏光片的圖案與第一標準片和第二標準片 對比；根據(jù)該對比結(jié)果判斷該偏光片的類型。
7.如權(quán)利要求6所述的檢測方法，其特征在于該對比結(jié)果包括該待測偏光片兩次都 與同一塊參考標準片的圖案相同；或者該待測偏光片兩側(cè)分別與兩塊參考標準片的圖案相 同。
8.如權(quán)利要求7所述的檢測方法，其特征在于該判斷包括與同一塊參考標準片具有 相同的圖案時，該待測偏光片為非光學(xué)補償型偏光片；或者分別與兩塊參考標準片具有相 同的圖案時，該待測偏光片為光學(xué)補償型偏光片。
9.如權(quán)利要求6所述的檢測方法，其特征在于該方法還包括使用外部光源，設(shè)置在該 起偏層的一側(cè)，該外部光源產(chǎn)生強光照射該檢測裝置，使該第一標準片、第二標準片和該待 測偏光片產(chǎn)生的干涉圖案更加明顯。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用以區(qū)分光學(xué)補償型偏光片和非光學(xué)補償型偏光片的檢測裝置和檢測方法。該檢測裝置包括透明基板、起偏層、第一標準片和第二標準片。該檢測方法通過將待測偏光片放置在透明基板的檢測區(qū)，并比對第一標準片和第二標準片的干涉圖案進行判斷。本發(fā)明的檢測裝置和檢測方法在不破壞待測偏光片的情況下就能快速的進行檢測，并具有結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，且成本低廉的特征。
文檔編號G01M11/00GK101806966SQ20101015611
公開日2010年8月18日 申請日期2010年3月31日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月31日
發(fā)明者王旭萍 申請人:蘇州達信科技電子有限公司;達信科技股份有限公司