專利名稱：一種基于嵌入式系統(tǒng)的微粒檢測(cè)統(tǒng)計(jì)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明及一種微粒檢測(cè)統(tǒng)計(jì)方法，尤其是涉及一種基于嵌入式系統(tǒng)的微粒檢測(cè)統(tǒng) 計(jì)方法。
背景技術(shù)：
電阻抗法(coulter法)和光阻法測(cè)電阻用于檢測(cè)及統(tǒng)計(jì)微粒已有50多年的歷 史。Coulter原理最早是由美國(guó)科學(xué)家Coulter在1947年發(fā)明，并且在血細(xì)胞分析應(yīng)用上 獲得了成功。目前，國(guó)內(nèi)外大部分血細(xì)胞分析儀都還在使用Coulter法。光阻法儀器最早 由美國(guó)HIAC公司生產(chǎn)，20世紀(jì)80年代引進(jìn)到我國(guó)，主要應(yīng)用于航天汽油、醫(yī)藥等領(lǐng)域，在微 粒檢測(cè)中有著重要的地位。無(wú)論是電阻抗法還是光阻法檢測(cè)微粒，都需要對(duì)這兩種方法產(chǎn)生的微粒信號(hào)脈沖 進(jìn)行檢測(cè)。電阻法和光阻法傳感器都會(huì)受到干擾，如電源波動(dòng)和外界電磁干擾，會(huì)產(chǎn)生信號(hào) 的干擾脈沖(不是正常的微粒脈沖信號(hào))；或者是由于兩個(gè)微粒信號(hào)幾乎同時(shí)通過(guò)傳感器 而產(chǎn)生疊加信號(hào)(我們可以稱之為M信號(hào))，對(duì)信號(hào)的檢測(cè)及統(tǒng)計(jì)會(huì)帶來(lái)一定的誤差。傳統(tǒng)的模擬信號(hào)檢測(cè)微粒方法其中一個(gè)確定是無(wú)法識(shí)別復(fù)雜信號(hào)(干擾信號(hào)和M 信號(hào))。另一個(gè)缺點(diǎn)就是模擬方法檢測(cè)信號(hào)時(shí)其電路復(fù)雜，實(shí)際使用時(shí)調(diào)試?yán)щy，且容易受 到環(huán)境的影響產(chǎn)生電路參數(shù)的變化導(dǎo)致檢測(cè)統(tǒng)計(jì)不準(zhǔn)確。采用數(shù)字化的方法對(duì)微粒信號(hào)檢 測(cè)無(wú)疑是解決以上問(wèn)題的最佳途徑。近些年來(lái)，視覺(jué)圖像法、人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)等方法在微粒檢測(cè)方法進(jìn)程中涌現(xiàn)出來(lái)，在 實(shí)際的使用中也取得了一定的效果，但這些方法硬件資源開(kāi)銷大，使得該類方法中很少能 實(shí)際移植到ARM等嵌入式系統(tǒng)中，對(duì)這些方法的推廣起到了一定的阻礙作用。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種能提高微粒信號(hào)的識(shí)別率和計(jì)數(shù)準(zhǔn)確性 的基于嵌入式系統(tǒng)的微粒檢測(cè)統(tǒng)計(jì)方法。本發(fā)明解決上述技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案為一種基于嵌入式系統(tǒng)的微粒檢測(cè) 統(tǒng)計(jì)方法，其特征在于具體步驟如下步驟一微粒信號(hào)經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器變成數(shù)字微粒信 號(hào)；步驟二 將數(shù)字微粒信號(hào)經(jīng)過(guò)數(shù)字濾波器；步驟三定義正常信號(hào)峰值幅度范圍為SOOmV 5V，信號(hào)寬度范圍為15us 30us，AD采樣率為IMHz，AD參考電壓為5V，AD采樣數(shù)據(jù)為8位；定義Dn為N時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值，DN_i為N_1時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值，信號(hào)上升階 段比較閾值Dthi = 200mV，信號(hào)上升階段微分比較閾值Dth2 = 100mV/us ；有效信號(hào)是指需要存儲(chǔ)的數(shù)字微粒信號(hào)，其應(yīng)滿足以下幾個(gè)判斷條件，起始點(diǎn)判 斷的條件如下Dn > Dthi
3
并且Dn-Dn-I > Dth2即N時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值大于信號(hào)上升階段比較閾值Dthi并且信號(hào)微分值大于 信號(hào)上升階段微分比較閾值Dth2時(shí)，為有效信號(hào)開(kāi)始點(diǎn)；Dm為M時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值，M > N，信號(hào)下降階段比較閾值Dth3 = IOOmV,信號(hào) 寬度閾值Dth4 = 60us ；有效信號(hào)結(jié)束點(diǎn)的判斷條件如下DM < DTH3或者M(jìn)-N > Dth4即M時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值小于信號(hào)下降階段比較閾值Dth3，或信號(hào)的寬度大于信 號(hào)寬度閾值Dth4時(shí)，為有效信號(hào)結(jié)束點(diǎn)；步驟四當(dāng)系統(tǒng)存儲(chǔ)了一個(gè)有效信號(hào)時(shí)，微粒信號(hào)識(shí)別程序正在對(duì)該有效信號(hào)進(jìn) 行分析，在分析的這段過(guò)程中，有效信號(hào)的選擇也在同時(shí)進(jìn)行，當(dāng)其判斷出下一個(gè)有效信號(hào) 開(kāi)始時(shí)，如果第一存儲(chǔ)器中數(shù)據(jù)還未被清空，則下一段有效信號(hào)應(yīng)存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)器中，第 一存儲(chǔ)器和第二存儲(chǔ)器交替運(yùn)行才能保證微粒信號(hào)識(shí)別的正常進(jìn)行。步驟五1)對(duì)數(shù)字微粒信號(hào)進(jìn)行微分，計(jì)算微分值過(guò)“0”的個(gè)數(shù)；2)對(duì)兩個(gè)及兩個(gè)以上微分值過(guò)“0”點(diǎn)之間的時(shí)間間隔小于等于3us的過(guò)“0”點(diǎn)進(jìn)
行合并；3)合并過(guò)“0”點(diǎn)后，若微分值過(guò)“0”點(diǎn)的個(gè)數(shù)為1時(shí)，則為單峰信號(hào)，若其峰值電 壓AD的采樣值在800mV 5V之間，信號(hào)寬度在15 30us內(nèi)，則認(rèn)為是合理信號(hào)，對(duì)其統(tǒng) 計(jì)計(jì)數(shù)，反之為干擾信號(hào)，不計(jì)數(shù)；當(dāng)微分值過(guò)“0”點(diǎn)的個(gè)數(shù)為多個(gè)，則為多峰信號(hào)；4)若過(guò)“0”點(diǎn)的個(gè)數(shù)為2，則認(rèn)為是雙峰信號(hào)，將其拆分成2個(gè)單峰信號(hào)，按步驟 五中3)判斷是否為合理信號(hào)；過(guò)“0”點(diǎn)數(shù)大于2的信號(hào)則判定為干擾信號(hào)；步驟六當(dāng)經(jīng)過(guò)步驟五識(shí)別出一個(gè)微粒信號(hào)后，取出其峰值信號(hào)X，以該信號(hào)作為 地址在相應(yīng)的數(shù)組Y[x]中計(jì)數(shù)累加1 ；步驟七直方圖顯示，以數(shù)組的地址X作為橫坐標(biāo)，以該地址中數(shù)組中的內(nèi)容Y[x] 作為縱坐標(biāo)畫(huà)出直方圖。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于能夠區(qū)分干擾信號(hào)和正常信號(hào)，且能識(shí)別兩 個(gè)信號(hào)距離很近而產(chǎn)生的M信號(hào)，并且由于采用嵌入式系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，不存在模擬信號(hào)識(shí)別中 存在的問(wèn)題。本發(fā)明能大大降低實(shí)際電路的復(fù)雜程度及成本，且能提高微粒信號(hào)的識(shí)別率 計(jì)數(shù)的準(zhǔn)確性。本發(fā)明所涉及的M信號(hào)的識(shí)別分類方法簡(jiǎn)單可靠，根據(jù)信號(hào)波形形狀來(lái)對(duì)其分 類，具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程是通過(guò)對(duì)存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)進(jìn)行微分。根據(jù)其微分判斷該信號(hào)是否為M信 號(hào)、正常信號(hào)或是干擾信號(hào)。這種實(shí)現(xiàn)方法簡(jiǎn)單可靠，很容易嵌入式系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)，保證其實(shí) 時(shí)性、高效性。本發(fā)明的計(jì)數(shù)方法是以信號(hào)的電壓幅值為標(biāo)號(hào)，在對(duì)應(yīng)的數(shù)組元素中累加計(jì)數(shù)。 該計(jì)數(shù)方法的結(jié)果是最終的結(jié)果不僅能統(tǒng)計(jì)微粒個(gè)數(shù)目還能反映微粒的體積分布。


圖1為本發(fā)明的流程總框圖；圖2為本發(fā)明的有效信號(hào)判斷算法流程圖；圖3為本發(fā)明的微粒信號(hào)類型檢測(cè)時(shí)的算法流程圖。
具體實(shí)施例方式以下結(jié)合附圖實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述。一種基于嵌入式系統(tǒng)的微粒檢測(cè)統(tǒng)計(jì)方法，其特征在于具體步驟如下步驟一 微粒信號(hào)經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器變成數(shù)字微粒信號(hào)；步驟二 將數(shù)字微粒信號(hào)經(jīng)過(guò)數(shù)字濾波器；步驟三定義正常信號(hào)峰值幅度范圍為SOOmV 5V，信號(hào)寬度范圍為15us 30us，AD采樣率為IMHz，AD參考電壓為5V，AD采樣數(shù)據(jù)為8位；定義Dn為N時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值，Dim為N_1時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值，信號(hào)上升階 段比較閾值Dthi = 200mV，信號(hào)上升階段微分比較閾值Dth2 = 100mV/us ；有效信號(hào)是指需要存儲(chǔ)的數(shù)字微粒信號(hào)，其應(yīng)滿足以下幾個(gè)判斷條件，起始點(diǎn)判 斷的條件如下Dn > Dthi并且Dn-Dim > Dth2即N時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值大于信號(hào)上升階段比較閾值Dthi并且信號(hào)微分值大于 信號(hào)上升階段微分比較閾值Dth2時(shí)，為有效信號(hào)開(kāi)始點(diǎn)；Dm為M時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值，M > N，信號(hào)下降階段比較閾值Dth3 = IOOmV,信號(hào) 寬度閾值Dth4 = 60us ；有效信號(hào)結(jié)束點(diǎn)的判斷條件如下Dm < Dth3或者M(jìn)-N > Dth4即M時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值小于信號(hào)下降階段比較閾值Dth3，或信號(hào)的寬度大于信 號(hào)寬度閾值Dth4則為有效信號(hào)結(jié)束點(diǎn)；步驟四當(dāng)系統(tǒng)存儲(chǔ)了一個(gè)有效信號(hào)時(shí)，微粒信號(hào)識(shí)別程序正在對(duì)該有效信號(hào)進(jìn) 行分析，在分析的這段過(guò)程中，有效信號(hào)的選擇也在同時(shí)進(jìn)行，當(dāng)其判斷出下一個(gè)有效信號(hào) 開(kāi)始時(shí)，如果第一存儲(chǔ)器中數(shù)據(jù)還未被清空，則下一段有效信號(hào)應(yīng)存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)器中，第 一存儲(chǔ)器和第二存儲(chǔ)器交替運(yùn)行才能保證微粒信號(hào)識(shí)別的正常進(jìn)行。步驟五1)對(duì)數(shù)字微粒信號(hào)進(jìn)行微分，計(jì)算微分值過(guò)“0”的個(gè)數(shù)；2)對(duì)兩個(gè)及兩個(gè)以上微分值過(guò)“0”點(diǎn)之間的時(shí)間間隔小于等于3us的過(guò)“0”點(diǎn)進(jìn)
行合并；3)合并過(guò)“0”點(diǎn)后，若微分值過(guò)“0”點(diǎn)的個(gè)數(shù)為1時(shí)，則為單峰信號(hào)，若其峰值電壓AD的采樣值在800mV 5V之間，信號(hào)寬度在15 30us內(nèi)，則認(rèn)為是合理信號(hào)，對(duì)其統(tǒng) 計(jì)計(jì)數(shù)，反之為干擾信號(hào)，不計(jì)數(shù)；當(dāng)微分值過(guò)“0”點(diǎn)的個(gè)數(shù)為多個(gè)，則為多峰信號(hào)；4)若過(guò)“0”點(diǎn)的個(gè)數(shù)為2，則認(rèn)為是雙峰信號(hào)，將其拆分成2個(gè)單峰信號(hào)，按步驟 五中3)判斷是否為合理信號(hào)；過(guò)“0”點(diǎn)數(shù)大于2的信號(hào)則判定為干擾信號(hào)；步驟六當(dāng)經(jīng)過(guò)步驟五識(shí)別出一個(gè)微粒信號(hào)后，取出其峰值信號(hào)X，以該信號(hào)作為 地址在相應(yīng)的數(shù)組Y[x]中計(jì)數(shù)累加1 ；步驟七直方圖顯示，以數(shù)組的地址X作為橫坐標(biāo)，以該地址中數(shù)組中的內(nèi)容Y[x] 作為縱坐標(biāo)畫(huà)出直方圖。如圖1所示，基于嵌入式系統(tǒng)的微粒識(shí)別系統(tǒng)主要包括AD轉(zhuǎn)化器1、數(shù)字濾波器 2、有效信號(hào)判斷模塊3、數(shù)組儲(chǔ)器模塊4、微粒類型識(shí)別模塊5、微粒統(tǒng)計(jì)模塊6、直方圖顯示 模塊7。本實(shí)施例，首先將被檢測(cè)液體通過(guò)Coulter傳感器(或光阻傳感器)和前置放大 器。在微粒信號(hào)采集階段，選擇合理的傳感器，可以使傳感器噪聲達(dá)到最小。同時(shí)，通過(guò)傳 感器產(chǎn)生的信號(hào)是亞毫伏的電壓信號(hào)，經(jīng)過(guò)一個(gè)前置放大電路(小信號(hào)放大器)將信號(hào)放 大，便于后續(xù)信號(hào)識(shí)別。然后對(duì)放大的微粒信號(hào)進(jìn)行一定的預(yù)處理，就是設(shè)計(jì)合理的模擬濾 波器來(lái)濾除干擾。最后采用高速AD轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)。本發(fā)明所述的數(shù)字濾波器2將采用資源消耗很小的限幅濾波法，用于濾除由于A/ D轉(zhuǎn)換器的誤差及電源波動(dòng)造成的數(shù)據(jù)突變點(diǎn)，以避免在進(jìn)行微粒識(shí)別時(shí)系統(tǒng)發(fā)生誤動(dòng)作。 該方法的基本思想是根據(jù)經(jīng)驗(yàn)判斷，確定兩次采樣允許的最大偏差值(設(shè)為A)每次檢測(cè) 到新值時(shí)判斷如果本次值與上次值之差小于等于A，則本次值有效；如果本次值與上次值 之差大于A，則本次值無(wú)效，放棄本次值，用上次值代替本次值。本實(shí)例中有效信號(hào)判斷3是指信號(hào)經(jīng)AD采樣和數(shù)字濾波之后，其信號(hào)是否大于某 個(gè)閾值，其應(yīng)滿足以下幾個(gè)判斷條件，起始點(diǎn)判斷的條件如下Dn > Dthi并且DN-DIM > DTH2即N時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值大于信號(hào)上升階段比較閾值Dthi并且信號(hào)微分值大于 信號(hào)上升階段微分比較閾值Dth2時(shí)，為有效信號(hào)開(kāi)始點(diǎn)；其有效信號(hào)結(jié)束點(diǎn)的判斷條件如下Dm > Dth3或者M(jìn)-N > Dth4即M時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值小于信號(hào)下降階段比較閾值Dth3，或信號(hào)的寬度大于信 號(hào)寬度閾值Dth4則為有效信號(hào)結(jié)束點(diǎn)；本實(shí)例中所描述的波形寄存器4實(shí)質(zhì)上是在嵌入式系統(tǒng)中開(kāi)辟的一個(gè)數(shù)組，該數(shù) 組元素是某體積微粒的計(jì)數(shù)值，該微粒體積對(duì)應(yīng)的是數(shù)組下標(biāo)。本實(shí)例中需要兩個(gè)或兩個(gè) 以上的數(shù)組來(lái)交替記錄有效信號(hào)。當(dāng)記錄完一段有效信號(hào)時(shí)，該段數(shù)據(jù)需要等待系統(tǒng)處理， 故此時(shí)的有效信號(hào)需要存放到另一個(gè)空閑的數(shù)組中。本實(shí)例中所涉及的微粒識(shí)別5方法簡(jiǎn)單可靠，根據(jù)信號(hào)波形形狀來(lái)對(duì)其分類，具
6體實(shí)現(xiàn)過(guò)程是通過(guò)對(duì)存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)進(jìn)行微分。根據(jù)其微分判斷該信號(hào)是否為M信號(hào)、正 常信號(hào)或是干擾信號(hào)。這種實(shí)現(xiàn)方法簡(jiǎn)單可靠，很容易嵌入式系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)，保證其實(shí)時(shí)性、 高效性。本實(shí)例中的微粒統(tǒng)計(jì)6是指當(dāng)微粒識(shí)別模塊識(shí)別出該信號(hào)為微粒信號(hào)后，根據(jù)信 號(hào)的類型，取波形對(duì)應(yīng)的峰值(或谷值)。如當(dāng)該信號(hào)為單峰信號(hào)時(shí)，取其峰值，如果是M信 號(hào)則取其兩個(gè)峰值，如果是偽M信號(hào)則取其谷值。然后以前面的得到的電壓值對(duì)應(yīng)的標(biāo)號(hào)， 對(duì)相應(yīng)數(shù)組的元素加1。該計(jì)數(shù)方法的結(jié)果是計(jì)數(shù)結(jié)果不僅能反映微粒的總數(shù)還能反映微 粒的體積分布。本實(shí)例中的直方圖顯示7是指在測(cè)量完后對(duì)其測(cè)量的結(jié)果進(jìn)行直方圖顯示，橫坐 標(biāo)對(duì)應(yīng)為數(shù)組的標(biāo)號(hào)，縱坐標(biāo)對(duì)應(yīng)為計(jì)數(shù)值。由于橫坐標(biāo)對(duì)應(yīng)為微粒的體積，直方圖就能反 映微粒信號(hào)的體積分布。圖1中示出的是微粒分析系統(tǒng)中主要的7個(gè)任務(wù)。任務(wù)的優(yōu)先等級(jí)依次為AD采 樣、均值濾波、有效信號(hào)判斷、信號(hào)儲(chǔ)存、信號(hào)類型判斷、微粒統(tǒng)計(jì)和直方圖顯示。圖2中簡(jiǎn)要示出了有效信號(hào)檢測(cè)模塊的算法流程圖。當(dāng)滿足Dn > Dthi并且DN-DN^1 > DTH2條件時(shí)，開(kāi)始記錄數(shù)據(jù)；當(dāng)滿足Dm > Dth3或者M(jìn)-N > Dth4條件時(shí)，停止記錄數(shù)據(jù)。當(dāng)數(shù)據(jù)寬度滿足條件時(shí)向系統(tǒng)發(fā)出識(shí)別請(qǐng)求，否則認(rèn)為該 信號(hào)不是正常信號(hào)，清空。圖3中簡(jiǎn)要示出了微粒分析系統(tǒng)中的微粒識(shí)別模塊的算法流程圖。算法中先對(duì)信 號(hào)進(jìn)行微分，然后對(duì)微分值尋找過(guò)0點(diǎn)的個(gè)數(shù)。這里的過(guò)0點(diǎn)并不是絕對(duì)的0點(diǎn)，而是一個(gè) 比0略大的閾值。通過(guò)該算法可以很方便的識(shí)別出信號(hào)的類型。
權(quán)利要求
一種基于嵌入式系統(tǒng)的微粒檢測(cè)統(tǒng)計(jì)方法，其特征在于具體步驟如下步驟一微粒信號(hào)經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器變成數(shù)字微粒信號(hào)；步驟二將數(shù)字微粒信號(hào)經(jīng)過(guò)數(shù)字濾波器；步驟三定義正常信號(hào)峰值幅度范圍為800mV～5V，信號(hào)寬度范圍為15us～30us，AD采樣率為1MHz，AD參考電壓為5V，AD采樣數(shù)據(jù)為8位；定義DN為N時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值，DN 1為N 1時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值，信號(hào)上升階段比較閾值DTH1＝200mV，信號(hào)上升階段微分比較閾值DTH2＝100mV/us；有效信號(hào)是指需要存儲(chǔ)的數(shù)字微粒信號(hào)，其應(yīng)滿足以下幾個(gè)判斷條件，起始點(diǎn)判斷的條件如下DN＞DTH1并且DN DN 1＞DTH2即N時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值大于信號(hào)上升階段比較閾值DTH1并且信號(hào)微分值大于信號(hào)上升階段微分比較閾值DTH2時(shí)，為有效信號(hào)開(kāi)始點(diǎn)；DM為M時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值，M＞N，信號(hào)下降階段比較閾值DTH3＝100mV，信號(hào)寬度閾值DTH4＝60us；有效信號(hào)結(jié)束點(diǎn)的判斷條件如下DM＜DTH3或者M(jìn) N＞DTH4即M時(shí)刻信號(hào)的AD采樣值小于信號(hào)下降階段比較閾值DTH3，或信號(hào)的寬度大于信號(hào)寬度閾值DTH4時(shí)，為有效信號(hào)結(jié)束點(diǎn)；步驟四當(dāng)系統(tǒng)存儲(chǔ)了一個(gè)有效信號(hào)時(shí)，微粒信號(hào)識(shí)別程序正在對(duì)該有效信號(hào)進(jìn)行分析，在分析的這段過(guò)程中，有效信號(hào)的選擇也在同時(shí)進(jìn)行，當(dāng)其判斷出下一個(gè)有效信號(hào)開(kāi)始時(shí)，如果第一存儲(chǔ)器中數(shù)據(jù)還未被清空，則下一段有效信號(hào)應(yīng)存儲(chǔ)在第二存儲(chǔ)器中，第一存儲(chǔ)器和第二存儲(chǔ)器交替運(yùn)行才能保證微粒信號(hào)識(shí)別的正常進(jìn)行。步驟五1)對(duì)數(shù)字微粒信號(hào)進(jìn)行微分，計(jì)算微分值過(guò)“0”的個(gè)數(shù)；2)對(duì)兩個(gè)及兩個(gè)以上微分值過(guò)“0”點(diǎn)之間的時(shí)間間隔小于等于3us的過(guò)“0”點(diǎn)進(jìn)行合并；3)合并過(guò)“0”點(diǎn)后，若微分值過(guò)“0”點(diǎn)的個(gè)數(shù)為1時(shí)，則為單峰信號(hào)，若其峰值電壓AD的采樣值在800mV～5V之間，信號(hào)寬度在15～30us內(nèi)，則認(rèn)為是合理信號(hào)，對(duì)其統(tǒng)計(jì)計(jì)數(shù)，反之為干擾信號(hào)，不計(jì)數(shù)；當(dāng)微分值過(guò)“0”點(diǎn)的個(gè)數(shù)為多個(gè)，則為多峰信號(hào)；4)若過(guò)“0”點(diǎn)的個(gè)數(shù)為2，則認(rèn)為是雙峰信號(hào)，將其拆分成2個(gè)單峰信號(hào)，按步驟五中3)判斷是否為合理信號(hào)；過(guò)“0”點(diǎn)數(shù)大于2的信號(hào)則判定為干擾信號(hào)；步驟六當(dāng)經(jīng)過(guò)步驟五識(shí)別出一個(gè)微粒信號(hào)后，取出其峰值信號(hào)X，以該信號(hào)作為地址在相應(yīng)的數(shù)組Y[x]中計(jì)數(shù)累加1；步驟七直方圖顯示，以數(shù)組的地址x作為橫坐標(biāo)，以該地址中數(shù)組中的內(nèi)容Y[x]作為縱坐標(biāo)畫(huà)出直方圖。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于嵌入式系統(tǒng)的微粒檢測(cè)統(tǒng)計(jì)方法，根據(jù)信號(hào)波形形狀來(lái)對(duì)其分類，具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程是通過(guò)對(duì)存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)進(jìn)行微分。根據(jù)其微分判斷該信號(hào)是否為M信號(hào)、正常信號(hào)或是干擾信號(hào)，其優(yōu)點(diǎn)在于能夠區(qū)分干擾信號(hào)和正常信號(hào)，且能識(shí)別兩個(gè)信號(hào)距離很近而產(chǎn)生的M信號(hào)，并且由于采用嵌入式系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，不存在模擬信號(hào)識(shí)別中存在的問(wèn)題。本發(fā)明能大大降低實(shí)際電路的復(fù)雜程度及成本，且能提高微粒信號(hào)的識(shí)別率計(jì)數(shù)的準(zhǔn)確性。
文檔編號(hào)G01N15/10GK101915726SQ20101022219
公開(kāi)日2010年12月15日 申請(qǐng)日期2010年7月2日 優(yōu)先權(quán)日2010年7月2日
發(fā)明者施金良, 李宏, 汪強(qiáng), 王吉 申請(qǐng)人:寧波大學(xué)