專利名稱：工件長度校正裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于工件長度檢測校正技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種工件長度校正裝置，用來 檢測較規(guī)則性的工件尺寸公差。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中，對工件長度進行檢測常常采用手工進行；采用的測量工具包括百分 表或千分表等測量工具，用于將被測長度與已知長度比較，從而得出測量結(jié)果的工具。百 分表或千分表在機械設(shè)計中經(jīng)常使用，其構(gòu)造主要由3個部件組成表體部分、傳動系統(tǒng)、 讀數(shù)裝置，通常由測頭、量桿、防震彈簧、齒條、齒輪、游絲、圓表盤及指針等組成。該工具根 據(jù)被測尺寸引起的測桿微小直線移動，經(jīng)過齒輪傳動放大，變?yōu)橹赣嬙诳潭缺P上的轉(zhuǎn)動，從 而讀出被測尺寸的大小。該工具有較大的測量范圍，不僅能作比較測量，也能作絕對測量， 檢測結(jié)果較為精確、靈敏，然而由于現(xiàn)有技術(shù)中工件大多都是通過手工檢測，工件檢驗效率 低，人為檢測誤差高，不能實現(xiàn)大批量產(chǎn)品的快速檢測。本發(fā)明由此而來。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的在于提供一種工件長度校正裝置，解決了現(xiàn)有技術(shù)中手工檢測帶來的 工件檢驗效率低，人為檢測誤差高，不能實現(xiàn)大批量產(chǎn)品的快速檢測等問題。為了解決現(xiàn)有技術(shù)中的這些問題，本發(fā)明提供的技術(shù)方案是一種工件長度校正裝置，包括支撐工件的支撐架，其特征在于所述支撐架的一側(cè) 設(shè)置作為工件初始位置的初始擋板，所述支撐架的另一側(cè)固定設(shè)置檢測工件長度公差的測 量主體。優(yōu)選的，所述支撐架為兩V型支架，所述V型支架上端設(shè)置開口 V型槽，所述工件 水平放置在V型支架的V型槽內(nèi)。優(yōu)選的，所述裝置還包括支撐平臺，兩V型支架與初始擋板同一直線，且三者固定 設(shè)置在支撐平臺上。優(yōu)選的，所述初始擋板內(nèi)設(shè)置磁鐵，所述磁鐵與工件同一水平且吸附工件固定。優(yōu)選的，所述測量主體包括對工件進行檢測的千分表、驅(qū)動千分表接近被測工件 的旋轉(zhuǎn)組件；所述旋轉(zhuǎn)組件外側(cè)設(shè)置固定在支撐平臺上的基準擋板，所述旋轉(zhuǎn)組件與基準 擋板配合定位。優(yōu)選的，所述旋轉(zhuǎn)組件包括垂直設(shè)置在支撐平臺上的旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱，所述旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱與 支撐平臺間通過軸承連接；所述旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱上端設(shè)置固定千分表套筒的固定件，所述固定件 下端設(shè)置與旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱固定的定位板；當旋轉(zhuǎn)組件旋合時，所述定位板與基準擋板配合定位。優(yōu)選的，所述旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱上還固定有驅(qū)動旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱旋轉(zhuǎn)的把手。優(yōu)選的，所述支撐平臺下端設(shè)置腳座支撐。本發(fā)明的技術(shù)方案可以實現(xiàn)對于較規(guī)則性的工件尺寸公差進行檢測，該裝置結(jié)構(gòu) 簡易、設(shè)計原理簡單實用，可以實現(xiàn)快速且精準檢驗方法。
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本發(fā)明的裝置對于較規(guī)則性物件(如長方體、柱體、桿狀的工件)的尺寸公差均可 進行檢驗，且操作方法簡單、檢測迅速及精確度高，可以達到0. 5% mm以內(nèi)。在針對不同形 狀的工件進行檢測時，需要構(gòu)造與工件形狀匹配的支撐架；不管支撐架的具體形狀如何，其 目的是要求工件與支撐架配合良好，可以達到放置定位工件的作用。當然，定位板與基準擋 板的配合也可以根據(jù)待檢驗的工件形狀進行設(shè)計更換，如采用模組化方式來設(shè)計，以達到 檢驗不同形狀的工件，可以實現(xiàn)多功能工件檢驗。在本發(fā)明的技術(shù)方案中，支撐架、支撐平臺、初始擋板、基準擋板等部件可以加工 完成后構(gòu)建成一個主體平臺架或一體化的主體平臺，為了保證其支撐可靠性，其材質(zhì)全部 采用45號鋼加工而成；另外，基準擋板與定位板的接觸面須高周波熱處理，保證其測量精 度。測量主體中千分表、旋轉(zhuǎn)組件都可以外購標準部件，組裝而成。本發(fā)明技術(shù)方案進行檢測時，其利用千分表的原理進行檢測，工件的已知長度可 以通過初始擋板和基準擋板的相對位置來確定；本發(fā)明通過結(jié)構(gòu)的簡易設(shè)計以達到迅速快 捷檢測出工件長度公差是否達標的目的。具體的檢測方法包括把要測量的工件置于支撐 平臺上V型支撐架上并向左推到初始擋板處對齊，由初始擋板內(nèi)置磁鐵吸住定位；然后借 助旋轉(zhuǎn)組件旋轉(zhuǎn)帶動千分表與被測量工件接觸，同時定位板與基準擋板的接觸定位了預(yù)定 的已知長度，這樣就可以測得工件尺寸公差值。相對于現(xiàn)有技術(shù)中的方案，本發(fā)明的優(yōu)點是1.本發(fā)明技術(shù)方案通過工件長度校正裝置的設(shè)計，一方面提高了對工件檢驗效 率，解決了原有人工檢驗效率低、誤差高等現(xiàn)象，而且可實現(xiàn)大批量工件的檢驗。另一方面， 降低人工工時達50%以上，減少檢驗成本。2、本發(fā)明技術(shù)方案將檢測工件統(tǒng)一到工件長度校正裝置上進行，避免了工件檢驗 人為檢測時的人為失誤和誤差，也提高了操作靈活性，減少操作不便。檢測人員只需將工件 放置在支撐架上并定位，就可以方便的進行檢測，操作方法簡單迅速及檢驗精確度高。


下面結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明作進一步描述圖1為本發(fā)明實施例工件長度校正裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖1的A處放大圖。其中1為支撐架；2為初始擋板；3為測量主體；4為支撐平臺；5為腳座；31為千 分表；32為旋轉(zhuǎn)組件；33為基準擋板；320為旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱；321為固定件；322為定位板；323為 把手。
具體實施例方式以下結(jié)合具體實施例對上述方案做進一步說明。應(yīng)理解，這些實施例是用于說明 本發(fā)明而不限于限制本發(fā)明的范圍。實施例中采用的實施條件可以根據(jù)具體廠家的條件做 進一步調(diào)整，未注明的實施條件通常為常規(guī)實驗中的條件。實施例如圖1 2所示，該工件長度校正裝置，包括支撐平臺4，支撐平臺4上設(shè)置 支撐工件的支撐架1，所述支撐架1的一側(cè)設(shè)置作為工件初始位置的初始擋板2，所述支撐 架1的另一側(cè)固定設(shè)置檢測工件長度公差的測量主體3。所述支撐架1為兩V型支架，所
4述V型支架上端設(shè)置開口 V型槽，所述工件水平放置在V型支架的V型槽內(nèi)。兩V型支架 與初始擋板2同一直線，且三者固定設(shè)置在支撐平臺4上。所述初始擋板內(nèi)設(shè)置磁鐵，所述 磁鐵與工件同一水平且吸附工件固定。所述支撐平臺4下端設(shè)置腳座5支撐。測量主體3包括對工件進行檢測的千分表31、驅(qū)動千分表接近被測工件的旋轉(zhuǎn)組 件32 ；所述旋轉(zhuǎn)組件32外側(cè)設(shè)置固定在支撐平臺上的基準擋板33，所述旋轉(zhuǎn)組件32與基 準擋板33配合定位。所述旋轉(zhuǎn)組件32包括垂直設(shè)置在支撐平臺上的旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱320，所述 旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱320與支撐平臺間通過軸承連接；所述旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱320上端設(shè)置固定千分表31套筒 的固定件321，所述固定件321下端設(shè)置與旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱320固定的定位板322 ；當旋轉(zhuǎn)組件32 旋合時，所述定位板322與基準擋板33配合定位。所述旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱320上還固定有驅(qū)動旋轉(zhuǎn) 導(dǎo)柱旋轉(zhuǎn)的把手323。進行檢測時，首先根據(jù)工件形狀設(shè)計好支撐架形狀，本實施例中用的支撐架為V 型支架，檢測的工件可以是頂桿等圓柱狀的物件；支撐平臺上兩V型支架調(diào)整好位置，使兩 V型支架與初始擋板在同一直線。然后把要測量的工件置于支撐平臺上V型支架上，如圖所 示，可以將工件向左推到初始擋板處對齊，由初始擋板內(nèi)置磁鐵吸住工件的一端端面從而 實現(xiàn)工件的定位，這里假設(shè)工件為可被吸附金屬工件；然后旋轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)組件，可以通過把手來 旋轉(zhuǎn)，帶動千分表與被測量工件接觸，同時定位板與基準擋板的接觸定位了預(yù)定的已知長 度，這樣就可以測得工件尺寸公差值。由于旋轉(zhuǎn)組件通過軸承與支撐平臺配合，旋轉(zhuǎn)組件相對于支撐平臺轉(zhuǎn)動，其上端 固定的定位板與固定在支撐平臺上的基準擋板配合確定千分尺的旋轉(zhuǎn)量；在工件如頂桿的 標準尺寸下，旋轉(zhuǎn)組件旋合到位時，千分尺與工件的另一端面剛好接觸(工件的一端面通 過初始擋板吸附固定)，千分尺的測頭并未發(fā)生位移；而當被測工件被檢測到千分尺的測 頭發(fā)生位移，導(dǎo)致千分尺的指針發(fā)生旋轉(zhuǎn)，指針信息可以被視為被測工件的較為精確的尺 寸公差。而當工件的形狀改變時，如為長方體工件，為了更好的定位工件，可以將支撐架設(shè) 計成U型支架，方便對長方體工件進行水平方面和垂直方向的定位。其他形狀的工件也可 以按照本發(fā)明的精神進行設(shè)計和更換。經(jīng)檢測，本實施例的裝置對于較規(guī)則性物件(如長方體、柱體、桿狀的工件)的尺 寸公差均可進行檢驗，且操作方法簡單、檢測迅速及精確度高，可以達到0. 5% mm以內(nèi)。如 將支撐架、支撐平臺、初始擋板、基準擋板等部件可以加工完成后構(gòu)建成一個主體平臺架 或一體化的主體平臺，則是較佳的選擇。為了保證其支撐可靠性，其材質(zhì)全部采用45號鋼 加工而成；另外，基準擋板與定位板的接觸面須高周波熱處理，保證其測量精度。測量主體 中千分表、旋轉(zhuǎn)組件都可以外購標準部件，組裝而成。上述實例只為說明本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思及特點，其目的在于讓熟悉此項技術(shù)的人是 能夠了解本發(fā)明的內(nèi)容并據(jù)以實施，并不能以此限制本發(fā)明的保護范圍。凡根據(jù)本發(fā)明精 神實質(zhì)所做的等效變換或修飾，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
一種工件長度校正裝置，包括支撐工件的支撐架(1)，其特征在于所述支撐架(1)的一側(cè)設(shè)置作為工件初始位置的初始擋板(2)，所述支撐架(1)的另一側(cè)固定設(shè)置檢測工件長度公差的測量主體(3)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工件長度校正裝置，其特征在于所述支撐架(1)為兩V型支 架，所述V型支架上端設(shè)置開口 V型槽，所述工件水平放置在V型支架的V型槽內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的工件長度校正裝置，其特征在于所述裝置還包括支撐平臺 (4)，兩V型支架與初始擋板(2)同一直線，且三者固定設(shè)置在支撐平臺(4)上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的工件長度校正裝置，其特征在于所述初始擋板內(nèi)設(shè)置磁鐵， 所述磁鐵與工件同一水平且吸附工件固定。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的工件長度校正裝置，其特征在于所述測量主體(3)包括對工 件進行檢測的千分表(31)、驅(qū)動千分表接近被測工件的旋轉(zhuǎn)組件(32)；所述旋轉(zhuǎn)組件(32) 外側(cè)設(shè)置固定在支撐平臺上的基準擋板(33)，所述旋轉(zhuǎn)組件(32)與基準擋板(33)配合定 位。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的工件長度校正裝置，其特征在于所述旋轉(zhuǎn)組件(32)包括垂 直設(shè)置在支撐平臺上的旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱(320)，所述旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱(320)與支撐平臺間通過軸承連接； 所述旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱(320)上端設(shè)置固定千分表(31)套筒的固定件(321)，所述固定件(321)下 端設(shè)置與旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱(320)固定的定位板(322)；當旋轉(zhuǎn)組件(32)旋合時，所述定位板(322) 與基準擋板(33)配合定位。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的工件長度校正裝置，其特征在于所述旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱(320)上還固 定有驅(qū)動旋轉(zhuǎn)導(dǎo)柱旋轉(zhuǎn)的把手(323)。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的工件長度校正裝置，其特征在于所述支撐平臺(4)下端設(shè)置 腳座(5)支撐。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種工件長度校正裝置，包括支撐工件的支撐架(1)，其特征在于所述支撐架(1)的一側(cè)設(shè)置作為工件初始位置的初始擋板(2)，所述支撐架(1)的另一側(cè)固定設(shè)置檢測工件長度公差的測量主體(3)。該裝置提高了工件檢驗效率，解決了原有人工檢驗效率低、誤差高等現(xiàn)象，而且可實現(xiàn)大批量工件的檢驗，降低人工工時達50％以上，減少檢驗成本。
文檔編號G01B5/02GK101852580SQ20101020264
公開日2010年10月6日 申請日期2010年6月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月18日
發(fā)明者蘇添入 申請人:張家港金鴻順機械工業(yè)有限公司